Axe Z à faible bruit pour la caractérisation de matériaux à l'échelle nanométrique de haute précision

Description du produit :

Le microscope à force atomique (AFM) est un système AFM avancé et tout-en-un conçu pour offrir une précision et une polyvalence inégalées pour l'imagerie et les mesures à l'échelle nanométrique. Utilisant une méthode de balayage d'échantillon complet à trois axes XYZ, cet AFM permet une analyse de surface complète et précise en permettant une liberté de mouvement totale sur l'échantillon dans les trois dimensions spatiales. Cette capacité garantit une imagerie haute résolution et une caractérisation détaillée des topographies d'échantillons complexes, ce qui en fait un outil indispensable pour les chercheurs et les ingénieurs travaillant dans les nanotechnologies, la science des matériaux et les industries des semi-conducteurs.

L'une des caractéristiques exceptionnelles de cet AFM est ses capacités de mesure multifonctionnelles. Il intègre plusieurs techniques de microscopie spécialisées au sein d'une seule plateforme, notamment la microscopie à force électrostatique (EFM), la microscopie à force à sonde Kelvin (KPFM), la microscopie à force piézoélectrique (PFM), la microscopie capacitive à balayage (SCM) et la microscopie à force magnétique (MFM). Ces fonctionnalités permettent aux utilisateurs d'étudier un large éventail de propriétés physiques telles que la distribution de la charge de surface, les variations de potentiel électrique, les réponses piézoélectriques, les changements de capacité et les structures de domaines magnétiques. De plus, il existe un module optionnel pour la microscopie à force atomique conductrice (C-AFM), qui élargit encore les fonctionnalités du système en permettant la cartographie du courant et les mesures de conductivité électrique à l'échelle nanométrique.

Les performances d'imagerie de cet AFM sont exceptionnelles, prenant en charge des points d'échantillonnage d'image allant de 32*32 à 4096*4096. Cette large gamme permet des résolutions d'imagerie flexibles adaptées aux exigences spécifiques des différentes applications, des analyses rapides d'ensemble aux analyses détaillées à ultra-haute résolution. La densité d'échantillonnage élevée garantit que même les caractéristiques de surface les plus fines peuvent être capturées avec une clarté et une précision remarquables.

Le maintien de niveaux de bruit ultra-faibles est essentiel au fonctionnement de l'AFM pour obtenir des mesures de surface précises, et ce système excelle à cet égard avec un niveau de bruit sur l'axe Z aussi bas que 0,04 nm. Une telle interférence de bruit minimale garantit que les mesures de déplacement vertical sont très précises, contribuant à la fiabilité et à la reproductibilité des données collectées. Ceci est particulièrement important pour les modes AFM sans contact, où les forces d'interaction pointe-échantillon sont extrêmement délicates et sensibles aux perturbations environnementales.

L'AFM dispose également d'une plage d'angle de balayage de 0 à 360 degrés, offrant une liberté de rotation complète pendant l'imagerie et l'analyse. Cette capacité angulaire complète permet aux utilisateurs d'orienter et d'examiner les échantillons dans n'importe quelle direction, facilitant ainsi la caractérisation complète de la surface et permettant l'étude des propriétés anisotropes ou des phénomènes directionnels sans avoir besoin de repositionner manuellement l'échantillon.

En tant qu'AFM sans contact, ce système minimise l'usure de la pointe et les dommages à l'échantillon en fonctionnant sans toucher physiquement la surface pendant les mesures. Ce mode est idéal pour l'analyse de matériaux mous, délicats ou facilement déformables, préservant leur intégrité tout en fournissant des informations détaillées à l'échelle nanométrique. La combinaison du fonctionnement sans contact avec les modes de mesure multifonctionnels fait de cet AFM un outil polyvalent et puissant pour un large éventail d'enquêtes scientifiques.

En résumé, cet AFM tout-en-un offre une solution robuste pour l'imagerie à l'échelle nanométrique de haute précision et les mesures de propriétés multifonctionnelles. Sa méthode de balayage d'échantillon complet à trois axes XYZ, sa vaste gamme de techniques de microscopie intégrées, ses capacités d'imagerie haute résolution, son niveau de bruit ultra-faible sur l'axe Z et son angle de balayage complet à 360 degrés en font un instrument de pointe adapté à la recherche avancée et aux applications industrielles. Que vous étudiiez les propriétés électriques, magnétiques, mécaniques ou piézoélectriques à l'échelle nanométrique, ce système AFM offre les performances et la flexibilité nécessaires pour repousser les limites de la découverte scientifique.

