Asse Z a basso rumore per la caratterizzazione di materiali su scala nanometrica ad alta precisione

Descrizione del prodotto:

Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è un sistema AFM avanzato e completo, progettato per offrire precisione e versatilità senza pari per l'imaging e le misurazioni su scala nanometrica. Utilizzando un metodo di scansione completo del campione a tre assi XYZ, questo AFM consente un'analisi completa e accurata della superficie, consentendo la completa libertà di movimento su tutto il campione in tutte e tre le dimensioni spaziali. Questa capacità garantisce un'imaging ad alta risoluzione e una caratterizzazione dettagliata delle topografie complesse del campione, rendendolo uno strumento indispensabile per ricercatori e ingegneri che lavorano nelle industrie della nanotecnologia, della scienza dei materiali e dei semiconduttori.

Una delle caratteristiche principali di questo AFM sono le sue capacità di misurazione multifunzionali. Integra diverse tecniche di microscopia specializzate all'interno di un'unica piattaforma, tra cui la Microscopia a Forza Elettrostatica (EFM), la Microscopia a Forza a Sonda Kelvin (KPFM), la Microscopia a Forza Piezoelettrica (PFM), la Microscopia Capacitiva a Scansione (SCM) e la Microscopia a Forza Magnetica (MFM). Queste funzionalità consentono agli utenti di indagare un'ampia gamma di proprietà fisiche come la distribuzione della carica superficiale, le variazioni del potenziale elettrico, le risposte piezoelettriche, le variazioni di capacità e le strutture dei domini magnetici. Inoltre, è disponibile un modulo opzionale per la Microscopia a Forza Atomica Conduttiva (C-AFM), che espande ulteriormente la funzionalità del sistema consentendo la mappatura della corrente e le misurazioni della conduttività elettrica su scala nanometrica.

Le prestazioni di imaging di questo AFM sono eccezionali, supportando punti di campionamento dell'immagine che vanno da 32*32 fino a 4096*4096. Questa vasta gamma consente risoluzioni di imaging flessibili, adatte alle esigenze specifiche di diverse applicazioni, da scansioni rapide di panoramica ad analisi dettagliate ad altissima risoluzione. L'elevata densità di campionamento assicura che anche le caratteristiche superficiali più sottili possano essere catturate con notevole chiarezza e precisione.

Mantenere livelli di rumore ultra-bassi è fondamentale nel funzionamento dell'AFM per ottenere misurazioni precise della superficie, e questo sistema eccelle in questo senso con un livello di rumore sull'asse Z fino a 0,04 nm. Tale minima interferenza del rumore garantisce che le misurazioni dello spostamento verticale siano estremamente accurate, contribuendo all'affidabilità e alla riproducibilità dei dati raccolti. Ciò è particolarmente importante per le modalità AFM senza contatto, in cui le forze di interazione punta-campione sono estremamente delicate e sensibili alle perturbazioni ambientali.

L'AFM presenta anche un intervallo di angolo di scansione da 0 a 360 gradi, offrendo completa libertà di rotazione durante l'imaging e l'analisi. Questa capacità angolare completa consente agli utenti di orientare ed esaminare i campioni da qualsiasi direzione, facilitando la caratterizzazione completa della superficie e consentendo lo studio di proprietà anisotrope o fenomeni direzionali senza la necessità di riposizionare manualmente il campione.

Come AFM senza contatto, questo sistema riduce al minimo l'usura della punta e i danni al campione operando senza toccare fisicamente la superficie durante le misurazioni. Questa modalità è ideale per l'analisi di materiali morbidi, delicati o facilmente deformabili, preservandone l'integrità pur fornendo informazioni dettagliate su scala nanometrica. La combinazione del funzionamento senza contatto con le modalità di misurazione multifunzionali rende questo AFM uno strumento versatile e potente per un'ampia gamma di indagini scientifiche.

