AtomEdge Pro: Çok Fonksiyonlu Atomik Kuvvet Mikroskobu – Malzemeler için 3D Görüntüleme

Ürün Açıklaması:

Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), nanometre ölçeğinde yüksek hassasiyetli yüzey analizi ve karakterizasyonu için tasarlanmış, son teknoloji bir cihazdır. Bu çok işlevli ölçüm aracı, Elektrostatik Kuvvet Mikroskobisi (EFM), Taramalı Kelvin Prob Mikroskobisi (KPFM), Piezoelektrik Kuvvet Mikroskobisi (PFM), Manyetik Kuvvet Mikroskobisi (MFM) ve Kuvvet Eğrisi ölçümleri dahil olmak üzere çeşitli gelişmiş mikroskopi tekniklerini entegre eder. Bu yetenekler, nanometre çözünürlüğünde yüzey özelliklerini anlamanın kritik olduğu yarı iletkenler, malzeme bilimi ve nanoteknoloji gibi alanlarda çalışan araştırmacılar ve mühendisler için vazgeçilmez bir araç haline getirir.

Bu AFM'nin öne çıkan özelliklerinden biri, sadece 0,04 nm olarak ölçülen Z yönündeki olağanüstü düşük gürültü seviyesidir. Bu ultra düşük gürültü tabanı, en hassas numunelerde bile ayrıntılı yüzey profili oluşturmayı sağlayan, son derece doğru ve güvenilir topografik veriler sağlar. Bu tür bir hassasiyet, özellikle yarı iletken cihazların ve diğer nano ölçekli malzemelerin karmaşık yüzey yapılarını analiz ederken, nanometre çözünürlüğü gerektiren uygulamalar için hayati öneme sahiptir.

Cihaz, 0,1 Hz ila 30 Hz arasında değişen çok yönlü bir tarama hızı aralığı sunar ve kullanıcıların, özel deneysel ihtiyaçlarına göre tarama hızı ile görüntü kalitesi arasında denge kurmasına olanak tanır. Bu esneklik, yavaş, yüksek çözünürlüklü görüntülemeden, dinamik süreçleri gerçek zamanlı olarak yakalayan daha hızlı taramalara kadar çok çeşitli uygulamalar için uygun hale getirir. 4096*4096'lık maksimum görüntü örnekleme noktasıyla birleştiğinde, AFM, olağanüstü netlikte küçük yüzey detaylarını ortaya çıkaran ultra yüksek çözünürlüklü görüntüler sağlar.

Çalışma modları açısından, bu Atomik Kuvvet Mikroskobu, çeşitli numune türlerine ve ölçüm hedeflerine uyum sağlamak için çoklu operasyonel teknikleri destekler. Bunlar arasında Temas Modu, Dokunma Modu, Faz Görüntüleme Modu, Kaldırma Modu ve Çok Yönlü Tarama Modu bulunur. Temas Modu, sağlam yüzey topografisi haritalaması için idealdir, Dokunma Modu ise yüzeye aralıklı olarak temas ederek numune hasarını en aza indirir. Faz Görüntüleme Modu, mekanik davranışa göre malzeme özelliklerini ayırt etmeye yardımcı olur ve Kaldırma Modu, manyetik veya elektrostatik etkileşimler gibi uzun menzilli kuvvetleri ölçmek için uzmanlaşmıştır. Çok Yönlü Tarama Modu, yönlü artefaktları azaltarak görüntü kalitesini ve veri doğruluğunu artırır, bu da bu AFM'yi nano ölçekli yüzey analizi için esnek ve kapsamlı bir çözüm haline getirir.

