High-Stability AtomEdge Pro AFM: 4096×4096 Resolutie 3D Scanning + EFM/KPFM/PFM

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd instrument ontworpen voor zeer precieze oppervlakteanalyse en elektrische metingen op nanoschaal. Bekend om zijn veelzijdigheid en geavanceerde functionaliteit, biedt deze AFM een uitgebreide reeks functies die het tot een onmisbaar hulpmiddel maken in zowel onderzoek als industriële toepassingen. Met een scansnelheid instelbaar tussen 0,1 en 30 Hz, kunnen gebruikers de beeldvormingssnelheid aanpassen aan een breed scala aan monstertypes en experimentele vereisten, waardoor optimale gegevenskwaliteit en efficiëntie worden gegarandeerd.

Een van de opvallende kenmerken van deze Atomic Force Microscope is het uitzonderlijk lage ruisniveau in de Z-richting, gemeten op slechts 0,04 Nm. Deze ultra-lage ruisvloer maakt zeer gevoelige oppervlakteprofilering en topografische beeldvorming mogelijk, waarbij minuscule details op de nanoschaal met opmerkelijke helderheid worden vastgelegd. Een dergelijke precisie is cruciaal voor toepassingen die gedetailleerde karakterisering van de oppervlaktemorfologie vereisen, waarbij zelfs de kleinste afwijkingen de materiaaleigenschappen of de prestaties van het apparaat kunnen beïnvloeden.

De AFM ondersteunt meerdere werkmodi, waaronder Contact Mode, Tap Mode, Phase Imaging Mode, Lift Mode en Multi-directionele Scanning Mode. Met deze diverse operationele modi kunnen gebruikers de functionaliteit van de microscoop aanpassen aan een breed spectrum van monstertypes en experimentele doelen. Contact Mode is ideaal voor gedetailleerde oppervlakte-mapping met directe probe-sample interactie, terwijl Tap Mode schade aan het monster minimaliseert door periodiek contact te maken met het oppervlak. Phase Imaging Mode biedt contrast gerelateerd aan materiaaleigenschappen zoals adhesie en stijfheid. Lift Mode faciliteert niet-contact metingen zoals Magnetic Force Microscopy, essentieel voor het onderzoeken van magnetische domeinen en interacties. Ondertussen verbetert Multi-directionele Scanning Mode de beeldvormingsveelzijdigheid door scans vanuit verschillende hoeken mogelijk te maken, waardoor de betrouwbaarheid van de gegevens en de diepte van de analyse worden verbeterd.

Ontworpen om monsters tot 25 mm groot te kunnen verwerken, biedt deze AFM voldoende ruimte voor een verscheidenheid aan specimens, van dunne films en microgefabriceerde apparaten tot biologische monsters en nanostructuren. Deze flexibiliteit maakt het geschikt voor een breed scala aan wetenschappelijke disciplines, waaronder materiaalkunde, natuurkunde, scheikunde en biologie.

Naast oppervlaktetopografie blinkt deze Atomic Force Microscope uit in multifunctionele meetmogelijkheden. Het integreert geavanceerde technieken zoals Electrostatic Force Microscopy (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezoelectric Force Microscopy (PFM), Magnetic Force Microscopy (MFM) en Force Curve-metingen. Deze modaliteiten breiden het nut van de microscoop ver uit boven traditionele beeldvorming, waardoor onderzoekers elektrische, magnetische en piëzo-elektrische eigenschappen op de nanoschaal kunnen onderzoeken.

Magnetic Force Microscopy (MFM) is bijzonder opmerkelijk, waardoor gedetailleerde visualisatie en analyse van magnetische domeinen en strooivelden met nanoschaalresolutie mogelijk is. Dit is van onschatbare waarde voor het ontwikkelen van magnetische opslagmedia, spintronische apparaten en het bestuderen van fundamentele magnetische fenomenen. Evenzo faciliteren Electrostatic Force Microscopy en Scanning Kelvin Probe Force Microscopy elektrische metingen op nanoschaal, die inzicht geven in variaties in oppervlaktepotentiaal, ladingsverdeling en lokale elektronische eigenschappen. Piezoelectric Force Microscopy maakt het mogelijk om piëzo-elektrische en ferro-elektrische materialen te onderzoeken, cruciaal voor het bevorderen van sensoren, actuatoren en energie-oogsttechnologieën.

