AtomEdge Pro: Microscopio de fuerza atómica multifuncional Imagen 3D para materiales

Descripción del producto:

El microscopio de fuerza atómica (AFM) es un instrumento de vanguardia diseñado para el análisis y la caracterización de superficies de alta precisión a escala nanométrica.Esta herramienta de medición multifuncional integra varias técnicas avanzadas de microscopía, incluida la microscopía de fuerza electrostática (EFM), la microscopía de sonda de escaneo de Kelvin (KPFM), la microscopía de fuerza piezoeléctrica (PFM), la microscopía de fuerza magnética (MFM) y las mediciones de la curva de fuerza.Estas capacidades lo convierten en un instrumento indispensable para investigadores e ingenieros que trabajan en campos como los semiconductores, ciencias de los materiales y nanotecnología, donde la comprensión de las propiedades de la superficie a la resolución nanométrica es crítica.

Una de las características más destacadas de este AFM es su nivel de ruido excepcionalmente bajo en la dirección Z, medido a sólo 0,04 nm.Este piso de ruido ultra bajo garantiza datos topográficos muy precisos y fiables, que permite un perfil de superficie detallado incluso en las muestras más delicadas, una precisión vital para aplicaciones que requieren una resolución nanométrica,especialmente al analizar las intrincadas estructuras superficiales de dispositivos semiconductores y otros materiales a nanoescala.

El instrumento ofrece un rango de velocidad de escaneo versátil de 0,1 Hz a 30 Hz, lo que permite a los usuarios equilibrar entre la velocidad de escaneo y la calidad de la imagen en función de sus necesidades experimentales específicas.Esta flexibilidad hace que sea adecuado para una amplia variedad de aplicaciones, desde imágenes lentas y de alta resolución hasta escaneos más rápidos que capturan procesos dinámicos en tiempo real.El AFM proporciona imágenes de ultra alta resolución que revelan detalles mínimos de la superficie con una claridad excepcional..

En términos de modos de trabajo, este microscopio de fuerza atómica admite múltiples técnicas operativas para acomodar varios tipos de muestras y objetivos de medición.Modo de imágenes de faseEl Modo de contacto es ideal para el mapeo topográfico de la superficie robusto, mientras que el Modo de toque minimiza el daño de la muestra al entrar en contacto intermitente con la superficie.Modo de imagen de fase ayuda a distinguir las propiedades del material basado en el comportamiento mecánico, y el modo de elevación está especializado para medir fuerzas de largo alcance como las interacciones magnéticas o electrostáticas.Modo de escaneo multidireccional mejora la calidad de la imagen y la precisión de los datos al reducir los artefactos direccionales, lo que convierte a este AFM en una solución flexible e integral para el análisis de superficies a nanoescala.

La integración de técnicas de microscopía especializadas como EFM, KPFM, PFM y MFM amplía las capacidades del instrumento más allá de la simple imagen topográfica.EFM permite el mapeo de las distribuciones de carga eléctrica en la superficie de la muestraKPFM mide las variaciones de potencial de superficie con alta sensibilidad, proporcionando información sobre las propiedades electrónicas a nanoescala.PFM se utiliza para estudiar materiales piezoeléctricos mediante la detección de respuestas mecánicas a campos eléctricosEstas capacidades de medición multifuncionales transforman este AFM en una potente plataforma de microscopía de sonda de escaneo (SPM),con una capacidad para proporcionar una caracterización completa de la superficie en un solo instrumento.

En general, el microscopio de la fuerza atómica es una herramienta esencial para los científicos e ingenieros que trabajan con semiconductores y otros nanomateriales.rendimiento de ruido ultra bajo, velocidades de escaneo flexibles y imágenes de ultraalta resolución lo hacen ideal para aplicaciones de investigación e industriales que requieren resolución nanométrica.Si investigar las propiedades electrónicasEste AFM proporciona datos precisos y fiables, avanzando en las fronteras de la ciencia y la tecnología a nanoescala.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de fuerza atómica
• Nivel de ruido en la dirección Z: 0,04 Nm
• Método de escaneo: XYZ Escaneo de muestra completa en tres ejes
• Tamaño de la muestra: 25 mm
• Tasa de escaneo: 0,1-30 Hz
• Rango de exploración: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Apoya la medición eléctrica a nanoescala con alta precisión
• Proporciona resolución nanométrica para análisis de superficie detallado
• Permite capacidades avanzadas de medición eléctrica a nanoescala

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

El Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, orgullosamente fabricado en China, es una herramienta avanzada y versátil diseñada para una amplia gama de aplicaciones científicas e industriales.Sus capacidades de medición multifuncionales, incluida la microscopía de fuerza electrostática (EFM), la microscopía de sonda de escaneo de Kelvin (KPFM), la microscopía de fuerza piezoeléctrica (PFM), la microscopía de fuerza magnética (MFM) y el análisis de la curva de fuerza,hacerla un instrumento indispensable para investigadores e ingenieros que trabajan en la nanoescala.

