Aksi Z Low-Noise untuk Karakterisasi Bahan Nanoscale Presisi Tinggi

Deskripsi produk:

Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) adalah sistem AFM canggih yang dirancang untuk memberikan presisi dan fleksibilitas yang tak tertandingi untuk pencitraan dan pengukuran skala nano.Menggunakan metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ, AFM ini memungkinkan analisis permukaan yang komprehensif dan akurat dengan memungkinkan kebebasan gerakan penuh di seluruh sampel dalam ketiga dimensi spasial.Kemampuan ini memastikan pencitraan resolusi tinggi dan karakteristik rinci dari topografi sampel yang kompleks, menjadikannya alat yang sangat diperlukan bagi peneliti dan insinyur yang bekerja di bidang nanoteknologi, ilmu material, dan industri semikonduktor.

Salah satu fitur yang menonjol dari AFM ini adalah kemampuan pengukuran multifungsi.termasuk Elektrostatik Force Microscopy (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezoelectric Force Microscopy (PFM), Scanning Capacitive Microscopy (SCM), dan Magnetic Force Microscopy (MFM).Fungsi ini memungkinkan pengguna untuk menyelidiki berbagai sifat fisik seperti distribusi muatan permukaanSelain itu, ada modul opsional untuk Mikroskopi Kekuatan Atom Konduktif (C-AFM),yang lebih memperluas fungsi sistem dengan memungkinkan pemetaan arus dan pengukuran konduktivitas listrik pada skala nanometer.

Kinerja pencitraan dari AFM ini luar biasa, mendukung titik pengambilan sampel gambar mulai dari 32*32 hingga 4096*4096.Rentang yang luas ini memungkinkan resolusi pencitraan yang fleksibel yang disesuaikan dengan persyaratan khusus dari aplikasi yang berbeda, mulai dari pemindaian gambaran cepat hingga analisis rinci resolusi ultra tinggi.

Mempertahankan tingkat kebisingan yang sangat rendah sangat penting dalam operasi AFM untuk mencapai pengukuran permukaan yang tepat, dan sistem ini unggul dalam hal ini dengan tingkat kebisingan sumbu Z setinggi 0,04 nm.Gangguan kebisingan yang minimal ini menjamin bahwa pengukuran pergeseran vertikal sangat akurat, berkontribusi pada keandalan dan reproduksi data yang dikumpulkan.di mana kekuatan interaksi tip-sampel sangat sensitif dan sensitif terhadap gangguan lingkungan.

AFM juga memiliki kisaran sudut pemindaian dari 0 sampai 360 derajat, menawarkan kebebasan rotasi yang lengkap selama pencitraan dan analisis.Kemampuan sudut penuh ini memungkinkan pengguna untuk mengorientasikan dan memeriksa sampel dari arah apa pun, memfasilitasi karakteristik permukaan yang komprehensif dan memungkinkan studi sifat anisotropik atau fenomena arah tanpa perlu memposisikan kembali sampel secara manual.

Sebagai AFM non-kontak, sistem ini meminimalkan keausan ujung dan kerusakan sampel dengan beroperasi tanpa secara fisik menyentuh permukaan selama pengukuran.atau bahan yang mudah cacat, menjaga integritas mereka sambil tetap memberikan informasi nanoskala yang rinci.Kombinasi operasi tanpa kontak dengan mode pengukuran multifungsi membuat AFM ini alat serbaguna dan ampuh untuk spektrum yang luas penelitian ilmiah.

Singkatnya, AFM all-in-one ini menawarkan solusi yang kuat untuk pencitraan nanoscale presisi tinggi dan pengukuran properti multifungsi.kumpulan teknik mikroskop terintegrasi yang luas, kemampuan pencitraan resolusi tinggi, tingkat kebisingan sumbu Z yang sangat rendah,dan sudut pemindaian penuh 360 derajat menjadikannya instrumen canggih yang disesuaikan untuk penelitian lanjutan dan aplikasi industriApakah Anda mempelajari sifat listrik, magnetik, mekanik, atau piezoelektrik pada skala nano,Sistem AFM ini memberikan kinerja dan fleksibilitas yang dibutuhkan untuk mendorong batas-batas penemuan ilmiah.

