AtomEdge Pro: Wielofunkcyjny Mikroskop Sił Atomowych – Obrazowanie 3D dla Materiałów

Opis produktu:

Mikroskop Sił Atomowych (AFM) to zaawansowane urządzenie przeznaczone do precyzyjnej analizy i charakteryzacji powierzchni w skali nanometrów. To wielofunkcyjne narzędzie pomiarowe integruje kilka zaawansowanych technik mikroskopowych, w tym Mikroskopię Sił Elektrostatycznych (EFM), Skaningową Mikroskopię Sondą Kelvina (KPFM), Mikroskopię Sił Piezolelektrycznych (PFM), Mikroskopię Sił Magnetycznych (MFM) oraz pomiary krzywych sił. Te możliwości sprawiają, że jest to niezbędne narzędzie dla naukowców i inżynierów pracujących w takich dziedzinach jak półprzewodniki, nauka o materiałach i nanotechnologia, gdzie zrozumienie właściwości powierzchni w rozdzielczości nanometrowej ma kluczowe znaczenie.

Jedną z wyróżniających cech tego AFM jest wyjątkowo niski poziom szumów w kierunku Z, mierzony na zaledwie 0,04 nm. Ten ultra-niski poziom szumów zapewnia bardzo dokładne i wiarygodne dane topograficzne, umożliwiając szczegółowe profilowanie powierzchni nawet na najbardziej delikatnych próbkach. Taka precyzja jest niezbędna w zastosowaniach wymagających rozdzielczości nanometrowej, zwłaszcza podczas analizy skomplikowanych struktur powierzchni urządzeń półprzewodnikowych i innych materiałów w nanoskali.

Urządzenie oferuje wszechstronny zakres prędkości skanowania od 0,1 Hz do 30 Hz, co pozwala użytkownikom na równoważenie między prędkością skanowania a jakością obrazu w oparciu o ich specyficzne potrzeby eksperymentalne. Ta elastyczność sprawia, że nadaje się do szerokiego zakresu zastosowań, od powolnego obrazowania o wysokiej rozdzielczości po szybsze skanowanie, które rejestrują procesy dynamiczne w czasie rzeczywistym. W połączeniu z maksymalnym punktem próbkowania obrazu wynoszącym 4096*4096, AFM zapewnia obrazy o ultra-wysokiej rozdzielczości, które ujawniają najdrobniejsze szczegóły powierzchni z wyjątkową przejrzystością.

Pod względem trybów pracy, ten Mikroskop Sił Atomowych obsługuje wiele technik operacyjnych, aby dostosować się do różnych typów próbek i celów pomiarowych. Obejmują one tryb kontaktowy, tryb dotykowy, tryb obrazowania fazowego, tryb podnoszenia i tryb skanowania wielokierunkowego. Tryb kontaktowy jest idealny do mapowania topografii powierzchni, podczas gdy tryb dotykowy minimalizuje uszkodzenia próbki poprzez przerywany kontakt z powierzchnią. Tryb obrazowania fazowego pomaga w rozróżnianiu właściwości materiałów na podstawie zachowania mechanicznego, a tryb podnoszenia jest specjalnie przeznaczony do pomiaru sił dalekiego zasięgu, takich jak interakcje magnetyczne lub elektrostatyczne. Tryb skanowania wielokierunkowego poprawia jakość obrazu i dokładność danych poprzez redukcję artefaktów kierunkowych, co czyni ten AFM elastycznym i kompleksowym rozwiązaniem do analizy powierzchni w nanoskali.

