AtomEdge Pro: Многофункциональный микроскоп атомной силы 3D-изображение для материалов

Описание продукта:

Микроскоп атомной силы (AFM) - это передовой инструмент, предназначенный для высокоточного анализа поверхности и характеристики в нанометровом масштабе.Этот многофункциональный измерительный инструмент объединяет несколько передовых методов микроскопии, включая электростатическую силовую микроскопию (ЭФМ), сканирующую микроскопию Кельвина (KPFM), микроскопию пиезоэлектрической силы (PFM), микроскопию магнитной силы (MFM) и измерения кривой силы.Эти возможности делают его незаменимым инструментом для исследователей и инженеров, работающих в таких областях, как полупроводники, материаловедения и нанотехнологий, где понимание свойств поверхности при нанометровом разрешении имеет решающее значение.

Одной из отличительных особенностей этого AFM является его исключительно низкий уровень шума в направлении Z, измеренный всего на 0,04 нм.Этот очень низкий уровень шума обеспечивает высокую точность и надежность топографических данных, что позволяет детально определить профиль поверхности даже на самых тонких образцах.особенно при анализе сложных поверхностных структур полупроводниковых устройств и других наномасштабных материалов.

Инструмент предлагает универсальный диапазон скорости сканирования от 0,1 Гц до 30 Гц, что позволяет пользователям балансировать между скоростью сканирования и качеством изображения на основе их конкретных экспериментальных потребностей.Эта гибкость делает его подходящим для широкого спектра примененийВ сочетании с его максимальной точкой отбора изображений 4096*4096,AFM предоставляет изображения с высоким разрешением, которые показывают мельчайшие детали поверхности с исключительной ясностью.

С точки зрения режимов работы этот микроскоп атомной силы поддерживает несколько операционных методов для размещения различных типов образцов и целей измерений.Режим фазовой визуализацииКонтактный режим идеально подходит для надежной топографической картировки поверхности, в то время как Tap Mode минимизирует повреждение образца путем периодического контакта с поверхностью.Режим фазового изображения помогает различать свойства материала на основе механического поведения, а режим подъема специализируется на измерении сил дальнего действия, таких как магнитное или электростатическое взаимодействие.Многонаправленный режим сканирования повышает качество изображения и точность данных за счет уменьшения направленных артефактов, что делает этот AFM гибким и всеобъемлющим решением для наномасштабного анализа поверхности.

Интеграция специализированных методов микроскопии, таких как EFM, KPFM, PFM и MFM, расширяет возможности прибора за пределы простого топографического изображения.EFM позволяет отображать распределение электрического заряда на поверхности образцаKPFM измеряет вариации потенциала поверхности с высокой чувствительностью, обеспечивая понимание электронных свойств в наноразмере.PFM используется для изучения пьезоэлектрических материалов путем обнаружения механических реакций на электрические поляЭти многофункциональные возможности измерения превращают этот AFM в мощную платформу сканирующей микроскопии (SPM),способный обеспечить полную характеристику поверхности в одном приборе.

В целом, микроскоп атомной силы является важным инструментом для ученых и инженеров, работающих с полупроводниками и другими наноматериалами.Ультранизкая производительность шума, гибкие скорости сканирования и изображения с высоким разрешением делают его идеально подходящим для исследований и промышленных приложений, требующих нанометрового разрешения.Следить за электронными свойствами, магнитных областей или механических характеристик, эта AFM предоставляет точные и надежные данные, продвигая границы науки и технологии на наноуровне.

Особенности:

• Наименование продукта: Микроскоп атомной силы
• Уровень шума в направлении Z: 0,04 Нм
• Способ сканирования: XYZ Трехосная полная сканировка образца
• Размер образца: 25 мм
• Скорость сканирования: 0,1-30 Гц
• Диапазон сканирования: 100 мкм * 100 мкм * 10 мкм
• Поддерживает наномасштабные электрические измерения с высокой точностью
• Предоставляет нанометровое разрешение для детального анализа поверхности
• Позволяет использовать расширенные наномасштабные электрические измерения

Технические параметры:

Применение:

Микроскоп атомных сил Truth Instruments AtomEdge Pro, с гордостью изготовленный в Китае, является передовым и универсальным инструментом, предназначенным для широкого спектра научных и промышленных применений.Многофункциональные возможности измерений, включая электростатическую силовую микроскопию (EFM), сканирующую микроскопию Кельвина (KPFM), пиезоэлектрическую силовую микроскопию (PFM), микроскопию магнитных сил (MFM) и анализ кривой силы,сделать его незаменимым инструментом для исследователей и инженеров, работающих на наномасштабе.