Naast beeldvorming biedt de Force Curve-meetmogelijkheid kwantitatieve mechanische karakterisering door kracht-afstand relaties tussen de probe en het monsteroppervlak vast te leggen. Dit is essentieel voor het bestuderen van adhesie, elasticiteit en andere mechanische eigenschappen op de nanoschaal, waardoor een uitgebreide oppervlakteanalyse wordt verkregen die morfologie verbindt met fysiek gedrag.

Samenvattend is deze Atomic Force Microscope een zeer geavanceerd, multifunctioneel instrument dat precieze topografische beeldvorming combineert met geavanceerde metingen van elektrische, magnetische en mechanische eigenschappen. De brede scansnelheid, de lage ruisprestaties, de meerdere werkmodi en de ondersteuning voor verschillende meettechnieken maken het een ideale keuze voor onderzoekers die op zoek zijn naar gedetailleerde oppervlakteanalyse en elektrische metingen op nanoschaal. Of het nu gaat om het onderzoeken van magnetische fenomenen via Magnetic Force Microscopy of het verkennen van complexe oppervlakte-interacties, deze AFM levert ongeëvenaarde prestaties en veelzijdigheid voor geavanceerde wetenschappelijke exploratie.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope
• Niet-lineariteit: 0,15% in de XY-richting en 1% in de Z-richting
• Beeldbemonsteringspunt: Maximale resolutie van de scanning probe-afbeelding is 4096*4096
• Monstergrootte: 25 mm
• Scansnelheid: 0,1-30 Hz
• Werkmodi: Contact Mode, Tap Mode, Phase Imaging Mode, Lift Mode, Multi-directionele Scanning Mode
• Ondersteunt Magnetic Force Microscopy voor geavanceerde mapping van oppervlakte-eigenschappen
• Maakt gedetailleerde mapping van oppervlakte-eigenschappen en oppervlakteanalyse mogelijk

Technische parameters:

Toepassingen:

De Truth Instruments AtomEdge Pro, afkomstig uit China, is een state-of-the-art Atomic Force Microscope dat is ontworpen om te dienen als een veelzijdig karakteriseringsplatform op nanoschaal. Dit geavanceerde instrument is ideaal voor een breed scala aan toepassingsgelegenheden en scenario's waar precieze metingen en beeldvorming op nanoschaal cruciaal zijn. Met zijn uitzonderlijke ruisniveau in de Z-richting van slechts 0,04 Nm en een scansnelheid variërend van 0,1 tot 30 Hz, zorgt de AtomEdge Pro voor een zeer nauwkeurige en betrouwbare gegevensverzameling, waardoor het onmisbaar is in onderzoeks- en industriële omgevingen.

In academische en industriële onderzoekslaboratoria blinkt de AtomEdge Pro uit in het leveren van gedetailleerde analyse van de oppervlaktemorfologie op nanoschaal. De multifunctionele meetmogelijkheden, waaronder Electrostatic Force Microscope (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscopy (KPFM), Piezoelectric Force Microscopy (PFM), Magnetic Force Microscopy (MFM) en Force Curve-metingen, stellen onderzoekers in staat om een breed scala aan materiaaleigenschappen te onderzoeken. Dit maakt het bijzonder geschikt voor toepassingen in de materiaalkunde, halfgeleideronderzoek, nanotechnologie-ontwikkeling en biomoleculaire studies.

De werkmodi van de AtomEdge Pro—Contact Mode, Tap Mode, Phase Imaging Mode, Lift Mode en Multi-directionele Scanning Mode—bieden flexibele operationele opties om verschillende monstertypes en experimentele vereisten te accommoderen. Magnetic Force Microscopy wordt bijvoorbeeld veel gebruikt bij de karakterisering van magnetische materialen en spintronica-onderzoek, waarbij het begrijpen van magnetische domeinstructuren op nanoschaal essentieel is. Evenzo maakt Piezoelectric Force Microscopy de studie van ferro-elektrische materialen en piëzo-elektrische apparaten mogelijk, cruciaal bij het ontwikkelen van sensoren en actuatoren.

