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Calidad Máquina de prueba final de chip magnético de alta velocidad fábrica
Calidad Máquina de prueba final de chip magnético de alta velocidad fábrica

Máquina de prueba final de chip magnético de alta velocidad

Automatic Magnetic Chip Final Test Machine Product Introduction Magnetic chips, capable of providing high-speed, low-power non-volatile information storage, are considered key to solving future storage technology bottlenecks. Their excellent perfor-mance and reliability are crucial for the stable operation of electronic devices and data security. This product uses a three-temperature-zone anti-magnetic testing device to simulate magnetic field environments under different
Etiquetas:

Equipo de ensayo automatizado

Equipo de ensayo

Probador Final
Detalles del producto
Resaltar:

Prueba automática de MRAM

,

Prueba de MRAM de alta velocidad

,

Máquina de prueba final de chips magnéticos
Excitation system3: El verdadero valor cero del campo magnético bajo el campo magnético cero es ≤0.1 OE;
Excitation system2: La uniformidad del campo magnético del eje X es ≤ ± 1%@2000 OE@φ35 mm de espacio esférico;
Excitation system1: La intensidad máxima del campo magnético en el eje x es ± 2000 OE;
Excitation system4: La resolución del monitor de campo magnético es ≤10 μt
Test Ambient Temperature Module: Superación de temperatura ≤0.5 ° C
Electric Displacement Stage Module: θ Rango de ajuste del eje: ± 180 °; Precisión rotacional ≤1 °; Equipado con un codificador de posici

Propiedades básicas

Lugar de origen: PORCELANA
Nombre de la marca: Truth Instruments
Número de modelo: MCT 500

Propiedades comerciales

Precio: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Condiciones de pago: T/T
Descripción de producto

Máquina de Prueba Final Automática de Chips Magnéticos

Introducción del Producto

Los chips magnéticos, capaces de proporcionar almacenamiento de información no volátil de alta velocidad y bajo consumo, se consideran clave para resolver los cuellos de botella de la tecnología de almacenamiento del futuro. Su excelente rendimiento y fiabilidad son cruciales para el funcionamiento estable de los dispositivos electrónicos y la seguridad de los datos.  Este producto utiliza un dispositivo de prueba antimagnética de tres zonas de temperatura para simular entornos de campo magnético en diferentes condiciones de temperatura, garantizando el rendimiento y la fiabilidad del chip en múltiples entornos extremos. Equipado con sensores de temperatura de precisión para pruebas de tres temperaturas de alta precisión, un sistema de control de campo magnético que proporciona campos magnéticos estables controlables en el plano y en el plano normal, asientos de prueba no magnéticos y disipadores térmicos, junto con medidores de fuente eléctrica, crea un entorno de prueba para pruebas no destructivas y por lotes de las propiedades magnéticas y eléctricas de los chips, desempeñando un papel importante en el desarrollo y la producción de chips magnéticos.

Rendimiento del Equipo
Categoría de Indicador Descripción
Sistema de Excitación La intensidad máxima del campo magnético en el eje X es ±2000 Oe;
La uniformidad del campo magnético del eje X es ≤±1%@2000 Oe@Φ35 mm espacio esférico;
El valor real del campo magnético bajo campo magnético cero es ≤0.1 Oe;
Sensor de Campo Magnético de Alta Precisión La resolución del monitor de campo magnético es ≤10 μT
Módulo de Etapa de Desplazamiento Eléctrico Rango de ajuste del eje θ: ±180°; precisión de rotación ≤1°; equipado con un codificador de posición absoluta
Sistema de Control de Temperatura La temperatura de salida admite un rango de -70°C a 220°C;
Módulo de Temperatura Ambiente de Prueba

El rango de temperatura interna del Socket es de -60°C a 170°C

Está equipado con un módulo de monitoreo de temperatura, con una precisión de temperatura de ≤0.5°C;
Sobreimpulso de temperatura ≤0.5°C
Asiento de Prueba del Socket El asiento de prueba puede soportar temperaturas que oscilan entre -60°C y 170°C;
El material es no magnético
Casos de Aplicación
Máquina de prueba final de chip magnético de alta velocidad 0
  • Tiempo de Respuesta al Encendido
Máquina de prueba final de chip magnético de alta velocidad 1
  • Salida Digital VS Densidad de Flujo Magnético y Pulso de Muestreo
Máquina de prueba final de chip magnético de alta velocidad 2
  • Curva Característica de Salida de Temperatura del Chip del Sensor TMR
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