High-Stability AtomEdge Pro AFM: 4096×4096 Resolução 3D Scanning + EFM/KPFM/PFM

Descrição do Produto:

O Microscópio de Força Atômica (AFM) é um instrumento de ponta projetado para análise de superfície de alta precisão e medição elétrica em nanoescala. Reconhecido por sua versatilidade e funcionalidade avançada, este AFM oferece um conjunto abrangente de recursos que o tornam uma ferramenta indispensável em aplicações de pesquisa e industriais. Com uma taxa de varredura ajustável entre 0,1 e 30 Hz, os usuários podem adaptar a velocidade de imagem para se adequar a uma ampla gama de tipos de amostras e requisitos experimentais, garantindo a qualidade e eficiência ideais dos dados.

Uma das características de destaque deste Microscópio de Força Atômica é seu nível de ruído excepcionalmente baixo na direção Z, medido em apenas 0,04 Nm. Este piso de ruído ultrabaixo permite a criação de perfis de superfície e imagens topográficas altamente sensíveis, capturando detalhes minuciosos na nanoescala com notável clareza. Essa precisão é fundamental para aplicações que exigem caracterização detalhada da morfologia da superfície, onde mesmo os menores desvios podem impactar as propriedades do material ou o desempenho do dispositivo.

O AFM suporta múltiplos modos de trabalho, incluindo Modo de Contato, Modo Tap, Modo de Imagem de Fase, Modo Lift e Modo de Varredura Multidirecional. Esses diversos modos operacionais permitem que os usuários adaptem a funcionalidade do microscópio a um amplo espectro de tipos de amostras e objetivos experimentais. O Modo de Contato é ideal para mapeamento detalhado da superfície com interação direta sonda-amostra, enquanto o Modo Tap minimiza os danos à amostra, entrando em contato intermitentemente com a superfície. O Modo de Imagem de Fase fornece contraste relacionado às propriedades do material, como adesão e rigidez. O Modo Lift facilita medições sem contato, como Microscopia de Força Magnética, essencial para investigar domínios e interações magnéticas. Enquanto isso, o Modo de Varredura Multidirecional aprimora a versatilidade da imagem, permitindo varreduras de diferentes ângulos, melhorando a confiabilidade dos dados e a profundidade da análise.

Projetado para acomodar amostras de até 25 mm de tamanho, este AFM oferece espaço amplo para uma variedade de espécimes, desde filmes finos e dispositivos microfabricados até amostras biológicas e nanoestruturas. Essa flexibilidade o torna adequado para uma ampla gama de disciplinas científicas, incluindo ciência dos materiais, física, química e biologia.

Além da topografia da superfície, este Microscópio de Força Atômica se destaca em capacidades de medição multifuncionais. Ele integra técnicas avançadas como Microscopia de Força Eletrostática (EFM), Microscopia de Força de Sonda Kelvin (KPFM), Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM), Microscopia de Força Magnética (MFM) e medições de Curva de Força. Essas modalidades estendem a utilidade do microscópio muito além da imagem tradicional, permitindo que os pesquisadores investiguem propriedades elétricas, magnéticas e piezoelétricas na nanoescala.

A Microscopia de Força Magnética (MFM) é particularmente notável, permitindo a visualização e análise detalhada de domínios magnéticos e campos dispersos com resolução em nanoescala. Isso é inestimável para o desenvolvimento de mídias de armazenamento magnético, dispositivos spintrônicos e o estudo de fenômenos magnéticos fundamentais. Da mesma forma, a Microscopia de Força Eletrostática e a Microscopia de Força de Sonda Kelvin facilitam a medição elétrica em nanoescala, fornecendo informações sobre variações de potencial de superfície, distribuição de carga e propriedades eletrônicas locais. A Microscopia de Força Piezoelétrica permite a investigação de materiais piezoelétricos e ferroelétricos, cruciais para o avanço de sensores, atuadores e tecnologias de captação de energia.

