High-Stability AtomEdge Pro AFM: 4096×4096 Auflösung 3D-Scannen + EFM/KPFM/PFM

Produktbeschreibung:

Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein hochmodernes Instrument zur hochpräzisen Oberflächenanalyse und elektrischen Messung im Nanobereich. Bekannt für seine Vielseitigkeit und fortschrittliche Funktionalität, bietet dieses AFM eine umfassende Reihe von Funktionen, die es zu einem unverzichtbaren Werkzeug sowohl in der Forschung als auch in industriellen Anwendungen machen. Mit einer einstellbaren Abtastrate zwischen 0,1 und 30 Hz können Benutzer die Bildgebungsgeschwindigkeit an eine Vielzahl von Probentypen und experimentellen Anforderungen anpassen und so optimale Datenqualität und Effizienz gewährleisten.

Eines der herausragenden Merkmale dieses Rasterkraftmikroskops ist sein außergewöhnlich geringes Rauschen in Z-Richtung, gemessen mit nur 0,04 Nm. Dieser extrem niedrige Rauschpegel ermöglicht hochsensible Oberflächenprofilierung und topografische Bildgebung, wobei kleinste Details im Nanobereich mit bemerkenswerter Klarheit erfasst werden. Eine solche Präzision ist entscheidend für Anwendungen, die eine detaillierte Charakterisierung der Oberflächenmorphologie erfordern, bei denen selbst geringste Abweichungen die Materialeigenschaften oder die Geräteperformance beeinträchtigen können.

Das AFM unterstützt mehrere Arbeitsmodi, darunter Kontaktmodus, Tap-Modus, Phasenbildgebungsmodus, Lift-Modus und Multi-Direktionaler-Abtastmodus. Diese vielfältigen Betriebsmodi ermöglichen es den Benutzern, die Funktionalität des Mikroskops an ein breites Spektrum von Probentypen und experimentellen Zielen anzupassen. Der Kontaktmodus ist ideal für detaillierte Oberflächenkartierungen mit direkter Proben-Interaktion, während der Tap-Modus die Probenschädigung minimiert, indem er die Oberfläche intermittierend kontaktiert. Der Phasenbildgebungsmodus liefert Kontraste in Bezug auf Materialeigenschaften wie Adhäsion und Steifigkeit. Der Lift-Modus erleichtert berührungslose Messungen wie die Magnetkraftmikroskopie, die für die Untersuchung magnetischer Domänen und Wechselwirkungen unerlässlich ist. Der Multi-Direktionale-Abtastmodus verbessert die Bildgebungsvielseitigkeit, indem er Scans aus verschiedenen Winkeln ermöglicht und so die Datenzuverlässigkeit und die Analysetiefe verbessert.

Dieses AFM wurde für Proben bis zu 25 mm Größe konzipiert und bietet ausreichend Platz für eine Vielzahl von Proben, von dünnen Filmen und mikrofabrizierten Geräten bis hin zu biologischen Proben und Nanostrukturen. Diese Flexibilität macht es für eine Vielzahl von wissenschaftlichen Disziplinen geeignet, darunter Materialwissenschaften, Physik, Chemie und Biologie.

Über die OberflächenTopographie hinaus zeichnet sich dieses Rasterkraftmikroskop durch multifunktionale Messmöglichkeiten aus. Es integriert fortschrittliche Techniken wie Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM), Raster-Kelvin-Sonden-Kraftmikroskopie (KPFM), Piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM), Magnetkraftmikroskopie (MFM) und Kraftkurvenmessungen. Diese Modalitäten erweitern den Nutzen des Mikroskops weit über die traditionelle Bildgebung hinaus und ermöglichen es Forschern, elektrische, magnetische und piezoelektrische Eigenschaften im Nanobereich zu untersuchen.

Die Magnetkraftmikroskopie (MFM) ist besonders bemerkenswert und ermöglicht die detaillierte Visualisierung und Analyse magnetischer Domänen und Streufelder mit Nanometerauflösung. Dies ist von unschätzbarem Wert für die Entwicklung magnetischer Speichermedien, spintronischer Geräte und die Untersuchung grundlegender magnetischer Phänomene. In ähnlicher Weise erleichtern die elektrostatische Kraftmikroskopie und die Raster-Kelvin-Sonden-Kraftmikroskopie elektrische Messungen im Nanobereich und liefern Einblicke in Oberflächenpotentialvariationen, Ladungsverteilung und lokale elektronische Eigenschaften. Die piezoelektrische Kraftmikroskopie ermöglicht die Untersuchung piezoelektrischer und ferroelektrischer Materialien, was für die Weiterentwicklung von Sensoren, Aktuatoren und Energiegewinnungstechnologien von entscheidender Bedeutung ist.