In sintesi, questo AFM completo offre una soluzione robusta per l'imaging su scala nanometrica ad alta precisione e le misurazioni delle proprietà multifunzionali. Il suo metodo di scansione completo del campione a tre assi XYZ, la vasta suite di tecniche di microscopia integrate, le capacità di imaging ad alta risoluzione, il livello di rumore ultra-basso sull'asse Z e l'angolo di scansione completo a 360 gradi lo rendono uno strumento all'avanguardia su misura per la ricerca avanzata e le applicazioni industriali. Che tu stia studiando proprietà elettriche, magnetiche, meccaniche o piezoelettriche su scala nanometrica, questo sistema AFM offre le prestazioni e la flessibilità necessarie per superare i limiti della scoperta scientifica.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio a Forza Atomica (AFM All-in-One)
• Livello di rumore sull'asse Z: 0,04 Nm per misurazioni ad alta precisione
• Misurazioni multifunzionali tra cui Microscopio a Forza Elettrostatica (EFM), Microscopio Kelvin a Scansione (KPFM), Microscopio a Forza Piezoelettrica (PFM), Microscopio a Forza Atomica Capacitivo a Scansione (SCM), Microscopio a Forza Magnetica (MFM)
• Modalità opzionale Microscopio a Forza Atomica Conduttivo (C-AFM) disponibile
• Angolo di scansione: 0~360° per un'analisi versatile del campione
• Velocità di scansione: da 0,1 Hz a 30 Hz per adattarsi a varie velocità di imaging
• Metodo di scansione: scansione completa del campione a tre assi XYZ che garantisce una caratterizzazione completa della superficie
• Serve come piattaforma di caratterizzazione su scala nanometrica con capacità di misurazione multi-modalità

Parametri tecnici:

Applicazioni:

Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) AtomEdge Pro di Truth Instruments, originario della Cina, è uno strumento scientifico all'avanguardia progettato per fornire imaging a risoluzione atomica e capacità di test nanomeccanici. La sua velocità di scansione avanzata che va da 0,1 Hz a 30 Hz e un angolo di scansione completo di 0~360° consentono un'analisi del campione altamente precisa e flessibile. L'AtomEdge Pro è compatibile con campioni fino a 25 mm di diametro, rendendolo adatto a un'ampia varietà di applicazioni di ricerca e industriali.

Questo versatile modello AFM eccelle nelle misurazioni multifunzionali, offrendo Microscopia a Forza Elettrostatica (EFM), Microscopia a Sonda Kelvin a Scansione (KPFM), Microscopia a Forza Piezoelettrica (PFM), Microscopia Capacitiva a Scansione (SCM) e Microscopia a Forza Magnetica (MFM). Inoltre, supporta la Microscopia a Forza Atomica Conduttiva (C-AFM) opzionale, rendendolo ideale per l'analisi approfondita delle proprietà elettriche. Queste caratteristiche rendono l'AtomEdge Pro altamente adatto per ambienti di ricerca incentrati sulla scienza dei materiali, sulla tecnologia dei semiconduttori e sullo sviluppo della nanotecnologia.

Nei laboratori accademici e industriali, l'AtomEdge Pro viene spesso utilizzato per i test nanomeccanici, consentendo agli scienziati di esplorare le proprietà meccaniche su scala nanometrica con eccezionale precisione. La sua bassa non linearità nella direzione XY (0,02%) e nella direzione Z (0,08%) garantisce misurazioni affidabili e riproducibili, fondamentali per applicazioni di alta precisione come la ricerca sui biomateriali, l'analisi dei polimeri e l'ingegneria delle superfici. La capacità di imaging a risoluzione atomica consente una caratterizzazione dettagliata della superficie, essenziale per lo sviluppo di nuovi materiali e il miglioramento dei processi di produzione.

Le opzioni di misurazione multifunzionali e l'adattabilità dell'AFM lo rendono altrettanto prezioso nell'elettronica, dove sono necessarie la mappatura dettagliata del potenziale superficiale e delle proprietà magnetiche. Ad esempio, le modalità KPFM ed EFM facilitano lo studio della distribuzione della carica e delle forze elettrostatiche sui componenti microelettronici, contribuendo all'ottimizzazione dei dispositivi e all'analisi dei guasti. Nel frattempo, le modalità PFM e MFM supportano le indagini sui materiali piezoelettrici e magnetici, contribuendo ai progressi nei sensori e nei dispositivi di memoria.

Nel complesso, il Microscopio a Forza Atomica AtomEdge Pro di Truth Instruments è uno strumento potente e flessibile progettato per un'ampia gamma di scenari applicativi, dalla ricerca fondamentale nella nanoscienza alle applicazioni pratiche nell'industria. La sua combinazione di risoluzione atomica, capacità di misurazione multifunzionali e design robusto garantisce che soddisfi le esigenze più esigenti dei moderni test nanomeccanici e delle attività di caratterizzazione della superficie.