AtomEdge Pro: Microscópio de Força Atômica Multifuncional Imagem 3D para Materiais

Descrição do Produto:

O Microscópio de Força Atômica (AFM) é um instrumento de ponta projetado para análise e caracterização de superfícies de alta precisão na escala nanométrica. Esta ferramenta de medição multifuncional integra várias técnicas avançadas de microscopia, incluindo Microscopia de Força Eletrostática (EFM), Microscopia de Sonda Kelvin (KPFM), Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM), Microscopia de Força Magnética (MFM) e medições de Curva de Força. Essas capacidades o tornam um instrumento indispensável para pesquisadores e engenheiros que trabalham em áreas como semicondutores, ciência dos materiais e nanotecnologia, onde a compreensão das propriedades da superfície na resolução nanométrica é fundamental.

Uma das características de destaque deste AFM é seu nível de ruído excepcionalmente baixo na direção Z, medido em apenas 0,04 nm. Este piso de ruído ultrabaixo garante dados topográficos altamente precisos e confiáveis, permitindo a criação de perfis de superfície detalhados, mesmo nas amostras mais delicadas. Essa precisão é vital para aplicações que exigem resolução nanométrica, especialmente ao analisar as intrincadas estruturas de superfície de dispositivos semicondutores e outros materiais em nanoescala.

O instrumento oferece uma faixa de taxa de varredura versátil de 0,1 Hz a 30 Hz, permitindo que os usuários equilibrem a velocidade de varredura e a qualidade da imagem com base em suas necessidades experimentais específicas. Essa flexibilidade o torna adequado para uma ampla variedade de aplicações, desde imagens lentas e de alta resolução até varreduras mais rápidas que capturam processos dinâmicos em tempo real. Juntamente com seu ponto de amostragem de imagem máximo de 4096*4096, o AFM fornece imagens de ultra-alta resolução que revelam detalhes minuciosos da superfície com clareza excepcional.

Em termos de modos de trabalho, este Microscópio de Força Atômica suporta múltiplas técnicas operacionais para acomodar vários tipos de amostras e objetivos de medição. Estes incluem Modo de Contato, Modo Tap, Modo de Imagem de Fase, Modo Lift e Modo de Varredura Multidirecional. O Modo de Contato é ideal para mapeamento robusto da topografia da superfície, enquanto o Modo Tap minimiza os danos à amostra, entrando em contato intermitentemente com a superfície. O Modo de Imagem de Fase ajuda a distinguir as propriedades do material com base no comportamento mecânico, e o Modo Lift é especializado para medir forças de longo alcance, como interações magnéticas ou eletrostáticas. O Modo de Varredura Multidirecional aprimora a qualidade da imagem e a precisão dos dados, reduzindo artefatos direcionais, tornando este AFM uma solução flexível e abrangente para análise de superfície em nanoescala.

A integração de técnicas de microscopia especializadas, como EFM, KPFM, PFM e MFM, estende as capacidades do instrumento além da simples imagem topográfica. O EFM permite o mapeamento das distribuições de carga elétrica na superfície da amostra, o que é crucial para pesquisa e desenvolvimento de semicondutores. O KPFM mede as variações de potencial da superfície com alta sensibilidade, fornecendo informações sobre as propriedades eletrônicas na nanoescala. O PFM é utilizado para estudar materiais piezoelétricos, detectando respostas mecânicas a campos elétricos, enquanto o MFM é especializado para imagens de domínios e estruturas magnéticas. Essas capacidades de medição multifuncionais transformam este AFM em uma poderosa plataforma de Microscopia de Sonda de Varredura (SPM), capaz de fornecer caracterização abrangente da superfície em um único instrumento.

No geral, o Microscópio de Força Atômica é uma ferramenta essencial para cientistas e engenheiros que trabalham com semicondutores e outros nanomateriais. Sua combinação de modos de medição multifuncionais, desempenho de ruído ultrabaixo, taxas de varredura flexíveis e imagem de ultra-alta resolução o torna ideal para aplicações de pesquisa e industriais que exigem resolução nanométrica. Seja investigando propriedades eletrônicas, domínios magnéticos ou características mecânicas, este AFM fornece dados precisos e confiáveis, avançando as fronteiras da ciência e tecnologia em nanoescala.

Características:

• Nome do Produto: Microscópio de Força Atômica
• Nível de Ruído na Direção Z: 0,04 Nm
• Método de Varredura: Varredura Completa de Três Eixos XYZ da Amostra
• Tamanho da Amostra: 25 Mm
• Taxa de Varredura: 0,1-30 Hz
• Faixa de Varredura: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• Suporta medição elétrica em nanoescala com alta precisão
• Fornece Resolução Nanométrica para análise detalhada da superfície
• Permite recursos avançados de medição elétrica em nanoescala

Parâmetros Técnicos:

Aplicações:

O Microscópio de Força Atômica AtomEdge Pro da Truth Instruments, orgulhosamente fabricado na China, é uma ferramenta avançada e versátil projetada para uma ampla gama de aplicações científicas e industriais. Suas capacidades de medição multifuncionais, incluindo Microscopia de Força Eletrostática (EFM), Microscopia de Sonda Kelvin (KPFM), Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM), Microscopia de Força Magnética (MFM) e análise de Curva de Força, o tornam um instrumento indispensável para pesquisadores e engenheiros que trabalham na nanoescala.

