Άξονας Z χαμηλού θορύβου για χαρακτηρισμό υλικών σε νανοκλίμακα υψηλής ακρίβειας

Περιγραφή Προϊόντος:

Το Ατομικό Δυναμικό Μικροσκόπιο (AFM) είναι ένα προηγμένο, all-in-one σύστημα AFM σχεδιασμένο για να προσφέρει απαράμιλλη ακρίβεια και ευελιξία για απεικόνιση και μετρήσεις νανοκλίμακας. Χρησιμοποιώντας μια μέθοδο σάρωσης πλήρους δείγματος τριών αξόνων XYZ, αυτό το AFM επιτρέπει ολοκληρωμένη και ακριβή ανάλυση επιφανειών, επιτρέποντας την πλήρη ελευθερία κίνησης σε ολόκληρο το δείγμα και στις τρεις χωρικές διαστάσεις. Αυτή η δυνατότητα εξασφαλίζει απεικόνιση υψηλής ανάλυσης και λεπτομερή χαρακτηρισμό πολύπλοκων τοπογραφιών δειγμάτων, καθιστώντας το ένα απαραίτητο εργαλείο για ερευνητές και μηχανικούς που εργάζονται στη νανοτεχνολογία, την επιστήμη των υλικών και τις βιομηχανίες ημιαγωγών.

Ένα από τα εξέχοντα χαρακτηριστικά αυτού του AFM είναι οι πολυλειτουργικές δυνατότητες μέτρησης. Ενσωματώνει αρκετές εξειδικευμένες τεχνικές μικροσκοπίας σε μια ενιαία πλατφόρμα, συμπεριλαμβανομένης της Μικροσκοπίας Ηλεκτροστατικής Δύναμης (EFM), της Μικροσκοπίας Σάρωσης Kelvin Probe Force (KPFM), της Μικροσκοπίας Πιεζοηλεκτρικής Δύναμης (PFM), της Μικροσκοπίας Σάρωσης Χωρητικότητας (SCM) και της Μικροσκοπίας Μαγνητικής Δύναμης (MFM). Αυτές οι λειτουργίες επιτρέπουν στους χρήστες να διερευνήσουν ένα ευρύ φάσμα φυσικών ιδιοτήτων, όπως η κατανομή του επιφανειακού φορτίου, οι διακυμάνσεις του ηλεκτρικού δυναμικού, οι πιεζοηλεκτρικές αποκρίσεις, οι αλλαγές χωρητικότητας και οι δομές μαγνητικών τομέων. Επιπλέον, υπάρχει μια προαιρετική μονάδα για τη Μικροσκοπία Ατομικής Δύναμης Αγωγιμότητας (C-AFM), η οποία επεκτείνει περαιτέρω τη λειτουργικότητα του συστήματος, επιτρέποντας τη χαρτογράφηση ρεύματος και τις μετρήσεις ηλεκτρικής αγωγιμότητας στη νανοκλίμακα.

Η απόδοση απεικόνισης αυτού του AFM είναι εξαιρετική, υποστηρίζοντας σημεία δειγματοληψίας εικόνας που κυμαίνονται από 32*32 έως 4096*4096. Αυτό το εκτεταμένο εύρος επιτρέπει ευέλικτες αναλύσεις απεικόνισης προσαρμοσμένες στις συγκεκριμένες απαιτήσεις διαφορετικών εφαρμογών, από γρήγορες σαρώσεις επισκόπησης έως αναλύσεις λεπτομερειών εξαιρετικά υψηλής ανάλυσης. Η υψηλή πυκνότητα δειγματοληψίας διασφαλίζει ότι ακόμη και τα λεπτότερα χαρακτηριστικά της επιφάνειας μπορούν να καταγραφούν με αξιοσημείωτη σαφήνεια και ακρίβεια.

Η διατήρηση εξαιρετικά χαμηλών επιπέδων θορύβου είναι κρίσιμη στη λειτουργία AFM για την επίτευξη ακριβών μετρήσεων επιφανειών και αυτό το σύστημα υπερέχει σε αυτό το θέμα με ένα επίπεδο θορύβου στον άξονα Z τόσο χαμηλό όσο 0,04 nm. Τέτοιες ελάχιστες παρεμβολές θορύβου εγγυώνται ότι οι μετρήσεις κατακόρυφης μετατόπισης είναι εξαιρετικά ακριβείς, συμβάλλοντας στην αξιοπιστία και την αναπαραγωγιμότητα των δεδομένων που συλλέγονται. Αυτό είναι ιδιαίτερα σημαντικό για τις λειτουργίες AFM χωρίς επαφή, όπου οι δυνάμεις αλληλεπίδρασης άκρου-δείγματος είναι εξαιρετικά ευαίσθητες και ευαίσθητες σε περιβαλλοντικές διαταραχές.

