AtomEdge Pro: Multifunktioneel Atoomkrachtmicroscoop 3D beeldvorming voor materialen

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd instrument ontworpen voor zeer precieze oppervlakteanalyse en -karakterisering op de nanometerschaal. Deze multifunctionele meettool integreert verschillende geavanceerde microscopietechnieken, waaronder Elektrostatische Kracht Microscopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscopie (KPFM), Piëzo-elektrische Kracht Microscopie (PFM), Magnetische Kracht Microscopie (MFM) en Krachtcurvemetingen. Deze mogelijkheden maken het een onmisbaar instrument voor onderzoekers en ingenieurs die werkzaam zijn in gebieden als halfgeleiders, materiaalkunde en nanotechnologie, waar het begrijpen van oppervlakte-eigenschappen op nanometerresolutie cruciaal is.

Een van de opvallende kenmerken van deze AFM is het uitzonderlijk lage ruisniveau in de Z-richting, gemeten op slechts 0,04 nm. Deze ultra-lage ruisvloer zorgt voor zeer nauwkeurige en betrouwbare topografische gegevens, waardoor gedetailleerde oppervlakteprofilering mogelijk is, zelfs op de meest delicate monsters. Een dergelijke precisie is essentieel voor toepassingen die nanometerresolutie vereisen, vooral bij het analyseren van de ingewikkelde oppervlaktestructuren van halfgeleiderapparaten en andere materialen op nanoschaal.

Het instrument biedt een veelzijdig scanningsnelheidsbereik van 0,1 Hz tot 30 Hz, waardoor gebruikers een balans kunnen vinden tussen scansnelheid en beeldkwaliteit op basis van hun specifieke experimentele behoeften. Deze flexibiliteit maakt het geschikt voor een breed scala aan toepassingen, van langzame, hoge-resolutie beeldvorming tot snellere scans die dynamische processen in real-time vastleggen. In combinatie met het maximale beeldbemonsteringspunt van 4096*4096 levert de AFM ultra-hoge resolutie beelden die minuscule oppervlaktedetails met uitzonderlijke helderheid onthullen.

Qua werkingsmodi ondersteunt deze Atomic Force Microscope meerdere operationele technieken om verschillende monstertypes en meetdoelstellingen te accommoderen. Deze omvatten Contact Mode, Tap Mode, Phase Imaging Mode, Lift Mode en Multi-directionele Scanning Mode. Contact Mode is ideaal voor robuuste oppervlakte topografie mapping, terwijl Tap Mode monsterschade minimaliseert door periodiek contact te maken met het oppervlak. Phase Imaging Mode helpt bij het onderscheiden van materiaaleigenschappen op basis van mechanisch gedrag, en Lift Mode is gespecialiseerd in het meten van lange-afstands krachten zoals magnetische of elektrostatische interacties. Multi-directionele Scanning Mode verbetert de beeldkwaliteit en data nauwkeurigheid door directionele artefacten te verminderen, waardoor deze AFM een flexibele en uitgebreide oplossing is voor oppervlakteanalyse op nanoschaal.

De integratie van gespecialiseerde microscopietechnieken zoals EFM, KPFM, PFM en MFM breidt de mogelijkheden van het instrument uit tot verder dan eenvoudige topografische beeldvorming. EFM maakt het mogelijk om elektrische ladingsverdelingen op het monsteroppervlak in kaart te brengen, wat cruciaal is voor onderzoek en ontwikkeling van halfgeleiders. KPFM meet oppervlaktepotentiaalvariaties met hoge gevoeligheid, wat inzicht geeft in elektronische eigenschappen op nanoschaal. PFM wordt gebruikt voor het bestuderen van piëzo-elektrische materialen door mechanische reacties op elektrische velden te detecteren, terwijl MFM gespecialiseerd is in het afbeelden van magnetische domeinen en structuren. Deze multifunctionele meetmogelijkheden transformeren deze AFM in een krachtig Scanning Probe Microscopy (SPM) platform, dat in staat is tot uitgebreide oppervlaktekarakterisering in één instrument.

Over het algemeen is de Atomic Force Microscope een essentieel hulpmiddel voor wetenschappers en ingenieurs die werken met halfgeleiders en andere nanomaterialen. De combinatie van multifunctionele meetmodi, ultra-lage ruisprestaties, flexibele scanningsnelheden en ultra-hoge resolutie beeldvorming maakt het ideaal voor onderzoeks- en industriële toepassingen die nanometerresolutie vereisen. Of het nu gaat om het onderzoeken van elektronische eigenschappen, magnetische domeinen of mechanische kenmerken, deze AFM levert precieze en betrouwbare gegevens, waardoor de grenzen van de wetenschap en technologie op nanoschaal worden verlegd.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope
• Ruisniveau in de Z-richting: 0,04 Nm
• Scanningsmethode: XYZ Drie-assige Volledige Monster Scanning
• Monstergrootte: 25 Mm
• Scansnelheid: 0,1-30 Hz
• Scanningsbereik: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Ondersteunt meting op nanoschaal met hoge precisie
• Biedt nanometerresolutie voor gedetailleerde oppervlakteanalyse
• Maakt geavanceerde metingen op nanoschaal mogelijk

Technische parameters:

Toepassingen:

De Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, met trots gemaakt in China, is een geavanceerd en veelzijdig hulpmiddel ontworpen voor een breed scala aan wetenschappelijke en industriële toepassingen. De multifunctionele meetmogelijkheden, waaronder Elektrostatische Kracht Microscopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscopie (KPFM), Piëzo-elektrische Kracht Microscopie (PFM), Magnetische Kracht Microscopie (MFM) en Krachtcurve-analyse, maken het een onmisbaar instrument voor onderzoekers en ingenieurs die op de nanoschaal werken.

