Microscope à sonde de balayage de haute précision Résolution 0,15 nm Description du produit: Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe qui offre des capacités exceptionnelles pour l'analyse de surface à résolution nanométrique.ce produit AFM permet d'obtenir des images et des ...

Microscope à sonde à balayage avancé pour les mesures à l'échelle nanométrique Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un outil de pointe qui offre des capacités de mesure multi-modes avec une résolution nanométrique, ce qui en fait un instrument essentiel pour diverses ...

Microscope à force de balayage élevée Description du produit: Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe utilisé pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de surface dans divers domaines tels que la nanotechnologie, la science des matériaux et la biologie.Avec ses capacités ...

Description du produit: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsCet instrument avancé utilise une méthode de ...

Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe conçu pour offrir une précision et une polyvalence inégalées dans la cartographie des propriétés de surface à l'échelle nanométrique. Conçu pour répondre aux exigences des applications industrielles et de ...

Description du produit :Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe conçu pour l'analyse de surface de haute précision et la mesure électrique à l'échelle nanométrique. Réputé pour sa polyvalence et ses fonctionnalités avancées, cet AFM offre une gamme complète de fonctionnalit...

Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe conçu pour l'analyse et la caractérisation de surface de haute précision à l'échelle nanométrique.Cet outil de mesure multifonctionnel intègre plusieurs techniques de microscopie avancées, y compris la microscopi...

Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument scientifique de pointe conçu pour fournir une imagerie haute résolution et une caractérisation précise des surfaces à l'échelle nanométrique. Ce microscope avancé est conçu pour répondre aux exigences des diverses ...

Microscope à force atomique au niveau de la plaquette Modèle de produit: Atommax Présentation du produit: En utilisant des structures de sonde micro-canaillat, cet instrument permet la caractérisation de la morphologie 3D des matériaux solides conducteurs, semi-conducteurs et isolants, atteignant ...