Το AFM διαθέτει επίσης ένα εύρος γωνίας σάρωσης από 0 έως 360 μοίρες, προσφέροντας πλήρη περιστροφική ελευθερία κατά την απεικόνιση και την ανάλυση. Αυτή η πλήρης γωνιακή δυνατότητα επιτρέπει στους χρήστες να προσανατολίζουν και να εξετάζουν δείγματα από οποιαδήποτε κατεύθυνση, διευκολύνοντας τον ολοκληρωμένο χαρακτηρισμό της επιφάνειας και επιτρέποντας τη μελέτη ανισότροπων ιδιοτήτων ή κατευθυντικών φαινομένων χωρίς την ανάγκη επανατοποθέτησης του δείγματος χειροκίνητα.

Ως AFM χωρίς επαφή, αυτό το σύστημα ελαχιστοποιεί τη φθορά της άκρης και τη ζημιά του δείγματος λειτουργώντας χωρίς να αγγίζει φυσικά την επιφάνεια κατά τη διάρκεια των μετρήσεων. Αυτή η λειτουργία είναι ιδανική για την ανάλυση μαλακών, ευαίσθητων ή εύκολα παραμορφώσιμων υλικών, διατηρώντας την ακεραιότητά τους, ενώ εξακολουθεί να παρέχει λεπτομερείς πληροφορίες νανοκλίμακας. Ο συνδυασμός της λειτουργίας χωρίς επαφή με τις πολυλειτουργικές λειτουργίες μέτρησης καθιστά αυτό το AFM ένα ευέλικτο και ισχυρό εργαλείο για ένα ευρύ φάσμα επιστημονικών ερευνών.

Συνοψίζοντας, αυτό το all-in-one AFM προσφέρει μια ισχυρή λύση για απεικόνιση νανοκλίμακας υψηλής ακρίβειας και μετρήσεις πολυλειτουργικών ιδιοτήτων. Η μέθοδος σάρωσης πλήρους δείγματος τριών αξόνων XYZ, η εκτεταμένη σουίτα ενσωματωμένων τεχνικών μικροσκοπίας, οι δυνατότητες απεικόνισης υψηλής ανάλυσης, το εξαιρετικά χαμηλό επίπεδο θορύβου στον άξονα Z και η πλήρης γωνία σάρωσης 360 μοιρών το καθιστούν ένα υπερσύγχρονο όργανο προσαρμοσμένο για προηγμένη έρευνα και βιομηχανικές εφαρμογές. Είτε μελετάτε ηλεκτρικές, μαγνητικές, μηχανικές ή πιεζοηλεκτρικές ιδιότητες στη νανοκλίμακα, αυτό το σύστημα AFM παρέχει την απόδοση και την ευελιξία που απαιτούνται για να ξεπεραστούν τα όρια της επιστημονικής ανακάλυψης.

Χαρακτηριστικά:

• Όνομα προϊόντος: Ατομικό Δυναμικό Μικροσκόπιο (All-in-One AFM)
• Επίπεδο θορύβου στον άξονα Z: 0,04 Nm για μετρήσεις υψηλής ακρίβειας
• Πολυλειτουργικές μετρήσεις, συμπεριλαμβανομένης της Μικροσκοπίας Ηλεκτροστατικής Δύναμης (EFM), της Μικροσκοπίας Σάρωσης Kelvin (KPFM), της Μικροσκοπίας Πιεζοηλεκτρικής Δύναμης (PFM), της Μικροσκοπίας Σάρωσης Χωρητικότητας (SCM), της Μικροσκοπίας Μαγνητικής Δύναμης (MFM)
• Διαθέσιμη προαιρετική λειτουργία Μικροσκοπίου Ατομικής Δύναμης Αγωγιμότητας (C-AFM)
• Γωνία σάρωσης: 0~360° για ευέλικτη ανάλυση δειγμάτων
• Ρυθμός σάρωσης: 0,1 Hz έως 30 Hz για προσαρμογή σε διάφορες ταχύτητες απεικόνισης
• Μέθοδος σάρωσης: Σάρωση πλήρους δείγματος τριών αξόνων XYZ που εξασφαλίζει ολοκληρωμένο χαρακτηρισμό επιφανειών
• Λειτουργεί ως πλατφόρμα χαρακτηρισμού νανοκλίμακας με δυνατότητες μέτρησης πολλαπλών λειτουργιών

Τεχνικές παράμετροι:

Εφαρμογές:

