Mikroskop Gaya Atom AtomEdge Pro dengan Stabilitas Tinggi: Pemindaian 3D Resolusi 4096×4096 + EFM/KPFM/PFM

Deskripsi produk:

Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) adalah instrumen mutakhir yang dirancang untuk analisis permukaan presisi tinggi dan pengukuran listrik skala nano.Terkenal karena fleksibilitas dan fungsionalitasnya yang canggih, AFM ini menawarkan serangkaian fitur yang komprehensif yang membuatnya menjadi alat yang sangat diperlukan dalam penelitian dan aplikasi industri.pengguna dapat menyesuaikan kecepatan pencitraan agar sesuai dengan berbagai jenis sampel dan persyaratan eksperimen, memastikan kualitas dan efisiensi data yang optimal.

Salah satu karakteristik yang menonjol dari Mikroskop Kekuatan Atom ini adalah tingkat kebisingan yang sangat rendah di arah Z, diukur hanya 0,04 Nm.Lantai yang sangat rendah kebisingan ini memungkinkan profil permukaan yang sangat sensitif dan pencitraan topografi, menangkap detail kecil pada skala nano dengan kejelasan yang luar biasa. presisi seperti itu sangat penting untuk aplikasi yang membutuhkan karakteristik morfologi permukaan yang terperinci,di mana bahkan penyimpangan terkecil dapat mempengaruhi sifat material atau kinerja perangkat.

AFM mendukung beberapa mode kerja, termasuk Mode Kontak, Mode Tap, Mode Pencitraan Fase, Mode Lift, dan Mode Pemindaian Multi-arah.Modus operasi yang beragam ini memungkinkan pengguna untuk menyesuaikan fungsi mikroskop dengan spektrum yang luas dari jenis sampel dan tujuan eksperimen. Mode kontak sangat ideal untuk pemetaan permukaan yang rinci dengan interaksi probe-sampel langsung, sementara Mode Tap meminimalkan kerusakan sampel dengan secara intermiten menghubungi permukaan.Mode Pencitraan Fase memberikan kontras yang terkait dengan sifat material seperti adhesi dan kekakuanLift Mode memfasilitasi pengukuran tanpa kontak seperti Magnetic Force Microscopy, penting untuk menyelidiki domain magnetik dan interaksi.Multi-directional Scanning Mode meningkatkan fleksibilitas pencitraan dengan memungkinkan pemindaian dari sudut yang berbeda, meningkatkan keandalan data dan kedalaman analisis.

Dirancang untuk menampung sampel hingga ukuran 25 mm, AFM ini menawarkan ruang yang cukup untuk berbagai spesimen, mulai dari film tipis dan perangkat mikro hingga sampel biologis dan nanostruktur.Fleksibilitas ini membuatnya cocok untuk berbagai disiplin ilmu, termasuk ilmu material, fisika, kimia, dan biologi.

Di luar topografi permukaan, Mikroskop Kekuatan Atom ini unggul dalam kemampuan pengukuran multifungsi.Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezoelectric Force Microscopy (PFM), Magnetic Force Microscopy (MFM), dan Force Curve pengukuran.memungkinkan peneliti untuk menyelidiki listrik, sifat magnetik, dan piezoelektrik pada skala nano.

Mikroskopi Kekuatan Magnetik (MFM) sangat penting, memungkinkan visualisasi dan analisis rinci dari domain magnetik dan medan liar dengan resolusi nanoskala.Ini sangat berharga untuk mengembangkan media penyimpanan magnetik, perangkat spintronik, dan mempelajari fenomena magnet fundamental. Demikian pula, Mikroskopi Kekuatan Elektrostatik dan Mikroskopi Kekuatan Probe Scanning Kelvin memfasilitasi pengukuran listrik berskala nano,memberikan wawasan tentang variasi potensi permukaan, distribusi muatan, dan sifat elektronik lokal. mikroskopi Piezoelectric Force memungkinkan untuk penyelidikan dari bahan piezoelectric dan ferroelectric, penting untuk kemajuan sensor,alat pemicu, dan teknologi pemanenan energi.

