Eixo Z de baixo ruído para a caracterização de materiais em nanoescala de alta precisão

Descrição do produto:

O Microscópio de Força Atômica (AFM) é um sistema avançado de AFM tudo-em-um projetado para fornecer precisão e versatilidade incomparáveis para imagens e medições em nanoescala.Utilizando um método de varredura de amostra completa de três eixos XYZ, este AFM permite uma análise de superfície completa e precisa, permitindo uma total liberdade de movimento na amostra em todas as três dimensões espaciais.Esta capacidade garante imagens de alta resolução e caracterização detalhada de topografias de amostras complexas, tornando-a uma ferramenta indispensável para investigadores e engenheiros que trabalham em nanotecnologia, ciência de materiais e indústrias de semicondutores.

Uma das características desta AFM é a sua capacidade de medição multifuncional, que integra várias técnicas de microscopia especializadas numa única plataforma.Incluindo a Microscopia de Força Eletrostática (EFM), Microscopia de Força de Sondagem de Kelvin (KPFM), Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM), Microscopia de Capacidade de Escaneamento (SCM) e Microscopia de Força Magnética (MFM).Estas funcionalidades permitem aos utilizadores investigar uma ampla gama de propriedades físicas, tais como a distribuição de carga superficial, variações de potencial elétrico, respostas piezoelétricas, mudanças de capacitância e estruturas de domínio magnético.,O sistema de medição da condutividade elétrica é um sistema de medição da condutividade elétrica, que amplia ainda mais a funcionalidade do sistema, permitindo o mapeamento da corrente e as medições da condutividade elétrica em nanoescala.

O desempenho de imagem deste AFM é excepcional, suportando pontos de amostragem de imagem variando de 32*32 até 4096*4096.Esta ampla gama permite resoluções de imagem flexíveis adaptadas aos requisitos específicos de diferentes aplicaçõesA alta densidade de amostragem garante que até as características mais finas da superfície possam ser capturadas com uma clareza e precisão notáveis.

A manutenção de níveis de ruído ultra-baixo é fundamental na operação do AFM para alcançar medições de superfície precisas, e este sistema se destaca a este respeito com um nível de ruído do eixo Z tão baixo quanto 0,04 nm.Tal interferência sonora mínima garante que as medições do deslocamento vertical sejam altamente precisas, contribuindo para a fiabilidade e reprodutibilidade dos dados recolhidos.onde as forças de interacção entre a ponta e a amostra são extremamente delicadas e sensíveis a perturbações ambientais.

O AFM também possui uma faixa de ângulo de varredura de 0 a 360 graus, oferecendo total liberdade de rotação durante a imagem e análise.Esta capacidade angular completa permite aos utilizadores orientar e examinar amostras de qualquer direcção, facilitando a caracterização completa da superfície e permitindo o estudo de propriedades anisotrópicas ou fenômenos direcionais sem a necessidade de reposicionar manualmente a amostra.

Como AFM sem contacto, este sistema minimiza o desgaste da ponta e os danos à amostra, operando sem tocar fisicamente a superfície durante as medições.ou materiais facilmente deformados, preservando a sua integridade, ao mesmo tempo em que fornece informações detalhadas em nanoescala.A combinação da operação sem contacto com modos de medição multifuncionais torna este AFM uma ferramenta versátil e poderosa para um amplo espectro de investigações científicas.

Em resumo, este AFM tudo-em-um oferece uma solução robusta para imagens de alta precisão em nanoescala e medições de propriedades multifuncionais.conjunto extensivo de técnicas de microscopia integrada, capacidades de imagem de alta resolução, nível de ruído ultra baixo no eixo Z,e o ângulo de digitalização de 360 graus fazem dele um instrumento de última geração adaptado para pesquisa avançada e aplicações industriais.Se você está estudando propriedades elétricas, magnéticas, mecânicas ou piezoelétricas na nanoescala,Este sistema AFM fornece o desempenho e a flexibilidade necessários para ampliar os limites da descoberta científica.

Características:

• Nome do produto: Microscópio de Força Atómica (AFM All-in-One)
• Nível de ruído do eixo Z: 0,04 Nm para medições de alta precisão
• Medidas multifuncionais, incluindo microscópio de força eletrostática (EFM), microscópio de Kelvin de varredura (KPFM), microscópio de força piezoelétrica (PFM), microscópio de força atómica capacitiva de varredura (SCM),Microscópio de Força Magnética (MFM)
• Disponível o modo opcional de microscópio de força atómica condutor (C-AFM)
• Ângulo de varredura: 0 a 360° para análise de amostras versáteis
• Taxa de digitalização: 0,1 Hz a 30 Hz para acomodar várias velocidades de imagem
• Método de varredura: XYZ Varredura de amostra completa em três eixos que assegure uma caracterização abrangente da superfície
• Serve como uma plataforma de caracterização em nanoescala com capacidades de medição em vários modos

Parâmetros técnicos:

Aplicações:

O Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope (AFM), originário da China,é um instrumento científico de última geração concebido para fornecer capacidades de imagem de resolução atómica e de ensaio nanomecânicoA sua taxa de varredura avançada que varia de 0,1 Hz a 30 Hz e um ângulo de varredura completo de 0 a 360° permitem uma análise de amostra altamente precisa e flexível.O AtomEdge Pro é compatível com amostras de até 25 mm de diâmetro, tornando-o adequado para uma grande variedade de aplicações de investigação e industriais.

Este versátil modelo de AFM se destaca em medições multifuncionais, oferecendo Microscopia de Força Electrostática (EFM), Microscopia de Sondagem de Kelvin de Análise (KPFM), Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM),Microscopia capacitiva de varredura (SCM)Além disso, ele suporta opcionalmente a Microscopia de Força Atômica Condutora (C-AFM), tornando-o ideal para análise profunda de propriedades elétricas.Estas características tornam o AtomEdge Pro altamente adequado para ambientes de pesquisa com foco em ciência de materiais, tecnologia de semicondutores e desenvolvimento da nanotecnologia.

Em laboratórios académicos e industriais, o AtomEdge Pro é frequentemente utilizado para testes nanomecânicos, permitindo aos cientistas explorar propriedades mecânicas em nanoescala com uma precisão excepcional.A sua baixa não-linearidade na direcção XY (0,02%) e na direcção Z (0,08%) garante medições fiáveis e reprodutíveis, críticas para aplicações de alta precisão, como a investigação de biomateriais,Análise de polímerosA capacidade de obtenção de imagens de resolução atómica permite uma caracterização detalhada da superfície, essencial para o desenvolvimento de novos materiais e para a melhoria dos processos de fabrico.

As opções de medição multifuncionais e a adaptabilidade do AFM tornam-no igualmente valioso na electrónica, onde é necessário um mapeamento detalhado do potencial de superfície e das propriedades magnéticas.Os modos KPFM e EFM facilitam o estudo da distribuição de carga e das forças eletrostáticas em componentes microeletrônicos, auxiliando na otimização dos dispositivos e na análise de falhas.Contribuir para os avanços dos sensores e dispositivos de memória.

Em geral, the Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope is a powerful and flexible tool designed for a broad range of application scenarios—from fundamental research in nanoscience to practical applications in industryA sua combinação de resolução atómica, capacidades de medição multifuncionais,A sua robustez e o seu design robusto garantem que satisfaça as exigentes necessidades dos modernos ensaios nanomecânicos e das tarefas de caracterização de superfícies..