Solutions AFM polyvalentes pour l'enseignement et la recherche industrielle

Description du produit:

Le microscope de force atomique de type basique (AFM) est un équipement de laboratoire de pointe conçu pour répondre aux exigences rigoureuses de la recherche scientifique.la polyvalenceAvec ses performances supérieures et ses capacités multifonctionnelles, il est le meilleur outil pour les chercheurs qui ont besoin d'analyses de surface détaillées à l'échelle nanométrique.l'AFM de type Basic est conçu pour fournir des informations complètes sur les propriétés des matériaux pour un large éventail d'applications.

L'une des caractéristiques les plus remarquables de cet AFM pour la recherche scientifique est son niveau de bruit exceptionnel sur l'axe Z de seulement 0,04 nm.Ce niveau de bruit ultra-faible assure des mesures de topographie de surface très précisesLa précision du contrôle de l'axe Z améliore considérablement la qualité de l'imagerie et la fiabilité des données.qui est crucial pour les études avancées de nanotechnologie et la caractérisation des matériaux.

L'AFM de type Basic offre des plages de balayage flexibles pour s'adapter aux différentes tailles d'échantillons et aux exigences de recherche.100 μm * 100 μm * 10 μm et 30 μm * 30 μm * 5 μm, permettant aux utilisateurs de choisir l'échelle optimale pour leur expérience spécifique.des caractéristiques de surface à grande échelle aux structures nanométriques minuscules, augmentant ainsi son applicabilité dans de multiples disciplines scientifiques.

La sécurité et l'intégrité des échantillons sont primordiales dans toute technique de microscopie, et ce microscope AFM excelle dans ce domaine avec sa technologie innovante de protection de pointe.Le mode d'insertion de l'aiguille protège la pointe du porte-échantillons pendant l'approche et le balayage de l'échantillonCette technologie améliore l'efficacité opérationnelle en minimisant les temps d'arrêt et les coûts de maintenance.qui est particulièrement avantageux dans les laboratoires de recherche occupés.

Au-delà de la microscopie de force atomique standard, l'AFM de type Basic prend en charge un large éventail de mesures multifonctionnelles, ce qui en fait un outil polyvalent pour une analyse complète de la surface.Il intègre la microscopie de force électrostatique (EFM) pour la sonde des propriétés électriques, la microscopie de force de sonde à balayage Kelvin (KPFM) pour mesurer le potentiel de surface, la microscopie de force piézoélectrique (PFM) pour étudier les matériaux piézoélectriques,et la microscopie à force magnétique (MFM) pour l'imagerie du domaine magnétiqueCes capacités permettent aux chercheurs d'effectuer des enquêtes complexes et multi-paramètres sans avoir besoin de plusieurs instruments.

Les points d'échantillonnage de l'AFM de type Basic vont de 32*32 à 4096*4096, offrant une résolution et un détail exceptionnels dans les images capturées.Cette large gamme d'options d'échantillonnage permet aux scientifiques d'équilibrer la vitesse d'imagerie et la résolution en fonction de leurs besoins expérimentauxL'imagerie haute résolution est essentielle pour des études détaillées de la morphologie de surface, tandis que des réglages de résolution inférieure peuvent être utilisés pour une analyse rapide de zones plus grandes.

En résumé, le microscope de force atomique de type Basic est un équipement AFM de laboratoire puissant et fiable conçu pour la recherche scientifique de pointe.gammes de balayage polyvalentes, la protection innovante de la pointe, les modes de mesure multifonctionnels et les capacités d'imagerie haute résolution en font collectivement un outil indispensable pour les laboratoires de nanoscience et de science des matériaux.Si vous enquêtez sur les propriétés électriques, les domaines magnétiques, les effets piézoélectriques, ou simplement la cartographie de la topographie de surface, ce microscope AFM fournit la précision et la flexibilité nécessaires pour faire avancer vos recherches.

