Малошумная Z-ось для высокоточной характеризации наноматериалов

Описание продукта:

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это современная универсальная система АСМ, разработанная для обеспечения беспрецедентной точности и универсальности при наноразмерном изображении и измерениях. Используя метод сканирования образца по трем осям XYZ, этот АСМ обеспечивает всесторонний и точный анализ поверхности, позволяя полную свободу перемещения по образцу во всех трех пространственных измерениях. Эта возможность обеспечивает получение изображений с высоким разрешением и детальную характеристику сложных топографий образцов, что делает его незаменимым инструментом для исследователей и инженеров, работающих в нанотехнологиях, материаловедении и полупроводниковой промышленности.

Одной из выдающихся особенностей этого АСМ являются его многофункциональные измерительные возможности. Он объединяет несколько специализированных микроскопических методов в единой платформе, включая микроскопию электростатических сил (EFM), сканирующую зондовую микроскопию Кельвина (KPFM), пьезоэлектрическую силовую микроскопию (PFM), сканирующую емкостную микроскопию (SCM) и магнитную силовую микроскопию (MFM). Эти функциональные возможности позволяют пользователям исследовать широкий спектр физических свойств, таких как распределение поверхностного заряда, изменения электрического потенциала, пьезоэлектрические отклики, изменения емкости и структуры магнитных доменов. Кроме того, имеется дополнительный модуль для кондуктивной атомно-силовой микроскопии (C-AFM), который дополнительно расширяет функциональность системы, обеспечивая картирование тока и измерения электропроводности на наноуровне.

Качество изображения этого АСМ исключительное, поддерживающее точки выборки изображения в диапазоне от 32*32 до 4096*4096. Этот обширный диапазон позволяет использовать гибкое разрешение изображения, адаптированное к конкретным требованиям различных приложений, от быстрых обзорных сканирований до детального анализа сверхвысокого разрешения. Высокая плотность выборки гарантирует, что даже мельчайшие особенности поверхности могут быть запечатлены с замечательной четкостью и точностью.

Поддержание ультранизких уровней шума имеет решающее значение в работе АСМ для достижения точных измерений поверхности, и эта система превосходит в этом отношении с уровнем шума по оси Z всего 0,04 нм. Такое минимальное шумовое воздействие гарантирует, что измерения вертикального смещения будут очень точными, что способствует надежности и воспроизводимости собранных данных. Это особенно важно для бесконтактных режимов АСМ, где силы взаимодействия между наконечником и образцом чрезвычайно деликатны и чувствительны к внешним возмущениям.

АСМ также имеет диапазон углов сканирования от 0 до 360 градусов, обеспечивая полную свободу вращения во время получения изображений и анализа. Эта полная угловая возможность позволяет пользователям ориентировать и исследовать образцы с любого направления, облегчая всестороннюю характеристику поверхности и позволяя изучать анизотропные свойства или направленные явления без необходимости вручную перемещать образец.

Как бесконтактный АСМ, эта система минимизирует износ наконечника и повреждение образца, работая без физического соприкосновения с поверхностью во время измерений. Этот режим идеально подходит для анализа мягких, деликатных или легко деформируемых материалов, сохраняя их целостность, обеспечивая при этом подробную информацию на наноуровне. Сочетание бесконтактной работы с многофункциональными режимами измерения делает этот АСМ универсальным и мощным инструментом для широкого спектра научных исследований.

В заключение, этот универсальный АСМ предлагает надежное решение для высокоточного наноразмерного изображения и многофункциональных измерений свойств. Его метод сканирования образца по трем осям XYZ, обширный набор интегрированных методов микроскопии, возможности получения изображений с высоким разрешением, ультранизкий уровень шума по оси Z и полный угол сканирования 360 градусов делают его современным инструментом, предназначенным для передовых исследований и промышленных применений. Независимо от того, изучаете ли вы электрические, магнитные, механические или пьезоэлектрические свойства на наноуровне, эта система АСМ обеспечивает производительность и гибкость, необходимые для расширения границ научных открытий.

Особенности:

• Название продукта: Атомно-силовой микроскоп (All-in-One AFM)
• Уровень шума по оси Z: 0,04 нм для высокоточных измерений
• Многофункциональные измерения, включая микроскопию электростатических сил (EFM), сканирующую зондовую микроскопию Кельвина (KPFM), пьезоэлектрическую силовую микроскопию (PFM), сканирующую емкостную атомно-силовую микроскопию (SCM), магнитную силовую микроскопию (MFM)
• Доступен дополнительный режим кондуктивной атомно-силовой микроскопии (C-AFM)
• Угол сканирования: 0~360° для универсального анализа образцов
• Скорость сканирования: от 0,1 Гц до 30 Гц для обеспечения различных скоростей получения изображений
• Метод сканирования: сканирование образца по трем осям XYZ, обеспечивающее всестороннюю характеристику поверхности
• Служит платформой для наноразмерной характеристики с возможностями многорежимных измерений

Технические параметры:

Применения:

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) AtomEdge Pro от Truth Instruments, произведенный в Китае, представляет собой современный научный прибор, предназначенный для получения изображений с атомным разрешением и проведения наномеханических испытаний. Его усовершенствованная скорость сканирования в диапазоне от 0,1 Гц до 30 Гц и полный угол сканирования 0~360° обеспечивают высокоточный и гибкий анализ образцов. AtomEdge Pro совместим с образцами диаметром до 25 мм, что делает его подходящим для широкого спектра исследовательских и промышленных применений.

Эта универсальная модель АСМ превосходно подходит для многофункциональных измерений, предлагая микроскопию электростатических сил (EFM), сканирующую зондовую микроскопию Кельвина (KPFM), пьезоэлектрическую силовую микроскопию (PFM), сканирующую емкостную микроскопию (SCM) и магнитную силовую микроскопию (MFM). Кроме того, он поддерживает дополнительную кондуктивную атомно-силовую микроскопию (C-AFM), что делает его идеальным для углубленного анализа электрических свойств. Эти функции делают AtomEdge Pro очень подходящим для исследовательских сред, ориентированных на материаловедение, полупроводниковую технологию и разработку нанотехнологий.

В академических и промышленных лабораториях AtomEdge Pro часто используется для наномеханических испытаний, позволяя ученым исследовать механические свойства на наноуровне с исключительной точностью. Его низкая нелинейность в направлении XY (0,02%) и направлении Z (0,08%) обеспечивает надежные и воспроизводимые измерения, что имеет решающее значение для высокоточных применений, таких как исследования биоматериалов, анализ полимеров и поверхностная инженерия. Возможность получения изображений с атомным разрешением обеспечивает детальную характеристику поверхности, что необходимо для разработки новых материалов и улучшения производственных процессов.

Многофункциональные варианты измерений и адаптируемость АСМ делают его одинаково ценным в электронике, где необходимо подробное картирование поверхностного потенциала и магнитных свойств. Например, режимы KPFM и EFM облегчают изучение распределения заряда и электростатических сил на микроэлектронных компонентах, помогая в оптимизации устройств и анализе отказов. Между тем, режимы PFM и MFM поддерживают исследования пьезоэлектрических и магнитных материалов, способствуя достижениям в области датчиков и запоминающих устройств.

В целом, атомно-силовой микроскоп AtomEdge Pro от Truth Instruments - это мощный и гибкий инструмент, предназначенный для широкого спектра сценариев применения — от фундаментальных исследований в нанонауке до практических применений в промышленности. Сочетание атомного разрешения, многофункциональных возможностей измерения и надежной конструкции гарантирует соответствие требованиям современных наномеханических испытаний и задач по характеристике поверхности.