Zusätzlich zur Bildgebung bietet die Kraftkurvenmessfunktion eine quantitative mechanische Charakterisierung, indem sie Kraft-Abstands-Beziehungen zwischen der Sonde und der Probenoberfläche aufzeichnet. Dies ist unerlässlich für die Untersuchung von Adhäsion, Elastizität und anderen mechanischen Eigenschaften im Nanobereich und liefert eine umfassende Oberflächenanalyse, die Morphologie mit physikalischem Verhalten verbindet.

Zusammenfassend lässt sich sagen, dass dieses Rasterkraftmikroskop ein hochentwickeltes, multifunktionales Instrument ist, das präzise topografische Bildgebung mit anspruchsvollen Messungen elektrischer, magnetischer und mechanischer Eigenschaften kombiniert. Sein breiter Abtastratenbereich, die geringe Rauschleistung, die vielfältigen Arbeitsmodi und die Unterstützung verschiedener Messtechniken machen es zur idealen Wahl für Forscher, die eine detaillierte Oberflächenanalyse und elektrische Messungen im Nanobereich suchen. Ob bei der Untersuchung magnetischer Phänomene über die Magnetkraftmikroskopie oder bei der Erforschung komplexer Oberflächeninteraktionen, dieses AFM liefert beispiellose Leistung und Vielseitigkeit für modernste wissenschaftliche Forschung.

Merkmale:

• Produktname: Rasterkraftmikroskop
• Nichtlinearität: 0,15 % in XY-Richtung und 1 % in Z-Richtung
• Bildabtastpunkt: Die maximale Auflösung des Rasterkraftmikroskopiebildes beträgt 4096*4096
• Probengröße: 25 mm
• Abtastrate: 0,1-30 Hz
• Arbeitsmodi: Kontaktmodus, Tap-Modus, Phasenbildgebungsmodus, Lift-Modus, Multi-Direktionaler-Abtastmodus
• Unterstützt die Magnetkraftmikroskopie für erweiterte Oberflächeneigenschaftskartierung
• Ermöglicht detaillierte Oberflächeneigenschaftskartierung und Oberflächenanalyse

Technische Parameter:

Anwendungen:

Das Truth Instruments AtomEdge Pro, das aus China stammt, ist ein hochmodernes Rasterkraftmikroskop, das als vielseitige Nanobereichs-Charakterisierungsplattform konzipiert wurde. Dieses fortschrittliche Instrument ist ideal für eine Vielzahl von Anwendungsmöglichkeiten und Szenarien, in denen präzise Messungen und Bildgebung im Nanobereich von entscheidender Bedeutung sind. Mit seinem außergewöhnlichen Rauschpegel in Z-Richtung von nur 0,04 Nm und einer Abtastrate von 0,1 bis 30 Hz gewährleistet das AtomEdge Pro eine hochpräzise und zuverlässige Datenerfassung und macht es in Forschungs- und Industrieumgebungen unverzichtbar.

In akademischen und industriellen Forschungslabors zeichnet sich das AtomEdge Pro durch die Bereitstellung detaillierter Oberflächenmorphologieanalysen im Nanobereich aus. Seine multifunktionalen Messmöglichkeiten, einschließlich Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM), Raster-Kelvin-Sonden-Mikroskopie (KPFM), Piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM), Magnetkraftmikroskopie (MFM) und Kraftkurvenmessungen, ermöglichen es Forschern, eine Vielzahl von Materialeigenschaften zu untersuchen. Dies macht es besonders geeignet für Anwendungen in der Materialwissenschaft, der Halbleiterforschung, der Nanotechnologieentwicklung und biomolekularen Studien.

Die Arbeitsmodi des AtomEdge Pro – Kontaktmodus, Tap-Modus, Phasenbildgebungsmodus, Lift-Modus und Multi-Direktionaler-Abtastmodus – bieten flexible Betriebsoptionen, um unterschiedlichen Probentypen und experimentellen Anforderungen gerecht zu werden. Beispielsweise wird die Magnetkraftmikroskopie häufig bei der Charakterisierung magnetischer Materialien und in der Spintronik-Forschung eingesetzt, wo das Verständnis von magnetischen Domänenstrukturen im Nanobereich unerlässlich ist. In ähnlicher Weise ermöglicht die piezoelektrische Kraftmikroskopie die Untersuchung ferroelektrischer Materialien und piezoelektrischer Geräte, was für die Entwicklung von Sensoren und Aktuatoren von entscheidender Bedeutung ist.

