English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
Ελληνικά
日本語
한국
Polski
فارسی
বাংলা
ไทย
Tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Türkçe
AtomEdge Pro: Mikroskop Kekuatan Atom Multifungsi
Pencitraan 3D Mikroskop Kekuatan Atom
,Mikroskop Angkatan Atom Multifungsi
,Analisis bahan Mikroskop Kekuatan Atom
Properti Dasar
Deskripsi Produk:
Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah instrumen canggih yang dirancang untuk analisis dan karakterisasi permukaan presisi tinggi pada skala nanometer. Alat pengukuran multifungsi ini mengintegrasikan beberapa teknik mikroskopi canggih, termasuk Mikroskopi Gaya Elektrostatik (EFM), Mikroskopi Probe Kelvin Pindai (KPFM), Mikroskopi Gaya Piezoelektrik (PFM), Mikroskopi Gaya Magnetik (MFM), dan pengukuran Kurva Gaya. Kemampuan ini menjadikannya instrumen yang sangat diperlukan bagi para peneliti dan insinyur yang bekerja di bidang seperti semikonduktor, ilmu material, dan nanoteknologi, di mana pemahaman sifat permukaan pada resolusi nanometer sangat penting.
Salah satu fitur unggulan dari AFM ini adalah tingkat kebisingan yang sangat rendah dalam arah Z, diukur hanya 0,04 nm. Lantai kebisingan ultra-rendah ini memastikan data topografi yang sangat akurat dan andal, memungkinkan pembuatan profil permukaan yang detail bahkan pada sampel yang paling halus sekalipun. Presisi seperti itu sangat penting untuk aplikasi yang memerlukan resolusi nanometer, terutama saat menganalisis struktur permukaan rumit dari perangkat semikonduktor dan bahan skala nano lainnya.
Instrumen ini menawarkan rentang laju pemindaian serbaguna dari 0,1 Hz hingga 30 Hz, memungkinkan pengguna untuk menyeimbangkan antara kecepatan pemindaian dan kualitas gambar berdasarkan kebutuhan eksperimen spesifik mereka. Fleksibilitas ini membuatnya cocok untuk berbagai aplikasi, mulai dari pencitraan resolusi tinggi yang lambat hingga pemindaian yang lebih cepat yang menangkap proses dinamis secara real time. Ditambah dengan titik pengambilan sampel gambar maksimum 4096*4096, AFM menyediakan gambar resolusi ultra-tinggi yang mengungkapkan detail permukaan kecil dengan kejernihan luar biasa.
Dalam hal mode kerja, Mikroskop Gaya Atom ini mendukung beberapa teknik operasional untuk mengakomodasi berbagai jenis sampel dan tujuan pengukuran. Ini termasuk Mode Kontak, Mode Ketuk, Mode Pencitraan Fase, Mode Angkat, dan Mode Pemindaian Multi-arah. Mode Kontak sangat ideal untuk pemetaan topografi permukaan yang kuat, sementara Mode Ketuk meminimalkan kerusakan sampel dengan secara intermiten menyentuh permukaan. Mode Pencitraan Fase membantu dalam membedakan sifat material berdasarkan perilaku mekanis, dan Mode Angkat dikhususkan untuk mengukur gaya jarak jauh seperti interaksi magnetik atau elektrostatik. Mode Pemindaian Multi-arah meningkatkan kualitas gambar dan akurasi data dengan mengurangi artefak arah, menjadikan AFM ini solusi yang fleksibel dan komprehensif untuk analisis permukaan skala nano.
Integrasi teknik mikroskopi khusus seperti EFM, KPFM, PFM, dan MFM memperluas kemampuan instrumen di luar pencitraan topografi sederhana. EFM memungkinkan pemetaan distribusi muatan listrik pada permukaan sampel, yang sangat penting untuk penelitian dan pengembangan semikonduktor. KPFM mengukur variasi potensial permukaan dengan sensitivitas tinggi, memberikan wawasan tentang sifat elektronik pada skala nano. PFM digunakan untuk mempelajari bahan piezoelektrik dengan mendeteksi respons mekanis terhadap medan listrik, sementara MFM dikhususkan untuk pencitraan domain dan struktur magnetik. Kemampuan pengukuran multifungsi ini mengubah AFM ini menjadi platform Mikroskopi Probe Pindai (SPM) yang kuat, yang mampu memberikan karakterisasi permukaan yang komprehensif dalam satu instrumen.
