logo

AtomEdge Pro: Kính hiển vi lực nguyên tử đa chức năng – Chụp ảnh 3D cho vật liệu

Product Description: The Atomic Force Microscope (AFM) is a cutting-edge instrument designed for high-precision surface analysis and characterization at the nanometer scale. This multifunctional measurement tool integrates several advanced microscopy techniques, including Electrostatic Force Microscopy (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscopy (KPFM), Piezoelectric Force Microscopy (PFM), Magnetic Force Microscopy (MFM), and Force Curve measurements. These capabilities make it
Chi tiết sản phẩm
Làm nổi bật:

Chụp ảnh 3D bằng kính hiển vi lực nguyên tử

,

Kính hiển vi lực nguyên tử đa chức năng

,

Kính hiển vi lực nguyên tử phân tích vật liệu

Nonlinearity: 0,15% theo hướng XY và 1% theo hướng Z
Scanning Method: XYZ Quét mẫu đầy đủ ba trục
Scanning Range: 100 mm × 100 mm × 10 mm
Working Mode: Chế độ liên hệ, Chế độ nhấn, Chế độ chụp ảnh pha, Chế độ nâng, Chế độ quét đa hướng
Noise Level In The Z Direction: 0,04nm
Sample Size: 25 mm
Image Sampling Point: Độ phân giải tối đa của hình ảnh đầu dò quét là 4096 × 4096
Multifunctional Measurement: Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi quét Kelvin (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM), K

Các tính chất cơ bản

Tên thương hiệu: Truth Instruments
Số mẫu: AtomEdge Pro
Mô tả sản phẩm

Mô tả sản phẩm:

Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) là một thiết bị tiên tiến được thiết kế để phân tích và đặc trưng bề mặt với độ chính xác cao ở cấp độ nanomet. Công cụ đo đa chức năng này tích hợp một số kỹ thuật hiển vi tiên tiến, bao gồm Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi đầu dò Kelvin (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM), Kính hiển vi lực từ (MFM) và các phép đo Đường cong lực. Những khả năng này làm cho nó trở thành một công cụ không thể thiếu đối với các nhà nghiên cứu và kỹ sư làm việc trong các lĩnh vực như chất bán dẫn, khoa học vật liệu và công nghệ nano, nơi việc hiểu các đặc tính bề mặt ở độ phân giải nanomet là rất quan trọng.

Một trong những tính năng nổi bật của AFM này là mức độ nhiễu cực thấp theo hướng Z, chỉ 0,04 nm. Mức nhiễu cực thấp này đảm bảo dữ liệu địa hình có độ chính xác và độ tin cậy cao, cho phép lập hồ sơ bề mặt chi tiết ngay cả trên các mẫu mỏng manh nhất. Độ chính xác như vậy là rất quan trọng đối với các ứng dụng yêu cầu độ phân giải nanomet, đặc biệt khi phân tích các cấu trúc bề mặt phức tạp của các thiết bị bán dẫn và các vật liệu nano khác.

Thiết bị này cung cấp dải tốc độ quét linh hoạt từ 0,1 Hz đến 30 Hz, cho phép người dùng cân bằng giữa tốc độ quét và chất lượng hình ảnh dựa trên nhu cầu thử nghiệm cụ thể của họ. Tính linh hoạt này làm cho nó phù hợp với nhiều ứng dụng, từ hình ảnh độ phân giải cao, chậm đến các lần quét nhanh hơn, ghi lại các quá trình động trong thời gian thực. Cùng với điểm lấy mẫu hình ảnh tối đa là 4096*4096, AFM cung cấp hình ảnh có độ phân giải cực cao, cho thấy các chi tiết bề mặt nhỏ với độ rõ nét đặc biệt.

Về chế độ làm việc, Kính hiển vi lực nguyên tử này hỗ trợ nhiều kỹ thuật hoạt động để phù hợp với các loại mẫu và mục tiêu đo khác nhau. Chúng bao gồm Chế độ tiếp xúc, Chế độ chạm, Chế độ chụp ảnh pha, Chế độ nâng và Chế độ quét đa hướng. Chế độ tiếp xúc lý tưởng để lập bản đồ địa hình bề mặt mạnh mẽ, trong khi Chế độ chạm giảm thiểu hư hỏng mẫu bằng cách tiếp xúc không liên tục với bề mặt. Chế độ chụp ảnh pha giúp phân biệt các đặc tính vật liệu dựa trên hành vi cơ học và Chế độ nâng chuyên dùng để đo các lực tầm xa như tương tác từ tính hoặc tĩnh điện. Chế độ quét đa hướng tăng cường chất lượng hình ảnh và độ chính xác của dữ liệu bằng cách giảm các tạo tác theo hướng, làm cho AFM này trở thành một giải pháp linh hoạt và toàn diện để phân tích bề mặt ở quy mô nano.

