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Multifunktionales MOKE-Mikroskop 250 nm Magneto-Optischer Kerr-Effekt-Mikroskop für SOT-Analyse
Multifunktionales MOKE-Mikroskop zur SOT-Analyse Beschreibung des Produkts: Einer der wichtigsten Merkmale des Multifunktions-Spin-Test-Magnetoptischen Kerr-Mikroskops ist sein Mikrosekunden-Ultraschnellen-Puls-Vertikalmagnetfeld.die eine vertikale Magnetfeldstärke von 60 mT mit einer Aufstiegszeit ...
Präzise Kryo-Probestation
Kryogenfreie Sondenstation für automatisierte magnetische Messungen Beschreibung des Produkts: Die Kryogene In-Plane Magnetfeldsonde Station ist ein hochmodernes Werkzeug für Forscher und Wissenschaftler, die mit Spintronikgeräten arbeiten.Diese fortschrittliche Sondenstation bietet präzise ...
Kryogenfreie automatisierte Probe Station Niedertemperatur Vakuum Probe Station für 4 K-Gerätemessungen
Kryogenfreie Probestation für automatisierte 4 K-Gerätemessungen Produktbeschreibung: Die Kryogene Probestation ist ein hochmodernes Gerät, das für die kryogenfreie, kostengünstige und präzise Charakterisierung kryogener Geräte entwickelt wurde. Mit ihren fortschrittlichen Funktionen und Fähigkeiten ...
Kryogene vertikale supraleitende Magnetfeldsondestation
Kryogene vertikale supraleitende Magnetfeldsondestation Produkteinführung Die PS1DP-Cryo-Schlusskreislauf-kryogene Supraleitmagnet-Sondestation, die auf einer 4K-Schlusskreislauf-Kryogen-Sondestation basiert, fügt einen ±3 T-Supraleitmagnet hinzu.Bereitstellung einer niedrigtemperaturen starken ...
4 K-Kryogen-Tester mit ±1,20 mK Stabilität und 0-67 GHz-Mikrowellen für 2-Zoll-Proben in einer Niedertemperatur-Sonde Station
PS-Cryo 4K Kryogene Sondenstation Die PS-Cryo 4 K-Kryogen-Sondestation ist eine hochmoderne Lösung, die für präzise elektrische Prüfungen von Proben bei ultra-niedrigen Temperaturen von 4 K bis 420 K entwickelt wurde.Dieses kostengünstige System erfüllt anspruchsvolle Anforderungen an Forscher und ...
Hochauflösendes Rasterkraftmikroskop 0,15 nm für Wafer
Hochauflösendes Rasterkraftmikroskop für Wafer Produktbeschreibung: Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein hochmodernes Instrument zur hochauflösenden Bildgebung und Oberflächenanalyse in verschiedenen Bereichen wie Nanotechnologie, Materialwissenschaften und Biologie. Mit seinen fortschrittlichen F...
0.04 nm Atomkraftmikroskop für präzise Nanoskala-Oberflächenanalyse
Rasterkraftmikroskop für präzise Oberflächenanalyse im Nanobereich Produktbeschreibung: Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein hochmodernes Instrument, das Multi-Mode-Messfunktionen für die Oberflächenanalyse auf atomarer Auflösungsebene bietet. Dieses fortschrittliche Mikroskop ermöglicht eine ...
Kontakt-/Tap-Modi für Subnanometer-Materialien
Produktbeschreibung: Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein fortschrittliches Rasterkraftmikroskop, das außergewöhnliche Bildgebungs- und Messfähigkeiten im Nanobereich bietet. Dieses AFM-Modell wurde für Präzision und Vielseitigkeit entwickelt und unterstützt eine Vielzahl von Abtastraten von 0,1 ...
Vertrauenssiegel, Bonitätsprüfung, RoSH und Beurteilung der Lieferfähigkeit. Das Unternehmen verfügt über ein strenges Qualitätskontrollsystem und ein professionelles Testlabor.
Internes professionelles Designteam und fortschrittliche Maschinenwerkstatt. Wir können zusammenarbeiten, um die von Ihnen benötigten Produkte zu entwickeln.
Fortgeschrittene automatische Maschinen, strenges Prozesskontrollsystem. Wir können alle Instrumente und Geräte nach Ihren Anforderungen herstellen.
Große und kundenspezifische Kleinverpackungen, FOB, CIF, DDU und DDP. Lassen Sie uns Ihnen helfen, die beste Lösung für alle Ihre Anliegen zu finden.
Nachrichten
Vor kurzem hat das Forscherteam des Zentrums für Spintronik und Quantensysteme an der Fakultät für Materialwissenschaften und -technik der Xi'an...
Nachrichten
Kürzlich hat das Forschungsteam des Forschungsinstituts für saubere Energie und Brennstoffchemie, Fachbereich Chemieingenieurwesen der Universität...
Unsere Mission ist es, "Hohe Qualität", "Guten Service" und "Schnelle Lieferung" anzubieten, um unseren Kunden zu helfen, mehr Gewinne zu erzielen.
