AtomEdge Pro: Microscopio multifunzionale per la forza atomica

Descrizione del prodotto:

Il microscopio della forza atomica (AFM) è uno strumento all'avanguardia progettato per l'analisi e la caratterizzazione superficiali ad alta precisione a scala nanometrica.Questo strumento di misura multifunzionale integra diverse tecniche avanzate di microscopia, tra cui la microscopia di forza elettrostatica (EFM), la microscopia di sonda di Kelvin di scansione (KPFM), la microscopia di forza piezoelettrica (PFM), la microscopia di forza magnetica (MFM) e le misurazioni della curva di forza.Queste capacità lo rendono uno strumento indispensabile per ricercatori e ingegneri che lavorano in settori quali i semiconduttori, scienze dei materiali e nanotecnologia, dove la comprensione delle proprietà superficiali a risoluzione nanometrica è fondamentale.

Una delle caratteristiche di questo AFM è il suo livello di rumore eccezionalmente basso nella direzione Z, misurato a soli 0,04 nm.Questo pavimento a bassissimo rumore garantisce dati topografici molto precisi e affidabili, che consente la profilazione dettagliata della superficie anche sui campioni più delicati.specialmente quando si analizzano le intricate strutture superficiali di dispositivi semiconduttori e altri materiali su nanoscala.

Lo strumento offre una gamma versatile di frequenze di scansione da 0,1 Hz a 30 Hz, consentendo agli utenti di bilanciare la velocità di scansione e la qualità dell'immagine in base alle loro esigenze sperimentali specifiche.Questa flessibilità lo rende adatto ad una vasta gamma di applicazioni, da immagini lente e ad alta risoluzione a scansioni più veloci che catturano processi dinamici in tempo reale.l'AFM fornisce immagini ad altissima risoluzione che rivelano dettagli minimi della superficie con una chiarezza eccezionale.

In termini di modalità di lavoro, questo microscopio di forza atomica supporta molteplici tecniche operative per accogliere vari tipi di campioni e obiettivi di misurazione.Modalità di imaging di faseLa modalità di contatto è ideale per una robusta mappatura topografica della superficie, mentre la modalità di tocco riduce al minimo i danni ai campioni contattando intermittente la superficie.Modalità di imaging di fase aiuta a distinguere le proprietà del materiale in base al comportamento meccanico, e Lift Mode è specializzato per misurare forze a lungo raggio come le interazioni magnetiche o elettrostatiche.Modalità di scansione multidirezionale migliora la qualità dell'immagine e la precisione dei dati riducendo gli artefatti direzionali, rendendo questo AFM una soluzione flessibile e completa per l'analisi delle superfici su scala nanometrica.

L'integrazione di tecniche di microscopia specializzate come EFM, KPFM, PFM e MFM estende le capacità dello strumento oltre la semplice imaging topografica.L'EFM consente la mappatura delle distribuzioni di carica elettrica sulla superficie del campione, che è fondamentale per la ricerca e lo sviluppo dei semiconduttori. Il KPFM misura le variazioni di potenziale superficiale con elevata sensibilità, fornendo informazioni sulle proprietà elettroniche a nanoescala.PFM è utilizzato per studiare materiali piezoelettrici rilevando le risposte meccaniche ai campi elettrici, mentre MFM è specializzato per l'imaging di domini e strutture magnetiche.con un'unità di comando di potenza superiore a 50 W,.

In generale, il microscopio della forza atomica è uno strumento essenziale per gli scienziati e gli ingegneri che lavorano con semiconduttori e altri nanomateriali.prestazioni a basso rumore, velocità di scansione flessibili e immagini ad altissima risoluzione lo rendono ideale per applicazioni di ricerca e industriali che richiedono una risoluzione nanometrica.Se indagare le proprietà elettroniche, domini magnetici o caratteristiche meccaniche, questo AFM fornisce dati precisi e affidabili, avanzando le frontiere della scienza e della tecnologia su scala nanometrica.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio di forza atomica
• Livello di rumore nella direzione Z: 0,04 Nm
• Metodo di scansione: XYZ Scansione completa del campione a tre assi
• Dimensione del campione: 25 mm
• Velocità di scansione: 0,1-30 Hz
• Distanza di scansione: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Supporta la misurazione elettrica su scala nanometrica con elevata precisione
• Fornisce una risoluzione nanometrica per l'analisi dettagliata della superficie
• Consente capacità di misurazione elettrica avanzata su scala nanometrica

Parametri tecnici:

Applicazioni:

Il microscopio AtomEdge Pro della forza atomica di Truth Instruments, fabbricato con orgoglio in Cina, è uno strumento avanzato e versatile progettato per una vasta gamma di applicazioni scientifiche e industriali.Capacità di misurazione multifunzionale, compresa la microscopia di forza elettrostatica (EFM), la microscopia di sonda di Kelvin di scansione (KPFM), la microscopia di forza piezoelettrica (PFM), la microscopia di forza magnetica (MFM) e l'analisi della curva di forza,rendere indispensabile per ricercatori e ingegneri che lavorano su scala nanometrica.

