Automatisation de l'affichage 3D à haute stabilité AtomEdge Pro: 4096×4096 Scanner 3D à résolution + EFM/KPFM/PFM

Description du produit :

Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe conçu pour l'analyse de surface de haute précision et la mesure électrique à l'échelle nanométrique. Réputé pour sa polyvalence et ses fonctionnalités avancées, cet AFM offre une gamme complète de fonctionnalités qui en font un outil indispensable dans la recherche et les applications industrielles. Avec une vitesse de balayage réglable entre 0,1 et 30 Hz, les utilisateurs peuvent adapter la vitesse d'imagerie pour s'adapter à un large éventail de types d'échantillons et d'exigences expérimentales, garantissant une qualité et une efficacité optimales des données.

L'une des caractéristiques exceptionnelles de ce microscope à force atomique est son niveau de bruit exceptionnellement faible dans la direction Z, mesuré à seulement 0,04 Nm. Ce plancher de bruit ultra-faible permet un profilage de surface et une imagerie topographique très sensibles, capturant des détails infimes à l'échelle nanométrique avec une clarté remarquable. Une telle précision est essentielle pour les applications nécessitant une caractérisation détaillée de la morphologie de surface, où même les plus légères déviations peuvent avoir un impact sur les propriétés des matériaux ou les performances des appareils.

L'AFM prend en charge plusieurs modes de fonctionnement, notamment le mode contact, le mode tapotement, le mode d'imagerie de phase, le mode levage et le mode de balayage multidirectionnel. Ces divers modes de fonctionnement permettent aux utilisateurs d'adapter la fonctionnalité du microscope à un large éventail de types d'échantillons et d'objectifs expérimentaux. Le mode contact est idéal pour la cartographie détaillée de la surface avec une interaction directe sonde-échantillon, tandis que le mode tapotement minimise les dommages à l'échantillon en contact intermittent avec la surface. Le mode d'imagerie de phase fournit un contraste lié aux propriétés des matériaux telles que l'adhérence et la rigidité. Le mode levage facilite les mesures sans contact comme la microscopie à force magnétique, essentielle pour étudier les domaines magnétiques et les interactions. Pendant ce temps, le mode de balayage multidirectionnel améliore la polyvalence de l'imagerie en permettant des balayages sous différents angles, améliorant la fiabilité des données et la profondeur de l'analyse.

Conçu pour accueillir des échantillons jusqu'à 25 mm de taille, cet AFM offre suffisamment d'espace pour une variété de spécimens, des films minces et des dispositifs microfabriqués aux échantillons biologiques et aux nanostructures. Cette flexibilité le rend adapté à un large éventail de disciplines scientifiques, notamment la science des matériaux, la physique, la chimie et la biologie.

Au-delà de la topographie de surface, ce microscope à force atomique excelle dans les capacités de mesure multifonctionnelles. Il intègre des techniques avancées telles que la microscopie à force électrostatique (EFM), la microscopie à force à sonde Kelvin (KPFM), la microscopie à force piézoélectrique (PFM), la microscopie à force magnétique (MFM) et les mesures de courbes de force. Ces modalités étendent l'utilité du microscope bien au-delà de l'imagerie traditionnelle, permettant aux chercheurs d'étudier les propriétés électriques, magnétiques et piézoélectriques à l'échelle nanométrique.

La microscopie à force magnétique (MFM) est particulièrement remarquable, permettant la visualisation et l'analyse détaillées des domaines magnétiques et des champs parasites avec une résolution nanométrique. Ceci est inestimable pour le développement de supports de stockage magnétiques, de dispositifs spintroniques et l'étude des phénomènes magnétiques fondamentaux. De même, la microscopie à force électrostatique et la microscopie à force à sonde Kelvin facilitent la mesure électrique à l'échelle nanométrique, fournissant des informations sur les variations de potentiel de surface, la distribution de charge et les propriétés électroniques locales. La microscopie à force piézoélectrique permet l'étude des matériaux piézoélectriques et ferroélectriques, essentiels pour faire progresser les capteurs, les actionneurs et les technologies de récupération d'énergie.