Caractéristiques :

• Nom du produit : Microscope à force atomique (AFM tout-en-un)
• Niveau de bruit sur l'axe Z : 0,04 Nm pour des mesures de haute précision
• Mesures multifonctionnelles, notamment le microscope à force électrostatique (EFM), le microscope Kelvin à balayage (KPFM), le microscope à force piézoélectrique (PFM), le microscope à force atomique capacitif à balayage (SCM), le microscope à force magnétique (MFM)
• Mode microscope à force atomique conductrice (C-AFM) en option disponible
• Angle de balayage : 0~360 ° pour une analyse d'échantillon polyvalente
• Vitesse de balayage : 0,1 Hz à 30 Hz pour s'adapter à diverses vitesses d'imagerie
• Méthode de balayage : balayage d'échantillon complet à trois axes XYZ assurant une caractérisation complète de la surface
• Sert de plateforme de caractérisation à l'échelle nanométrique avec des capacités de mesure multi-modes

Paramètres techniques :

Applications :

Le microscope à force atomique (AFM) AtomEdge Pro de Truth Instruments, originaire de Chine, est un instrument scientifique de pointe conçu pour fournir des capacités d'imagerie à résolution atomique et de tests nanomécaniques. Sa vitesse de balayage avancée allant de 0,1 Hz à 30 Hz et un angle de balayage complet de 0~360° permettent une analyse d'échantillon très précise et flexible. L'AtomEdge Pro est compatible avec des échantillons d'un diamètre allant jusqu'à 25 mm, ce qui le rend adapté à une grande variété d'applications de recherche et industrielles.

Ce modèle AFM polyvalent excelle dans les mesures multifonctionnelles, offrant la microscopie à force électrostatique (EFM), la microscopie à sonde Kelvin à balayage (KPFM), la microscopie à force piézoélectrique (PFM), la microscopie capacitive à balayage (SCM) et la microscopie à force magnétique (MFM). De plus, il prend en charge la microscopie à force atomique conductrice (C-AFM) en option, ce qui le rend idéal pour une analyse approfondie des propriétés électriques. Ces caractéristiques rendent l'AtomEdge Pro très adapté aux environnements de recherche axés sur la science des matériaux, la technologie des semi-conducteurs et le développement des nanotechnologies.

Dans les laboratoires universitaires et industriels, l'AtomEdge Pro est souvent utilisé pour les tests nanomécaniques, permettant aux scientifiques d'explorer les propriétés mécaniques à l'échelle nanométrique avec une précision exceptionnelle. Sa faible non-linéarité dans la direction XY (0,02 %) et la direction Z (0,08 %) garantit des mesures fiables et reproductibles, essentielles pour les applications de haute précision telles que la recherche sur les biomatériaux, l'analyse des polymères et l'ingénierie de surface. La capacité d'imagerie à résolution atomique permet une caractérisation détaillée de la surface, essentielle pour le développement de nouveaux matériaux et l'amélioration des processus de fabrication.

Les options de mesure multifonctionnelles et l'adaptabilité de l'AFM le rendent également précieux en électronique, où une cartographie détaillée du potentiel de surface et des propriétés magnétiques est nécessaire. Par exemple, les modes KPFM et EFM facilitent l'étude de la distribution des charges et des forces électrostatiques sur les composants microélectroniques, ce qui aide à l'optimisation des appareils et à l'analyse des défaillances. Pendant ce temps, les modes PFM et MFM soutiennent les enquêtes sur les matériaux piézoélectriques et magnétiques, contribuant aux progrès des capteurs et des dispositifs de mémoire.

Dans l'ensemble, le microscope à force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments est un outil puissant et flexible conçu pour un large éventail de scénarios d'application, de la recherche fondamentale en nanoscience aux applications pratiques dans l'industrie. Sa combinaison de résolution atomique, de capacités de mesure multifonctionnelles et de conception robuste garantit qu'il répond aux besoins exigeants des tests nanomécaniques modernes et des tâches de caractérisation de surface.