Selain pencitraan, kemampuan pengukuran Force Curve menawarkan karakterisasi mekanis kuantitatif dengan merekam hubungan kekuatan-jarak antara probe dan permukaan sampel.Ini penting untuk mempelajari adhesi, elastisitas, dan sifat mekanik lainnya pada skala nano, memberikan analisis permukaan yang komprehensif yang menghubungkan morfologi dengan perilaku fisik.

Singkatnya, Mikroskop Kekuatan Atom ini adalah instrumen multifungsi yang sangat canggih yang menggabungkan pencitraan topografi yang tepat dengan perangkat listrik, magnetik,dan pengukuran sifat mekanikRentang kecepatan pemindaian yang luas, kinerja kebisingan rendah, beberapa mode kerja,dan dukungan untuk berbagai teknik pengukuran menjadikannya pilihan ideal bagi peneliti yang mencari analisis permukaan rinci dan pengukuran listrik skala nanometerApakah menyelidiki fenomena magnetik melalui Mikroskopi Kekuatan Magnetik atau mengeksplorasi interaksi permukaan yang kompleks,AFM ini memberikan kinerja yang tak tertandingi dan fleksibilitas untuk eksplorasi ilmiah mutakhir.

Fitur:

• Nama produk: Mikroskop Kekuatan Atom
• Nonlinearity: 0,15% dalam arah XY dan 1% dalam arah Z
• Titik Sampling Gambar: Resolusi maksimum gambar probe pemindaian adalah 4096*4096
• Ukuran sampel: 25 mm
• Tingkat pemindaian: 0,1-30 Hz
• Mode Kerja: Mode Kontak, Mode Tap, Mode Pencitraan Fase, Mode Lift, Mode Pemindaian Multi-Directional
• Mendukung Mikroskopi Kekuatan Magnetik untuk pemetaan properti permukaan lanjutan
• Memungkinkan pemetaan properti permukaan yang rinci dan analisis permukaan

Parameter teknis:

Aplikasi:

Instrumen Kebenaran AtomEdge Pro, berasal dari Cina, adalah state-of-the-art Atomic Force Microscope yang dirancang untuk berfungsi sebagai platform karakterisasi nanoscale yang serbaguna.Instrumen canggih ini sangat ideal untuk berbagai kesempatan aplikasi dan skenario di mana pengukuran nanoscale yang tepat dan pencitraan sangat pentingDengan tingkat kebisingan yang luar biasa dalam arah Z hanya 0,04 Nm dan kecepatan pemindaian berkisar dari 0,1 hingga 30 Hz, AtomEdge Pro memastikan akuisisi data yang sangat akurat dan dapat diandalkan,membuatnya sangat diperlukan dalam lingkungan penelitian dan industri.

Di laboratorium penelitian akademis dan industri, AtomEdge Pro unggul dalam memberikan analisis morfologi permukaan rinci pada skala nano.termasuk Elektrostatic Force Microscope (EFM), Pemindaian Mikroskopi Sonde Kelvin (KPFM), Mikroskopi Kekuatan Piezoelektrik (PFM), Mikroskopi Kekuatan Magnetik (MFM), dan pengukuran kurva gaya,memungkinkan para peneliti untuk menyelidiki berbagai sifat materialHal ini membuatnya sangat cocok untuk aplikasi dalam ilmu material, penelitian semikonduktor, pengembangan nanoteknologi, dan studi biomolekul.

Mode kerja AtomEdge Pro, Mode Kontak, Mode Ketuk, Mode Pencitraan Fase, Mode Lift,dan Multi-directional Scanning Mode menawarkan pilihan operasi yang fleksibel untuk mengakomodasi berbagai jenis sampel dan persyaratan eksperimenSebagai contoh, Mikroskopi Kekuatan Magnetik banyak digunakan dalam karakterisasi bahan magnetik dan penelitian spintronik, di mana pemahaman struktur domain magnetik pada skala nano sangat penting.Begitu juga., Mikroskopi Kekuatan Piezoelektrik memungkinkan studi bahan ferroelektrik dan perangkat piezoelektrik, penting dalam mengembangkan sensor dan aktuator.

