AtomEdge Pro: Microscope multi-fonctionnel de la force atomique

Description du produit:

Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe conçu pour l'analyse et la caractérisation de surface de haute précision à l'échelle nanométrique.Cet outil de mesure multifonctionnel intègre plusieurs techniques de microscopie avancées, y compris la microscopie par force électrostatique (EFM), la microscopie par sonde à balayage Kelvin (KPFM), la microscopie par force piézoélectrique (PFM), la microscopie par force magnétique (MFM) et les mesures de la courbe de force.Ces capacités en font un outil indispensable pour les chercheurs et les ingénieurs travaillant dans des domaines tels que les semi-conducteurs, la science des matériaux et la nanotechnologie, où la compréhension des propriétés de surface à la résolution nanométrique est essentielle.

L'une des caractéristiques remarquables de cet AFM est son niveau de bruit exceptionnellement bas dans la direction Z, mesuré à seulement 0,04 nm.Ce plancher à très faible bruit assure des données topographiques très précises et fiablesCette précision est essentielle pour les applications nécessitant une résolution nanométrique.en particulier lors de l'analyse des structures de surface complexes des dispositifs à semi-conducteurs et d'autres matériaux à l'échelle nanométrique.

L'instrument offre une plage de fréquences de balayage polyvalente allant de 0,1 Hz à 30 Hz, permettant aux utilisateurs d'équilibrer la vitesse de balayage et la qualité de l'image en fonction de leurs besoins expérimentaux spécifiques.Cette souplesse le rend adapté à une grande variété d'applications, de l'imagerie lente et haute résolution à des scans plus rapides qui capturent les processus dynamiques en temps réel.l'AFM fournit des images à très haute résolution qui révèlent des détails minimes de la surface avec une clarté exceptionnelle.

En termes de modes de travail, ce microscope de force atomique prend en charge plusieurs techniques opérationnelles pour accueillir différents types d'échantillons et objectifs de mesure.Mode d'imagerie de phaseLe mode contact est idéal pour une cartographie topographique de surface robuste, tandis que le mode tap minimise les dommages aux échantillons en contactant intermittemment la surface.Le mode d'imagerie de phase aide à distinguer les propriétés du matériau en fonction du comportement mécanique, et le mode Ascenseur est spécialisé pour mesurer les forces à longue portée telles que les interactions magnétiques ou électrostatiques.Mode de numérisation multidirectionnelle améliore la qualité de l'image et la précision des données en réduisant les artefacts directionnels, ce qui fait de cet AFM une solution flexible et complète pour l'analyse de surface à l'échelle nanométrique.

L'intégration de techniques de microscopie spécialisées telles que l'EFM, KPFM, PFM et MFM étend les capacités de l'instrument au-delà de la simple imagerie topographique.L'EFM permet la cartographie des répartitions de charge électrique sur la surface de l'échantillonLe KPFM mesure les variations de potentiel de surface avec une grande sensibilité, fournissant des informations sur les propriétés électroniques à l'échelle nanométrique.Le PFM est utilisé pour étudier les matériaux piézoélectriques en détectant les réactions mécaniques aux champs électriquesCes capacités de mesure multifonctionnelles transforment cet AFM en une puissante plate-forme de microscopie par sonde de balayage (SPM).Capable de fournir une caractérisation complète de la surface dans un seul instrument.

Dans l'ensemble, le microscope de la force atomique est un outil essentiel pour les scientifiques et les ingénieurs travaillant avec des semi-conducteurs et d'autres nanomatériaux.performances de bruit ultra-bas, des vitesses de balayage flexibles et des images à ultra-haute résolution le rendent idéal pour la recherche et les applications industrielles nécessitant une résolution nanométrique.Si l'enquête sur les propriétés électroniques, domaines magnétiques ou caractéristiques mécaniques, cet AFM fournit des données précises et fiables, faisant progresser les frontières de la science et de la technologie à l'échelle nanométrique.

Caractéristiques:

• Nom du produit: Microscope de force atomique
• Niveau sonore dans la direction Z: 0,04 Nm
• Méthode de numérisation: numérisation complète de l'échantillon sur trois axes XYZ
• Taille de l'échantillon: 25 mm
• Taux de balayage: 0,1 à 30 Hz
• Plage de balayage: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Prend en charge la mesure électrique à l'échelle nanométrique avec une grande précision
• Fournit une résolution nanométrique pour une analyse de surface détaillée
• Permet des capacités de mesure électrique à l'échelle nanométrique avancée

Paramètres techniques:

Applications:

Le microscope de force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments, fabriqué fièrement en Chine, est un outil avancé et polyvalent conçu pour un large éventail d'applications scientifiques et industrielles.Ses capacités de mesure multifonctionnelles, y compris la microscopie par force électrostatique (EFM), la microscopie par sonde à balayage Kelvin (KPFM), la microscopie par force piézoélectrique (PFM), la microscopie par force magnétique (MFM) et l'analyse de la courbe de force,faire de cette technologie un instrument indispensable pour les chercheurs et les ingénieurs travaillant à l'échelle nanométrique.