Além da imagem, a capacidade de medição da Curva de Força oferece caracterização mecânica quantitativa, registrando as relações força-distância entre a sonda e a superfície da amostra. Isso é essencial para estudar a adesão, elasticidade e outras propriedades mecânicas na nanoescala, fornecendo uma análise abrangente da superfície que une a morfologia ao comportamento físico.

Em resumo, este Microscópio de Força Atômica é um instrumento multifuncional altamente avançado que combina imagem topográfica precisa com medições sofisticadas de propriedades elétricas, magnéticas e mecânicas. Sua ampla faixa de taxa de varredura, desempenho de baixo ruído, múltiplos modos de trabalho e suporte para várias técnicas de medição o tornam a escolha ideal para pesquisadores que buscam análise detalhada da superfície e medição elétrica em nanoescala. Seja investigando fenômenos magnéticos por meio da Microscopia de Força Magnética ou explorando interações complexas da superfície, este AFM oferece desempenho e versatilidade incomparáveis para exploração científica de ponta.

Recursos:

• Nome do Produto: Microscópio de Força Atômica
• Não linearidade: 0,15% na direção XY e 1% na direção Z
• Ponto de Amostragem da Imagem: A resolução máxima da imagem da sonda de varredura é 4096*4096
• Tamanho da Amostra: 25 mm
• Taxa de Varredura: 0,1-30 Hz
• Modos de Trabalho: Modo de Contato, Modo Tap, Modo de Imagem de Fase, Modo Lift, Modo de Varredura Multidirecional
• Suporta Microscopia de Força Magnética para mapeamento avançado de propriedades da superfície
• Permite o mapeamento detalhado de propriedades da superfície e análise da superfície

Parâmetros Técnicos:

Aplicações:

O Truth Instruments AtomEdge Pro, originário da China, é um Microscópio de Força Atômica de última geração projetado para servir como uma plataforma versátil de caracterização em nanoescala. Este instrumento avançado é ideal para uma ampla gama de ocasiões e cenários de aplicação onde a medição e imagem precisas em nanoescala são críticas. Com seu excepcional nível de ruído na direção Z de apenas 0,04 Nm e uma taxa de varredura que varia de 0,1 a 30 Hz, o AtomEdge Pro garante a aquisição de dados altamente precisa e confiável, tornando-o indispensável em ambientes de pesquisa e industriais.

Em laboratórios de pesquisa acadêmica e industrial, o AtomEdge Pro se destaca em fornecer análise detalhada da morfologia da superfície na nanoescala. Suas capacidades de medição multifuncionais, incluindo Microscópio de Força Eletrostática (EFM), Microscopia de Sonda Kelvin de Varredura (KPFM), Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM), Microscopia de Força Magnética (MFM) e medições de Curva de Força, permitem que os pesquisadores investiguem uma ampla variedade de propriedades do material. Isso o torna particularmente adequado para aplicações em ciência dos materiais, pesquisa de semicondutores, desenvolvimento de nanotecnologia e estudos biomoleculares.

Os modos de trabalho do AtomEdge Pro — Modo de Contato, Modo Tap, Modo de Imagem de Fase, Modo Lift e Modo de Varredura Multidirecional — oferecem opções operacionais flexíveis para acomodar diferentes tipos de amostras e requisitos experimentais. Por exemplo, a Microscopia de Força Magnética é amplamente utilizada na caracterização de materiais magnéticos e pesquisa em spintrônica, onde a compreensão das estruturas de domínio magnético na nanoescala é essencial. Da mesma forma, a Microscopia de Força Piezoelétrica permite o estudo de materiais ferroelétricos e dispositivos piezoelétricos, críticos no desenvolvimento de sensores e atuadores.

