AtomEdge Pro: Multi-Funktions-Rasterkraftmikroskop – 3D-Bildgebung für Materialien

Beschreibung des Produkts:

Das Atomkraftmikroskop (AFM) ist ein hochmodernes Instrument, das zur hochpräzisen Oberflächenanalyse und -charakterisierung im Nanometermaßstab entwickelt wurde.Dieses multifunktionale Messgerät integriert mehrere fortgeschrittene Mikroskopieverfahren, einschließlich Elektrostatischer Kraftmikroskopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Mikroskopie (KPFM), Piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM), Magnetische Kraftmikroskopie (MFM) und Kraftkurvenmessungen.Diese Fähigkeiten machen es zu einem unverzichtbaren Instrument für Forscher und Ingenieure, die in Bereichen wie Halbleitern arbeiten., Materialwissenschaften und Nanotechnologie, wo das Verständnis von Oberflächen-Eigenschaften in der Nanometer-Auflösung entscheidend ist.

Eine der herausragenden Eigenschaften dieses AFM ist sein außergewöhnlich geringer Geräuschpegel in der Z-Richtung, gemessen bei nur 0,04 nm.Dieser geräuscharme Boden sorgt für hochgenaue und zuverlässige topographische Daten, die eine detaillierte Oberflächenprofilierung auch bei den empfindlichsten Proben ermöglicht.Vor allem bei der Analyse der komplizierten Oberflächenstrukturen von Halbleitergeräten und anderen Nanomaterialien.

Das Gerät bietet einen vielseitigen Scanning-Rate-Bereich von 0,1 Hz bis 30 Hz, so dass Benutzer die Balance zwischen Scanning-Geschwindigkeit und Bildqualität auf der Grundlage ihrer spezifischen experimentellen Bedürfnisse erreichen können.Diese Flexibilität macht es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet, von langsamen, hochauflösenden Bildern bis hin zu schnelleren Scans, die dynamische Prozesse in Echtzeit erfassen.Das AFM liefert Bilder mit hoher Auflösung, die winzige Oberflächendetails mit außergewöhnlicher Klarheit zeigen.

In Bezug auf die Arbeitsmodi unterstützt dieses Atomkraftmikroskop mehrere Betriebstechniken, um verschiedene Probentypen und Messziele zu erfüllen.PhasenbildmodusDer Kontaktmodus ist ideal für die robuste Kartierung der Oberflächentopographie, während der Tap-Modus durch intermittierenden Kontakt mit der Oberfläche die Probenschäden minimiert.Phase Imaging Mode hilft bei der Unterscheidung von Materialeigenschaften basierend auf mechanischem Verhalten, und Lift Mode ist spezialisiert auf die Messung von Langstreckenkräften wie magnetischen oder elektrostatischen Wechselwirkungen.Multi-directional Scanning-Modus verbessert die Bildqualität und die Datengenauigkeit durch Verringerung der gerichteten Artefakte, so daß dieses AFM eine flexible und umfassende Lösung für die Oberflächenanalyse im Nanobereich darstellt.

Die Integration spezialisierter Mikroskopieverfahren wie EFM, KPFM, PFM und MFM erweitert die Fähigkeiten des Instruments über die einfache topographische Bildgebung hinaus.EFM ermöglicht die Abbildung der elektrischen Ladungsverteilung auf der ProbenoberflächeKPFM misst Oberflächenpotenzialvariationen mit hoher Empfindlichkeit und liefert Einblicke in elektronische Eigenschaften im Nanobereich.PFM wird zur Untersuchung piezoelektrischer Materialien eingesetzt, indem mechanische Reaktionen auf elektrische Felder ermittelt werdenDiese multifunktionalen Messfunktionen verwandeln dieses AFM in eine leistungsfähige Scanning Probe Microscopy (SPM) -Plattform,mit einer Leistung von mehr als 50 W und einer Leistung von mehr als 50 W.

Insgesamt ist das Atomkraftmikroskop ein wesentliches Werkzeug für Wissenschaftler und Ingenieure, die mit Halbleitern und anderen Nanomaterialien arbeiten.ultra-niedrige Geräuschleistung, flexible Scanningraten und ultrahochauflösende Bildgebung machen es ideal für Forschungs- und Industrieanwendungen geeignet, die eine Nanometer-Auflösung erfordern.Ob die Untersuchung elektronischer EigenschaftenDiese Daten liefern präzise und zuverlässige Daten, die die Grenzen der Wissenschaft und Technologie im Nanobereich vorantreiben.

Eigenschaften:

• Produktbezeichnung: Atomkraftmikroskop
• Geräuschpegel in Z-Richtung: 0,04 Nm
• Scanning-Methode: XYZ Dreiachsige Vollprobenscanning
• Probegröße: 25 mm
• Scanningrate: 0,1 bis 30 Hz
• Messbereich: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Unterstützt elektrische Nanomessungen mit hoher Präzision
• Bietet Nanometer-Auflösung für detaillierte Oberflächenanalyse
• Ermöglicht fortschrittliche elektrische Nanomessmöglichkeiten

Technische Parameter:

Anwendungen:

Das Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope, stolz in China hergestellt, ist ein fortschrittliches und vielseitiges Werkzeug, das für eine Vielzahl von wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen entwickelt wurde.Multifunktionale Messmöglichkeiten, einschließlich Elektrostatischer Kraftmikroskopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Mikroskopie (KPFM), Piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM), Magnetkraftmikroskopie (MFM) und Kraftkurvenanalyse,Sie soll ein unentbehrliches Instrument für Forscher und Ingenieure werden, die auf der Nanoskala arbeiten..