Caractéristiques:

• Nom du produit: Microscope de force atomique de type de base
• AFM à haute stabilité pour des mesures fiables et précises
• Mesures multifonctionnelles comprenant le microscope à force électrostatique (EFM), le microscope à scanner Kelvin (KPFM), le microscope à force piézoélectrique (PFM) et le microscope à force magnétique (MFM)
• Technologie de protection de pointe avec mode d'insertion de l'aiguille en toute sécurité pour prévenir les dommages
• Faible niveau de bruit de l'axe Z de 0,04 Nm assurant une imagerie topographique à l'échelle nanométrique précise
• XYZ Méthode de balayage à échantillon complet à trois axes pour une analyse complète de la surface
• Prend en charge des échantillons jusqu'à Φ 25 mm
• Équipement idéal de laboratoire AFM pour la recherche et le développement avancés

Paramètres techniques:

Applications:

Le microscope de base de la force atomique, modèle AtomExplorer, par Truth Instruments, est un outil avancé mais convivial conçu pour un large éventail d'applications scientifiques et industrielles.D'origine chinoise, ce microscope de la force atomique est idéal pour les chercheurs, les ingénieurs et les professionnels du contrôle de la qualité qui ont besoin d'une caractérisation de surface précise à l'échelle nanométrique.avec une plage de balayage polyvalente de 100 μm*100 μm*10 μm et de 30 μm*30 μm*5 μm, il peut accueillir différentes tailles d'échantillons jusqu'à Φ 25 mm, ce qui le rend approprié pour l'étude de divers matériaux, y compris les semi-conducteurs, les polymères, les spécimens biologiques et les nanostructures.

L'une des caractéristiques les plus remarquables du microscope de base AtomExplorer est sa technologie de protection de pointe, en particulier le mode d'insertion d'aiguille sécurisée.Cette technologie assure la longévité et la fiabilité de la pointe de l'AFM lors de l'approche de l'échantillon et du balayage, réduisant le risque de dommages et permettant des mesures stables sur de longues périodes.Cela en fait un excellent choix pour les échantillons délicats ou les environnements où la précision et l'intégrité de l'échantillon sont primordiales.

Les capacités de mesure multifonctionnelles de ce microscope de force atomique étendent sa facilité d'utilisation au-delà de l'imagerie topographique standard.Microscopie par sonde à scanner Kelvin (KPFM)Dans le cadre de la microscopie de la force piézoélectrique (PFM) et de la microscopie de la force magnétique (MFM), les utilisateurs peuvent effectuer des analyses complètes du potentiel de surface, des propriétés piézoélectriques et magnétiques.Cette polyvalence positionne l'AtomExplorer comme un instrument polyvalent pour la science des matériaux, la recherche en nanotechnologie et le développement de dispositifs électroniques.

Ses points d'échantillonnage d'images flexibles, allant de 32*32 à 4096*4096, permettent aux utilisateurs d'adapter la résolution et la vitesse de balayage en fonction des besoins de recherche spécifiques,fournir des images détaillées avec une grande précisionLa facilité d'utilisation du microscope de base de la force atomique, combinée à ses caractéristiques avancées, le rendent adapté aux laboratoires universitaires, aux centres de R & D industriels, aux centres de recherche et de développement, aux centres de recherche et de développement, aux centres de recherche et de développement, aux centres de recherche et de développement, aux centres de recherche et de développement, aux centres de recherche et de développement, aux centres de recherche et aux centres de recherche.et des services d'assurance qualité qui recherchent une caractérisation fiable de la surface à l'échelle nanométrique.

Comme le prix est négociable, les acheteurs potentiels sont encouragés à contacter Truth Instruments pour un devis détaillé adapté à leurs besoins spécifiques.développement de produits, ou à des fins éducatives, le microscope de force atomique AtomExplorer offre une solution convaincante qui équilibre les performances, l'abordabilité et la polyvalence.