Trục Z tiếng ồn thấp cho đặc điểm vật liệu nano quy mô chính xác cao

Mô tả sản phẩm:

Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) là một hệ thống AFM tất cả trong một tiên tiến, được thiết kế để mang lại độ chính xác và tính linh hoạt vô song cho việc chụp ảnh và đo lường ở quy mô nano. Sử dụng phương pháp quét mẫu đầy đủ ba trục XYZ, AFM này cho phép phân tích bề mặt toàn diện và chính xác bằng cách cho phép tự do di chuyển hoàn toàn trên mẫu trong cả ba chiều không gian. Khả năng này đảm bảo chụp ảnh độ phân giải cao và đặc tính chi tiết của các địa hình mẫu phức tạp, khiến nó trở thành một công cụ không thể thiếu cho các nhà nghiên cứu và kỹ sư làm việc trong các ngành công nghiệp công nghệ nano, khoa học vật liệu và chất bán dẫn.

Một trong những tính năng nổi bật của AFM này là khả năng đo lường đa chức năng. Nó tích hợp một số kỹ thuật hiển vi chuyên biệt trong một nền tảng duy nhất, bao gồm Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi lực đầu dò Kelvin (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM), Kính hiển vi điện dung quét (SCM) và Kính hiển vi lực từ (MFM). Các chức năng này cho phép người dùng điều tra một loạt các tính chất vật lý như phân bố điện tích bề mặt, các biến thể điện thế, phản ứng áp điện, thay đổi điện dung và cấu trúc miền từ. Ngoài ra, còn có một mô-đun tùy chọn cho Kính hiển vi lực nguyên tử dẫn điện (C-AFM), giúp mở rộng hơn nữa chức năng của hệ thống bằng cách cho phép lập bản đồ dòng điện và đo độ dẫn điện ở quy mô nano.

Hiệu suất chụp ảnh của AFM này là đặc biệt, hỗ trợ các điểm lấy mẫu hình ảnh từ 32*32 đến 4096*4096. Phạm vi rộng lớn này cho phép các độ phân giải hình ảnh linh hoạt phù hợp với các yêu cầu cụ thể của các ứng dụng khác nhau, từ quét tổng quan nhanh đến phân tích chi tiết độ phân giải cực cao. Mật độ lấy mẫu cao đảm bảo rằng ngay cả các đặc điểm bề mặt tốt nhất cũng có thể được chụp với độ rõ nét và độ chính xác đáng kể.

Việc duy trì mức độ nhiễu cực thấp là rất quan trọng trong hoạt động của AFM để đạt được các phép đo bề mặt chính xác và hệ thống này vượt trội về khía cạnh này với mức độ nhiễu trục Z thấp tới 0,04 nm. Sự can thiệp nhiễu tối thiểu như vậy đảm bảo rằng các phép đo dịch chuyển theo chiều dọc có độ chính xác cao, góp phần vào độ tin cậy và khả năng tái tạo của dữ liệu được thu thập. Điều này đặc biệt quan trọng đối với các chế độ AFM không tiếp xúc, nơi các lực tương tác đầu-mẫu cực kỳ tinh tế và nhạy cảm với các nhiễu loạn môi trường.

AFM cũng có phạm vi góc quét từ 0 đến 360 độ, mang lại sự tự do xoay hoàn toàn trong quá trình chụp ảnh và phân tích. Khả năng góc đầy đủ này cho phép người dùng định hướng và kiểm tra các mẫu từ bất kỳ hướng nào, tạo điều kiện thuận lợi cho việc đặc trưng bề mặt toàn diện và cho phép nghiên cứu các tính chất dị hướng hoặc hiện tượng định hướng mà không cần phải định vị lại mẫu theo cách thủ công.

Là một AFM không tiếp xúc, hệ thống này giảm thiểu sự mài mòn đầu và hư hỏng mẫu bằng cách hoạt động mà không cần chạm vào bề mặt trong quá trình đo. Chế độ này lý tưởng để phân tích các vật liệu mềm, mỏng manh hoặc dễ biến dạng, bảo toàn tính toàn vẹn của chúng trong khi vẫn cung cấp thông tin chi tiết ở quy mô nano. Sự kết hợp giữa hoạt động không tiếp xúc với các chế độ đo đa chức năng làm cho AFM này trở thành một công cụ linh hoạt và mạnh mẽ cho một loạt các nghiên cứu khoa học.

Tóm lại, AFM tất cả trong một này cung cấp một giải pháp mạnh mẽ để chụp ảnh ở quy mô nano có độ chính xác cao và đo các thuộc tính đa chức năng. Phương pháp quét mẫu đầy đủ ba trục XYZ, bộ kỹ thuật hiển vi tích hợp mở rộng, khả năng chụp ảnh độ phân giải cao, mức độ nhiễu trục Z cực thấp và góc quét 360 độ đầy đủ làm cho nó trở thành một công cụ hiện đại được thiết kế riêng cho các ứng dụng công nghiệp và nghiên cứu tiên tiến. Cho dù bạn đang nghiên cứu các tính chất điện, từ tính, cơ học hoặc áp điện ở quy mô nano, hệ thống AFM này cung cấp hiệu suất và tính linh hoạt cần thiết để vượt qua ranh giới của khám phá khoa học.