Com um tamanho máximo de amostra de 25 mm, o AtomEdge Pro é capaz de lidar com uma variedade de dimensões de amostras, desde filmes finos até dispositivos microfabricados. Seu design robusto e multifuncionalidade o tornam adequado para uso em laboratórios de controle de qualidade, onde a inspeção completa em nanoescala é necessária para garantir a consistência e o desempenho do produto. Além disso, a alta sensibilidade e os baixos níveis de ruído do instrumento permitem que ele seja usado em imagens delicadas de amostras biológicas, contribuindo para avanços nas ciências da vida e na pesquisa médica.

No geral, o Truth Instruments AtomEdge Pro é uma plataforma essencial de caracterização em nanoescala que suporta diversos cenários de aplicação, desde pesquisa acadêmica e desenvolvimento industrial até garantia de qualidade e investigações avançadas de materiais. Seus recursos abrangentes e capacidades multifuncionais o tornam uma ferramenta poderosa para cientistas e engenheiros que buscam explorar e manipular materiais na nanoescala com precisão e confiança.

Suporte e Serviços:

Nosso produto Microscópio de Força Atômica (AFM) é apoiado por suporte técnico e serviços abrangentes para garantir o desempenho ideal e a satisfação do usuário.

Suporte Técnico:

Nossa equipe de suporte dedicada fornece assistência especializada para instalação, calibração e solução de problemas. Oferecemos diagnósticos e orientação remotos para ajudar a resolver problemas rapidamente e minimizar o tempo de inatividade.

Serviços de Manutenção:

Pacotes de manutenção regulares estão disponíveis para manter seu AFM operando com eficiência máxima. Estes incluem inspeções de rotina, limpeza, atualizações de software e calibração de hardware.

Treinamento e Educação:

Oferecemos programas de treinamento abrangentes para novos usuários e workshops avançados para operadores experientes. As sessões de treinamento cobrem a operação do instrumento, análise de dados e técnicas avançadas para maximizar as capacidades do seu AFM.

Suporte de Software:

Atualizações contínuas de software são fornecidas para aprimorar a funcionalidade e introduzir novos recursos. Nossa equipe de suporte auxilia na instalação, atualizações e solução de problemas de software.

Personalização e Upgrades:

Para atender às necessidades específicas de pesquisa, oferecemos opções de personalização e atualizações de hardware. Nossos engenheiros trabalham em estreita colaboração com os clientes para adaptar soluções que aprimorem o desempenho e expandam as capacidades.

Garantia e Reparo:

O AFM vem com uma garantia abrangente cobrindo peças e mão de obra. Em caso de problemas de hardware, nossos serviços de reparo garantem tempos de resposta rápidos para minimizar a interrupção.

Satisfação do Cliente:

Estamos comprometidos em fornecer serviço e suporte excepcionais. Nossa equipe de atendimento ao cliente se dedica a garantir que sua experiência com nosso produto AFM seja bem-sucedida e produtiva.

FAQ:

P1: Qual é a marca e o modelo deste Microscópio de Força Atômica?

A1: O Microscópio de Força Atômica é o AtomEdge Pro, fabricado pela Truth Instruments.

P2: Onde o AtomEdge Pro é produzido?

A2: O AtomEdge Pro é fabricado na China.

P3: Quais são as principais aplicações do Microscópio de Força Atômica AtomEdge Pro?

A3: O AtomEdge Pro é usado para imagem de superfície em nanoescala, caracterização de materiais e medição de propriedades da superfície em ambientes de pesquisa e industriais.

P4: Que tipos de amostras podem ser analisadas com o AtomEdge Pro?

A4: O AtomEdge Pro pode analisar uma ampla variedade de amostras, incluindo espécimes biológicos, polímeros, semicondutores e metais.

P5: O AtomEdge Pro suporta múltiplos modos de varredura?

A5: Sim, o AtomEdge Pro suporta vários modos de varredura, como modo de contato, modo de toque e modo sem contato para capacidades de imagem versáteis.