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힘 변조 스캔 원자 현미경 고해상도 과학 현미경 0.04 nm
Force Modulation Scanning Atomic Force Microscope With High Resolution Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge instrument designed for high-resolution imaging and analysis at the nanoscale level. With its advanced capabilities, this microscope offers unparalleled ...
0.1Hz - 30Hz 원자력 현미경 나노스케일 스캐닝 프로브 현미경
Advanced Scanning Probe Microscope for Nanoscale Measurements Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge tool that offers multi-mode measurement capabilities with nanometer resolution, making it an essential instrument for various research and industrial applications. ...
고속 냉각 마그네토 광학 극저온 냉각기 1 상단 창 MO-극저온 냉각기, 첨단 재료 연구용
Fast Cooldown MO-Cryostat for Advanced Material Research Product Description: The Ultra-Low-Temperature Superconducting-Magnet Integrated Optical Property Measurement Cryostat is a cutting-edge system designed for researchers working with quantum materials and conducting cryogenic microscopy ...
하이 필드 옵틱 크라이오스타트 1.7 K - 350 K 온도 범위 다방향 광 접근과 함께 MO-Cryo
High Field Optical Cryostat With Multi Directional Optical Access Product Description: The Magneto Optical Cryostat is a cutting-edge research tool designed for precise measurements in the fields of 2D Materials, High Magnetic Field, and Magneto optical measurements. This innovative cryostat offers ...
GM 냉각 극저온 프로브 스테이션, 4 K-420 K 온도 범위, 초저 누설 전류, 고급 연구용 다중 프로브 (4-8 암)
GM Refrigerated Probe: 4 K-420K, 4-8 Arms & I-V/C-V/Optoelectronic Research Advanced Cryogenic Probe Station The Cryogenic Probe Station is a state-of-the-art 0-67 GHz microwave-compatible 4 K cryogenic probe station designed for advanced research and development in low-temperature physics, ...
멀티 프로브 크로이오겐 테스트: 4 K-420 K, GM 리프리그 및 I-V/C-V/마이크로 웨브 테스트
Product Description: The PS-Cryo 4 K cryogenic probe station is an advanced and highly specialized instrument designed for precision testing and measurement at extremely low temperatures. Engineered to meet the demanding requirements of modern research and development in fields such as quantum ...
0.04 nm 정밀 나노 스케일 표면 분석용 원자력 현미경
Atomic Force Microscope For Precise Nanoscale Surface Analysis Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument that offers multi-mode measurement capabilities for surface analysis at the atomic resolution level. This advanced microscope allows for detailed ...
AtomExplorer: 칩 및 나노물질 정밀 지형 분석 도구
Product Description: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed to meet the diverse needs of scientific research and industrial R&D applications. This multifunctional AFM is equipped with advanced measurement modes, including Electrostatic ...
소식
최근 Xi'an Jiaotong University의 재료 과학 및 공학 학교의 Spintronics 및 Quantum Systems 센터의 연구팀은 유명한 나노 스케일 과학 저널 인 Nanoscale (Royal Society of Chemistry의 저널)에...
소식
최근에는 청정 에너지 및 연료 화학 연구소의 연구팀이랴오닝과학기술대학 화학공학과는 최고 수준의 수소 에너지 저널에 일련의 최신 연구 결과를 연속적으로 발표했습니다.,국제 수소 에너지 저널, 그리고 권위있는 인터페이스 화학 저널,콜로이드 및 인터페이스 과학...
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