Una de las principales aplicaciones para el AtomEdge Pro es en imágenes topográficas,donde su impresionante resolución máxima de muestreo de imagen de 4096*4096 píxeles permite un mapeo de superficie muy detalladoEsto permite una visualización precisa de las superficies de las muestras con resolución atómica, que es fundamental para la ciencia de los materiales, la investigación de semiconductores y el desarrollo de la nanotecnología.El método de escaneo completo de muestras de tres ejes XYZ del microscopio garantiza un escaneo completo de muestras de hasta 25 mm de tamaño, facilitando el análisis a nanoescala en varios tipos y tamaños de muestras.

En los laboratorios de investigación académica, el AtomEdge Pro es ideal para estudiar las propiedades físicas y químicas de los nanomateriales.El 15% en la dirección XY y el 1% en la dirección Z) garantiza mediciones precisas y fiablesLos investigadores pueden utilizar los modos multifuncionales para investigar las reacciones eléctricas, magnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, electromagnéticas, etc.y propiedades piezoeléctricas de los materiales, permitiendo avances en campos como el almacenamiento de energía, la catálisis y la nanoelectrónica.

En entornos industriales, el AtomEdge Pro admite el control de calidad y el análisis de fallas en la fabricación de semiconductores y microelectrónica.La capacidad de realizar análisis a nanoescala en superficies complejas ayuda a los ingenieros a identificar defectos y optimizar los procesos de fabricaciónAdemás, su diseño compacto y su rendimiento robusto lo hacen adecuado para su integración en entornos de investigación y desarrollo donde el espacio y la fiabilidad son críticos.

En general, el microscopio de fuerza atómica AtomEdge Pro de Truth Instruments ofrece capacidades incomparables para la obtención de imágenes topográficas y el análisis a nanoescala con resolución atómica.Sus características de medición multifuncionales y su escaneo de alta precisión lo convierten en un instrumento esencial en diversas disciplinas científicas y aplicaciones industriales., impulsando la innovación y el descubrimiento a nivel atómico.

Apoyo y servicios:

Nuestro producto de microscopio de fuerza atómica (AFM) cuenta con el apoyo de un equipo de soporte técnico dedicado comprometido a garantizar un rendimiento óptimo y la satisfacción del usuario.Proporcionamos asistencia integral incluyendo la guía de instalación, capacitación operativa, asesoramiento de mantenimiento de rutina y apoyo para la resolución de problemas.

Los usuarios pueden acceder a manuales detallados del producto, notas de aplicación y actualizaciones de software a través de nuestros recursos en línea.y análisis de datos para maximizar las capacidades del sistema AFM.

Se recomiendan servicios de mantenimiento regulares para mantener la precisión y la longevidad del microscopio.y actualizaciones del sistema realizadas por técnicos certificados.

Para requisitos especializados, se ofrecen soluciones personalizadas y servicios de consultoría para adaptar el sistema AFM a aplicaciones específicas de investigación o industriales.

Nos esforzamos por proporcionar apoyo oportuno y efectivo para minimizar el tiempo de inactividad y mejorar la productividad de su microscopio de fuerza atómica.

Preguntas frecuentes:

P1: ¿Cuál es la marca y el modelo de este microscopio de fuerza atómica?

R1: El microscopio de la Fuerza Atómica es de la marca Truth Instruments, y el número de modelo es AtomEdge Pro.

P2: ¿Dónde se fabrica el AtomEdge Pro?

R2: El AtomEdge Pro es fabricado en China.

P3: ¿Cuáles son las principales aplicaciones del microscopio de fuerza atómica AtomEdge Pro?

R3: El AtomEdge Pro se utiliza para imágenes y mediciones de superficie de alta resolución a nanoescala, adecuado para la ciencia de materiales, la biología y la investigación de semiconductores.

P4: ¿Qué tipo de muestras se pueden analizar utilizando el AtomEdge Pro?

A4: El AtomEdge Pro puede analizar una variedad de muestras que incluyen materiales duros, muestras biológicas blandas, películas delgadas y nanoestructuras.

P5: ¿Aporta el AtomEdge Pro diferentes modos de escaneo?

R5: Sí, el AtomEdge Pro admite múltiples modos de escaneo como el modo de contacto, el modo de toque y el modo sin contacto para adaptarse a diferentes tipos de muestras y necesidades de medición.