Uma das principais ocasiões de aplicação para o AtomEdge Pro é a imagem de topografia, onde sua impressionante resolução máxima de amostragem de imagem de 4096*4096 pixels permite o mapeamento de superfície altamente detalhado. Isso permite a visualização precisa das superfícies da amostra com resolução atômica, o que é fundamental para a ciência dos materiais, pesquisa de semicondutores e desenvolvimento de nanotecnologia. O método de varredura completa de três eixos XYZ do microscópio garante a varredura abrangente de amostras de até 25 mm de tamanho, facilitando a análise em nanoescala em vários tipos e tamanhos de amostras.

Em laboratórios de pesquisa acadêmica, o AtomEdge Pro é ideal para estudar as propriedades físicas e químicas de nanomateriais. Sua baixa não linearidade (0,15% na direção XY e 1% na direção Z) garante medições precisas e confiáveis, essenciais para experimentos que exigem resolução atômica e alta precisão. Os pesquisadores podem utilizar os modos multifuncionais para investigar as propriedades elétricas, magnéticas e piezoelétricas dos materiais, permitindo avanços em áreas como armazenamento de energia, catálise e nanoeletrônica.

Em ambientes industriais, o AtomEdge Pro suporta o controle de qualidade e a análise de falhas na fabricação de semicondutores e microeletrônica. A capacidade de realizar análises em nanoescala em superfícies complexas ajuda os engenheiros a identificar defeitos e otimizar os processos de fabricação. Além disso, seu design compacto e desempenho robusto o tornam adequado para integração em ambientes de pesquisa e desenvolvimento onde o espaço e a confiabilidade são críticos.

No geral, o Microscópio de Força Atômica AtomEdge Pro da Truth Instruments oferece capacidades incomparáveis para imagem de topografia e análise em nanoescala com resolução atômica. Seus recursos de medição multifuncionais e varredura de alta precisão o tornam um instrumento essencial em diversas disciplinas científicas e aplicações industriais, impulsionando a inovação e a descoberta em nível atômico.

Suporte e Serviços:

Nosso produto Microscópio de Força Atômica (AFM) é suportado por uma equipe de suporte técnico dedicada, comprometida em garantir o desempenho ideal e a satisfação do usuário. Fornecemos assistência abrangente, incluindo orientação de instalação, treinamento operacional, aconselhamento de manutenção de rotina e suporte para solução de problemas.

Os usuários podem acessar manuais de produtos detalhados, notas de aplicação e atualizações de software por meio de nossos recursos online. Nossos especialistas estão disponíveis para ajudar com procedimentos de calibração, técnicas de imagem e análise de dados para maximizar as capacidades do sistema AFM.

Serviços de manutenção regulares são recomendados para manter a precisão e a longevidade do microscópio. Oferecemos verificações de calibração, substituições de componentes e atualizações do sistema realizadas por técnicos certificados.

Para requisitos especializados, soluções personalizadas e serviços de consultoria estão disponíveis para adaptar o sistema AFM a aplicações específicas de pesquisa ou industriais.

Nosso objetivo é fornecer suporte oportuno e eficaz para minimizar o tempo de inatividade e aprimorar a produtividade do seu Microscópio de Força Atômica.

Perguntas Frequentes (FAQ):

P1: Qual é a marca e o modelo deste Microscópio de Força Atômica?

A1: O Microscópio de Força Atômica é da marca Truth Instruments, e o número do modelo é AtomEdge Pro.

P2: Onde o AtomEdge Pro é fabricado?

A2: O AtomEdge Pro é fabricado na China.

P3: Quais são as principais aplicações do Microscópio de Força Atômica AtomEdge Pro?

A3: O AtomEdge Pro é usado para imagem e medição de superfície de alta resolução na nanoescala, adequado para ciência dos materiais, biologia e pesquisa de semicondutores.

P4: Que tipo de amostras podem ser analisadas usando o AtomEdge Pro?

A4: O AtomEdge Pro pode analisar uma variedade de amostras, incluindo materiais duros, espécimes biológicos macios, filmes finos e nanoestruturas.

P5: O AtomEdge Pro suporta diferentes modos de varredura?

A5: Sim, o AtomEdge Pro suporta vários modos de varredura, como modo de contato, modo de toque e modo sem contato para acomodar diferentes tipos de amostras e necessidades de medição.