AtomEdge Pro: میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره – تصویربرداری سه بعدی برای مواد

توضیحات محصول:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار پیشرفته است که برای تجزیه و تحلیل و توصیف سطح با دقت بالا در مقیاس نانومتر طراحی شده است.این ابزار اندازه گیری چند منظوره چندین تکنیک پیشرفته میکروسکوپی را ادغام می کند، از جمله میکروسکوپی نیروی الکترواستاتیک (EFM) ، اسکن میکروسکوپی پروب کلوین (KPFM) ، میکروسکوپی نیروی پیزو الکتریکی (PFM) ، میکروسکوپی نیروی مغناطیسی (MFM) و اندازه گیری منحنی نیروی.این قابلیت ها آن را به یک ابزار ضروری برای محققان و مهندسان مشغول به کار در زمینه هایی مانند نیمه هادی ها تبدیل می کند، علوم مواد و فناوری نانو، که در آن درک خواص سطح در وضوح نانومتر بسیار مهم است.

یکی از ویژگی های برجسته این AFM سطح بسیار کم سر و صدا در جهت Z است که فقط 0.04 نانومتر اندازه گیری شده است.این کف بسیار کم سر و صدا اطمینان از داده های توپوگرافی بسیار دقیق و قابل اعتماد، امکان ایجاد پروفایل سطحی دقیق حتی در ظریف ترین نمونه ها را فراهم می کند.به خصوص در هنگام تجزیه و تحلیل ساختارهای پیچیده سطح دستگاه های نیمه هادی و سایر مواد نانو.

این ابزار طیف وسیعی از سرعت اسکن از 0.1 هرتز تا 30 هرتز را ارائه می دهد و به کاربران اجازه می دهد تا بین سرعت اسکن و کیفیت تصویر بر اساس نیازهای آزمایش خاص خود تعادل داشته باشند.این انعطاف پذیری باعث می شود آن را مناسب برای طیف گسترده ای از برنامه های کاربردیاز تصویربرداری آهسته و با وضوح بالا تا اسکن سریعتر که فرآیندهای پویا را در زمان واقعی ضبط می کند.AFM تصاویر با وضوح فوق العاده ای را ارائه می دهد که جزئیات سطحی کوچک را با وضوح استثنایی نشان می دهد.

از نظر حالت کار، این میکروسکوپ نیروی اتمی از تکنیک های عملیاتی متعدد پشتیبانی می کند تا انواع نمونه ها و اهداف اندازه گیری مختلف را در بر بگیرد.حالت تصویربرداری فازحالت تماس برای نقشه برداری توپوگرافی سطح مناسب است، در حالی که حالت ضربه به حداقل رساندن آسیب نمونه با تماس متناوب با سطح است.حالت تصویربرداری فاز به تمایز خواص مواد بر اساس رفتار مکانیکی کمک می کند، و Lift Mode برای اندازه گیری نیروهای دوربرد مانند تعاملات مغناطیسی یا الکترواستاتیک تخصص دارد.حالت اسکن چند جهت کیفیت تصویر و دقت داده ها را با کاهش آثار هنری جهت دار افزایش می دهد، که این AFM را به یک راه حل انعطاف پذیر و جامع برای تجزیه و تحلیل سطح نانومحدود تبدیل می کند.

ادغام تکنیک های میکروسکوپی تخصصی مانند EFM، KPFM، PFM و MFM قابلیت های ابزار را فراتر از تصویربرداری ساده توپوگرافیک گسترش می دهد.EFM اجازه می دهد تا برای نقشه برداری از توزیع بار الکتریکی در سطح نمونهKPFM تغییرات پتانسیل سطح را با حساسیت بالا اندازه گیری می کند و بینش هایی در مورد خواص الکترونیکی در مقیاس نانو فراهم می کند.PFM برای مطالعه مواد پیزو الکتریکی با تشخیص پاسخ های مکانیکی به میدان های الکتریکی استفاده می شود، در حالی که MFM برای تصویربرداری دامنه های مغناطیسی و ساختارهای تخصصی است. این قابلیت های اندازه گیری چند منظوره این AFM را به یک بستر قدرتمند میکروسکوپی بررسی اسکن (SPM) تبدیل می کند.قادر به ارائه ویژگی سطح جامع در یک ابزار.

