High-Stability AtomEdge Pro AFM: 4096×4096 Risoluzione di scansione 3D + EFM/KPFM/PFM

Descrizione del prodotto:

Il microscopio a forza atomica (AFM) è uno strumento all'avanguardia progettato per l'analisi di superfici ad alta precisione e la misurazione elettrica su scala nanometrica. Rinomato per la sua versatilità e funzionalità avanzate, questo AFM offre una suite completa di funzionalità che lo rendono uno strumento indispensabile sia nella ricerca che nelle applicazioni industriali. Con una velocità di scansione regolabile tra 0,1 e 30 Hz, gli utenti possono adattare la velocità di imaging per adattarla a un'ampia gamma di tipi di campioni e requisiti sperimentali, garantendo una qualità dei dati e un'efficienza ottimali.

Una delle caratteristiche principali di questo microscopio a forza atomica è il suo livello di rumore eccezionalmente basso nella direzione Z, misurato a soli 0,04 Nm. Questo livello di rumore ultra-basso consente la profilazione della superficie e l'imaging topografico altamente sensibili, catturando dettagli minimi sulla nanoscala con notevole chiarezza. Tale precisione è fondamentale per le applicazioni che richiedono una caratterizzazione dettagliata della morfologia della superficie, dove anche le più lievi deviazioni possono influire sulle proprietà dei materiali o sulle prestazioni dei dispositivi.

L'AFM supporta più modalità di funzionamento, tra cui Contact Mode, Tap Mode, Phase Imaging Mode, Lift Mode e Multi-directional Scanning Mode. Queste diverse modalità operative consentono agli utenti di adattare la funzionalità del microscopio a un ampio spettro di tipi di campioni e obiettivi sperimentali. La modalità Contact Mode è ideale per la mappatura dettagliata della superficie con interazione diretta sonda-campione, mentre la modalità Tap Mode riduce al minimo i danni al campione contattando la superficie in modo intermittente. La modalità Phase Imaging Mode fornisce contrasto in relazione alle proprietà dei materiali come l'adesione e la rigidità. La modalità Lift Mode facilita le misurazioni senza contatto come la microscopia a forza magnetica, essenziale per indagare i domini magnetici e le interazioni. Nel frattempo, la modalità Multi-directional Scanning Mode migliora la versatilità dell'imaging consentendo scansioni da diverse angolazioni, migliorando l'affidabilità dei dati e la profondità dell'analisi.

Progettato per ospitare campioni fino a 25 mm di dimensioni, questo AFM offre ampio spazio per una varietà di campioni, da film sottili e dispositivi microfabbricati a campioni biologici e nanostrutture. Questa flessibilità lo rende adatto a un'ampia gamma di discipline scientifiche, tra cui scienza dei materiali, fisica, chimica e biologia.

Oltre alla topografia della superficie, questo microscopio a forza atomica eccelle nelle capacità di misurazione multifunzionali. Integra tecniche avanzate come la microscopia a forza elettrostatica (EFM), la microscopia a forza a sonda Kelvin a scansione (KPFM), la microscopia a forza piezoelettrica (PFM), la microscopia a forza magnetica (MFM) e le misurazioni della curva di forza. Queste modalità estendono l'utilità del microscopio ben oltre l'imaging tradizionale, consentendo ai ricercatori di sondare le proprietà elettriche, magnetiche e piezoelettriche sulla nanoscala.

La microscopia a forza magnetica (MFM) è particolarmente degna di nota, consentendo la visualizzazione e l'analisi dettagliate dei domini magnetici e dei campi dispersi con risoluzione nanometrica. Questo è prezioso per lo sviluppo di supporti di memorizzazione magnetici, dispositivi spintronici e lo studio di fenomeni magnetici fondamentali. Allo stesso modo, la microscopia a forza elettrostatica e la microscopia a forza a sonda Kelvin a scansione facilitano la misurazione elettrica su scala nanometrica, fornendo informazioni sulle variazioni del potenziale di superficie, sulla distribuzione della carica e sulle proprietà elettroniche locali. La microscopia a forza piezoelettrica consente l'indagine sui materiali piezoelettrici e ferroelettrici, fondamentale per l'avanzamento di sensori, attuatori e tecnologie di raccolta dell'energia.

