محور Z کم سر و صدا برای مشخصه سازی دقیق مواد نانو

توضیحات محصول:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک سیستم AFM پیشرفته و همه‌کاره است که برای ارائه دقت و تطبیق‌پذیری بی‌نظیر برای تصویربرداری و اندازه‌گیری در مقیاس نانو طراحی شده است. با استفاده از روش اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ، این AFM امکان تجزیه و تحلیل جامع و دقیق سطح را با اجازه دادن به آزادی کامل حرکت در سراسر نمونه در هر سه بعد فضایی فراهم می‌کند. این قابلیت، تصویربرداری با وضوح بالا و مشخصه‌یابی دقیق توپوگرافی‌های پیچیده نمونه را تضمین می‌کند و آن را به ابزاری ضروری برای محققان و مهندسانی تبدیل می‌کند که در صنایع نانوفناوری، علم مواد و نیمه‌رسانا کار می‌کنند.

یکی از ویژگی‌های برجسته این AFM، قابلیت‌های اندازه‌گیری چند منظوره آن است. این دستگاه چندین تکنیک تخصصی میکروسکوپی را در یک پلتفرم واحد ادغام می‌کند، از جمله میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ نیروی پروب کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM)، میکروسکوپ خازنی اسکن (SCM) و میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM). این قابلیت‌ها به کاربران اجازه می‌دهد تا طیف وسیعی از خواص فیزیکی مانند توزیع بار سطحی، تغییرات پتانسیل الکتریکی، پاسخ‌های پیزوالکتریک، تغییرات ظرفیت و ساختارهای دامنه مغناطیسی را بررسی کنند. علاوه بر این، یک ماژول اختیاری برای میکروسکوپ نیروی اتمی رسانا (C-AFM) وجود دارد که با فعال کردن نقشه‌برداری جریان و اندازه‌گیری هدایت الکتریکی در مقیاس نانو، عملکرد سیستم را بیشتر گسترش می‌دهد.

عملکرد تصویربرداری این AFM استثنایی است و از نقاط نمونه‌برداری تصویر از 32*32 تا 4096*4096 پشتیبانی می‌کند. این محدوده گسترده، امکان وضوح تصویربرداری انعطاف‌پذیر را متناسب با نیازهای خاص برنامه‌های مختلف، از اسکن‌های سریع کلی تا تجزیه و تحلیل‌های دقیق با وضوح فوق‌العاده بالا، فراهم می‌کند. تراکم نمونه‌برداری بالا تضمین می‌کند که حتی ظریف‌ترین ویژگی‌های سطح را می‌توان با وضوح و دقت قابل توجهی ثبت کرد.

حفظ سطوح نویز فوق‌العاده پایین در عملکرد AFM برای دستیابی به اندازه‌گیری‌های دقیق سطح بسیار مهم است و این سیستم در این زمینه با سطح نویز محور Z به اندازه 0.04 نانومتر برتری دارد. چنین تداخل نویز کمی تضمین می‌کند که اندازه‌گیری‌های جابجایی عمودی بسیار دقیق هستند و به قابلیت اطمینان و تکرارپذیری داده‌های جمع‌آوری شده کمک می‌کنند. این امر به ویژه برای حالت‌های AFM غیر تماسی مهم است، جایی که نیروهای تعامل نوک-نمونه بسیار ظریف و حساس به اختلالات محیطی هستند.

AFM همچنین دارای محدوده زاویه اسکن 0 تا 360 درجه است که آزادی چرخش کامل را در طول تصویربرداری و تجزیه و تحلیل ارائه می‌دهد. این قابلیت زاویه‌ای کامل به کاربران اجازه می‌دهد تا نمونه‌ها را از هر جهتی جهت‌دهی و بررسی کنند، که مشخصه‌یابی جامع سطح را تسهیل می‌کند و امکان مطالعه خواص ناهمسانگرد یا پدیده‌های جهت‌دار را بدون نیاز به تغییر موقعیت دستی نمونه فراهم می‌کند.

به عنوان یک AFM غیر تماسی، این سیستم با کارکردن بدون تماس فیزیکی با سطح در طول اندازه‌گیری‌ها، سایش نوک و آسیب نمونه را به حداقل می‌رساند. این حالت برای تجزیه و تحلیل مواد نرم، ظریف یا به راحتی تغییر شکل‌دهنده ایده‌آل است و یکپارچگی آن‌ها را حفظ می‌کند و در عین حال اطلاعات دقیقی در مقیاس نانو ارائه می‌دهد. ترکیب عملکرد غیر تماسی با حالت‌های اندازه‌گیری چند منظوره، این AFM را به ابزاری همه‌کاره و قدرتمند برای طیف وسیعی از تحقیقات علمی تبدیل می‌کند.

به طور خلاصه، این AFM همه‌کاره یک راه‌حل قوی برای تصویربرداری در مقیاس نانو با دقت بالا و اندازه‌گیری خواص چند منظوره ارائه می‌دهد. روش اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ، مجموعه گسترده‌ای از تکنیک‌های میکروسکوپی یکپارچه، قابلیت‌های تصویربرداری با وضوح بالا، سطح نویز فوق‌العاده پایین محور Z و زاویه اسکن کامل 360 درجه، آن را به یک ابزار پیشرفته تبدیل می‌کند که برای تحقیقات پیشرفته و کاربردهای صنعتی طراحی شده است. چه در حال مطالعه خواص الکتریکی، مغناطیسی، مکانیکی یا پیزوالکتریک در مقیاس نانو باشید، این سیستم AFM عملکرد و انعطاف‌پذیری لازم برای پیشبرد مرزهای کشف علمی را فراهم می‌کند.

