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교육 및 산업 연구용 다재다능한 AFM 솔루션

제품 설명:기본형 원자력 현미경 (AFM) 은 과학 연구의 엄격한 요구에 부응하도록 설계된 실험실 AFM 장비의 첨단 부품입니다. 이 AFM 현미경은 정확성,다양성, 그리고 신뢰성 때문에 나노 스케일에서 상세한 표면 분석을 필요로 하는 연구자들에게 이상적인 선택입니다.기본형 AFM는 광범위한 응용 분야에 걸쳐 재료 특성에 대한 포괄적인 통찰력을 제공하기 위해 설계되었습니다.. 과학 연구를 위한 이 AFM의 가장 뛰어난 특징 중 하나는 0.04nm의 Z축 소음 수준입니다.이 극히 낮은 노이즈 레벨은 매우 정확한 표면 지형 측정을 보장...
제품 상세정보
Scanning Range: 100μm×100μm×10μm / 30μm×30μm×5μm
Scanning Method: XYZ 3축 전체 샘플 스캐닝
Z-Axis Noise Level: 0.04 nm
Tip Protection Technology: 안전한 바늘 삽입 모드
Multifunctional Measurements: 정전기력 현미경(EFM), 주사형 켈빈 현미경(KPFM), 압전력 현미경(PFM), 자기력 현미경(MFM)
Sample Size: Φ 25mm
Image Sampling Points: 32×32-4096×4096
Operating Mode: 탭 모드, 접촉 모드, 리프트 모드, 위상 이미징 모드

기본 속성

브랜드 이름: Truth Instruments
모델 번호: AtomExplorer

부동산 거래

가격: Price Negotiable | Contact Us For A Detailed Quote
제품 설명

제품 설명:

기본형 원자력 현미경 (AFM) 은 과학 연구의 엄격한 요구에 부응하도록 설계된 실험실 AFM 장비의 첨단 부품입니다. 이 AFM 현미경은 정확성,다양성, 그리고 신뢰성 때문에 나노 스케일에서 상세한 표면 분석을 필요로 하는 연구자들에게 이상적인 선택입니다.기본형 AFM는 광범위한 응용 분야에 걸쳐 재료 특성에 대한 포괄적인 통찰력을 제공하기 위해 설계되었습니다..

과학 연구를 위한 이 AFM의 가장 뛰어난 특징 중 하나는 0.04nm의 Z축 소음 수준입니다.이 극히 낮은 노이즈 레벨은 매우 정확한 표면 지형 측정을 보장, 연구자들이 샘플 표면의 가장 미묘한 변동까지 캡처 할 수 있습니다. Z축 제어의 정확성은 이미징 품질과 데이터 신뢰성을 크게 향상시킵니다.첨단 나노 기술 연구와 물질 특성화에 매우 중요합니다..

기본형 AFM는 다양한 표본 크기와 연구 요구 사항을 수용하기 위해 유연한 스캔 범위를 제공합니다. 두 가지 스캔 범위를 제공합니다.100μm * 100μm * 10μm 및 30μm * 30μm * 5μm, 사용자가 자신의 특정 실험에 최적의 스케일을 선택할 수 있습니다. 이 적응력은 다양한 샘플에 적합합니다.대용량 표면 특징에서 미세한 나노 규모 구조까지, 따라서 여러 과학 분야에 적용 가능성을 높입니다.

모든 현미경 기술에서 안전과 샘플 무결성은 무엇보다 중요하며, 이 AFM 현미경은 혁신적인 끝 보호 기술로 이 분야에서 탁월합니다.안전 바늘 삽입 모드는 샘플 접근 및 스캔 동안 칸티레버 끝을 보호이 기술은 정지 시간 및 유지 보수 비용을 최소화함으로써 운영 효율을 향상시킵니다.이것은 바쁜 연구실에서는 특히 유리합니다..

표준 원자력 현미경 이외에도 기본형 AFM는 다양한 다기능 측정 기능을 지원하여 포괄적인 표면 분석을 위한 다재다능한 도구가 됩니다.그것은 전기적 특성을 탐구하기 위해 정전력 미생물 (EFM) 을 통합합니다., 표면 잠재력을 측정하기 위한 켈빈 스캔 탐사 힘 현미경 (KPFM), 피에조 전기 힘 현미경 (PFM) 을 사용하여 피에조 전기 물질을 연구합니다.그리고 자기 영역 영상 촬영을 위한 자기 힘 현미경 (MFM)이러한 능력은 여러 도구의 필요 없이 연구자들이 복잡하고 다중 매개 변수 조사를 수행할 수 있게 합니다.

기본형 AFM의 이미지 샘플링 포인트는 32 * 32에서 4096 * 4096까지 인상적 인 범위에서 촬영된 사진에서 예외적인 해상도와 세부 사항을 제공합니다.이러한 다양한 샘플링 옵션은 과학자들이 실험 필요에 따라 영상 속도와 해상도를 균형 잡을 수 있도록 합니다.고해상도 영상 촬영은 상세한 표면 형태학 연구를 위해 필수적이며, 낮은 해상도 설정은 더 큰 영역의 빠른 스캔을 위해 사용될 수 있습니다.