Oltre all'imaging, la capacità di misurazione della curva di forza offre una caratterizzazione meccanica quantitativa registrando le relazioni forza-distanza tra la sonda e la superficie del campione. Questo è essenziale per lo studio dell'adesione, dell'elasticità e di altre proprietà meccaniche sulla nanoscala, fornendo un'analisi completa della superficie che collega la morfologia con il comportamento fisico.

In sintesi, questo microscopio a forza atomica è uno strumento multifunzionale altamente avanzato che combina l'imaging topografico preciso con sofisticate misurazioni delle proprietà elettriche, magnetiche e meccaniche. La sua ampia gamma di velocità di scansione, le prestazioni a basso rumore, le molteplici modalità di funzionamento e il supporto per varie tecniche di misurazione lo rendono la scelta ideale per i ricercatori che cercano un'analisi dettagliata della superficie e una misurazione elettrica su scala nanometrica. Che si tratti di indagare fenomeni magnetici tramite microscopia a forza magnetica o di esplorare complesse interazioni superficiali, questo AFM offre prestazioni e versatilità senza pari per l'esplorazione scientifica all'avanguardia.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio a forza atomica
• Non linearità: 0,15% nella direzione XY e 1% nella direzione Z
• Punto di campionamento dell'immagine: la risoluzione massima dell'immagine della sonda di scansione è 4096*4096
• Dimensione del campione: 25 mm
• Velocità di scansione: 0,1-30 Hz
• Modalità di funzionamento: Contact Mode, Tap Mode, Phase Imaging Mode, Lift Mode, Multi-directional Scanning Mode
• Supporta la microscopia a forza magnetica per la mappatura avanzata delle proprietà della superficie
• Consente la mappatura dettagliata delle proprietà della superficie e l'analisi della superficie

Parametri tecnici:

Applicazioni:

L'AtomEdge Pro di Truth Instruments, originario della Cina, è un microscopio a forza atomica all'avanguardia progettato per fungere da versatile piattaforma di caratterizzazione su scala nanometrica. Questo strumento avanzato è ideale per un'ampia gamma di occasioni e scenari applicativi in cui sono fondamentali misurazioni e imaging precisi su scala nanometrica. Con il suo eccezionale livello di rumore nella direzione Z di soli 0,04 Nm e una velocità di scansione compresa tra 0,1 e 30 Hz, l'AtomEdge Pro garantisce un'acquisizione di dati altamente accurata e affidabile, rendendolo indispensabile negli ambienti di ricerca e industriali.

Nei laboratori di ricerca accademici e industriali, l'AtomEdge Pro eccelle nel fornire un'analisi dettagliata della morfologia della superficie sulla nanoscala. Le sue capacità di misurazione multifunzionali, tra cui microscopio a forza elettrostatica (EFM), microscopia a sonda Kelvin a scansione (KPFM), microscopia a forza piezoelettrica (PFM), microscopia a forza magnetica (MFM) e misurazioni della curva di forza, consentono ai ricercatori di indagare su un'ampia varietà di proprietà dei materiali. Questo lo rende particolarmente adatto per applicazioni nella scienza dei materiali, nella ricerca sui semiconduttori, nello sviluppo della nanotecnologia e negli studi biomolecolari.

Le modalità di funzionamento dell'AtomEdge Pro—Contact Mode, Tap Mode, Phase Imaging Mode, Lift Mode e Multi-directional Scanning Mode—offrono opzioni operative flessibili per soddisfare diversi tipi di campioni e requisiti sperimentali. Ad esempio, la microscopia a forza magnetica è ampiamente utilizzata nella caratterizzazione dei materiali magnetici e nella ricerca spintronica, dove la comprensione delle strutture dei domini magnetici sulla nanoscala è essenziale. Allo stesso modo, la microscopia a forza piezoelettrica consente lo studio di materiali ferroelettrici e dispositivi piezoelettrici, fondamentali per lo sviluppo di sensori e attuatori.