به طور کلی، میکروسکوپ نیروی اتمی یک ابزار ضروری برای دانشمندان و مهندسان کار با نیمه هادی ها و سایر نانوموادها است.عملکرد بسیار کم سر و صدا، نرخ اسکن انعطاف پذیر و تصویربرداری بسیار با وضوح بالا باعث می شود که آن را برای تحقیقات و کاربردهای صنعتی که نیاز به وضوح نانومتری دارند، مناسب کند.اینکه آیا بررسی خواص الکترونیک، دامنه های مغناطیسی یا ویژگی های مکانیکی، این AFM داده های دقیق و قابل اعتماد را ارائه می دهد، که مرز های علم و فناوری نانومحله را پیش می برد.

ویژگی ها:

• نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی
• سطح سر و صدا در جهت Z: 0.04 Nm
• روش اسکن: XYZ اسکن سه محور نمونه کامل
• اندازه نمونه: 25 میلی متر
• نرخ اسکن: 0.1-30 هرتز
• محدوده اسکن: 100 μm * 100 μm * 10 μm
• از اندازه گیری الکتریکی در مقیاس نانو با دقت بالا پشتیبانی می کند
• برای تجزیه و تحلیل سطحی دقیق ارائه می دهد
• قابلیت های پیشرفته اندازه گیری الکتریکی در مقیاس نانو را فراهم می کند

پارامترهای فنی:

کاربردها:

میکروسکوپ نیروی اتمی پرو آتوم اِدج، که به افتخار در چین ساخته شده است، یک ابزار پیشرفته و همه کاره است که برای طیف گسترده ای از کاربردهای علمی و صنعتی طراحی شده است.قابلیت های اندازه گیری چند منظوره آن، از جمله میکروسکوپی نیروی الکترواستاتیک (EFM) ، میکروسکوپی سنجه اسکن کلوین (KPFM) ، میکروسکوپی نیروی پیزو الکتریکی (PFM) ، میکروسکوپی نیروی مغناطیسی (MFM) و تجزیه و تحلیل منحنی نیرویآن را یک ابزار ضروری برای محققان و مهندسان کار در مقیاس نانو.

یکی از کاربردهای اصلی AtomEdge Pro در تصویربرداری توپوگرافی است.که در آن تصویر قابل توجه حداکثر نمونه گیری رزولوشن از 4096 * 4096 پیکسل اجازه می دهد تا نقشه برداری سطح بسیار دقیقاین امکان را برای تجسم دقیق سطوح نمونه با وضوح اتمی فراهم می کند، که برای علوم مواد، تحقیقات نیمه هادی و توسعه نانو تکنولوژی بسیار مهم است.روش اسکن نمونه کامل سه محور XYZ میکروسکوپ، اسکن کامل نمونه های تا 25 میلی متر را تضمین می کند.، تسهیل تجزیه و تحلیل گسترده در مقیاس نانو در انواع نمونه ها و اندازه های مختلف.

در آزمایشگاه های تحقیقاتی دانشگاهی، AtomEdge Pro برای مطالعه خواص فیزیکی و شیمیایی نانوموادها ایده آل است.15٪ در جهت XY و 1٪ در جهت Z) تضمین اندازه گیری دقیق و قابل اعتماد، برای آزمایشاتی که نیاز به وضوح اتمی و دقت بالا دارند ضروری است. محققان می توانند از حالت های چند منظوره برای بررسی الکتریکی، مغناطیسی،و خواص پیزو الکتریکی مواد، که باعث پیشرفت در زمینه هایی مانند ذخیره انرژی، کاتالیز و نانو الکترونیک می شود.

