AFM Stabilitas Tinggi Untuk Biologi Bahan Dan Pencitraan Elektronik Deskripsi produk: Mikroskop Kekuatan Atom adalah instrumen ilmiah mutakhir yang menawarkan pencitraan resolusi tinggi dan pengukuran yang tepat untuk berbagai aplikasi dalam nanoteknologi, ilmu material,dan penelitian biologiMikrosk...

Mikroskop Gaya Atom untuk Analisis Permukaan Skala Nano yang Presisi Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah instrumen canggih yang menawarkan kemampuan pengukuran multi-mode untuk analisis permukaan pada tingkat resolusi atom. Mikroskop canggih ini memungkinkan pemeriksaan sampel secara ...

Mikroskop Gaya Pindai Tinggi Untuk Wafe Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah instrumen canggih yang digunakan untuk pencitraan resolusi tinggi dan analisis permukaan di berbagai bidang seperti nanoteknologi, ilmu material, dan biologi. Dengan kemampuan canggih dan pengukuran yang ...

Deskripsi produk:Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) adalah instrumen mutakhir yang dirancang untuk analisis permukaan presisi tinggi dan pengukuran listrik skala nano.Terkenal karena fleksibilitas dan fungsionalitasnya yang canggih, AFM ini menawarkan serangkaian fitur yang komprehensif yang membuatnya ...

Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah instrumen canggih yang dirancang untuk analisis dan karakterisasi permukaan presisi tinggi pada skala nanometer. Alat pengukuran multifungsi ini mengintegrasikan beberapa teknik mikroskopi canggih, termasuk Mikroskopi Gaya Elektrostatik (EFM), ...

Semua dalam Satu Mikroskop Kekuatan Atom Untuk Operasi Fleksibel yang Tepat Deskripsi produk: Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) adalah alat mutakhir yang dirancang untuk pengukuran dan analisis listrik skala nano.Instrumen canggih ini menawarkan kemampuan tak tertandingi dalam pemindaian dan pencitraan ...

Mikroskop Gaya Atom Resolusi Tinggi Untuk Analisis Skala Nano Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah alat serbaguna untuk analisis permukaan, yang umum digunakan dalam berbagai aplikasi ilmiah dan industri. Perangkat canggih ini menawarkan kemampuan pemindaian yang luar biasa dan ...

Mikroskop Probe Pemindaian Lanjutan untuk Pengukuran Skala Nano Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah alat canggih yang menawarkan kemampuan pengukuran multi-mode dengan resolusi nanometer, menjadikannya instrumen penting untuk berbagai aplikasi penelitian dan industri. Dengan resolusi ...

Mikroskop Kekuatan Atom Multifungsi Dengan Mode MFM EFM PFM Deskripsi produk: Salah satu fitur utama dari AFM adalah tingkat kebisingan yang rendah baik dalam arah Z dan arah XY, memastikan pengukuran yang akurat dan dapat diandalkan..04 nm, memberikan sensitivitas yang luar biasa untuk menangkap ...