요약하자면 기본형 원자력 현미경은 최첨단 과학 연구를 위해 고안된 강력하고 신뢰할 수 있는 실험실 AFM 장비입니다.다재다능한 스캔 범위, 혁신적인 끝 보호, 다기능 측정 모드 및 고해상도 영상 기능이 함께 나노 과학 및 재료 과학 연구소에서 필수 도구가됩니다.전기적 특성을 조사하고 있는지 여부, 자기 영역, 피에조 전기 효과, 또는 단순히 표면 지형 지도, 이 AFM 현미경은 당신의 연구를 발전시키기 위해 필요한 정확성과 유연성을 제공합니다.


특징:

  • 제품명: 기본형 원자력 현미경
  • 높은 안정성 AFM
  • 전기 정전력 현미경 (EFM), 스캐닝 켈빈 현미경 (KPFM), 피에조 전기 힘 현미경 (PFM), 자기 힘 현미경 (MFM) 을 포함한 다기능 측정
  • 손상을 방지하기 위해 안전 바늘 삽입 모드와 함께 끝 보호 기술
  • 낮은 Z축 소음 수준 0.04 Nm 정확 한 나노 스케일 토포그래피 영상 확보
  • XYZ 세 축 전체 샘플 스캔 방법
  • Φ 25mm까지 샘플 크기를 지원합니다.
  • 첨단 연구 및 개발을 위한 이상적인 실험실 AFM 장비

기술 매개 변수:

작동 모드 탭 모드, 접촉 모드, 리프트 모드, 단계 영상 모드
표본 크기 Φ 25mm
이미지 샘플링 포인트 32*32 - 4096*4096
다기능 측정 전기 정전력 현미경 (EFM), 스캔 켈빈 현미경 (KPFM), 피에조 전기력 현미경 (PFM), 자기력 현미경 (MFM)
Z축 소음 수준 00.04 Nm
톱 보호 기술 안전 바늘 삽입 모드
스캔 방법 XYZ 3축 전체 샘플 스캔
스캔 범위 100μm*100μm*10μm / 30μm*30μm*5μm

응용 프로그램:

트루트 인스트루먼트 (Truth Instruments) 의 기본 원자력 현미경, 모델 원자력 탐사기 (AtomExplorer) 는 광범위한 과학 및 산업용 용도로 설계된 고급하지만 사용자 친화적인 도구입니다.중국산이 원자력 현미경은 나노 규모의 정확한 표면 특징을 필요로 하는 연구원, 엔지니어 및 품질 관리 전문가에게 이상적입니다.100μm*100μm*10μm 및 30μm*30μm*5μm의 다재다능한 스캔 범위, 그것은 Φ 25mm까지 다양한 샘플 크기를 수용하여 반도체, 폴리머, 생물학적 표본 및 나노 구조를 포함한 다양한 물질을 연구하기에 적합합니다.

아토믹 익스플로러 기본 원자력 현미경의 대표적인 특징 중 하나는 톱 보호 기술, 특히 안전 바늘 삽입 모드입니다.이 기술은 샘플 접근 및 스캔 동안 AFM 끝의 장수성과 신뢰성을 보장, 손상 위험을 줄이고 장기간에 걸쳐 안정적인 측정이 가능합니다.이것은 정밀도와 샘플 무결성이 가장 중요한 섬세한 샘플 또는 환경에 대한 훌륭한 선택으로 만듭니다..

이 원자력 현미경의 다기능 측정 기능은 표준 토포그래피 영상을 넘어 사용성을 확장합니다. 통합된 정전전력 현미경 (EFM) 으로,스캐닝 켈빈 프로브 현미경 (KPFM), 피에조 전기 힘 현미경 (PFM), 그리고 자기 힘 현미경 (MFM), 사용자는 포괄적인 표면 잠재력, 피에조 전기 및 자기 특성 분석을 수행 할 수 있습니다.이 다기능성은 원자력 탐사기를 재료 과학의 다재다능한 도구로 배치합니다., 나노 기술 연구 및 전자 장치 개발

32*32에서 4096*4096까지의 유연한 이미지 샘플링 포인트는 사용자가 특정 연구 필요에 따라 해상도와 스캔 속도를 조정 할 수 있습니다.높은 정확도로 상세한 이미지를 제공기본 원자력 현미경의 사용 편의성, 첨단 기능과 결합하여 학술 연구소, 산업 R&D 센터,그리고 신뢰성 있는 나노 스케일 표면 특성화를 추구하는 품질 보장 부서.

가격이 협상 가능하기 때문에, 잠재적 인 구매자는 그들의 특정 요구 사항에 맞춘 자세한 요금을 위해 진실 도구에 연락하도록 권장됩니다.제품 개발, 또는 교육용으로, AtomExplorer 원자력력 현미경은 성능, 저렴성, 다재다능성을 균형 잡는 매력적인 솔루션을 제공합니다.


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