Eje Z de bajo ruido para la caracterización de materiales a nanoescala de alta precisión

Descripción del Producto:

El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un sistema AFM avanzado y completo diseñado para ofrecer una precisión y versatilidad sin igual para la obtención de imágenes y mediciones a nanoescala. Utilizando un método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ, este AFM permite un análisis de superficie completo y preciso al permitir una total libertad de movimiento en toda la muestra en las tres dimensiones espaciales. Esta capacidad garantiza imágenes de alta resolución y una caracterización detallada de las topografías de muestra complejas, lo que lo convierte en una herramienta indispensable para investigadores e ingenieros que trabajan en nanotecnología, ciencia de materiales e industrias de semiconductores.

Una de las características destacadas de este AFM son sus capacidades de medición multifuncionales. Integra varias técnicas de microscopía especializadas dentro de una única plataforma, incluyendo Microscopía de Fuerza Electroestática (EFM), Microscopía de Fuerza de Sonda Kelvin (KPFM), Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica (PFM), Microscopía Capacitiva de Barrido (SCM) y Microscopía de Fuerza Magnética (MFM). Estas funcionalidades permiten a los usuarios investigar una amplia gama de propiedades físicas, como la distribución de la carga superficial, las variaciones del potencial eléctrico, las respuestas piezoeléctricas, los cambios de capacitancia y las estructuras de dominio magnético. Además, existe un módulo opcional para la Microscopía de Fuerza Atómica Conductiva (C-AFM), que amplía aún más la funcionalidad del sistema al permitir el mapeo de corriente y las mediciones de conductividad eléctrica a nanoescala.

El rendimiento de imagen de este AFM es excepcional, soportando puntos de muestreo de imagen que van desde 32*32 hasta 4096*4096. Este amplio rango permite resoluciones de imagen flexibles adaptadas a los requisitos específicos de diferentes aplicaciones, desde escaneos rápidos de visión general hasta análisis detallados de ultra alta resolución. La alta densidad de muestreo asegura que incluso las características superficiales más finas se puedan capturar con una claridad y precisión notables.

Mantener niveles de ruido ultra bajos es fundamental en el funcionamiento del AFM para lograr mediciones precisas de la superficie, y este sistema sobresale en este aspecto con un nivel de ruido en el eje Z tan bajo como 0,04 nm. Tal interferencia mínima de ruido garantiza que las mediciones de desplazamiento vertical sean altamente precisas, lo que contribuye a la fiabilidad y reproducibilidad de los datos recopilados. Esto es particularmente importante para los modos AFM sin contacto, donde las fuerzas de interacción punta-muestra son extremadamente delicadas y sensibles a las perturbaciones ambientales.

El AFM también cuenta con un rango de ángulo de escaneo de 0 a 360 grados, ofreciendo total libertad rotacional durante la obtención de imágenes y el análisis. Esta capacidad angular completa permite a los usuarios orientar y examinar muestras desde cualquier dirección, facilitando la caracterización completa de la superficie y permitiendo el estudio de propiedades anisotrópicas o fenómenos direccionales sin necesidad de reposicionar la muestra manualmente.

Como AFM sin contacto, este sistema minimiza el desgaste de la punta y el daño a la muestra al operar sin tocar físicamente la superficie durante las mediciones. Este modo es ideal para analizar materiales blandos, delicados o fácilmente deformables, preservando su integridad y, al mismo tiempo, proporcionando información detallada a nanoescala. La combinación de la operación sin contacto con los modos de medición multifuncionales convierte a este AFM en una herramienta versátil y potente para un amplio espectro de investigaciones científicas.

En resumen, este AFM todo en uno ofrece una solución robusta para la obtención de imágenes a nanoescala de alta precisión y mediciones de propiedades multifuncionales. Su método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ, su extensa suite de técnicas de microscopía integradas, sus capacidades de imagen de alta resolución, su nivel de ruido ultra bajo en el eje Z y su ángulo de escaneo completo de 360 grados lo convierten en un instrumento de última generación adaptado para la investigación avanzada y las aplicaciones industriales. Ya sea que esté estudiando propiedades eléctricas, magnéticas, mecánicas o piezoeléctricas a nanoescala, este sistema AFM proporciona el rendimiento y la flexibilidad necesarios para superar los límites del descubrimiento científico.