Integracja specjalistycznych technik mikroskopowych, takich jak EFM, KPFM, PFM i MFM, rozszerza możliwości instrumentu poza proste obrazowanie topograficzne. EFM umożliwia mapowanie rozkładów ładunków elektrycznych na powierzchni próbki, co ma kluczowe znaczenie dla badań i rozwoju półprzewodników. KPFM mierzy zmiany potencjału powierzchniowego z dużą czułością, zapewniając wgląd we właściwości elektroniczne w nanoskali. PFM jest wykorzystywany do badania materiałów piezoelektrycznych poprzez wykrywanie reakcji mechanicznych na pola elektryczne, podczas gdy MFM specjalizuje się w obrazowaniu domen i struktur magnetycznych. Te wielofunkcyjne możliwości pomiarowe przekształcają ten AFM w potężną platformę Mikroskopii Skaningowej Sondą (SPM), zdolną do kompleksowej charakteryzacji powierzchni w jednym instrumencie.

Ogólnie rzecz biorąc, Mikroskop Sił Atomowych jest niezbędnym narzędziem dla naukowców i inżynierów pracujących z półprzewodnikami i innymi nanomateriałami. Połączenie wielofunkcyjnych trybów pomiarowych, ultra-niskiej wydajności szumów, elastycznych prędkości skanowania i obrazowania o ultra-wysokiej rozdzielczości sprawia, że jest idealnie dopasowany do badań i zastosowań przemysłowych wymagających rozdzielczości nanometrowej. Niezależnie od tego, czy bada właściwości elektroniczne, domeny magnetyczne czy charakterystyki mechaniczne, ten AFM dostarcza precyzyjnych i wiarygodnych danych, przesuwając granice nauki i technologii w nanoskali.

Cechy:

• Nazwa produktu: Mikroskop Sił Atomowych
• Poziom szumów w kierunku Z: 0,04 Nm
• Metoda skanowania: XYZ Trójosiowe skanowanie pełnej próbki
• Rozmiar próbki: 25 Mm
• Prędkość skanowania: 0,1-30 Hz
• Zakres skanowania: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Obsługuje pomiary elektryczne w nanoskali z dużą precyzją
• Zapewnia rozdzielczość nanometrową dla szczegółowej analizy powierzchni
• Umożliwia zaawansowane możliwości pomiarów elektrycznych w nanoskali

Parametry techniczne:

Zastosowania:

Mikroskop Sił Atomowych Truth Instruments AtomEdge Pro, dumnie wyprodukowany w Chinach, jest zaawansowanym i wszechstronnym narzędziem przeznaczonym do szerokiego zakresu zastosowań naukowych i przemysłowych. Jego wielofunkcyjne możliwości pomiarowe, w tym Mikroskopia Sił Elektrostatycznych (EFM), Skaningowa Mikroskopia Sondą Kelvina (KPFM), Mikroskopia Sił Piezolelektrycznych (PFM), Mikroskopia Sił Magnetycznych (MFM) i analiza krzywych sił, sprawiają, że jest to niezbędne narzędzie dla naukowców i inżynierów pracujących w nanoskali.

Jednym z głównych zastosowań AtomEdge Pro jest obrazowanie topograficzne, gdzie jego imponująca maksymalna rozdzielczość próbkowania obrazu wynosząca 4096*4096 pikseli umożliwia bardzo szczegółowe mapowanie powierzchni. Pozwala to na precyzyjną wizualizację powierzchni próbek z rozdzielczością atomową, co ma kluczowe znaczenie dla nauki o materiałach, badań nad półprzewodnikami i rozwoju nanotechnologii. Metoda skanowania pełnej próbki w trzech osiach XYZ mikroskopu zapewnia kompleksowe skanowanie próbek o wielkości do 25 mm, ułatwiając szeroką analizę w nanoskali w różnych typach i rozmiarach próbek.

W laboratoriach badawczych AtomEdge Pro jest idealny do badania właściwości fizycznych i chemicznych nanomateriałów. Jego niska nieliniowość (0,15% w kierunku XY i 1% w kierunku Z) gwarantuje dokładne i wiarygodne pomiary, niezbędne w eksperymentach wymagających rozdzielczości atomowej i wysokiej precyzji. Naukowcy mogą wykorzystywać tryby wielofunkcyjne do badania właściwości elektrycznych, magnetycznych i piezoelektrycznych materiałów, umożliwiając przełomy w takich dziedzinach jak magazynowanie energii, kataliza i nanoelektronika.

