راه حل های همه کاره AFM برای آموزش و تحقیقات صنعتی
ویژگی های اساسی
املاک تجاری
توضیحات محصول:
میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) از نوع پایه، یک تجهیزات پیشرفته AFM آزمایشگاهی است که برای پاسخگویی به نیازهای دقیق تحقیقات علمی طراحی شده است. این میکروسکوپ AFM دقت، تطبیق پذیری و قابلیت اطمینان را با هم ترکیب می کند و آن را به انتخابی ایده آل برای محققانی تبدیل می کند که به تجزیه و تحلیل دقیق سطح در مقیاس نانو نیاز دارند. AFM از نوع پایه با عملکرد برتر و قابلیت های چند منظوره خود، برای ارائه بینش های جامع در مورد خواص مواد در طیف گسترده ای از کاربردها طراحی شده است.
یکی از ویژگی های برجسته این AFM برای تحقیقات علمی، سطح نویز محور Z استثنایی آن است که تنها 0.04 نانومتر است. این سطح نویز فوق العاده کم، اندازه گیری های توپوگرافی سطح بسیار دقیقی را تضمین می کند و محققان را قادر می سازد تا حتی ظریف ترین تغییرات در سطوح نمونه را ثبت کنند. دقت کنترل محور Z به طور قابل توجهی کیفیت تصویربرداری و قابلیت اطمینان داده ها را افزایش می دهد که برای مطالعات پیشرفته نانوتکنولوژی و شناسایی مواد بسیار مهم است.
AFM از نوع پایه محدوده های اسکن انعطاف پذیری را برای تطبیق با اندازه های مختلف نمونه و الزامات تحقیقاتی ارائه می دهد. این دو گزینه محدوده اسکن را ارائه می دهد: 100 میکرومتر * 100 میکرومتر * 10 میکرومتر و 30 میکرومتر * 30 میکرومتر * 5 میکرومتر، که به کاربران اجازه می دهد مقیاس بهینه را برای آزمایش خاص خود انتخاب کنند. این قابلیت انطباق آن را برای طیف گسترده ای از نمونه ها، از ویژگی های سطح در مقیاس بزرگ گرفته تا ساختارهای نانوسکوپی کوچک، مناسب می کند و در نتیجه قابلیت کاربرد آن را در چندین رشته علمی افزایش می دهد.
ایمنی و یکپارچگی نمونه در هر تکنیک میکروسکوپی از اهمیت بالایی برخوردار است و این میکروسکوپ AFM در این زمینه با فناوری نوآورانه حفاظت از نوک خود برتری دارد. حالت درج ایمن سوزن از نوک کنسول در هنگام نزدیک شدن به نمونه و اسکن محافظت می کند و خطر آسیب دیدن نوک را کاهش می دهد و طول عمر آن را افزایش می دهد. این فناوری با به حداقل رساندن زمان خرابی و هزینه های نگهداری، راندمان عملیاتی را افزایش می دهد، که به ویژه در آزمایشگاه های تحقیقاتی شلوغ مفید است.
فراتر از میکروسکوپ نیروی اتمی استاندارد، AFM از نوع پایه از طیف گسترده ای از اندازه گیری های چند منظوره پشتیبانی می کند و آن را به ابزاری همه کاره برای تجزیه و تحلیل جامع سطح تبدیل می کند. این میکروسکوپ، میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM) را برای بررسی خواص الکتریکی، میکروسکوپ نیروی پروب کلوین اسکن (KPFM) برای اندازه گیری پتانسیل سطح، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM) برای مطالعه مواد پیزوالکتریک و میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) را برای تصویربرداری از دامنه های مغناطیسی ادغام می کند. این قابلیت ها محققان را قادر می سازد تا تحقیقات پیچیده و چند پارامتری را بدون نیاز به چندین ابزار انجام دهند.
نقاط نمونه برداری تصویر AFM از نوع پایه از 32 * 32 تا 4096 * 4096 چشمگیر متغیر است و وضوح و جزئیات استثنایی را در تصاویر ثبت شده ارائه می دهد. این طیف گسترده از گزینه های نمونه برداری به دانشمندان اجازه می دهد تا بین سرعت تصویربرداری و وضوح تصویر با توجه به نیازهای آزمایشی خود تعادل برقرار کنند. تصویربرداری با وضوح بالا برای مطالعات دقیق مورفولوژی سطح ضروری است، در حالی که تنظیمات با وضوح پایین تر می تواند برای اسکن سریع مناطق بزرگتر استفاده شود.
به طور خلاصه، میکروسکوپ نیروی اتمی از نوع پایه، یک تجهیزات AFM آزمایشگاهی قدرتمند و قابل اعتماد است که برای تحقیقات علمی پیشرفته طراحی شده است. سطح نویز فوق العاده کم محور Z، محدوده های اسکن همه کاره، حفاظت نوک نوآورانه، حالت های اندازه گیری چند منظوره و قابلیت های تصویربرداری با وضوح بالا، همگی آن را به ابزاری ضروری برای آزمایشگاه های علوم نانو و علوم مواد تبدیل می کند. چه در حال بررسی خواص الکتریکی، دامنه های مغناطیسی، اثرات پیزوالکتریک یا به سادگی ترسیم توپوگرافی سطح باشید، این میکروسکوپ AFM دقت و انعطاف پذیری لازم برای پیشبرد تحقیقات شما را فراهم می کند.