Việc tích hợp các kỹ thuật hiển vi chuyên biệt như EFM, KPFM, PFM và MFM mở rộng khả năng của thiết bị vượt ra ngoài hình ảnh địa hình đơn giản. EFM cho phép lập bản đồ phân bố điện tích trên bề mặt mẫu, điều này rất quan trọng đối với nghiên cứu và phát triển chất bán dẫn. KPFM đo các biến thể điện thế bề mặt với độ nhạy cao, cung cấp thông tin chi tiết về các đặc tính điện ở quy mô nano. PFM được sử dụng để nghiên cứu các vật liệu áp điện bằng cách phát hiện các phản ứng cơ học với điện trường, trong khi MFM chuyên dùng để chụp ảnh các miền và cấu trúc từ tính. Những khả năng đo đa chức năng này biến AFM này thành một nền tảng Kính hiển vi đầu dò quét (SPM) mạnh mẽ, có khả năng cung cấp đặc trưng bề mặt toàn diện trong một thiết bị.

Nhìn chung, Kính hiển vi lực nguyên tử là một công cụ thiết yếu cho các nhà khoa học và kỹ sư làm việc với chất bán dẫn và các vật liệu nano khác. Sự kết hợp giữa các chế độ đo đa chức năng, hiệu suất nhiễu cực thấp, tốc độ quét linh hoạt và hình ảnh có độ phân giải cực cao làm cho nó lý tưởng cho các ứng dụng nghiên cứu và công nghiệp yêu cầu độ phân giải nanomet. Cho dù điều tra các đặc tính điện, miền từ tính hay đặc tính cơ học, AFM này đều cung cấp dữ liệu chính xác và đáng tin cậy, thúc đẩy biên giới của khoa học và công nghệ nano.


Tính năng:

  • Tên sản phẩm: Kính hiển vi lực nguyên tử
  • Mức độ nhiễu theo hướng Z: 0,04 Nm
  • Phương pháp quét: Quét mẫu đầy đủ ba trục XYZ
  • Kích thước mẫu: 25 Mm
  • Tốc độ quét: 0,1-30 Hz
  • Phạm vi quét: 100 μm * 100 μm * 10 μm
  • Hỗ trợ đo điện ở cấp độ nano với độ chính xác cao
  • Cung cấp độ phân giải nanomet để phân tích bề mặt chi tiết
  • Cho phép các khả năng đo điện ở cấp độ nano tiên tiến

Thông số kỹ thuật:

Đo lường đa chức năng Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi Kelvin quét (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM), Kính hiển vi lực từ (MFM), Đường cong lực (Đo đa chế độ)
Phạm vi quét 100 μm * 100 μm * 10 μm
Tốc độ quét 0,1 - 30 Hz
Chế độ làm việc Chế độ tiếp xúc, Chế độ chạm, Chế độ chụp ảnh pha, Chế độ nâng, Chế độ quét đa hướng
Điểm lấy mẫu hình ảnh Độ phân giải tối đa của hình ảnh đầu dò quét là 4096 * 4096 (Độ phân giải nanomet)
Phương pháp quét Quét mẫu đầy đủ ba trục XYZ
Mức độ nhiễu theo hướng Z 0,04 nm (Độ phân giải nguyên tử)
Độ phi tuyến 0,15% theo hướng XY và 1% theo hướng Z
Kích thước mẫu 25 mm

Ứng dụng:

Kính hiển vi lực nguyên tử Truth Instruments AtomEdge Pro, tự hào được sản xuất tại Trung Quốc, là một công cụ tiên tiến và linh hoạt được thiết kế cho nhiều ứng dụng khoa học và công nghiệp. Khả năng đo đa chức năng của nó, bao gồm Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi đầu dò Kelvin (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM), Kính hiển vi lực từ (MFM) và phân tích Đường cong lực, làm cho nó trở thành một công cụ không thể thiếu đối với các nhà nghiên cứu và kỹ sư làm việc ở quy mô nano.

Một trong những dịp ứng dụng chính của AtomEdge Pro là trong chụp ảnh địa hình, nơi độ phân giải lấy mẫu hình ảnh tối đa ấn tượng 4096*4096 pixel của nó cho phép lập bản đồ bề mặt chi tiết cao. Điều này cho phép trực quan hóa chính xác các bề mặt mẫu với độ phân giải nguyên tử, điều này rất quan trọng đối với khoa học vật liệu, nghiên cứu chất bán dẫn và phát triển công nghệ nano. Phương pháp quét mẫu đầy đủ ba trục XYZ của kính hiển vi đảm bảo quét toàn diện các mẫu có kích thước lên đến 25 mm, tạo điều kiện cho phân tích quy mô nano rộng rãi trên nhiều loại và kích thước mẫu khác nhau.