Met een maximale monstergrootte van 25 mm is de AtomEdge Pro in staat om een verscheidenheid aan monsterdimensies te verwerken, van dunne films tot microgefabriceerde apparaten. Het robuuste ontwerp en de multifunctionaliteit maken het geschikt voor gebruik in kwaliteitscontrolelaboratoria, waar een grondige inspectie op nanoschaal vereist is om de productconsistentie en -prestaties te waarborgen. Bovendien stellen de hoge gevoeligheid en de lage ruisniveaus van het instrument het in staat om te worden gebruikt bij delicate beeldvorming van biologische monsters, wat bijdraagt aan de vooruitgang in de levenswetenschappen en medisch onderzoek.

Over het algemeen is de Truth Instruments AtomEdge Pro een essentieel karakteriseringsplatform op nanoschaal dat diverse toepassingsscenario's ondersteunt, variërend van academisch onderzoek en industriële ontwikkeling tot kwaliteitsborging en geavanceerd materiaalonderzoek. De uitgebreide functies en multifunctionele mogelijkheden maken het een krachtig hulpmiddel voor wetenschappers en ingenieurs die materialen op de nanoschaal met precisie en vertrouwen willen verkennen en manipuleren.

Ondersteuning en diensten:

Ons Atomic Force Microscope (AFM)-product wordt ondersteund door uitgebreide technische ondersteuning en diensten om optimale prestaties en gebruikerstevredenheid te garanderen.

Technische ondersteuning:

Ons toegewijde ondersteuningsteam biedt deskundige assistentie voor installatie, kalibratie en probleemoplossing. We bieden diagnose en begeleiding op afstand om problemen snel op te lossen en downtime te minimaliseren.

Onderhoudsdiensten:

Er zijn reguliere onderhoudspakketten beschikbaar om uw AFM op maximale efficiëntie te laten werken. Deze omvatten routine-inspecties, reiniging, software-updates en hardwarekalibratie.

Training en educatie:

We bieden uitgebreide trainingsprogramma's voor nieuwe gebruikers en geavanceerde workshops voor ervaren operators. Trainingssessies omvatten instrumentbediening, gegevensanalyse en geavanceerde technieken om de mogelijkheden van uw AFM te maximaliseren.

Softwareondersteuning:

Er worden continue software-updates geleverd om de functionaliteit te verbeteren en nieuwe functies te introduceren. Ons ondersteuningsteam helpt bij software-installatie, upgrades en probleemoplossing.

Maatwerk en upgrades:

Om aan specifieke onderzoeksbehoeften te voldoen, bieden we aanpassingsopties en hardware-upgrades. Onze technici werken nauw samen met klanten om oplossingen op maat te maken die de prestaties verbeteren en de mogelijkheden uitbreiden.

Garantie en reparatie:

De AFM wordt geleverd met een uitgebreide garantie die onderdelen en arbeid dekt. In geval van hardwareproblemen zorgen onze reparatiediensten voor snelle doorlooptijden om verstoringen te minimaliseren.

Klanttevredenheid:

We streven ernaar uitzonderlijke service en ondersteuning te bieden. Ons klantenserviceteam is toegewijd om ervoor te zorgen dat uw ervaring met ons AFM-product succesvol en productief is.

FAQ:

V1: Wat is het merk en model van deze Atomic Force Microscope?

A1: De Atomic Force Microscope is de AtomEdge Pro, vervaardigd door Truth Instruments.

V2: Waar wordt de AtomEdge Pro geproduceerd?

A2: De AtomEdge Pro wordt gemaakt in China.

V3: Wat zijn de belangrijkste toepassingen van de AtomEdge Pro Atomic Force Microscope?

A3: De AtomEdge Pro wordt gebruikt voor beeldvorming op nanoschaal, materiaalkarakterisering en het meten van oppervlakte-eigenschappen in onderzoeks- en industriële omgevingen.

V4: Wat voor soort monsters kunnen met de AtomEdge Pro worden geanalyseerd?

A4: De AtomEdge Pro kan een breed scala aan monsters analyseren, waaronder biologische specimens, polymeren, halfgeleiders en metalen.

V5: Ondersteunt de AtomEdge Pro meerdere scanmodi?

A5: Ja, de AtomEdge Pro ondersteunt verschillende scanmodi, zoals contactmodus, tapping-modus en niet-contactmodus voor veelzijdige beeldvormingsmogelijkheden.