logo

Автоматический тестер MRAM для магнитных чипов, машина для финального тестирования, высокая скорость

Автоматическая магнитная микросхема для окончательного испытания Введение продукта Магнитные микросхемы, способные обеспечивать высокоскоростное, маломощное нелеткое хранение информации, считаются ключевыми для решения будущих узких мест в технологии хранения.Их превосходная производительность и над...
Детали продукта
Выделить:

Автоматический тестер MRAM

,

Высокоскоростной тестер MRAM

,

Машина для финального тестирования магнитных чипов

Excitation system3: Истинное нулевое значение магнитного поля под нулевым магнитным полем составляет ≤0,1 OE;
Excitation system2: Единообразие магнитного поля оси X составляет ≤ ± 1%при 2000 OE@φ35 мм сферического пространства;
Excitation system1: Максимальная интенсивность магнитного поля на оси x составляет ± 2000 OE;
Excitation system4: Разрешение монитора магнитного поля составляет ≤10 мкт
Test Ambient Temperature Module: Температурный переход ≤0,5 ° C.
Electric Displacement Stage Module: θ-ось диапазон регулировки: ± 180 °; Точность вращения ≤1 °; Оснащен энкодером абсолютного положения

Основные свойства

Место происхождения: КИТАЙ
Наименование марки: Truth Instruments
Номер модели: MCT 500

Торговая недвижимость

Цена: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Условия оплаты: T/T.
Характер продукции

Автоматическая магнитная микросхема для окончательного испытания

Введение продукта

Магнитные микросхемы, способные обеспечивать высокоскоростное, маломощное нелеткое хранение информации, считаются ключевыми для решения будущих узких мест в технологии хранения.Их превосходная производительность и надежность имеют решающее значение для стабильной работы электронных устройств и безопасности данных.. Этот продукт использует антимагнитное испытательное устройство с тремя температурными зонами для моделирования магнитного поля при различных температурных условиях,обеспечение производительности и надежности чипа в нескольких экстремальных условиях. оснащенный точными датчиками температуры для высокоточного трехтемпературного испытания, системой управления магнитным полем, обеспечивающей стабильное управляемое магнитное поле в плоскости и нормальной плоскости,немагнитные испытательные сиденья, и тепловые раковины, наряду с счетчиками электрических источников, он создает среду для испытаний неразрушающих, серийных испытаний магнитных и электрических свойств чипов,играет важную роль в разработке и производстве магнитных чипов.

Производительность оборудования
Категория показателей Описание
Система возбуждения Максимальная интенсивность магнитного поля на оси X составляет ±2000 Oe;
Однородность магнитного поля оси X ≤±1%@2000 Oe@Φ35 мм сферического пространства;
Истинное значение магнитного поля при нулевом магнитном поле ≤ 0,1 Oe;
Высокоточный датчик магнитного поля Разрешение монитора магнитного поля ≤ 10 μT
Модуль электрического смещения Диапазон регулировки θ-оси: ±180°; точность вращения ≤1°; оснащен кодером абсолютного положения
Система контроля температуры Температура выхода поддерживает диапазон от -70°C до 220°C;
Модуль испытания температуры окружающей среды

Внутренний температурный диапазон розетки составляет от -60°C до 170°C

Он оснащен модулем мониторинга температуры с температурной точностью ≤ 0,5°C;
Превышение температуры ≤ 0,5°C

Пробная кресло сока Испытательное сиденье может выдерживать температуру от -60°C до 170°C;
Материал немагнитный.
Случаи применения
Автоматический тестер MRAM для магнитных чипов, машина для финального тестирования, высокая скорость 0
  • Время ответа при включении
Автоматический тестер MRAM для магнитных чипов, машина для финального тестирования, высокая скорость 1
  • Цифровой выход VS плотность магнитного потока и импульс отбора проб
Автоматический тестер MRAM для магнитных чипов, машина для финального тестирования, высокая скорость 2
  • Кривая характеристик выходной температуры на чипе датчика TMR
Отправить запрос

Получите быструю цитату