Fitur:

• Nama produk: Atomic Force Microscope (All-in-One AFM)
• Tingkat kebisingan sumbu Z: 0,04 Nm untuk pengukuran presisi tinggi
• Pengukuran multifungsi termasuk Elektrostatik Force Microscope (EFM), Scanning Kelvin Microscope (KPFM), Piezoelectric Force Microscope (PFM), Scanning Capacitive Atomic Force Microscope (SCM),Mikroskop Kekuatan Magnetik (MFM)
• Opsional Konduktif Mikroskop Kekuatan Atom (C-AFM) modus tersedia
• Sudut pemindaian: 0~360° untuk analisis sampel serbaguna
• Kecepatan pemindaian: 0,1 Hz hingga 30 Hz untuk mengakomodasi berbagai kecepatan pencitraan
• Metode pemindaian: XYZ Pemindaian Sampel Lengkap Tiga-Axis yang memastikan karakteristik permukaan yang komprehensif
• Berfungsi sebagai Platform Karakterisasi Nanoscale dengan kemampuan Pengukuran Multi-Mode

Parameter teknis:

Aplikasi:

The Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope (AFM), berasal dari Cina,adalah instrumen ilmiah mutakhir yang dirancang untuk menyediakan kemampuan pencitraan resolusi atom dan pengujian nanomekanisTingkat pemindaian canggihnya berkisar dari 0,1 Hz hingga 30 Hz dan sudut pemindaian penuh 0 ~ 360 ° memungkinkan analisis sampel yang sangat tepat dan fleksibel.AtomEdge Pro kompatibel dengan sampel hingga 25 mm diameter, sehingga cocok untuk berbagai aplikasi penelitian dan industri.

Model AFM serbaguna ini unggul dalam pengukuran multifungsi, menawarkan Mikroskopi Kekuatan Elektrostatik (EFM), Mikroskopi Probe Scanning Kelvin (KPFM), Mikroskopi Kekuatan Piezoelektrik (PFM),Mikroskopi Kapasitif Pemindaian (SCM), dan Mikroskopi Kekuatan Magnetik (MFM). Selain itu, mendukung Mikroskopi Kekuatan Atom Konduktif opsional (C-AFM), menjadikannya ideal untuk analisis sifat listrik yang mendalam.Fitur-fitur ini membuat AtomEdge Pro sangat cocok untuk lingkungan penelitian yang berfokus pada ilmu material, teknologi semikonduktor, dan pengembangan nanoteknologi.

Di laboratorium akademis dan industri, AtomEdge Pro sering digunakan untuk pengujian nanomekanis, memungkinkan para ilmuwan untuk mengeksplorasi sifat mekanik pada skala nanometer dengan akurasi yang luar biasa.Nonlinearitas rendahnya di arah XY (0,02%) dan arah Z (0,08%) memastikan pengukuran yang dapat diandalkan dan direproduksi, penting untuk aplikasi presisi tinggi seperti penelitian biomaterial,analisis polimerKemampuan pencitraan resolusi atom memungkinkan karakteristik permukaan yang rinci, penting untuk mengembangkan bahan baru dan meningkatkan proses manufaktur.

Pilihan pengukuran multifungsi dan kemampuan beradaptasi AFM membuatnya sama berharga di bidang elektronik, di mana pemetaan potensial permukaan dan sifat magnetik yang terperinci diperlukan.modus KPFM dan EFM memfasilitasi studi distribusi muatan dan gaya elektrostatik pada komponen mikroelektronikSementara itu, mode PFM dan MFM mendukung investigasi pada bahan piezoelektrik dan magnetik,berkontribusi pada kemajuan sensor dan perangkat memori.

Secara keseluruhan, the Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope is a powerful and flexible tool designed for a broad range of application scenarios—from fundamental research in nanoscience to practical applications in industryKombinasi resolusi atom, kemampuan pengukuran multifungsi,dan desain yang kuat memastikan bahwa ia memenuhi kebutuhan menuntut dari uji nanomekanis modern dan tugas karakteristik permukaan.