Secara keseluruhan, Mikroskop Gaya Atom adalah alat penting bagi para ilmuwan dan insinyur yang bekerja dengan semikonduktor dan nanomaterial lainnya. Kombinasi mode pengukuran multifungsi, kinerja kebisingan ultra-rendah, laju pemindaian yang fleksibel, dan pencitraan resolusi ultra-tinggi membuatnya sangat cocok untuk penelitian dan aplikasi industri yang memerlukan resolusi nanometer. Baik menyelidiki sifat elektronik, domain magnetik, atau karakteristik mekanik, AFM ini memberikan data yang tepat dan andal, memajukan batas ilmu pengetahuan dan teknologi skala nano.
Fitur:
- Nama Produk: Mikroskop Gaya Atom
- Tingkat Kebisingan dalam Arah Z: 0,04 Nm
- Metode Pemindaian: Pemindaian Sampel Penuh Tiga Sumbu XYZ
- Ukuran Sampel: 25 Mm
- Laju Pemindaian: 0,1-30 Hz
- Rentang Pemindaian: 100 μm * 100 μm * 10 μm
- Mendukung pengukuran listrik skala nano dengan presisi tinggi
- Menyediakan Resolusi Nanometer untuk analisis permukaan yang detail
- Memungkinkan kemampuan pengukuran listrik skala nano canggih
Parameter Teknis:
| Pengukuran Multifungsi | Mikroskop Gaya Elektrostatik (EFM), Mikroskop Kelvin Pindai (KPFM), Mikroskop Gaya Piezoelektrik (PFM), Mikroskop Gaya Magnetik (MFM), Kurva Gaya (Pengukuran Multi-Mode) |
| Rentang Pemindaian | 100 μm * 100 μm * 10 μm |
| Laju Pemindaian | 0,1 - 30 Hz |
| Mode Kerja | Mode Kontak, Mode Ketuk, Mode Pencitraan Fase, Mode Angkat, Mode Pemindaian Multi-arah |
| Titik Pengambilan Sampel Gambar | Resolusi Maksimum dari Gambar Probe Pindai adalah 4096 * 4096 (Resolusi Nanometer) |
| Metode Pemindaian | Pemindaian Sampel Penuh Tiga Sumbu XYZ |
| Tingkat Kebisingan dalam Arah Z | 0,04 nm (Resolusi Atom) |
| Nonlinearitas | 0,15% dalam Arah XY dan 1% dalam Arah Z |
| Ukuran Sampel | 25 mm |
Aplikasi:
Mikroskop Gaya Atom Truth Instruments AtomEdge Pro, yang dengan bangga dibuat di China, adalah alat canggih dan serbaguna yang dirancang untuk berbagai aplikasi ilmiah dan industri. Kemampuan pengukuran multifungsinya, termasuk Mikroskopi Gaya Elektrostatik (EFM), Mikroskopi Probe Kelvin Pindai (KPFM), Mikroskopi Gaya Piezoelektrik (PFM), Mikroskopi Gaya Magnetik (MFM), dan analisis Kurva Gaya, menjadikannya instrumen yang sangat diperlukan bagi para peneliti dan insinyur yang bekerja pada skala nano.
Salah satu kesempatan aplikasi utama untuk AtomEdge Pro adalah dalam pencitraan topografi, di mana resolusi pengambilan sampel gambar maksimumnya yang mengesankan sebesar 4096*4096 piksel memungkinkan pemetaan permukaan yang sangat detail. Hal ini memungkinkan visualisasi yang tepat dari permukaan sampel dengan resolusi atom, yang sangat penting untuk ilmu material, penelitian semikonduktor, dan pengembangan nanoteknologi. Metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ mikroskop memastikan pemindaian komprehensif sampel hingga ukuran 25 mm, memfasilitasi analisis skala nano yang luas di berbagai jenis dan ukuran sampel.
