logo

Автоматический тестер MRAM для магнитных чипов, машина для финального тестирования, высокая скорость

Automatic Magnetic Chip Final Test Machine Product Introduction Magnetic chips, capable of providing high-speed, low-power non-volatile information storage, are considered key to solving future storage technology bottlenecks. Their excellent perfor-mance and reliability are crucial for the stable operation of electronic devices and data security. This product uses a three-temperature-zone anti-magnetic testing device to simulate magnetic field environments under different
Детали продукта
Выделить:

Автоматический тестер MRAM

,

Высокоскоростной тестер MRAM

,

Машина для финального тестирования магнитных чипов

Excitation system3: Истинное нулевое значение магнитного поля под нулевым магнитным полем составляет ≤0,1 OE;
Excitation system2: Единообразие магнитного поля оси X составляет ≤ ± 1%при 2000 OE@φ35 мм сферического пространства;
Excitation system1: Максимальная интенсивность магнитного поля на оси x составляет ± 2000 OE;
Excitation system4: Разрешение монитора магнитного поля составляет ≤10 мкт
Test Ambient Temperature Module: Температурный переход ≤0,5 ° C.
Electric Displacement Stage Module: θ-ось диапазон регулировки: ± 180 °; Точность вращения ≤1 °; Оснащен энкодером абсолютного положения

Основные свойства

Место происхождения: КИТАЙ
Наименование марки: Truth Instruments
Номер модели: MCT 500

Торговая недвижимость

Цена: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Условия оплаты: T/T.
Характер продукции

Автоматическая магнитная микросхема для окончательного испытания

Введение продукта

Магнитные микросхемы, способные обеспечивать высокоскоростное, маломощное нелеткое хранение информации, считаются ключевыми для решения будущих узких мест в технологии хранения.Их превосходная производительность и надежность имеют решающее значение для стабильной работы электронных устройств и безопасности данных.. Этот продукт использует антимагнитное испытательное устройство с тремя температурными зонами для моделирования магнитного поля при различных температурных условиях,обеспечение производительности и надежности чипа в нескольких экстремальных условиях. оснащенный точными датчиками температуры для высокоточного трехтемпературного испытания, системой управления магнитным полем, обеспечивающей стабильное управляемое магнитное поле в плоскости и нормальной плоскости,немагнитные испытательные сиденья, и тепловые раковины, наряду с счетчиками электрических источников, он создает среду для испытаний неразрушающих, серийных испытаний магнитных и электрических свойств чипов,играет важную роль в разработке и производстве магнитных чипов.

Производительность оборудования
Категория показателей Описание
Система возбуждения Максимальная интенсивность магнитного поля на оси X составляет ±2000 Oe;
Однородность магнитного поля оси X ≤±1%@2000 Oe@Φ35 мм сферического пространства;
Истинное значение магнитного поля при нулевом магнитном поле ≤ 0,1 Oe;
Высокоточный датчик магнитного поля Разрешение монитора магнитного поля ≤ 10 μT
Модуль электрического смещения Диапазон регулировки θ-оси: ±180°; точность вращения ≤1°; оснащен кодером абсолютного положения
Система контроля температуры Температура выхода поддерживает диапазон от -70°C до 220°C;
Модуль испытания температуры окружающей среды

Внутренний температурный диапазон розетки составляет от -60°C до 170°C

Он оснащен модулем мониторинга температуры с температурной точностью ≤ 0,5°C;
Превышение температуры ≤ 0,5°C

Пробная кресло сока Испытательное сиденье может выдерживать температуру от -60°C до 170°C;
Материал немагнитный.
Случаи применения
Автоматический тестер MRAM для магнитных чипов, машина для финального тестирования, высокая скорость 0
  • Время ответа при включении
Автоматический тестер MRAM для магнитных чипов, машина для финального тестирования, высокая скорость 1
  • Цифровой выход VS плотность магнитного потока и импульс отбора проб
Автоматический тестер MRAM для магнитных чипов, машина для финального тестирования, высокая скорость 2
  • Кривая характеристик выходной температуры на чипе датчика TMR
Отправить запрос

Получите быструю цитату