L'une des principales occasions d'application pour l'AtomEdge Pro est dans l'imagerie topographique,où sa résolution maximale impressionnante d'échantillonnage d'image de 4096*4096 pixels permet une cartographie de surface très détailléeCela permet une visualisation précise des surfaces d'échantillons avec une résolution atomique, ce qui est essentiel pour la science des matériaux, la recherche sur les semi-conducteurs et le développement des nanotechnologies.La méthode de numérisation complète à trois axes XYZ du microscope permet de numériser de manière complète des échantillons jusqu'à 25 mm de taille, ce qui facilite une analyse approfondie à l'échelle nanométrique de différents types et tailles d'échantillons.

Dans les laboratoires de recherche universitaire, l'AtomEdge Pro est idéal pour étudier les propriétés physiques et chimiques des nanomatériaux.15% dans la direction XY et 1% dans la direction Z) garantit des mesures précises et fiablesLes chercheurs peuvent utiliser les modes multifonctionnels pour étudier les interactions électriques, magnétiques, électromagnétiques, électromagnétiques et électromagnétiques.et propriétés piézoélectriques des matériaux, permettant des percées dans des domaines tels que le stockage de l'énergie, la catalyse et la nanoélectronique.

Dans les environnements industriels, l'AtomEdge Pro prend en charge le contrôle de la qualité et l'analyse des pannes dans la fabrication de semi-conducteurs et la microélectronique.La capacité à effectuer des analyses à l'échelle nanométrique sur des surfaces complexes aide les ingénieurs à identifier les défauts et à optimiser les processus de fabricationEn outre, sa conception compacte et ses performances robustes le rendent adapté à l'intégration dans des environnements de recherche et de développement où l'espace et la fiabilité sont essentiels.

Dans l'ensemble, le microscope de force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments offre des capacités inégalées pour l'imagerie topographique et l'analyse à l'échelle nanométrique avec une résolution atomique.Ses caractéristiques de mesure multifonctionnelles et son balayage de haute précision en font un instrument essentiel dans diverses disciplines scientifiques et applications industrielles, en favorisant l'innovation et la découverte au niveau atomique.

Assistance et services:

Notre produit AFM est soutenu par une équipe de support technique dédiée qui s'engage à assurer des performances optimales et la satisfaction de l'utilisateur.Nous fournissons une assistance complète, y compris des conseils d'installation, la formation opérationnelle, les conseils en maintenance de routine et le soutien en cas de dépannage.

Les utilisateurs peuvent accéder à des manuels de produit détaillés, des notes d'application et des mises à jour logicielles via nos ressources en ligne.et l'analyse des données pour maximiser les capacités du système AFM.

Des services d'entretien réguliers sont recommandés pour maintenir la précision et la longévité du microscope.et mises à niveau du système effectuées par des techniciens certifiés.

Pour les besoins spécialisés, des solutions personnalisées et des services de conseil sont disponibles pour adapter le système AFM à des applications de recherche ou industrielles spécifiques.

Nous nous efforçons de fournir un soutien efficace et rapide pour minimiser les temps d'arrêt et améliorer la productivité de votre microscope de force atomique.

FAQ:

Q1: Quelle est la marque et le modèle de ce microscope à force atomique?

R1: Le microscope de la force atomique est de la marque Truth Instruments, et le numéro de modèle est AtomEdge Pro.

Q2: Où est fabriqué l'AtomEdge Pro?

R2: L'AtomEdge Pro est fabriqué en Chine.

Q3: Quelles sont les principales applications du microscope de force atomique AtomEdge Pro?

R3: L'AtomEdge Pro est utilisé pour l'imagerie et la mesure de surface à haute résolution à l'échelle nanométrique, adapté à la science des matériaux, à la biologie et à la recherche sur les semi-conducteurs.

Q4: Quels types d'échantillons peuvent être analysés à l'aide de l'AtomEdge Pro?

R4: L'AtomEdge Pro peut analyser une variété d'échantillons, y compris des matériaux durs, des spécimens biologiques mous, des films minces et des nanostructures.

Q5: L'AtomEdge Pro prend-il en charge différents modes de numérisation?

R5: Oui, l'AtomEdge Pro prend en charge plusieurs modes de numérisation tels que le mode contact, le mode tapping et le mode sans contact pour répondre à différents types d'échantillons et besoins de mesure.