Одно из основных применений AtomEdge Pro - топографическое изображение.где его впечатляющее максимальное разрешение образцов изображения 4096 * 4096 пикселей позволяет очень подробное картографирование поверхностиЭто позволяет точно визуализировать поверхности образцов с атомным разрешением, что имеет решающее значение для материаловедения, исследования полупроводников и развития нанотехнологий.Метод сканирования микроскопа XYZ с тремя осями обеспечивает всестороннее сканирование образцов размером до 25 мм, облегчающий обширный анализ на наномасштабе в различных типах и размерах образцов.

В академических исследовательских лабораториях AtomEdge Pro идеально подходит для изучения физических и химических свойств наноматериалов.15% в направлении XY и 1% в направлении Z) гарантирует точные и надежные измеренияДля исследований, требующих атомного разрешения и высокой точности, исследователи могут использовать многофункциональные режимы для исследования электрических, магнитных,и пьезоэлектрические свойства материалов, что позволяет достичь прорывов в таких областях, как хранение энергии, катализация и наноэлектроника.

В промышленных условиях AtomEdge Pro поддерживает контроль качества и анализ сбоев в производстве полупроводников и микроэлектронике.Способность выполнять наноразмерный анализ на сложных поверхностях помогает инженерам выявлять дефекты и оптимизировать процессы изготовленияКроме того, его компактный дизайн и надежная производительность делают его подходящим для интеграции в исследовательские и разработчические среды, где пространство и надежность имеют решающее значение.

В целом, микроскоп атомной силы Truth Instruments AtomEdge Pro предлагает несравненные возможности для топографического изображения и анализа наномасштаба с атомным разрешением.Его многофункциональные характеристики измерений и высокоточное сканирование делают его важным инструментом в различных научных дисциплинах и промышленных приложениях., стимулирующие инновации и открытия на атомном уровне.

Поддержка и услуги:

Наш продукт атомного микроскопа (AFM) поддерживается специализированной командой технической поддержки, стремящейся обеспечить оптимальную производительность и удовлетворенность пользователей.Мы предоставляем всестороннюю помощь, включая руководство по установке, операционное обучение, рекомендации по рутинному техническому обслуживанию и поддержка при устранении неполадок.

Пользователи могут получить доступ к подробным руководствам по продукту, примечаниям к приложению и обновлениям программного обеспечения через наши онлайн-ресурсы.и анализ данных для максимизации возможностей системы AFM.

Регулярное обслуживание рекомендуется для поддержания точности и долговечности микроскопа.и обновления системы, выполненные сертифицированными техниками.

Для специализированных требований доступны индивидуальные решения и консультационные услуги для адаптации системы AFM к конкретным исследовательским или промышленным приложениям.

Мы стремимся обеспечить своевременную и эффективную поддержку, чтобы минимизировать время простоя и повысить производительность вашего микроскопа атомной силы.

Часто задаваемые вопросы

Вопрос 1: Какая марка и модель этого микроскопа атомной силы?

Ответ: Микроскоп атомной силы - это из марки Truth Instruments, и номер модели AtomEdge Pro.

Вопрос 2: Где производится AtomEdge Pro?

Ответ: AtomEdge Pro производится в Китае.

Вопрос 3: Каковы основные применения микроскопа атомной силы AtomEdge Pro?

A3: AtomEdge Pro используется для изображения поверхности с высоким разрешением и измерений на наномасштабе, подходящих для материаловедения, биологии и исследований полупроводников.

Вопрос 4: Какой тип образцов можно проанализировать с помощью AtomEdge Pro?

A4: AtomEdge Pro может анализировать различные образцы, включая твердые материалы, мягкие биологические образцы, тонкие пленки и наноструктуры.

Вопрос 5: Поддерживает ли AtomEdge Pro различные режимы сканирования?

A5: Да, AtomEdge Pro поддерживает несколько режимов сканирования, таких как контактный режим, режим нажатия и бесконтактный режим для удовлетворения различных типов образцов и потребностей в измерениях.