logo
Telefon: +86-532-89267428 E-Mail: tangzhongjie@truth-instruments.com
Qualität Automatischer MRAM-Tester Magnetchip Endprüfmaschine Hochgeschwindigkeit Fabrik
Qualität Automatischer MRAM-Tester Magnetchip Endprüfmaschine Hochgeschwindigkeit Fabrik

Automatischer MRAM-Tester Magnetchip Endprüfmaschine Hochgeschwindigkeit

Automatic Magnetic Chip Final Test Machine Product Introduction Magnetic chips, capable of providing high-speed, low-power non-volatile information storage, are considered key to solving future storage technology bottlenecks. Their excellent perfor-mance and reliability are crucial for the stable operation of electronic devices and data security. This product uses a three-temperature-zone anti-magnetic testing device to simulate magnetic field environments under different
Umbauten:

automatisierte Prüfgeräte

Ausrüstung zur Prüfung

Abschlussprüfer
Produktdetails
Hervorheben:

Automatischer MRAM-Tester

,

MRAM-Tester mit hoher Geschwindigkeit

,

Magnetchip-Endprüfmaschine
Excitation system3: Der wahre Nullwert des Magnetfeldes unter Nullmagnetfeld beträgt ≤ 0,1 OE;
Excitation system2: Die Gleichmäßigkeit des X-Achse-Magnetfelds beträgt ≤ ± 1%@2000 OE@φ35 mm kugelförmiger Raum;
Excitation system1: Die maximale Magnetfeldintensität auf der x-Achse beträgt ± 2000 OE;
Excitation system4: Die Auflösung des Magnetfeldmonitors beträgt ≤ 10 μt
Test Ambient Temperature Module: Temperaturüberschreitungen ≤ 0,5 ° C.
Electric Displacement Stage Module: θ-Achsen-Einstellbereich: ± 180 °; Rotationsgenauigkeit ≤ 1 °; Ausgestattet mit einem absoluten Posi

Grundlegende Eigenschaften

Herkunftsort: CHINA
Markenbezeichnung: Truth Instruments
Modellnummer: MCT 500

Immobilienhandel

Preis: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Zahlungsbedingungen: T/t
Produkt-Beschreibung

Automatische Endprüfmaschine für Magnetchips

Produkteinführung

Magnetische Chips, die eine schnelle, energieeffiziente und nichtflüchtige Speicherung von Informationen ermöglichen, gelten als Schlüssel zur Lösung zukünftiger Engpässe in der Speichertechnologie.Ihre hervorragende Leistung und Zuverlässigkeit sind für den stabilen Betrieb elektronischer Geräte und die Datensicherheit von entscheidender Bedeutung.. Dieses Produkt verwendet eine drei-Temperaturzonen-Antimagnetische Prüfvorrichtung zur Simulation von Magnetfeldumgebungen unter unterschiedlichen Temperaturbedingungen,Sicherstellung von Chipleistung und Zuverlässigkeit in mehreren extremen Umgebungen. mit präzisen Temperatursensoren für hochgenaue Drei-Temperatur-Prüfungen ausgestattet, ein Magnetfeldsteuerungssystem, das stabil steuerbare Magnetfelder in der Ebene und in der normalen Ebene bietet,Nichtmagnetische Prüfsitze, und Wärmesenkungen zusammen mit elektrischen Quellzählern, schafft es eine Testumgebung für zerstörungsfreie, Chargetests der magnetischen und elektrischen Eigenschaften von Chips,eine wichtige Rolle bei der Entwicklung und Produktion von Magnetchips spielt.

Leistung der Ausrüstung
Indikatorkategorie Beschreibung
Erregungssystem Die maximale Magnetfeldstärke auf der X-Achse beträgt ±2000 Oe.
Die Einheitlichkeit des Magnetfeldes der X-Achse beträgt ≤±1%@2000 Oe@Φ35 mm Kugelraum.
Der wahre Wert des Magnetfeldes unter Nullmagnetfeld beträgt ≤ 0,1 Oe.
Hochpräzisions-Magnetfeldsensor Die Auflösung des Magnetfeldmonitors beträgt ≤ 10 μT
Modul für die elektrische Verschiebungsstufe Abstand der Äquivalenz der θ-Achse: ±180°; Rotationsgenauigkeit ≤1°; mit einem Absolute-Positions-Coder ausgestattet
Temperaturregelungssystem Die Auslasstemperatur beträgt einen Bereich von -70°C bis 220°C.
Testumgebungstemperaturmodul

Der innere Temperaturbereich der Steckdose beträgt -60°C bis 170°C

Es ist mit einem Temperaturüberwachungsmodul mit einer Temperaturgenauigkeit von ≤ 0,5 °C ausgestattet.
Temperaturüberschreitung ≤ 0,5°C
Prüfstand für Steckdosen Der Prüfsitz kann Temperaturen zwischen -60 °C und 170 °C standhalten.
Das Material ist nicht magnetisch.
Anwendungsfälle
Automatischer MRAM-Tester Magnetchip Endprüfmaschine Hochgeschwindigkeit 0
  • Schaltzeiten
Automatischer MRAM-Tester Magnetchip Endprüfmaschine Hochgeschwindigkeit 1
  • Digitale Ausgabe VS Magnetfluxdichte und Probenimpuls
Automatischer MRAM-Tester Magnetchip Endprüfmaschine Hochgeschwindigkeit 2
  • TMR-Sensor-Chip-Temperatur-Ausgabe-Karakteristikkurve
Anfrage senden

Ein schnelles Zitat