Características:

• Nombre del Producto: Microscopio de Fuerza Atómica (AFM Todo en Uno)
• Nivel de Ruido del Eje Z: 0,04 Nm para mediciones de alta precisión
• Mediciones Multifuncionales que incluyen Microscopio de Fuerza Electroestática (EFM), Microscopio Kelvin de Barrido (KPFM), Microscopio de Fuerza Piezoeléctrica (PFM), Microscopio de Fuerza Atómica Capacitiva de Barrido (SCM), Microscopio de Fuerza Magnética (MFM)
• Modo opcional de Microscopio de Fuerza Atómica Conductiva (C-AFM) disponible
• Ángulo de Escaneo: 0~360° para un análisis versátil de la muestra
• Velocidad de Escaneo: 0,1 Hz a 30 Hz para adaptarse a varias velocidades de imagen
• Método de Escaneo: Escaneo de Muestra Completa de Tres Ejes XYZ que garantiza una caracterización completa de la superficie
• Sirve como una Plataforma de Caracterización a Nanoescala con capacidades de Medición Multimodal

Parámetros Técnicos:

Aplicaciones:

El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) AtomEdge Pro de Truth Instruments, originario de China, es un instrumento científico de última generación diseñado para proporcionar imágenes con resolución atómica y capacidades de prueba nanomecánica. Su avanzada velocidad de escaneo que oscila entre 0,1 Hz y 30 Hz y un ángulo de escaneo completo de 0~360° permiten un análisis de muestra altamente preciso y flexible. El AtomEdge Pro es compatible con muestras de hasta 25 mm de diámetro, lo que lo hace adecuado para una amplia variedad de aplicaciones de investigación e industriales.

Este versátil modelo de AFM sobresale en mediciones multifuncionales, ofreciendo Microscopía de Fuerza Electroestática (EFM), Microscopía de Sonda Kelvin de Barrido (KPFM), Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica (PFM), Microscopía Capacitiva de Barrido (SCM) y Microscopía de Fuerza Magnética (MFM). Además, es compatible con la Microscopía de Fuerza Atómica Conductiva (C-AFM) opcional, lo que lo hace ideal para el análisis en profundidad de las propiedades eléctricas. Estas características hacen que el AtomEdge Pro sea muy adecuado para entornos de investigación que se centran en la ciencia de materiales, la tecnología de semiconductores y el desarrollo de nanotecnología.

En laboratorios académicos e industriales, el AtomEdge Pro se utiliza a menudo para pruebas nanomecánicas, lo que permite a los científicos explorar las propiedades mecánicas a nanoescala con una precisión excepcional. Su baja no linealidad en la dirección XY (0,02%) y la dirección Z (0,08%) garantiza mediciones fiables y reproducibles, fundamentales para aplicaciones de alta precisión como la investigación de biomateriales, el análisis de polímeros y la ingeniería de superficies. La capacidad de imagen con resolución atómica permite una caracterización detallada de la superficie, esencial para el desarrollo de nuevos materiales y la mejora de los procesos de fabricación.

Las opciones de medición multifuncionales y la adaptabilidad del AFM lo hacen igualmente valioso en electrónica, donde es necesario un mapeo detallado del potencial de la superficie y de las propiedades magnéticas. Por ejemplo, los modos KPFM y EFM facilitan el estudio de la distribución de la carga y las fuerzas electrostáticas en los componentes microelectrónicos, lo que ayuda a la optimización de los dispositivos y al análisis de fallos. Mientras tanto, los modos PFM y MFM apoyan las investigaciones sobre materiales piezoeléctricos y magnéticos, contribuyendo a los avances en sensores y dispositivos de memoria.

En general, el Microscopio de Fuerza Atómica AtomEdge Pro de Truth Instruments es una herramienta potente y flexible diseñada para una amplia gama de escenarios de aplicación, desde la investigación fundamental en nanociencia hasta las aplicaciones prácticas en la industria. Su combinación de resolución atómica, capacidades de medición multifuncionales y diseño robusto garantiza que satisfaga las exigentes necesidades de las modernas pruebas nanomecánicas y las tareas de caracterización de superficies.