Di laboratorium penelitian akademik, AtomEdge Pro sangat ideal untuk mempelajari sifat fisik dan kimia nanomaterial. Nonlinearitasnya yang rendah (0,15% dalam arah XY dan 1% dalam arah Z) menjamin pengukuran yang akurat dan andal, penting untuk eksperimen yang memerlukan resolusi atom dan presisi tinggi. Para peneliti dapat memanfaatkan mode multifungsi untuk menyelidiki sifat listrik, magnetik, dan piezoelektrik dari material, memungkinkan terobosan di bidang-bidang seperti penyimpanan energi, katalisis, dan nanoelektronik.
Dalam pengaturan industri, AtomEdge Pro mendukung kontrol kualitas dan analisis kegagalan dalam manufaktur semikonduktor dan mikroelektronika. Kemampuan untuk melakukan analisis skala nano pada permukaan yang kompleks membantu para insinyur mengidentifikasi cacat dan mengoptimalkan proses fabrikasi. Lebih lanjut, desainnya yang ringkas dan kinerja yang kuat membuatnya cocok untuk integrasi ke dalam lingkungan penelitian dan pengembangan di mana ruang dan keandalan sangat penting.
Secara keseluruhan, Mikroskop Gaya Atom Truth Instruments AtomEdge Pro menawarkan kemampuan yang tak tertandingi untuk pencitraan topografi dan analisis skala nano dengan resolusi atom. Fitur pengukuran multifungsi dan pemindaian presisi tingginya menjadikannya instrumen penting di berbagai disiplin ilmu dan aplikasi industri, mendorong inovasi dan penemuan pada tingkat atom.
Dukungan dan Layanan:
Produk Mikroskop Gaya Atom (AFM) kami didukung oleh tim dukungan teknis khusus yang berkomitmen untuk memastikan kinerja optimal dan kepuasan pengguna. Kami memberikan bantuan komprehensif termasuk panduan instalasi, pelatihan operasional, saran perawatan rutin, dan dukungan pemecahan masalah.
Pengguna dapat mengakses manual produk terperinci, catatan aplikasi, dan pembaruan perangkat lunak melalui sumber daya online kami. Pakar kami tersedia untuk membantu dengan prosedur kalibrasi, teknik pencitraan, dan analisis data untuk memaksimalkan kemampuan sistem AFM.
Layanan pemeliharaan rutin direkomendasikan untuk menjaga presisi dan umur panjang mikroskop. Kami menawarkan pemeriksaan kalibrasi, penggantian komponen, dan peningkatan sistem yang dilakukan oleh teknisi bersertifikat.
Untuk persyaratan khusus, solusi khusus dan layanan konsultasi tersedia untuk menyesuaikan sistem AFM dengan aplikasi penelitian atau industri tertentu.
Kami berusaha untuk memberikan dukungan yang tepat waktu dan efektif untuk meminimalkan waktu henti dan meningkatkan produktivitas Mikroskop Gaya Atom Anda.
FAQ:
Q1: Apa merek dan model Mikroskop Gaya Atom ini?
A1: Mikroskop Gaya Atom berasal dari merek Truth Instruments, dan nomor modelnya adalah AtomEdge Pro.
Q2: Di mana AtomEdge Pro diproduksi?
A2: AtomEdge Pro diproduksi di China.
Q3: Apa aplikasi utama dari Mikroskop Gaya Atom AtomEdge Pro?
A3: AtomEdge Pro digunakan untuk pencitraan dan pengukuran permukaan resolusi tinggi pada skala nano, cocok untuk ilmu material, biologi, dan penelitian semikonduktor.
Q4: Jenis sampel apa yang dapat dianalisis menggunakan AtomEdge Pro?
A4: AtomEdge Pro dapat menganalisis berbagai sampel termasuk bahan keras, spesimen biologis lunak, film tipis, dan nanostruktur.
Q5: Apakah AtomEdge Pro mendukung mode pemindaian yang berbeda?
A5: Ya, AtomEdge Pro mendukung beberapa mode pemindaian seperti mode kontak, mode pengetukan, dan mode non-kontak untuk mengakomodasi berbagai jenis sampel dan kebutuhan pengukuran.