Το Ατομικό Δυναμικό Μικροσκόπιο (AFM) AtomEdge Pro της Truth Instruments, καταγωγής Κίνας, είναι ένα υπερσύγχρονο επιστημονικό όργανο σχεδιασμένο για να παρέχει απεικόνιση ατομικής ανάλυσης και δυνατότητες μηχανικής δοκιμής νανοκλίμακας. Ο προηγμένος ρυθμός σάρωσης που κυμαίνεται από 0,1 Hz έως 30 Hz και μια πλήρης γωνία σάρωσης 0~360° επιτρέπουν εξαιρετικά ακριβή και ευέλικτη ανάλυση δειγμάτων. Το AtomEdge Pro είναι συμβατό με δείγματα διαμέτρου έως 25 mm, καθιστώντας το κατάλληλο για μια μεγάλη ποικιλία ερευνητικών και βιομηχανικών εφαρμογών.

Αυτό το ευέλικτο μοντέλο AFM διαπρέπει στις πολυλειτουργικές μετρήσεις, προσφέροντας Μικροσκοπία Ηλεκτροστατικής Δύναμης (EFM), Μικροσκοπία Σάρωσης Kelvin Probe (KPFM), Μικροσκοπία Πιεζοηλεκτρικής Δύναμης (PFM), Μικροσκοπία Σάρωσης Χωρητικότητας (SCM) και Μικροσκοπία Μαγνητικής Δύναμης (MFM). Επιπλέον, υποστηρίζει προαιρετικό Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης Αγωγιμότητας (C-AFM), καθιστώντας το ιδανικό για εις βάθος ανάλυση ηλεκτρικών ιδιοτήτων. Αυτά τα χαρακτηριστικά καθιστούν το AtomEdge Pro εξαιρετικά κατάλληλο για ερευνητικά περιβάλλοντα που επικεντρώνονται στην επιστήμη των υλικών, την τεχνολογία ημιαγωγών και την ανάπτυξη νανοτεχνολογίας.

Σε ακαδημαϊκά και βιομηχανικά εργαστήρια, το AtomEdge Pro χρησιμοποιείται συχνά για μηχανικές δοκιμές νανοκλίμακας, επιτρέποντας στους επιστήμονες να εξερευνήσουν μηχανικές ιδιότητες στη νανοκλίμακα με εξαιρετική ακρίβεια. Η χαμηλή μη γραμμικότητά του στην κατεύθυνση XY (0,02%) και στην κατεύθυνση Z (0,08%) εξασφαλίζει αξιόπιστες και αναπαραγώγιμες μετρήσεις, κρίσιμες για εφαρμογές υψηλής ακρίβειας, όπως η έρευνα βιοϋλικών, η ανάλυση πολυμερών και η μηχανική επιφανειών. Η δυνατότητα απεικόνισης ατομικής ανάλυσης επιτρέπει λεπτομερή χαρακτηρισμό επιφανειών, απαραίτητο για την ανάπτυξη νέων υλικών και τη βελτίωση των διαδικασιών κατασκευής.

Οι πολυλειτουργικές επιλογές μέτρησης και η προσαρμοστικότητα του AFM το καθιστούν εξίσου πολύτιμο στα ηλεκτρονικά, όπου η λεπτομερής χαρτογράφηση δυναμικού επιφανείας και μαγνητικών ιδιοτήτων είναι απαραίτητη. Για παράδειγμα, οι λειτουργίες KPFM και EFM διευκολύνουν τη μελέτη της κατανομής φορτίου και των ηλεκτροστατικών δυνάμεων σε μικροηλεκτρονικά εξαρτήματα, βοηθώντας στη βελτιστοποίηση της συσκευής και στην ανάλυση βλαβών. Εν τω μεταξύ, οι λειτουργίες PFM και MFM υποστηρίζουν έρευνες σε πιεζοηλεκτρικά και μαγνητικά υλικά, συμβάλλοντας στις εξελίξεις σε αισθητήρες και συσκευές μνήμης.

Συνολικά, το Ατομικό Δυναμικό Μικροσκόπιο (AFM) AtomEdge Pro της Truth Instruments είναι ένα ισχυρό και ευέλικτο εργαλείο σχεδιασμένο για ένα ευρύ φάσμα σεναρίων εφαρμογής—από τη θεμελιώδη έρευνα στη νανοεπιστήμη έως πρακτικές εφαρμογές στη βιομηχανία. Ο συνδυασμός της ατομικής ανάλυσης, των πολυλειτουργικών δυνατοτήτων μέτρησης και του στιβαρού σχεδιασμού του διασφαλίζει ότι ανταποκρίνεται στις απαιτητικές ανάγκες των σύγχρονων μηχανικών δοκιμών νανοκλίμακας και των εργασιών χαρακτηρισμού επιφανειών.