EFM, KPFM, PFM ve MFM gibi özel mikroskopi tekniklerinin entegrasyonu, cihazın yeteneklerini basit topografik görüntülemenin ötesine taşır. EFM, yarı iletken araştırmaları ve geliştirmesi için çok önemli olan, numune yüzeyindeki elektriksel yük dağılımlarının haritalanmasını sağlar. KPFM, nano ölçekte elektronik özellikler hakkında içgörüler sağlayan, yüzey potansiyel varyasyonlarını yüksek hassasiyetle ölçer. PFM, elektrik alanlarına karşı mekanik tepkileri tespit ederek piezoelektrik malzemeleri incelemek için kullanılırken, MFM manyetik alanları ve yapıları görüntülemek için uzmanlaşmıştır. Bu çok işlevli ölçüm yetenekleri, bu AFM'yi, tek bir cihazda kapsamlı yüzey karakterizasyonu sağlayabilen güçlü bir Taramalı Prob Mikroskopi (SPM) platformuna dönüştürür.

Genel olarak, Atomik Kuvvet Mikroskobu, yarı iletkenler ve diğer nanomateryallerle çalışan bilim insanları ve mühendisler için vazgeçilmez bir araçtır. Çok işlevli ölçüm modlarının, ultra düşük gürültü performansının, esnek tarama hızlarının ve ultra yüksek çözünürlüklü görüntülemenin birleşimi, onu nanometre çözünürlüğü gerektiren araştırma ve endüstriyel uygulamalar için ideal hale getirir. İster elektronik özellikleri, ister manyetik alanları veya mekanik özellikleri araştırıyor olsun, bu AFM, nano ölçekli bilim ve teknolojinin sınırlarını ilerleten, kesin ve güvenilir veriler sunar.

Özellikler:

• Ürün Adı: Atomik Kuvvet Mikroskobu
• Z Yönündeki Gürültü Seviyesi: 0,04 Nm
• Tarama Yöntemi: XYZ Üç Eksenli Tam Numune Taraması
• Numune Boyutu: 25 Mm
• Tarama Hızı: 0,1-30 Hz
• Tarama Aralığı: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Yüksek hassasiyetle Nano ölçekli elektriksel ölçümü destekler
• Ayrıntılı yüzey analizi için Nanometre Çözünürlüğü sağlar
• Gelişmiş Nano ölçekli elektriksel ölçüm yeteneklerini etkinleştirir

Teknik Parametreler:

Uygulamalar:

Çin'de gururla üretilen Truth Instruments AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskobu, çok çeşitli bilimsel ve endüstriyel uygulamalar için tasarlanmış gelişmiş ve çok yönlü bir araçtır. Elektrostatik Kuvvet Mikroskobisi (EFM), Taramalı Kelvin Prob Mikroskobisi (KPFM), Piezoelektrik Kuvvet Mikroskobisi (PFM), Manyetik Kuvvet Mikroskobisi (MFM) ve Kuvvet Eğrisi analizi dahil olmak üzere çok işlevli ölçüm yetenekleri, onu nano ölçekte çalışan araştırmacılar ve mühendisler için vazgeçilmez bir araç haline getirir.

AtomEdge Pro için birincil uygulama alanlarından biri, etkileyici 4096*4096 piksel maksimum görüntü örnekleme çözünürlüğünün yüksek detaylı yüzey haritalamasına olanak sağladığı topografi görüntülemedir. Bu, malzeme bilimi, yarı iletken araştırmaları ve nanoteknoloji geliştirmesi için kritik öneme sahip olan, atomik çözünürlükte numune yüzeylerinin hassas bir şekilde görselleştirilmesini sağlar. Mikroskobun XYZ üç eksenli tam numune tarama yöntemi, çeşitli numune türleri ve boyutları genelinde kapsamlı nano ölçekli analizleri kolaylaştırarak, 25 mm'ye kadar numunelerin kapsamlı bir şekilde taranmasını sağlar.

Akademik araştırma laboratuvarlarında, AtomEdge Pro, nanomateryallerin fiziksel ve kimyasal özelliklerini incelemek için idealdir. Düşük doğrusal olmayanlığı (%0,15 XY yönünde ve %1 Z yönünde), atomik çözünürlük ve yüksek hassasiyet gerektiren deneyler için gerekli olan doğru ve güvenilir ölçümleri garanti eder. Araştırmacılar, enerji depolama, kataliz ve nanoelektronik gibi alanlarda çığır açan gelişmeler sağlayarak, malzemelerin elektriksel, manyetik ve piezoelektrik özelliklerini incelemek için çok işlevli modları kullanabilirler.