Mit einer maximalen Probengröße von 25 mm ist das AtomEdge Pro in der Lage, eine Vielzahl von Probendimensionen zu handhaben, von dünnen Filmen bis hin zu mikrofabrizierten Geräten. Sein robustes Design und seine Multifunktionalität machen es für den Einsatz in Qualitätskontrolllabors geeignet, wo eine gründliche Inspektion im Nanobereich erforderlich ist, um die Produktkonsistenz und -leistung sicherzustellen. Darüber hinaus ermöglichen die hohe Empfindlichkeit und die geringen Rauschpegel des Instruments den Einsatz in der Bildgebung empfindlicher biologischer Proben, was zu Fortschritten in den Biowissenschaften und der medizinischen Forschung beiträgt.

Insgesamt ist das Truth Instruments AtomEdge Pro eine unverzichtbare Nanobereichs-Charakterisierungsplattform, die vielfältige Anwendungsszenarien unterstützt, die von der akademischen Forschung und industriellen Entwicklung bis hin zur Qualitätssicherung und fortschrittlichen Materialuntersuchungen reichen. Seine umfassenden Funktionen und multifunktionalen Fähigkeiten machen es zu einem leistungsstarken Werkzeug für Wissenschaftler und Ingenieure, die Materialien im Nanobereich mit Präzision und Zuversicht erforschen und manipulieren möchten.

Support und Services:

Unser Rasterkraftmikroskop (AFM)-Produkt wird durch umfassenden technischen Support und Serviceleistungen unterstützt, um optimale Leistung und Kundenzufriedenheit zu gewährleisten.

Technischer Support:

Unser engagiertes Support-Team bietet fachkundige Unterstützung bei Installation, Kalibrierung und Fehlerbehebung. Wir bieten Ferndiagnose und -anleitung, um Probleme schnell zu lösen und Ausfallzeiten zu minimieren.

Wartungsdienste:

Regelmäßige Wartungspakete sind verfügbar, um Ihr AFM mit maximaler Effizienz zu betreiben. Dazu gehören routinemäßige Inspektionen, Reinigung, Software-Updates und Hardware-Kalibrierung.

Schulung und Ausbildung:

Wir bieten umfassende Schulungsprogramme für neue Benutzer und erweiterte Workshops für erfahrene Bediener an. Die Schulungen umfassen die Instrumentenbedienung, Datenanalyse und erweiterte Techniken, um die Fähigkeiten Ihres AFM zu maximieren.

Software-Support:

Kontinuierliche Software-Updates werden bereitgestellt, um die Funktionalität zu verbessern und neue Funktionen einzuführen. Unser Support-Team unterstützt bei der Softwareinstallation, -upgrades und -fehlerbehebung.

Anpassung und Upgrades:

Um spezifische Forschungsanforderungen zu erfüllen, bieten wir Anpassungsoptionen und Hardware-Upgrades an. Unsere Ingenieure arbeiten eng mit den Kunden zusammen, um Lösungen zu entwickeln, die die Leistung verbessern und die Fähigkeiten erweitern.

Garantie und Reparatur:

Das AFM wird mit einer umfassenden Garantie auf Teile und Arbeitszeit geliefert. Im Falle von Hardwareproblemen gewährleisten unsere Reparaturservices schnelle Bearbeitungszeiten, um Störungen zu minimieren.

Kundenzufriedenheit:

Wir sind bestrebt, außergewöhnlichen Service und Support zu bieten. Unser Kundendienstteam setzt sich dafür ein, dass Ihre Erfahrung mit unserem AFM-Produkt erfolgreich und produktiv ist.

FAQ:

Q1: Was sind die Marke und das Modell dieses Rasterkraftmikroskops?

A1: Das Rasterkraftmikroskop ist das AtomEdge Pro, hergestellt von Truth Instruments.

Q2: Wo wird das AtomEdge Pro hergestellt?

A2: Das AtomEdge Pro wird in China hergestellt.

Q3: Was sind die primären Anwendungen des AtomEdge Pro Rasterkraftmikroskops?

A3: Das AtomEdge Pro wird für die Oberflächenbildgebung im Nanobereich, die Materialcharakterisierung und die Messung von Oberflächeneigenschaften in Forschungs- und Industrieumgebungen verwendet.

Q4: Welche Arten von Proben können mit dem AtomEdge Pro analysiert werden?

A4: Das AtomEdge Pro kann eine Vielzahl von Proben analysieren, darunter biologische Präparate, Polymere, Halbleiter und Metalle.

Q5: Unterstützt das AtomEdge Pro mehrere Abtastmodi?

A5: Ja, das AtomEdge Pro unterstützt verschiedene Abtastmodi wie Kontaktmodus, Tapping-Modus und berührungsfreien Modus für vielseitige Bildgebungsfunktionen.