Ruisarme Z-as voor hoogprecisie karakterisering van nanomaterialen

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd, all-in-one AFM-systeem dat is ontworpen om ongeëvenaarde precisie en veelzijdigheid te bieden voor nano-schaalbeeldvorming en -metingen.Met behulp van een drieassige XYZ-scanmethodeDeze AFM maakt een uitgebreide en nauwkeurige oppervlaktanalyse mogelijk door volledige bewegingsvrijheid over het monster in alle drie de ruimtelijke dimensies toe te staan.Deze mogelijkheid zorgt voor beeldvorming met hoge resolutie en gedetailleerde karakterisering van complexe topografieën, waardoor het een onmisbaar hulpmiddel is voor onderzoekers en ingenieurs die werkzaam zijn in nanotechnologie, materiaalwetenschappen en de halfgeleiderindustrie.

Een van de opvallende kenmerken van deze AFM is de multifunctionele meetmogelijkheden.met inbegrip van elektrostatische krachtmicroscopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezo-elektrische krachtmicroscopie (PFM), Scanning Capacitive Microscopy (SCM) en Magnetic Force Microscopy (MFM).Deze functionaliteiten stellen gebruikers in staat om een breed scala aan fysische eigenschappen te onderzoeken, zoals de oppervlakteladingsverdelingHet programma bevat ook een optioneel module voor Conductive Atomic Force Microscopy (C-AFM).,Het is een zeer belangrijk onderdeel van de ontwikkeling van de nieuwe technologieën voor het opnemen van elektrische stroom op nanoschaal.

De afbeeldingsprestaties van dit AFM zijn uitzonderlijk, omdat het beeldmonsternamingspunten van 32*32 tot 4096*4096 ondersteunt.Dit uitgebreide assortiment maakt flexibele beeldresoluties mogelijk die zijn afgestemd op de specifieke vereisten van verschillende toepassingenDe hoge steekproefdichtheid zorgt ervoor dat zelfs de kleinste oppervlaktefuncties met opmerkelijke helderheid en nauwkeurigheid kunnen worden vastgelegd.

Het handhaven van ultralage geluidsniveaus is van cruciaal belang in de AFM-operatie om nauwkeurige oppervlaktemetingen te bereiken, en dit systeem is in dit opzicht uitstekend met een geluidsniveau van de Z-as van slechts 0,04 nm.Een dergelijke minimale geluidsinterferentie garandeert dat de verticale verplaatsingsmetingen zeer nauwkeurig zijn, die bijdragen aan de betrouwbaarheid en reproduceerbaarheid van de verzamelde gegevens.waarbij de interactiekrachten tussen de punt en het monster extreem gevoelig zijn voor verstoringen in het milieu.

De AFM beschikt ook over een scanhoekbereik van 0 tot 360 graden, wat volledige rotatievrijheid biedt tijdens beeldvorming en analyse.Deze volledige hoekcapaciteit stelt gebruikers in staat om monsters vanuit elke richting te oriënteren en te onderzoeken, waardoor een uitgebreide oppervlaktekarakterisering mogelijk is en de studie van anisotrope eigenschappen of richtingsverschijnselen mogelijk is, zonder dat de steekproef handmatig opnieuw moet worden geplaatst.

Als een niet-contact AFM, dit systeem minimaliseert punt slijtage en monster schade door te werken zonder fysiek aan te raken het oppervlak tijdens de metingen.of gemakkelijk vervormde materialen, waarbij hun integriteit behouden blijft en tegelijkertijd gedetailleerde nanoschaalinformatie wordt verstrekt.De combinatie van contactloze bediening met multifunctionele meetmodi maakt deze AFM tot een veelzijdig en krachtig instrument voor een breed spectrum van wetenschappelijke onderzoeken.

In het kort, deze all-in-one AFM biedt een robuuste oplossing voor nauwkeurige nanoschaalbeeldvorming en multifunctionele eigenschappenmetingen.uitgebreide reeks van geïntegreerde microscopie technieken, hoge-resolutie beeldvorming mogelijkheden, ultra-lage Z-as geluidsniveau,Het is speciaal ontworpen voor geavanceerd onderzoek en industriële toepassingen.Of je nu elektrische, magnetische, mechanische of piezo-elektrische eigenschappen bestudeert op nanoschaal,Dit AFM-systeem biedt de prestaties en flexibiliteit die nodig zijn om de grenzen van wetenschappelijke ontdekkingen te verleggen..

