स्वचालित एमआरएएम परीक्षक चुंबकीय चिप अंतिम परीक्षण मशीन उच्च गति

Name: स्वचालित एमआरएएम परीक्षक चुंबकीय चिप अंतिम परीक्षण मशीन उच्च गति
Brand: Truth Instruments Co., Ltd.
SKU: एमसीटी 500
Availability: InStock

Automatic Magnetic Chip Final Test Machine Product Introduction Magnetic chips, capable of providing high-speed, low-power non-volatile information storage, are considered key to solving future storage technology bottlenecks. Their excellent perfor-mance and reliability are crucial for the stable operation of electronic devices and data security. This product uses a three-temperature-zone anti-magnetic testing device to simulate magnetic field environments under different

टैग:

स्वचालित परीक्षण उपकरण

एटीई परीक्षण उपकरण

अंतिम परीक्षक

उत्पाद का विवरण

प्रमुखता देना:

स्वचालित एमआरएएम परीक्षक

एमआरएएम परीक्षक उच्च गति

चुंबकीय चिप अंतिम परीक्षण मशीन

Excitation system3: शून्य चुंबकीय क्षेत्र के तहत चुंबकीय क्षेत्र का सही शून्य मान; 0.1 OE है;

Excitation system2: एक्स-एक्सिस चुंबकीय क्षेत्र की एकरूपता@1%@2000 OE@φ35 मिमी गोलाकार स्थान है;

Excitation system1: एक्स-अक्ष पर अधिकतम चुंबकीय क्षेत्र की तीव्रता, 2000 OE है;

Excitation system4: चुंबकीय क्षेत्र मॉनिटर का संकल्प μ10 μT है

Test Ambient Temperature Module: तापमान ओवरशूट .50.5 डिग्री सेल्सियस

Electric Displacement Stage Module: θ- अक्ष समायोजन रेंज: ° 180 °; घूर्णी सटीकता ° 1 °; एक पूर्ण स्थिति एनकोडर से सुसज्जित

मूल गुण

उत्पत्ति का स्थान: चीन

ब्रांड नाम: Truth Instruments

मॉडल संख्या: एमसीटी 500

व्यापारिक संपत्तियाँ

कीमत: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote

भुगतान की शर्तें: टी/टी

उत्पाद का वर्णन

स्वचालित चुंबकीय चिप अंतिम परीक्षण मशीन

उत्पाद परिचय

चुंबकीय चिप्स, जो उच्च गति, कम-शक्ति गैर-वाष्पशील सूचना भंडारण प्रदान करने में सक्षम हैं, भविष्य की भंडारण तकनीक की बाधाओं को हल करने के लिए महत्वपूर्ण माने जाते हैं। उनका उत्कृष्ट प्रदर्शन और विश्वसनीयता इलेक्ट्रॉनिक उपकरणों और डेटा सुरक्षा के स्थिर संचालन के लिए महत्वपूर्ण है। यह उत्पाद विभिन्न तापमान स्थितियों के तहत चुंबकीय क्षेत्र के वातावरण का अनुकरण करने के लिए एक तीन-तापमान-क्षेत्र विरोधी-चुंबकीय परीक्षण उपकरण का उपयोग करता है, जो कई चरम वातावरणों में चिप प्रदर्शन और विश्वसनीयता सुनिश्चित करता है। उच्च-सटीक तीन-तापमान परीक्षण के लिए सटीक तापमान सेंसर, इन-प्लेन और सामान्य प्लेन स्थिर नियंत्रणीय चुंबकीय क्षेत्र प्रदान करने वाली एक चुंबकीय क्षेत्र नियंत्रण प्रणाली, गैर-चुंबकीय परीक्षण सीटें, और थर्मल सिंक, साथ ही विद्युत स्रोत मीटर से लैस, यह चिप्स के चुंबकीय और विद्युत गुणों के गैर-विनाशकारी, बैच परीक्षण के लिए एक परीक्षण वातावरण बनाता है, जो चुंबकीय चिप विकास और उत्पादन में महत्वपूर्ण भूमिका निभाता है।

उपकरण प्रदर्शन

संकेतक श्रेणी	विवरण
उत्तेजना प्रणाली	X-अक्ष पर अधिकतम चुंबकीय क्षेत्र की तीव्रता ±2000 Oe है; X-अक्ष चुंबकीय क्षेत्र की एकरूपता ≤±1%@2000 Oe@Φ35 मिमी गोलाकार स्थान है; शून्य चुंबकीय क्षेत्र के तहत चुंबकीय क्षेत्र का वास्तविक मूल्य ≤0.1 Oe है;
उच्च-सटीक चुंबकीय क्षेत्र सेंसर	चुंबकीय क्षेत्र मॉनिटर का रिज़ॉल्यूशन ≤10 μT है
इलेक्ट्रिक डिस्प्लेसमेंट स्टेज मॉड्यूल	θ-अक्ष समायोजन रेंज: ±180°; घूर्णी सटीकता ≤1°; एक पूर्ण स्थिति एन्कोडर से लैस
तापमान नियंत्रण प्रणाली	आउटलेट तापमान -70°C से 220°C की सीमा का समर्थन करता है;
परीक्षण परिवेश तापमान मॉड्यूल	सॉकेट का आंतरिक तापमान रेंज -60°C से 170°C है यह एक तापमान निगरानी मॉड्यूल से लैस है, जिसमें तापमान सटीकता ≤0.5°C है; तापमान ओवरशूट ≤0.5°C
सॉकेट टेस्ट सीट	परीक्षण सीट -60°C से 170°C तक के तापमान का सामना कर सकती है; सामग्री गैर-चुंबकीय है