ویژگی ها:
- نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی از نوع پایه
- AFM با پایداری بالا برای اندازه گیری های قابل اعتماد و دقیق
- اندازه گیری های چند منظوره از جمله میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM) و میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM)
- فناوری حفاظت از نوک با حالت درج ایمن سوزن برای جلوگیری از آسیب
- سطح نویز کم محور Z 0.04 نانومتر که تصویربرداری دقیق توپوگرافی در مقیاس نانو را تضمین می کند
- روش اسکن کامل سه محوره XYZ برای تجزیه و تحلیل جامع سطح
- پشتیبانی از اندازه نمونه تا 25 میلی متر
- تجهیزات AFM آزمایشگاهی ایده آل برای تحقیق و توسعه پیشرفته
پارامترهای فنی:
| حالت عملیاتی | حالت ضربه ای، حالت تماس، حالت بالابر، حالت تصویربرداری فاز |
| اندازه نمونه | 25 میلی متر |
| نقاط نمونه برداری تصویر | 32*32 - 4096*4096 |
| اندازه گیری های چند منظوره | میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM)، میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) |
| سطح نویز محور Z | 0.04 نانومتر |
| فناوری حفاظت از نوک | حالت درج ایمن سوزن |
| روش اسکن | اسکن کامل سه محوره XYZ |
| محدوده اسکن | 100 میکرومتر*100 میکرومتر*10 میکرومتر / 30 میکرومتر*30 میکرومتر*5 میکرومتر |
کاربردها:
میکروسکوپ نیروی اتمی پایه، مدل AtomExplorer، توسط Truth Instruments، یک ابزار پیشرفته و در عین حال کاربرپسند است که برای طیف گسترده ای از کاربردهای علمی و صنعتی طراحی شده است. این میکروسکوپ نیروی اتمی که منشا آن از چین است، برای محققان، مهندسان و متخصصان کنترل کیفیت که به مشخصه سازی دقیق سطح در مقیاس نانو نیاز دارند، ایده آل است. با محدوده اسکن همه کاره 100 میکرومتر*100 میکرومتر*10 میکرومتر و 30 میکرومتر*30 میکرومتر*5 میکرومتر، اندازه های مختلف نمونه تا 25 میلی متر را در خود جای می دهد و آن را برای مطالعه مواد مختلف از جمله نیمه هادی ها، پلیمرها، نمونه های بیولوژیکی و نانوساختارها مناسب می کند.
یکی از ویژگی های برجسته میکروسکوپ نیروی اتمی AtomExplorer Basic، فناوری حفاظت از نوک آن، به ویژه حالت درج ایمن سوزن است. این فناوری طول عمر و قابلیت اطمینان نوک AFM را در هنگام نزدیک شدن به نمونه و اسکن تضمین می کند، خطر آسیب را کاهش می دهد و اندازه گیری های پایدار را در طول دوره های طولانی امکان پذیر می کند. این امر آن را به انتخابی عالی برای نمونه های ظریف یا محیط هایی که دقت و یکپارچگی نمونه در اولویت است، تبدیل می کند.
قابلیت های اندازه گیری چند منظوره این میکروسکوپ نیروی اتمی، قابلیت استفاده آن را فراتر از تصویربرداری توپوگرافی استاندارد گسترش می دهد. با میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ پروب کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM) و میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) یکپارچه، کاربران می توانند تجزیه و تحلیل جامع پتانسیل سطح، پیزوالکتریک و خواص مغناطیسی را انجام دهند. این چند منظوره بودن، AtomExplorer را به عنوان یک ابزار همه کاره برای علوم مواد، تحقیقات نانوتکنولوژی و توسعه دستگاه های الکترونیکی قرار می دهد.
نقاط نمونه برداری تصویر انعطاف پذیر آن، از 32*32 تا 4096*4096، به کاربران اجازه می دهد تا وضوح و سرعت اسکن را با توجه به نیازهای تحقیقاتی خاص تنظیم کنند و تصاویر دقیقی را با دقت بالا ارائه دهند. سهولت استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی پایه، همراه با ویژگی های پیشرفته آن، آن را برای آزمایشگاه های دانشگاهی، مراکز تحقیق و توسعه صنعتی و بخش های تضمین کیفیت که به مشخصه سازی سطح در مقیاس نانو قابل اعتماد نیاز دارند، مناسب می کند.
از آنجایی که قیمت قابل مذاکره است، خریداران بالقوه تشویق می شوند تا برای دریافت قیمت دقیق متناسب با نیازهای خاص خود با Truth Instruments تماس بگیرند. میکروسکوپ نیروی اتمی AtomExplorer، چه برای تحقیقات بنیادی، توسعه محصول یا اهداف آموزشی، یک راه حل جذاب ارائه می دهد که عملکرد، مقرون به صرفه بودن و تطبیق پذیری را متعادل می کند.