Una delle principali applicazioni per l'AtomEdge Pro è nell'imaging topografico,dove la sua impressionante risoluzione massima di campionamento dell'immagine di 4096*4096 pixel consente una mappatura superficiale molto dettagliataCiò consente di visualizzare con precisione le superfici dei campioni con risoluzione atomica, che è fondamentale per la scienza dei materiali, la ricerca sui semiconduttori e lo sviluppo della nanotecnologia.Il metodo di scansione a tre assi XYZ del microscopio permette di effettuare una scansione completa di campioni fino a 25 mm di dimensione, facilitando un'ampia analisi su scala nanometrica su vari tipi e dimensioni di campioni.

In laboratori di ricerca accademici, l'AtomEdge Pro è ideale per studiare le proprietà fisiche e chimiche dei nanomateriali.15% nella direzione XY e 1% nella direzione Z) garantisce misure accurate e affidabiliI ricercatori possono utilizzare le modalità multifunzionali per studiare le reazioni elettriche, magnetiche,e proprietà piezoelettriche dei materiali, consentendo scoperte in settori quali lo stoccaggio dell'energia, la catalisi e la nanoelettronica.

In ambienti industriali, l'AtomEdge Pro supporta il controllo della qualità e l'analisi dei guasti nella produzione di semiconduttori e microelettronica.La capacità di eseguire analisi su nanoscala su superfici complesse aiuta gli ingegneri a identificare i difetti e ottimizzare i processi di fabbricazioneInoltre, il suo design compatto e le sue prestazioni robuste lo rendono adatto all'integrazione in ambienti di ricerca e sviluppo in cui lo spazio e l'affidabilità sono fondamentali.

Nel complesso, il microscopio AtomEdge Pro Atomic Force di Truth Instruments offre capacità senza pari per l'imaging topografico e l'analisi su nanoscala con risoluzione atomica.Le sue caratteristiche di misurazione multifunzionale e la sua precisione di scansione l'hanno reso uno strumento essenziale in diverse discipline scientifiche e applicazioni industriali., promuovendo l'innovazione e la scoperta a livello atomico.

Supporto e servizi:

Il nostro prodotto AFM è supportato da un team di supporto tecnico dedicato impegnato a garantire prestazioni ottimali e soddisfazione degli utenti.Forniamo assistenza completa, inclusa la guida all'installazione., formazione operativa, consulenza per la manutenzione di routine e supporto per la risoluzione dei problemi.

Gli utenti possono accedere a manuali dettagliati del prodotto, note di applicazione e aggiornamenti del software attraverso le nostre risorse online.e analisi dei dati per massimizzare le capacità del sistema AFM.

Per mantenere la precisione e la longevità del microscopio, si raccomanda un servizio di manutenzione regolare.e aggiornamenti del sistema eseguiti da tecnici certificati.

Per esigenze specializzate, sono disponibili soluzioni personalizzate e servizi di consulenza per adattare il sistema AFM a specifiche applicazioni di ricerca o industriali.

Ci sforziamo di fornire un supporto tempestivo ed efficace per ridurre al minimo i tempi di inattività e migliorare la produttività del vostro microscopio atomico.

FAQ:

Q1: Qual è il marchio e il modello di questo microscopio di forza atomica?

R1: Il Microscopio della Forza Atomica è del marchio Truth Instruments, e il numero di modello è AtomEdge Pro.

D2: Dove viene fabbricato l'AtomEdge Pro?

R2: L'AtomEdge Pro è prodotto in Cina.

D3: Quali sono le principali applicazioni del microscopio AtomEdge Pro?

A3: L'AtomEdge Pro è utilizzato per l'imaging e la misurazione superficiale ad alta risoluzione a scala nanometrica, adatto alla scienza dei materiali, alla biologia e alla ricerca sui semiconduttori.

D4: Che tipo di campioni possono essere analizzati utilizzando l'AtomEdge Pro?

A4: L'AtomEdge Pro può analizzare una varietà di campioni tra cui materiali duri, campioni biologici morbidi, film sottili e nanostrutture.

D5: L'AtomEdge Pro supporta diverse modalità di scansione?

R5: Sì, l'AtomEdge Pro supporta più modalità di scansione come la modalità di contatto, la modalità di tocco e la modalità senza contatto per soddisfare diversi tipi di campioni e esigenze di misura.