Einer der wichtigsten Anwendungsbereiche für den AtomEdge Pro ist die Topographie.wo seine beeindruckende maximale Bildprobenauflösung von 4096*4096 Pixel eine sehr detaillierte Oberflächenkartierung ermöglichtDies ermöglicht eine präzise Visualisierung von Probenoberflächen mit atomarer Auflösung, was für die Materialwissenschaft, Halbleiterforschung und Nanotechnologieentwicklung von entscheidender Bedeutung ist.Die dreiachsige Vollprobenscanning-Methode des Mikroskops XYZ sorgt für eine umfassende Untersuchung von Proben bis zu 25 mm, die eine umfangreiche Analyse im Nanobereich über verschiedene Probentypen und -größen hinweg erleichtert.

In akademischen Forschungslabors ist der AtomEdge Pro ideal für die Untersuchung der physikalischen und chemischen Eigenschaften von Nanomaterialien geeignet.15% in der XY-Richtung und 1% in der Z-Richtung) garantiert genaue und zuverlässige MessungenDie Multifunktionsmodi können von Forschern verwendet werden, um elektrische, magnetische,und piezoelektrische Eigenschaften von Materialien, die Durchbrüche in Bereichen wie Energiespeicherung, Katalyse und Nanoelektronik ermöglichen.

In industriellen Umgebungen unterstützt der AtomEdge Pro die Qualitätskontrolle und Fehleranalyse in der Halbleiterherstellung und Mikroelektronik.Die Fähigkeit, auf komplexen Oberflächen eine Nanomontage durchzuführen, hilft Ingenieuren, Defekte zu erkennen und Herstellungsprozesse zu optimierenDarüber hinaus eignet sich sein kompaktes Design und seine robuste Leistung für die Integration in Forschungs- und Entwicklungsumgebungen, in denen Platz und Zuverlässigkeit von entscheidender Bedeutung sind.

Insgesamt bietet das AtomEdge Pro Atomic Force Microscope von Truth Instruments beispiellose Fähigkeiten für die Topographiebildgebung und die Analyse im Nanobereich mit atomarer Auflösung.Seine multifunktionalen Messfunktionen und seine hochtechnische Messtechnik machen es zu einem wesentlichen Instrument für verschiedene wissenschaftliche Disziplinen und industrielle Anwendungen., Innovation und Entdeckungen auf atomarer Ebene voranzutreiben.

Unterstützung und Dienstleistungen:

Unser Atomic Force Microscope (AFM) Produkt wird von einem spezialisierten technischen Support-Team unterstützt, das sich für eine optimale Leistung und Benutzerzufriedenheit einsetzt.Wir bieten umfassende Unterstützung einschließlich Installationsanleitung, Betriebsausbildung, Beratung bei der routinemäßigen Wartung und Unterstützung bei der Fehlerbehebung.

Die Nutzer können über unsere Online-Ressourcen auf detaillierte Produkthandbücher, Anwendungsnotizen und Software-Updates zugreifen.und Datenanalyse zur Maximierung der Fähigkeiten des AFM-Systems.

Wir empfehlen regelmäßige Wartungsarbeiten, um die Präzision und Langlebigkeit des Mikroskops zu gewährleisten.und Systemupgrades durch zertifizierte Techniker.

Für spezielle Anforderungen stehen maßgeschneiderte Lösungen und Beratungsdienste zur Verfügung, um das AFM-System spezifischen Forschungs- oder Industrieanwendungen anzupassen.

Wir bemühen uns, zeitnahe und effektive Unterstützung zu bieten, um Ausfallzeiten zu minimieren und die Produktivität Ihres Atomkraftmikroskops zu erhöhen.

Häufige Fragen:

F1: Was ist die Marke und das Modell dieses Atomkraftmikroskops?

A1: Das Atomic Force Microscope stammt von der Marke Truth Instruments und hat die Modellnummer AtomEdge Pro.

F2: Wo wird der AtomEdge Pro hergestellt?

A2: Das AtomEdge Pro wird in China hergestellt.

F3: Was sind die wichtigsten Anwendungen des AtomEdge Pro Atomic Force Microscope?

A3: Das AtomEdge Pro wird für hochauflösende Oberflächenbildgebung und -messung im Nanobereich eingesetzt und eignet sich für Materialwissenschaften, Biologie und Halbleiterforschung.

F4: Welche Art von Proben kann mit dem AtomEdge Pro analysiert werden?

A4: Das AtomEdge Pro kann eine Vielzahl von Proben analysieren, darunter harte Materialien, weiche biologische Proben, dünne Filme und Nanostrukturen.

F5: Unterstützt der AtomEdge Pro verschiedene Scannungsmodi?

A5: Ja, das AtomEdge Pro unterstützt mehrere Scanning-Modi wie Kontaktmodus, Tapping-Modus und Kontaktlosmodus, um unterschiedliche Probentypen und Messbedürfnisse zu erfüllen.