Een van de belangrijkste toepassingsgebieden voor de AtomEdge Pro is in topografie beeldvorming, waar de indrukwekkende maximale beeldbemonsteringsresolutie van 4096*4096 pixels zeer gedetailleerde oppervlakte mapping mogelijk maakt. Dit maakt een precieze visualisatie van monsteroppervlakken met atomaire resolutie mogelijk, wat cruciaal is voor materiaalkunde, halfgeleideronderzoek en nanotechnologie-ontwikkeling. De XYZ drie-assige volledige monster scanningsmethode van de microscoop zorgt voor een uitgebreide scanning van monsters tot 25 mm groot, wat uitgebreide analyse op nanoschaal over verschillende monstertypes en -groottes vergemakkelijkt.

In academische onderzoekslaboratoria is de AtomEdge Pro ideaal voor het bestuderen van de fysische en chemische eigenschappen van nanomaterialen. De lage non-lineariteit (0,15% in de XY-richting en 1% in de Z-richting) garandeert nauwkeurige en betrouwbare metingen, essentieel voor experimenten die atomaire resolutie en hoge precisie vereisen. Onderzoekers kunnen de multifunctionele modi gebruiken om elektrische, magnetische en piëzo-elektrische eigenschappen van materialen te onderzoeken, wat doorbraken mogelijk maakt op gebieden als energieopslag, katalyse en nano-elektronica.

In industriële omgevingen ondersteunt de AtomEdge Pro kwaliteitscontrole en foutanalyse in de halfgeleiderfabricage en micro-elektronica. De mogelijkheid om analyse op nanoschaal uit te voeren op complexe oppervlakken helpt ingenieurs defecten te identificeren en fabricageprocessen te optimaliseren. Bovendien maken het compacte ontwerp en de robuuste prestaties het geschikt voor integratie in onderzoeks- en ontwikkelingsomgevingen waar ruimte en betrouwbaarheid cruciaal zijn.

Over het algemeen biedt de Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope ongeëvenaarde mogelijkheden voor topografie beeldvorming en analyse op nanoschaal met atomaire resolutie. De multifunctionele meetfuncties en de hoge precisie scanning maken het een essentieel instrument in diverse wetenschappelijke disciplines en industriële toepassingen, wat innovatie en ontdekking op atomair niveau stimuleert.

Ondersteuning en diensten:

Ons Atomic Force Microscope (AFM) product wordt ondersteund door een toegewijd technisch ondersteuningsteam dat zich inzet voor optimale prestaties en gebruikerstevredenheid. We bieden uitgebreide assistentie, waaronder installatiebegeleiding, operationele training, advies over routineonderhoud en probleemoplossing.

Gebruikers hebben toegang tot gedetailleerde producthandleidingen, toepassingsnotities en software-updates via onze online bronnen. Onze experts staan klaar om te helpen met kalibratieprocedures, beeldvormingstechnieken en gegevensanalyse om de mogelijkheden van het AFM-systeem te maximaliseren.

Regelmatige onderhoudsdiensten worden aanbevolen om de precisie en levensduur van de microscoop te behouden. We bieden kalibratiecontroles, componentvervangingen en systeemupgrades uitgevoerd door gecertificeerde technici.

Voor gespecialiseerde vereisten zijn aangepaste oplossingen en consultancy diensten beschikbaar om het AFM-systeem af te stemmen op specifieke onderzoeks- of industriële toepassingen.

We streven ernaar om tijdige en effectieve ondersteuning te bieden om downtime te minimaliseren en de productiviteit van uw Atomic Force Microscope te verbeteren.

FAQ:

V1: Wat is het merk en model van deze Atomic Force Microscope?

A1: De Atomic Force Microscope is van het merk Truth Instruments en het modelnummer is AtomEdge Pro.

V2: Waar wordt de AtomEdge Pro geproduceerd?

A2: De AtomEdge Pro wordt geproduceerd in China.

V3: Wat zijn de belangrijkste toepassingen van de AtomEdge Pro Atomic Force Microscope?

A3: De AtomEdge Pro wordt gebruikt voor beeldvorming en metingen met hoge resolutie op de nanoschaal, geschikt voor materiaalkunde, biologie en halfgeleideronderzoek.

V4: Wat voor soort monsters kunnen worden geanalyseerd met de AtomEdge Pro?

A4: De AtomEdge Pro kan een verscheidenheid aan monsters analyseren, waaronder harde materialen, zachte biologische specimens, dunne films en nanostructuren.

V5: Ondersteunt de AtomEdge Pro verschillende scanningsmodi?

A5: Ja, de AtomEdge Pro ondersteunt meerdere scanningsmodi, zoals contactmodus, tapping-modus en non-contactmodus om verschillende monstertypes en meetbehoeften te accommoderen.