Con una dimensione massima del campione di 25 mm, l'AtomEdge Pro è in grado di gestire una varietà di dimensioni di campioni, da film sottili a dispositivi microfabbricati. Il suo design robusto e la sua multifunzionalità lo rendono adatto per l'uso nei laboratori di controllo qualità, dove è richiesta un'ispezione approfondita su scala nanometrica per garantire la coerenza e le prestazioni del prodotto. Inoltre, l'elevata sensibilità e i bassi livelli di rumore dello strumento consentono di utilizzarlo nell'imaging di campioni biologici delicati, contribuendo ai progressi nelle scienze della vita e nella ricerca medica.

Nel complesso, l'AtomEdge Pro di Truth Instruments è una piattaforma di caratterizzazione su scala nanometrica essenziale che supporta diversi scenari applicativi che vanno dalla ricerca accademica e dallo sviluppo industriale all'assicurazione della qualità e alle indagini sui materiali avanzati. Le sue caratteristiche complete e le capacità multifunzionali lo rendono uno strumento potente per scienziati e ingegneri che cercano di esplorare e manipolare i materiali sulla nanoscala con precisione e sicurezza.

Supporto e servizi:

Il nostro prodotto microscopio a forza atomica (AFM) è supportato da un supporto tecnico e servizi completi per garantire prestazioni ottimali e la soddisfazione dell'utente.

Supporto tecnico:

Il nostro team di supporto dedicato fornisce assistenza esperta per l'installazione, la calibrazione e la risoluzione dei problemi. Offriamo diagnostica e guida remota per aiutare a risolvere i problemi rapidamente e ridurre al minimo i tempi di inattività.

Servizi di manutenzione:

Sono disponibili pacchetti di manutenzione regolari per mantenere il tuo AFM in funzione alla massima efficienza. Questi includono ispezioni di routine, pulizia, aggiornamenti software e calibrazione hardware.

Formazione e istruzione:

Offriamo programmi di formazione completi per i nuovi utenti e workshop avanzati per operatori esperti. Le sessioni di formazione coprono il funzionamento dello strumento, l'analisi dei dati e le tecniche avanzate per massimizzare le capacità del tuo AFM.

Supporto software:

Vengono forniti aggiornamenti software continui per migliorare la funzionalità e introdurre nuove funzionalità. Il nostro team di supporto assiste con l'installazione, gli aggiornamenti e la risoluzione dei problemi del software.

Personalizzazione e aggiornamenti:

Per soddisfare esigenze di ricerca specifiche, offriamo opzioni di personalizzazione e aggiornamenti hardware. I nostri ingegneri collaborano a stretto contatto con i clienti per personalizzare soluzioni che migliorino le prestazioni ed espandano le capacità.

Garanzia e riparazione:

L'AFM è dotato di una garanzia completa che copre parti e manodopera. In caso di problemi hardware, i nostri servizi di riparazione garantiscono tempi di consegna rapidi per ridurre al minimo le interruzioni.

Soddisfazione del cliente:

Ci impegniamo a fornire un servizio e un supporto eccezionali. Il nostro team di assistenza clienti è dedicato a garantire che la tua esperienza con il nostro prodotto AFM sia di successo e produttiva.

FAQ:

Q1: Qual è il marchio e il modello di questo microscopio a forza atomica?

A1: Il microscopio a forza atomica è l'AtomEdge Pro, prodotto da Truth Instruments.

Q2: Dove viene prodotto l'AtomEdge Pro?

A2: L'AtomEdge Pro è prodotto in Cina.

Q3: Quali sono le principali applicazioni del microscopio a forza atomica AtomEdge Pro?

A3: L'AtomEdge Pro viene utilizzato per l'imaging della superficie su scala nanometrica, la caratterizzazione dei materiali e la misurazione delle proprietà della superficie in ambienti di ricerca e industriali.

Q4: Che tipo di campioni possono essere analizzati con l'AtomEdge Pro?

A4: L'AtomEdge Pro può analizzare un'ampia varietà di campioni, inclusi campioni biologici, polimeri, semiconduttori e metalli.

Q5: L'AtomEdge Pro supporta più modalità di scansione?

A5: Sì, l'AtomEdge Pro supporta varie modalità di scansione come la modalità di contatto, la modalità di tapping e la modalità senza contatto per capacità di imaging versatili.