در محیط های صنعتی، AtomEdge Pro از کنترل کیفیت و تجزیه و تحلیل خرابی در تولید نیمه هادی و میکرو الکترونیک پشتیبانی می کند.توانایی انجام تجزیه و تحلیل در مقیاس نانو بر روی سطوح پیچیده به مهندسان کمک می کند تا نقص ها را شناسایی کنند و فرآیندهای ساخت را بهینه کنندعلاوه بر این، طراحی فشرده و عملکرد قوی آن را برای ادغام در محیط های تحقیق و توسعه که در آن فضای و قابلیت اطمینان بسیار مهم است، مناسب می کند.

به طور کلی، میکروسکوپ نیروی اتمی پرو AtomEdge Pro از ابزارهای حقیقت قابلیت های بی نظیر برای تصویربرداری توپوگرافی و تجزیه و تحلیل نانوسکیل با وضوح اتمی را ارائه می دهد.ویژگی های اندازه گیری چند منظوره و اسکن با دقت بالا آن را به یک ابزار ضروری در رشته های مختلف علمی و کاربردهای صنعتی تبدیل می کند، باعث ایجاد نوآوری و کشف در سطح اتمی می شود.

پشتیبانی و خدمات:

محصول ما میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) توسط یک تیم پشتیبانی فنی اختصاصی پشتیبانی می شود که متعهد به اطمینان از عملکرد مطلوب و رضایت کاربر است.ما کمک های جامع از جمله راهنمای نصب ارائه می دهیم، آموزش عملیاتی، مشاوره نگهداری معمول و پشتیبانی از عیب یابی.

کاربران می توانند از طریق منابع آنلاین ما به دستورالعمل های دقیق محصول، یادداشت های برنامه و به روزرسانی های نرم افزار دسترسی داشته باشند. کارشناسان ما در دسترس هستند تا در روش های کالیبراسیون، تکنیک های تصویربرداری،و تجزیه و تحلیل داده ها برای به حداکثر رساندن قابلیت های سیستم AFM.

خدمات نگهداری منظم توصیه می شود تا دقت و طول عمر میکروسکوپ را حفظ کند. ما چک کالیبراسیون، تعویض قطعات،و ارتقاء سیستم توسط تکنسین های معتبر انجام شده است.

برای نیازهای تخصصی، راه حل های سفارشی و خدمات مشاوره برای تنظیم سیستم AFM به تحقیقات خاص یا کاربردهای صنعتی در دسترس هستند.

ما تلاش می کنیم تا در زمان مناسب و موثر پشتیبانی کنیم تا زمان توقف را به حداقل برسانیم و بهره وری میکروسکوپ نیروی اتمی شما را افزایش دهیم.

سوالات متداول:

سوال1: مارک و مدل این میکروسکوپ نیروی اتمی چیست؟

A1: میکروسکوپ نیروی اتمی از برند ابزار حقیقت است، و شماره مدل AtomEdge Pro است.

سوال2: AtomEdge Pro در کجا تولید می شود؟

A2: AtomEdge Pro در چین ساخته شده است.

س3: کاربردهای اصلی میکروسکوپ نیروی اتمی AtomEdge Pro چیست؟

A3: AtomEdge Pro برای تصویربرداری سطح با وضوح بالا و اندازه گیری در مقیاس نانو استفاده می شود، مناسب برای علوم مواد، زیست شناسی و تحقیقات نیمه هادی است.

سوال 4: چه نوع نمونه ای را می توان با استفاده از AtomEdge Pro تجزیه و تحلیل کرد؟

A4: AtomEdge Pro می تواند نمونه های مختلفی را از جمله مواد سخت، نمونه های بیولوژیکی نرم، فیلم های نازک و نانوساخت ها را تجزیه و تحلیل کند.

س5: آیا AtomEdge Pro از حالت های مختلف اسکن پشتیبانی می کند؟

A5: بله، AtomEdge Pro از چند حالت اسکن مانند حالت تماس، حالت ضربه زدن و حالت بدون تماس پشتیبانی می کند تا انواع مختلف نمونه و نیازهای اندازه گیری را برآورده کند.