میکروسکوپ نیروی اتمی بیولوژیکی با دقت بالا میکروسکوپ بررسی اسکن 0.15 nm وضوح
High Precision Scanning Probe Microscope 0.15 nm Resolution Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument that offers exceptional capabilities for nanometer resolution surface analysis. With a scanning range of 100 μm X 100 μm X 10 μm, this AFM product provides ...
میکروسکوپ کاوشگر اسکن نانومقیاس 0.1 هرتز - 30 هرتز میکروسکوپ نیروی اتمی
Advanced Scanning Probe Microscope for Nanoscale Measurements Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge tool that offers multi-mode measurement capabilities with nanometer resolution, making it an essential instrument for various research and industrial applications. ...
ایستگاه سنجش میدان مغناطیسی 0.05 mT ایستگاه سنجش برای آزمایش دمای متغیر
Probe Station For Variable Temperature And Magnetic Field Testing Product Description: The 1D In-Plane Magnetic Field Probe Station is a sophisticated tool designed for precise magnetoresistance measurement in research and testing applications. This magnetic probe station is equipped with advanced ...
ایستگاه کاوشگر کریوجنیک یخچال GM با محدوده دمای 4 K-420 K، جریان نشت الکتریکی بسیار کم و کاوشگر چندگانه (4-8 بازو) برای تحقیقات پیشرفته
GM Refrigerated Probe: 4 K-420K, 4-8 Arms & I-V/C-V/Optoelectronic Research Advanced Cryogenic Probe Station The Cryogenic Probe Station is a state-of-the-art 0-67 GHz microwave-compatible 4 K cryogenic probe station designed for advanced research and development in low-temperature physics, ...
کاوشگر 4 K با خلاء بالا: 0-67 گیگاهرتز، 4-8 بازو و مشخصه یابی الکتریکی مقرون به صرفه
Product Description: The Cryogenic Probe Station is an advanced and versatile instrument designed for precise cryogenic electrical characterization (I-V/C-V) measurements. It is engineered to meet the demanding requirements of researchers and engineers working with low-temperature semiconductor ...
میکروسکوپ مقناطیسی دائمی کر با وضوح بالا میکروسکوپ اثر کر نوتریک مقناطیسی 450 نانومتر
Permanent Magnet Kerr Microscope Product Introduction Designed for in-depth research on permanent magnet materials, this advanced precision testing instrument enables high-resolution precise measurement and detailed observation of longitudinal, transverse, and vertical magneto-optical Kerr effects ...
تسلط بر مشخصهیابی سطح در مقیاس نانو با میکروسکوپ نیروی اتمی AtomExplorer
Product Description: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a highly versatile and reliable Scanning Probe Microscope designed specifically for laboratories seeking advanced yet user-friendly AFM equipment. This model provides comprehensive capabilities for material surface characterization...
0.1 هرتز - 30 هرتز میکروسکوپ نیروی اتمی 0.04 نانومتر میکروسکوپ با دقت بالا با حالت های متعدد
Advanced AFM With Multiple Modes For Nanoscale Characterization Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge instrument designed for high-precision surface analysis and nanoscale characterization. With a noise level in the Z direction of 0.04 nm, this microscope offers ...
مهر اعتماد، بررسی اعتبار، RoSH و ارزیابی قابلیت تامین کننده. شرکت دارای سیستم کنترل کیفیت دقیق و آزمایشگاه تست حرفه ای است.
تیم طراحی حرفهای داخلی و کارگاه ماشینآلات پیشرفته. ما میتوانیم برای توسعه محصولاتی که نیاز دارید همکاری کنیم.
ماشینهای خودکار پیشرفته، سیستم کنترل فرآیند دقیق. ما میتوانیم تمام ابزارها و تجهیزات فراتر از نیاز شما را تولید کنیم.
بسته بندی های کوچک فله ای و سفارشی، FOB، CIF، DDU و DDP. به ما اجازه دهید تا بهترین راه حل را برای تمام نگرانی های شما پیدا کنیم.
اخیراً، تیم تحقیقاتی مرکز اسپینترونیک و سیستمهای کوانتومی در دانشکده علوم و مهندسی مواد، دانشگاه شیان جیائوتونگ، یک مقاله تحقیقاتی بسیار ارزشمند...
اخیراً، گروه تحقیقاتی از موسسه تحقیقات انرژی پاک و شیمی سوخت،دانشکده مهندسی شیمی در دانشگاه علوم و فناوری لیانینگ به ترتیب مجموعه ای از آخرین یافته...
ماموریت ما ارائه "کیفیت بالا" و "خدمات خوب" و "تحویل سریع" است تا به مشتریانمان در کسب سود بیشتر کمک کنیم.