Tính năng:

• Tên sản phẩm: Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM tất cả trong một)
• Mức độ nhiễu trục Z: 0,04 Nm để đo độ chính xác cao
• Các phép đo đa chức năng bao gồm Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi Kelvin quét (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM), Kính hiển vi lực nguyên tử điện dung quét (SCM), Kính hiển vi lực từ (MFM)
• Chế độ Kính hiển vi lực nguyên tử dẫn điện (C-AFM) tùy chọn có sẵn
• Góc quét: 0~360° để phân tích mẫu linh hoạt
• Tốc độ quét: 0,1 Hz đến 30 Hz để phù hợp với nhiều tốc độ chụp ảnh khác nhau
• Phương pháp quét: Quét mẫu đầy đủ ba trục XYZ đảm bảo đặc trưng bề mặt toàn diện
• Hoạt động như một Nền tảng đặc trưng ở quy mô nano với khả năng đo đa chế độ

Thông số kỹ thuật:

Ứng dụng:

Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) AtomEdge Pro của Truth Instruments, có nguồn gốc từ Trung Quốc, là một công cụ khoa học hiện đại được thiết kế để cung cấp khả năng chụp ảnh độ phân giải nguyên tử và thử nghiệm cơ học nano. Tốc độ quét tiên tiến của nó dao động từ 0,1 Hz đến 30 Hz và góc quét đầy đủ 0~360° cho phép phân tích mẫu có độ chính xác và linh hoạt cao. AtomEdge Pro tương thích với các mẫu có đường kính lên đến 25 mm, làm cho nó phù hợp với nhiều ứng dụng nghiên cứu và công nghiệp.

Mô hình AFM đa năng này vượt trội trong các phép đo đa chức năng, cung cấp Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi đầu dò Kelvin quét (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM), Kính hiển vi điện dung quét (SCM) và Kính hiển vi lực từ (MFM). Ngoài ra, nó hỗ trợ Kính hiển vi lực nguyên tử dẫn điện (C-AFM) tùy chọn, làm cho nó lý tưởng để phân tích các đặc tính điện chuyên sâu. Các tính năng này làm cho AtomEdge Pro rất phù hợp với các môi trường nghiên cứu tập trung vào khoa học vật liệu, công nghệ bán dẫn và phát triển công nghệ nano.

Trong các phòng thí nghiệm học thuật và công nghiệp, AtomEdge Pro thường được sử dụng để thử nghiệm cơ học nano, cho phép các nhà khoa học khám phá các tính chất cơ học ở quy mô nano với độ chính xác đặc biệt. Độ phi tuyến thấp của nó theo hướng XY (0,02%) và hướng Z (0,08%) đảm bảo các phép đo đáng tin cậy và có thể tái tạo, rất quan trọng đối với các ứng dụng có độ chính xác cao như nghiên cứu vật liệu sinh học, phân tích polyme và kỹ thuật bề mặt. Khả năng chụp ảnh độ phân giải nguyên tử cho phép đặc trưng bề mặt chi tiết, cần thiết để phát triển các vật liệu mới và cải thiện quy trình sản xuất.

Các tùy chọn đo đa chức năng và khả năng thích ứng của AFM làm cho nó có giá trị như nhau trong lĩnh vực điện tử, nơi cần thiết phải lập bản đồ chi tiết về điện thế bề mặt và các đặc tính từ tính. Ví dụ, các chế độ KPFM và EFM tạo điều kiện cho việc nghiên cứu sự phân bố điện tích và các lực tĩnh điện trên các linh kiện vi điện tử, hỗ trợ tối ưu hóa thiết bị và phân tích lỗi. Trong khi đó, các chế độ PFM và MFM hỗ trợ các cuộc điều tra về vật liệu áp điện và từ tính, góp phần vào những tiến bộ trong cảm biến và thiết bị bộ nhớ.

Nhìn chung, Kính hiển vi lực nguyên tử AtomEdge Pro của Truth Instruments là một công cụ mạnh mẽ và linh hoạt được thiết kế cho một loạt các tình huống ứng dụng—từ nghiên cứu cơ bản trong khoa học nano đến các ứng dụng thực tế trong công nghiệp. Sự kết hợp giữa độ phân giải nguyên tử, khả năng đo đa chức năng và thiết kế mạnh mẽ đảm bảo rằng nó đáp ứng các nhu cầu khắt khe của các tác vụ thử nghiệm cơ học nano và đặc trưng bề mặt hiện đại.