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Qualidade Teste automático MRAM Máquina de teste final de chip magnético Alta velocidade fábrica
Qualidade Teste automático MRAM Máquina de teste final de chip magnético Alta velocidade fábrica

Teste automático MRAM Máquina de teste final de chip magnético Alta velocidade

Automatic Magnetic Chip Final Test Machine Product Introduction Magnetic chips, capable of providing high-speed, low-power non-volatile information storage, are considered key to solving future storage technology bottlenecks. Their excellent perfor-mance and reliability are crucial for the stable operation of electronic devices and data security. This product uses a three-temperature-zone anti-magnetic testing device to simulate magnetic field environments under different
Etiquetas:

Equipamento de ensaio automatizado

Equipamento de ensaio

Testador Final
Detalhes do produto
Destacar:

Teste automático de MRAM

,

Teste de MRAM de alta velocidade

,

Máquina de Teste Final de Chip Magnético
Excitation system3: O valor zero verdadeiro do campo magnético sob o campo magnético zero é ≤0,1 OE;
Excitation system2: A uniformidade do campo magnético do eixo x é ≤ ± 1%a 2000 OE@φ35 mm Espaço esférico;
Excitation system1: A intensidade máxima do campo magnético no eixo x é ± 2000 OE;
Excitation system4: A resolução do monitor de campo magnético é ≤10 μt
Test Ambient Temperature Module: Ultrapassagem de temperatura ≤0,5 ° C.
Electric Displacement Stage Module: θ eixo de ajuste na faixa de ajuste: ± 180 °; Precisão rotacional ≤1 °; Equipado com um codificador

Propriedades básicas

Lugar de origem: CHINA
Nome da marca: Truth Instruments
Número do modelo: MCT 500

Propriedades comerciais

Preço: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Condições de pagamento: T/T.
Descrição do produto

Máquina de ensaio final de chip magnético automático

Introdução ao produto

Os chips magnéticos, capazes de fornecer armazenamento de informação não volátil de alta velocidade e baixa potência, são considerados fundamentais para resolver os futuros gargalos da tecnologia de armazenamento.O seu excelente desempenho e fiabilidade são cruciais para o funcionamento estável dos dispositivos electrónicos e para a segurança dos dados.. Este produto utiliza um dispositivo de ensaio antimagnético de três zonas de temperatura para simular ambientes de campo magnético em diferentes condições de temperatura,garantir o desempenho e a confiabilidade do chip em vários ambientes extremosEquipado com sensores de temperatura de precisão para ensaios de três temperaturas de alta precisão, um sistema de controlo de campo magnético que fornece campos magnéticos controláveis estáveis no plano e no plano normal,Assentos de ensaio não magnéticos, e sumidouros térmicos, juntamente com medidores de fontes elétricas, cria um ambiente de teste para testes não destrutivos em lotes de propriedades magnéticas e elétricas de chips,desempenhando um papel importante no desenvolvimento e produção de chips magnéticos.

Desempenho do equipamento
Categoria de indicadores Descrição
Sistema de excitação A intensidade máxima do campo magnético no eixo X é de ± 2000 Oe;
A uniformidade do campo magnético do eixo X é ≤±1%@2000 Oe@Φ35 mm no espaço esférico;
O valor real do campo magnético sob campo magnético zero é ≤ 0,1 Oe;
Sensor de campo magnético de alta precisão A resolução do monitor de campo magnético é ≤ 10 μT
Módulo de estágio de deslocamento elétrico Faixa de regulação do eixo θ: ±180°; precisão de rotação ≤1°; equipado com um codificador de posição absoluta
Sistema de controlo de temperatura A temperatura de saída suporta um intervalo de -70°C a 220°C;
Módulo de temperatura ambiente de ensaio

A faixa de temperatura interna do Socket é de -60°C a 170°C

É equipado com um módulo de monitorização da temperatura, com uma precisão de temperatura ≤ 0,5°C;
Excesso de temperatura ≤ 0,5°C
Assento de ensaio do soquete O banco de ensaio pode suportar temperaturas compreendidas entre -60°C e 170°C;
O material não é magnético.
Casos de aplicação
Teste automático MRAM Máquina de teste final de chip magnético Alta velocidade 0
  • Tempo de resposta de ligação
Teste automático MRAM Máquina de teste final de chip magnético Alta velocidade 1
  • Densidade de fluxo magnético e pulso de amostragem
Teste automático MRAM Máquina de teste final de chip magnético Alta velocidade 2
  • Curva característica de saída de temperatura do chip de sensor TMR
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