Endüstriyel ortamlarda, AtomEdge Pro, yarı iletken üretimi ve mikroelektronikte kalite kontrolü ve arıza analizini destekler. Karmaşık yüzeylerde nano ölçekli analiz yapabilme yeteneği, mühendislerin kusurları belirlemesine ve üretim süreçlerini optimize etmesine yardımcı olur. Ayrıca, kompakt tasarımı ve sağlam performansı, alanın ve güvenilirliğin kritik olduğu araştırma ve geliştirme ortamlarına entegrasyon için uygun hale getirir.

Genel olarak, Truth Instruments AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskobu, topografi görüntüleme ve atomik çözünürlükte nano ölçekli analiz için benzersiz yetenekler sunar. Çok işlevli ölçüm özellikleri ve yüksek hassasiyetli taraması, onu çeşitli bilimsel disiplinler ve endüstriyel uygulamalar için vazgeçilmez bir araç haline getirerek, atomik düzeyde inovasyonu ve keşfi yönlendirir.

Destek ve Hizmetler:

Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ürünümüz, optimum performans ve kullanıcı memnuniyetini sağlamaya adanmış özel bir teknik destek ekibi tarafından desteklenmektedir. Kurulum rehberliği, operasyonel eğitim, rutin bakım tavsiyesi ve sorun giderme desteği dahil olmak üzere kapsamlı yardım sağlıyoruz.

Kullanıcılar, çevrimiçi kaynaklarımız aracılığıyla ayrıntılı ürün kılavuzlarına, uygulama notlarına ve yazılım güncellemelerine erişebilirler. Uzmanlarımız, AFM sisteminin yeteneklerini en üst düzeye çıkarmak için kalibrasyon prosedürleri, görüntüleme teknikleri ve veri analizi konusunda yardımcı olmak için hazırdır.

Mikroskobun hassasiyetini ve uzun ömürlülüğünü korumak için düzenli bakım hizmetleri önerilir. Sertifikalı teknisyenler tarafından gerçekleştirilen kalibrasyon kontrolleri, bileşen değişimleri ve sistem yükseltmeleri sunuyoruz.

Özel gereksinimler için, AFM sistemini belirli araştırma veya endüstriyel uygulamalara uyarlamak için özel çözümler ve danışmanlık hizmetleri mevcuttur.

Kesinti süresini en aza indirmek ve Atomik Kuvvet Mikroskobunuzun verimliliğini artırmak için zamanında ve etkili destek sağlamaya çalışıyoruz.

SSS:

S1: Bu Atomik Kuvvet Mikroskobunun markası ve modeli nedir?

A1: Atomik Kuvvet Mikroskobu, Truth Instruments markasından ve model numarası AtomEdge Pro'dur.

S2: AtomEdge Pro nerede üretilmektedir?

A2: AtomEdge Pro Çin'de üretilmektedir.

S3: AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskobunun birincil uygulamaları nelerdir?

A3: AtomEdge Pro, malzeme bilimi, biyoloji ve yarı iletken araştırmaları için uygun, nano ölçekte yüksek çözünürlüklü yüzey görüntüleme ve ölçüm için kullanılır.

S4: AtomEdge Pro kullanılarak ne tür numuneler analiz edilebilir?

A4: AtomEdge Pro, sert malzemeler, yumuşak biyolojik örnekler, ince filmler ve nanoyapılar dahil olmak üzere çeşitli numuneleri analiz edebilir.

S5: AtomEdge Pro farklı tarama modlarını destekliyor mu?

A5: Evet, AtomEdge Pro, farklı numune türlerine ve ölçüm ihtiyaçlarına uyum sağlamak için temas modu, dokunma modu ve temassız mod gibi çoklu tarama modlarını destekler.