En plus de l'imagerie, la capacité de mesure de la courbe de force offre une caractérisation mécanique quantitative en enregistrant les relations force-distance entre la sonde et la surface de l'échantillon. Ceci est essentiel pour étudier l'adhérence, l'élasticité et d'autres propriétés mécaniques à l'échelle nanométrique, fournissant une analyse de surface complète qui relie la morphologie au comportement physique.

En résumé, ce microscope à force atomique est un instrument multifonctionnel très avancé qui combine une imagerie topographique précise avec des mesures sophistiquées des propriétés électriques, magnétiques et mécaniques. Sa large plage de vitesse de balayage, ses faibles performances de bruit, ses multiples modes de fonctionnement et sa prise en charge de diverses techniques de mesure en font un choix idéal pour les chercheurs à la recherche d'une analyse de surface détaillée et d'une mesure électrique à l'échelle nanométrique. Qu'il s'agisse d'étudier des phénomènes magnétiques via la microscopie à force magnétique ou d'explorer des interactions de surface complexes, cet AFM offre des performances et une polyvalence inégalées pour l'exploration scientifique de pointe.

Caractéristiques :

• Nom du produit : Microscope à force atomique
• Non-linéarité : 0,15 % dans la direction XY et 1 % dans la direction Z
• Point d'échantillonnage d'image : La résolution maximale de l'image de la sonde de balayage est de 4096*4096
• Taille de l'échantillon : 25 mm
• Vitesse de balayage : 0,1-30 Hz
• Modes de fonctionnement : Mode contact, Mode tapotement, Mode d'imagerie de phase, Mode levage, Mode de balayage multidirectionnel
• Prend en charge la microscopie à force magnétique pour la cartographie avancée des propriétés de surface
• Permet la cartographie détaillée des propriétés de surface et l'analyse de surface

Paramètres techniques :

Applications :

L'AtomEdge Pro de Truth Instruments, originaire de Chine, est un microscope à force atomique de pointe conçu pour servir de plateforme de caractérisation à l'échelle nanométrique polyvalente. Cet instrument avancé est idéal pour un large éventail d'occasions et de scénarios d'application où la mesure et l'imagerie précises à l'échelle nanométrique sont essentielles. Avec son niveau de bruit exceptionnel dans la direction Z de seulement 0,04 Nm et une vitesse de balayage allant de 0,1 à 30 Hz, l'AtomEdge Pro garantit une acquisition de données très précise et fiable, ce qui le rend indispensable dans les environnements de recherche et industriels.

Dans les laboratoires de recherche universitaires et industriels, l'AtomEdge Pro excelle en fournissant une analyse détaillée de la morphologie de surface à l'échelle nanométrique. Ses capacités de mesure multifonctionnelles, notamment le microscope à force électrostatique (EFM), la microscopie à sonde Kelvin (KPFM), la microscopie à force piézoélectrique (PFM), la microscopie à force magnétique (MFM) et les mesures de courbes de force, permettent aux chercheurs d'étudier une grande variété de propriétés des matériaux. Cela le rend particulièrement adapté aux applications en science des matériaux, en recherche sur les semi-conducteurs, en développement de nanotechnologies et en études biomoléculaires.

Les modes de fonctionnement de l'AtomEdge Pro—Mode contact, Mode tapotement, Mode d'imagerie de phase, Mode levage et Mode de balayage multidirectionnel—offrent des options opérationnelles flexibles pour s'adapter à différents types d'échantillons et aux exigences expérimentales. Par exemple, la microscopie à force magnétique est largement utilisée dans la caractérisation des matériaux magnétiques et la recherche en spintronique, où la compréhension des structures de domaines magnétiques à l'échelle nanométrique est essentielle. De même, la microscopie à force piézoélectrique permet l'étude des matériaux ferroélectriques et des dispositifs piézoélectriques, essentiels au développement de capteurs et d'actionneurs.