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope (All-in-One AFM)
• Ruisniveau op de Z-as: 0,04 Nm voor metingen met hoge precisie
• Multifunctionele metingen, waaronder elektrostatische krachtimicroscoop (EFM), scanning Kelvin microscoop (KPFM), piezo-elektrische krachtimicroscoop (PFM), scanning capacitieve atoomkrachtimicroscoop (SCM),Magnetische krachtmicroscoop (MFM)
• Optioneel geleidende atoomkrachtmicroscoop (C-AFM) beschikbaar
• Scanhoek: 0-360° voor veelzijdige monsteranalyse
• Scansnelheid: 0,1 Hz tot 30 Hz voor verschillende beeldsnelheden
• Scandemethode: XYZ-drieassige volledige-sample-scan die zorgt voor een uitgebreide oppervlaktekarakterisering
• Dient als nanoschaal-charakterisatieplatform met meerdere meetmogelijkheden

Technische parameters:

Toepassingen:

The Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope (AFM), van oorsprong uit China,is een modern wetenschappelijk instrument dat is ontworpen om beeldvorming met atoomresolutie en nano-mechanische testen mogelijk te makenDe geavanceerde scanningssnelheid van 0,1 Hz tot 30 Hz en een volledige scanningskant van 0 tot 360° maken een zeer nauwkeurige en flexibele monsteranalyse mogelijk.De AtomEdge Pro is compatibel met monsters tot 25 mm in diameter, waardoor het geschikt is voor een breed scala aan onderzoeks- en industriële toepassingen.

Dit veelzijdige AFM-model is uitstekend in multifunktioneel meten en biedt elektrostatische krachtmicroscopie (EFM), scanning Kelvin probe microscopie (KPFM), piezo-elektrische krachtmicroscopie (PFM),Scanning capacitive microscopy (SCM)Daarnaast ondersteunt het optioneel geleidende atoomkrachtmicroscopie (C-AFM), waardoor het ideaal is voor diepgaande elektrische eigenschappenanalyse.Deze functies maken de AtomEdge Pro zeer geschikt voor onderzoeksomgevingen gericht op materiaalwetenschappen, halfgeleidertechnologie en nanotechnologieontwikkeling.

In academische en industriële laboratoria wordt de AtomEdge Pro vaak gebruikt voor nanomechanische testen, waardoor wetenschappers met uitzonderlijke nauwkeurigheid mechanische eigenschappen op nanoschaal kunnen onderzoeken..De lage niet-lineariteit in de XY-richting (0,02%) en de Z-richting (0,08%) zorgt voor betrouwbare en reproduceerbare metingen, die van cruciaal belang zijn voor toepassingen met een hoge precisie, zoals onderzoek naar biomaterialen,analyse van polymerenDe mogelijkheid tot afbeeldingen met atoomresolutie maakt een gedetailleerde oppervlaktekarakterisering mogelijk, die essentieel is voor de ontwikkeling van nieuwe materialen en de verbetering van productieprocessen.

De multifunctionele meetmogelijkheden en aanpasbaarheid van de AFM maken het even waardevol in de elektronica, waar gedetailleerde oppervlaktepotentieel- en magnetische eigenschappen in kaart brengen noodzakelijk zijn.de KPFM- en EFM-modi vergemakkelijken het bestuderen van de ladingsverdeling en de elektrostatische krachten op micro-elektronische componentenInmiddels ondersteunen de PFM- en MFM-modes onderzoek naar piezo-elektrische en magnetische materialen.bijdragen aan de vooruitgang op het gebied van sensoren en geheugenapparatuur.

Over het algemeen, the Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope is a powerful and flexible tool designed for a broad range of application scenarios—from fundamental research in nanoscience to practical applications in industryDe combinatie van atoomresolutie, multifunctionele meetmogelijkheden,Het is een zeer robuust ontwerp dat zorgt dat het voldoet aan de veeleisende behoeften van moderne nano-mechanische testen en oppervlakkenkarakteriseringstaken..