ویژگی‌ها:

• نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM همه‌کاره)
• سطح نویز محور Z: 0.04 نانومتر برای اندازه‌گیری‌های با دقت بالا
• اندازه‌گیری‌های چند منظوره شامل میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM)، میکروسکوپ نیروی اتمی خازنی اسکن (SCM)، میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM)
• حالت میکروسکوپ نیروی اتمی رسانا (C-AFM) اختیاری موجود است
• زاویه اسکن: 0~360 درجه برای تجزیه و تحلیل نمونه‌های همه‌کاره
• سرعت اسکن: 0.1 هرتز تا 30 هرتز برای تطبیق با سرعت‌های تصویربرداری مختلف
• روش اسکن: اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ که مشخصه‌یابی جامع سطح را تضمین می‌کند
• به عنوان یک پلتفرم مشخصه‌یابی در مقیاس نانو با قابلیت‌های اندازه‌گیری چند حالته عمل می‌کند

پارامترهای فنی:

کاربردها:

میکروسکوپ نیروی اتمی AtomEdge Pro از Truth Instruments، که منشاء آن از چین است، یک ابزار علمی پیشرفته است که برای ارائه تصویربرداری با وضوح اتمی و قابلیت‌های تست نانومکانیکی طراحی شده است. سرعت اسکن پیشرفته آن که از 0.1 هرتز تا 30 هرتز متغیر است و زاویه اسکن کامل 0 تا 360 درجه، امکان تجزیه و تحلیل نمونه بسیار دقیق و انعطاف‌پذیر را فراهم می‌کند. AtomEdge Pro با نمونه‌هایی تا قطر 25 میلی‌متر سازگار است و آن را برای طیف گسترده‌ای از تحقیقات و کاربردهای صنعتی مناسب می‌کند.

این مدل AFM همه‌کاره در اندازه‌گیری‌های چند منظوره برتری دارد و میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ پروب کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM)، میکروسکوپ خازنی اسکن (SCM) و میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) را ارائه می‌دهد. علاوه بر این، از میکروسکوپ نیروی اتمی رسانا (C-AFM) اختیاری پشتیبانی می‌کند و آن را برای تجزیه و تحلیل عمیق خواص الکتریکی ایده‌آل می‌کند. این ویژگی‌ها AtomEdge Pro را برای محیط‌های تحقیقاتی که بر علم مواد، فناوری نیمه‌رسانا و توسعه نانوفناوری تمرکز دارند، بسیار مناسب می‌کند.

در آزمایشگاه‌های دانشگاهی و صنعتی، AtomEdge Pro اغلب برای تست نانومکانیکی استفاده می‌شود و به دانشمندان اجازه می‌دهد تا خواص مکانیکی را در مقیاس نانو با دقت استثنایی بررسی کنند. غیرخطی بودن کم آن در جهت XY (0.02٪) و جهت Z (0.08٪) اندازه‌گیری‌های قابل اعتماد و تکرارپذیر را تضمین می‌کند که برای کاربردهای با دقت بالا مانند تحقیقات مواد زیستی، تجزیه و تحلیل پلیمر و مهندسی سطح بسیار مهم است. قابلیت تصویربرداری با وضوح اتمی، مشخصه‌یابی دقیق سطح را امکان‌پذیر می‌کند که برای توسعه مواد جدید و بهبود فرآیندهای تولید ضروری است.

گزینه‌های اندازه‌گیری چند منظوره و سازگاری AFM آن را در الکترونیک نیز ارزشمند می‌کند، جایی که نقشه‌برداری دقیق پتانسیل سطح و خواص مغناطیسی ضروری است. به عنوان مثال، حالت‌های KPFM و EFM مطالعه توزیع بار و نیروهای الکترواستاتیک را بر روی اجزای ریزالکترونیکی تسهیل می‌کنند و به بهینه‌سازی دستگاه و تجزیه و تحلیل خرابی کمک می‌کنند. در همین حال، حالت‌های PFM و MFM از تحقیقات در مورد مواد پیزوالکتریک و مغناطیسی پشتیبانی می‌کنند و به پیشرفت‌ها در حسگرها و دستگاه‌های حافظه کمک می‌کنند.

به طور کلی، میکروسکوپ نیروی اتمی AtomEdge Pro از Truth Instruments یک ابزار قدرتمند و انعطاف‌پذیر است که برای طیف گسترده‌ای از سناریوهای کاربردی طراحی شده است—از تحقیقات بنیادی در علوم نانو گرفته تا کاربردهای عملی در صنعت. ترکیب آن از وضوح اتمی، قابلیت‌های اندازه‌گیری چند منظوره و طراحی قوی تضمین می‌کند که نیازهای سختگیرانه تست نانومکانیکی مدرن و وظایف مشخصه‌یابی سطح را برآورده می‌کند.