Dengan ukuran sampel maksimum 25 mm, AtomEdge Pro mampu menangani berbagai ukuran sampel, dari film tipis hingga perangkat yang dibuat mikro.Desainnya yang kuat dan multifungsi membuatnya cocok untuk digunakan di laboratorium kontrol kualitas, dimana pemeriksaan nanoscale yang menyeluruh diperlukan untuk memastikan konsistensi dan kinerja produk.Sensitivitas tinggi instrumen dan tingkat kebisingan rendah memungkinkan untuk digunakan dalam pencitraan sampel biologis yang sensitif, berkontribusi terhadap kemajuan ilmu kehidupan dan penelitian medis.

Secara keseluruhan, the Truth Instruments AtomEdge Pro is an essential nanoscale characterization platform that supports diverse application scenarios ranging from academic research and industrial development to quality assurance and advanced material investigations. Its comprehensive features and multifunctional capabilities make it a powerful tool for scientists and engineers seeking to explore and manipulate materials at the nanoscale with precision and confidence.

Dukungan dan Layanan:

Produk Atomic Force Microscope (AFM) kami didukung oleh dukungan teknis dan layanan yang komprehensif untuk memastikan kinerja dan kepuasan pengguna yang optimal.

Dukungan Teknis:

Tim dukungan khusus kami menyediakan bantuan ahli untuk instalasi, kalibrasi, dan pemecahan masalah. Kami menawarkan diagnostik dan panduan jarak jauh untuk membantu menyelesaikan masalah dengan cepat dan meminimalkan waktu henti.

Layanan pemeliharaan:

Paket pemeliharaan reguler tersedia untuk menjaga AFM Anda beroperasi pada efisiensi puncak. Ini termasuk pemeriksaan rutin, pembersihan, pembaruan perangkat lunak, dan kalibrasi perangkat keras.

Pelatihan dan Pendidikan:

Kami menawarkan program pelatihan yang komprehensif untuk pengguna baru dan lokakarya lanjutan untuk operator berpengalaman.dan teknik canggih untuk memaksimalkan kemampuan AFM Anda.

Dukungan perangkat lunak:

Pembaruan perangkat lunak terus-menerus disediakan untuk meningkatkan fungsionalitas dan memperkenalkan fitur baru. Tim dukungan kami membantu dengan pemasangan perangkat lunak, peningkatan, dan pemecahan masalah.

Kustomisasi dan Upgrade:

Untuk memenuhi kebutuhan penelitian tertentu, kami menawarkan pilihan kustomisasi dan peningkatan perangkat keras. insinyur kami bekerja sama dengan pelanggan untuk menyesuaikan solusi yang meningkatkan kinerja dan memperluas kemampuan.

Garansi dan Perbaikan:

AFM dilengkapi dengan garansi komprehensif yang mencakup suku cadang dan tenaga kerja.

Kepuasan Pelanggan:

Kami berkomitmen untuk memberikan layanan dan dukungan yang luar biasa. Tim layanan pelanggan kami berdedikasi untuk memastikan pengalaman Anda dengan produk AFM kami sukses dan produktif.

FAQ:

T1: Apa merek dan model dari Atomic Force Microscope ini?

A1: Mikroskop Atomic Force adalah AtomEdge Pro, diproduksi oleh Truth Instruments.

T2: Di mana AtomEdge Pro diproduksi?

A2: AtomEdge Pro dibuat di Cina.

T3: Apa aplikasi utama dari AtomEdge Pro Atomic Force Microscope?

A3: AtomEdge Pro digunakan untuk pencitraan permukaan skala nano, karakterisasi bahan, dan pengukuran sifat permukaan dalam penelitian dan pengaturan industri.

T4: Jenis sampel apa yang dapat dianalisis dengan AtomEdge Pro?

A4: AtomEdge Pro dapat menganalisis berbagai macam sampel termasuk spesimen biologis, polimer, semikonduktor, dan logam.

T5: Apakah AtomEdge Pro mendukung beberapa mode pemindaian?

A5: Ya, AtomEdge Pro mendukung berbagai mode pemindaian seperti mode kontak, mode mengetuk, dan mode tanpa kontak untuk kemampuan pencitraan serbaguna.