Trong các phòng thí nghiệm nghiên cứu học thuật, AtomEdge Pro lý tưởng để nghiên cứu các tính chất vật lý và hóa học của vật liệu nano. Độ phi tuyến thấp của nó (0,15% theo hướng XY và 1% theo hướng Z) đảm bảo các phép đo chính xác và đáng tin cậy, cần thiết cho các thí nghiệm yêu cầu độ phân giải nguyên tử và độ chính xác cao. Các nhà nghiên cứu có thể sử dụng các chế độ đa chức năng để điều tra các tính chất điện, từ tính và áp điện của vật liệu, cho phép những đột phá trong các lĩnh vực như lưu trữ năng lượng, xúc tác và điện tử nano.

Trong môi trường công nghiệp, AtomEdge Pro hỗ trợ kiểm soát chất lượng và phân tích lỗi trong sản xuất chất bán dẫn và vi điện tử. Khả năng thực hiện phân tích quy mô nano trên các bề mặt phức tạp giúp các kỹ sư xác định các khuyết tật và tối ưu hóa các quy trình chế tạo. Hơn nữa, thiết kế nhỏ gọn và hiệu suất mạnh mẽ của nó làm cho nó phù hợp để tích hợp vào các môi trường nghiên cứu và phát triển, nơi không gian và độ tin cậy là rất quan trọng.

Nhìn chung, Kính hiển vi lực nguyên tử Truth Instruments AtomEdge Pro cung cấp các khả năng vô song để chụp ảnh địa hình và phân tích quy mô nano với độ phân giải nguyên tử. Các tính năng đo đa chức năng và quét độ chính xác cao của nó làm cho nó trở thành một công cụ thiết yếu trong các ngành khoa học và ứng dụng công nghiệp khác nhau, thúc đẩy sự đổi mới và khám phá ở cấp độ nguyên tử.


Hỗ trợ và Dịch vụ:

Sản phẩm Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) của chúng tôi được hỗ trợ bởi một nhóm hỗ trợ kỹ thuật chuyên dụng, cam kết đảm bảo hiệu suất tối ưu và sự hài lòng của người dùng. Chúng tôi cung cấp hỗ trợ toàn diện bao gồm hướng dẫn cài đặt, đào tạo vận hành, tư vấn bảo trì thường xuyên và hỗ trợ khắc phục sự cố.

Người dùng có thể truy cập các hướng dẫn sử dụng sản phẩm chi tiết, ghi chú ứng dụng và cập nhật phần mềm thông qua các tài nguyên trực tuyến của chúng tôi. Các chuyên gia của chúng tôi luôn sẵn sàng giúp đỡ với các quy trình hiệu chuẩn, kỹ thuật chụp ảnh và phân tích dữ liệu để tối đa hóa khả năng của hệ thống AFM.

Các dịch vụ bảo trì thường xuyên được khuyến nghị để duy trì độ chính xác và tuổi thọ của kính hiển vi. Chúng tôi cung cấp kiểm tra hiệu chuẩn, thay thế linh kiện và nâng cấp hệ thống do các kỹ thuật viên được chứng nhận thực hiện.

Đối với các yêu cầu chuyên biệt, các giải pháp tùy chỉnh và dịch vụ tư vấn có sẵn để điều chỉnh hệ thống AFM cho các ứng dụng nghiên cứu hoặc công nghiệp cụ thể.

Chúng tôi cố gắng cung cấp hỗ trợ kịp thời và hiệu quả để giảm thiểu thời gian ngừng hoạt động và nâng cao năng suất của Kính hiển vi lực nguyên tử của bạn.


Câu hỏi thường gặp:

Q1: Thương hiệu và kiểu máy của Kính hiển vi lực nguyên tử này là gì?

A1: Kính hiển vi lực nguyên tử là của thương hiệu Truth Instruments và số kiểu máy là AtomEdge Pro.

Q2: AtomEdge Pro được sản xuất ở đâu?

A2: AtomEdge Pro được sản xuất tại Trung Quốc.

Q3: Các ứng dụng chính của Kính hiển vi lực nguyên tử AtomEdge Pro là gì?

A3: AtomEdge Pro được sử dụng để chụp ảnh và đo bề mặt có độ phân giải cao ở quy mô nano, phù hợp với khoa học vật liệu, sinh học và nghiên cứu chất bán dẫn.

Q4: Loại mẫu nào có thể được phân tích bằng AtomEdge Pro?

A4: AtomEdge Pro có thể phân tích nhiều loại mẫu bao gồm vật liệu cứng, mẫu sinh học mềm, màng mỏng và cấu trúc nano.

Q5: AtomEdge Pro có hỗ trợ các chế độ quét khác nhau không?

A5: Có, AtomEdge Pro hỗ trợ nhiều chế độ quét như chế độ tiếp xúc, chế độ chạm và chế độ không tiếp xúc để phù hợp với các loại mẫu và nhu cầu đo khác nhau.


Gửi Yêu Cầu

Nhận một trích dẫn nhanh