W warunkach przemysłowych AtomEdge Pro wspiera kontrolę jakości i analizę awarii w produkcji półprzewodników i mikroelektronice. Możliwość przeprowadzania analizy w nanoskali na złożonych powierzchniach pomaga inżynierom w identyfikacji wad i optymalizacji procesów produkcyjnych. Ponadto jego kompaktowa konstrukcja i solidna wydajność sprawiają, że nadaje się do integracji ze środowiskami badawczo-rozwojowymi, gdzie przestrzeń i niezawodność mają kluczowe znaczenie.

Ogólnie rzecz biorąc, Mikroskop Sił Atomowych Truth Instruments AtomEdge Pro oferuje niezrównane możliwości obrazowania topograficznego i analizy w nanoskali z rozdzielczością atomową. Jego wielofunkcyjne funkcje pomiarowe i precyzyjne skanowanie sprawiają, że jest to niezbędne narzędzie w różnych dyscyplinach naukowych i zastosowaniach przemysłowych, napędzając innowacje i odkrycia na poziomie atomowym.

Wsparcie i usługi:

Nasz produkt Mikroskop Sił Atomowych (AFM) jest wspierany przez dedykowany zespół wsparcia technicznego, którego celem jest zapewnienie optymalnej wydajności i satysfakcji użytkownika. Zapewniamy kompleksową pomoc, w tym wskazówki dotyczące instalacji, szkolenia operacyjnego, porady dotyczące rutynowej konserwacji i wsparcie w rozwiązywaniu problemów.

Użytkownicy mogą uzyskać dostęp do szczegółowych instrukcji obsługi produktu, notatek aplikacyjnych i aktualizacji oprogramowania za pośrednictwem naszych zasobów online. Nasi eksperci są dostępni, aby pomóc w procedurach kalibracji, technikach obrazowania i analizie danych w celu zmaksymalizowania możliwości systemu AFM.

Regularne usługi konserwacyjne są zalecane w celu utrzymania precyzji i trwałości mikroskopu. Oferujemy kontrole kalibracji, wymiany komponentów i aktualizacje systemu wykonywane przez certyfikowanych techników.

W przypadku specjalnych wymagań dostępne są niestandardowe rozwiązania i usługi doradcze, aby dostosować system AFM do konkretnych badań lub zastosowań przemysłowych.

Staramy się zapewnić terminowe i skuteczne wsparcie, aby zminimalizować przestoje i zwiększyć produktywność Państwa Mikroskopu Sił Atomowych.

FAQ:

P1: Jaka jest marka i model tego Mikroskopu Sił Atomowych?

A1: Mikroskop Sił Atomowych jest marki Truth Instruments, a numer modelu to AtomEdge Pro.

P2: Gdzie produkowany jest AtomEdge Pro?

A2: AtomEdge Pro jest produkowany w Chinach.

P3: Jakie są główne zastosowania Mikroskopu Sił Atomowych AtomEdge Pro?

A3: AtomEdge Pro jest używany do obrazowania powierzchni o wysokiej rozdzielczości i pomiarów w nanoskali, odpowiedni do badań nad materiałami, biologią i półprzewodnikami.

P4: Jakiego rodzaju próbki można analizować za pomocą AtomEdge Pro?

A4: AtomEdge Pro może analizować różne próbki, w tym twarde materiały, miękkie okazy biologiczne, cienkie warstwy i nanostruktury.

P5: Czy AtomEdge Pro obsługuje różne tryby skanowania?

A5: Tak, AtomEdge Pro obsługuje wiele trybów skanowania, takich jak tryb kontaktowy, tryb dotykowy i tryb bezkontaktowy, aby dostosować się do różnych typów próbek i potrzeb pomiarowych.