Avec une taille d'échantillon maximale de 25 mm, l'AtomEdge Pro est capable de gérer une variété de dimensions d'échantillons, des films minces aux dispositifs microfabriqués. Sa conception robuste et sa multifonctionnalité le rendent adapté à une utilisation dans les laboratoires de contrôle qualité, où une inspection approfondie à l'échelle nanométrique est requise pour garantir la cohérence et les performances des produits. De plus, la haute sensibilité et les faibles niveaux de bruit de l'instrument lui permettent d'être utilisé dans l'imagerie d'échantillons biologiques délicats, contribuant ainsi aux progrès des sciences de la vie et de la recherche médicale.

Dans l'ensemble, l'AtomEdge Pro de Truth Instruments est une plateforme de caractérisation à l'échelle nanométrique essentielle qui prend en charge divers scénarios d'application allant de la recherche universitaire et du développement industriel à l'assurance qualité et aux enquêtes avancées sur les matériaux. Ses fonctionnalités complètes et ses capacités multifonctionnelles en font un outil puissant pour les scientifiques et les ingénieurs qui cherchent à explorer et à manipuler les matériaux à l'échelle nanométrique avec précision et confiance.

Support et services :

Notre produit Microscope à force atomique (AFM) est soutenu par un support technique et des services complets pour garantir des performances optimales et la satisfaction de l'utilisateur.

Support technique :

Notre équipe d'assistance dédiée fournit une assistance experte pour l'installation, l'étalonnage et le dépannage. Nous proposons des diagnostics et des conseils à distance pour aider à résoudre les problèmes rapidement et minimiser les temps d'arrêt.

Services de maintenance :

Des forfaits de maintenance réguliers sont disponibles pour maintenir votre AFM à son efficacité maximale. Ceux-ci incluent des inspections de routine, le nettoyage, les mises à jour logicielles et l'étalonnage du matériel.

Formation et éducation :

Nous proposons des programmes de formation complets pour les nouveaux utilisateurs et des ateliers avancés pour les opérateurs expérimentés. Les sessions de formation couvrent le fonctionnement de l'instrument, l'analyse des données et les techniques avancées pour maximiser les capacités de votre AFM.

Support logiciel :

Des mises à jour logicielles continues sont fournies pour améliorer les fonctionnalités et introduire de nouvelles fonctionnalités. Notre équipe d'assistance vous aide à l'installation, aux mises à niveau et au dépannage du logiciel.

Personnalisation et mises à niveau :

Pour répondre aux besoins de recherche spécifiques, nous proposons des options de personnalisation et des mises à niveau matérielles. Nos ingénieurs travaillent en étroite collaboration avec les clients pour adapter des solutions qui améliorent les performances et élargissent les capacités.

Garantie et réparation :

L'AFM est livré avec une garantie complète couvrant les pièces et la main-d'œuvre. En cas de problèmes matériels, nos services de réparation garantissent des délais d'exécution rapides pour minimiser les perturbations.

Satisfaction client :

Nous nous engageons à fournir un service et une assistance exceptionnels. Notre équipe de service client se consacre à garantir que votre expérience avec notre produit AFM soit réussie et productive.

FAQ :

Q1 : Quelle est la marque et le modèle de ce microscope à force atomique ?

R1 : Le microscope à force atomique est l'AtomEdge Pro, fabriqué par Truth Instruments.

Q2 : Où est produit l'AtomEdge Pro ?

R2 : L'AtomEdge Pro est fabriqué en Chine.

Q3 : Quelles sont les principales applications du microscope à force atomique AtomEdge Pro ?

R3 : L'AtomEdge Pro est utilisé pour l'imagerie de surface à l'échelle nanométrique, la caractérisation des matériaux et la mesure des propriétés de surface dans les environnements de recherche et industriels.

Q4 : Quels types d'échantillons peuvent être analysés avec l'AtomEdge Pro ?

R4 : L'AtomEdge Pro peut analyser une grande variété d'échantillons, notamment des spécimens biologiques, des polymères, des semi-conducteurs et des métaux.

Q5 : L'AtomEdge Pro prend-il en charge plusieurs modes de balayage ?

R5 : Oui, l'AtomEdge Pro prend en charge divers modes de balayage tels que le mode contact, le mode tapotement et le mode sans contact pour des capacités d'imagerie polyvalentes.