El sistema de control automático de alto rendimiento AtomEdge Pro AFM: 4096×4096 Resolución de escaneo 3D + EFM/KPFM/PFM

Descripción del Producto:

El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un instrumento de vanguardia diseñado para el análisis de superficies de alta precisión y la medición eléctrica a nanoescala. Reconocido por su versatilidad y funcionalidad avanzada, este AFM ofrece un conjunto completo de características que lo convierten en una herramienta indispensable tanto en la investigación como en aplicaciones industriales. Con una velocidad de escaneo ajustable entre 0.1 y 30 Hz, los usuarios pueden adaptar la velocidad de imagen para adaptarse a una amplia gama de tipos de muestras y requisitos experimentales, lo que garantiza una calidad de datos y eficiencia óptimas.

Una de las características destacadas de este Microscopio de Fuerza Atómica es su nivel de ruido excepcionalmente bajo en la dirección Z, medido en solo 0.04 Nm. Este nivel de ruido ultrabajo permite la obtención de perfiles de superficie y la obtención de imágenes topográficas de alta sensibilidad, capturando detalles minuciosos a nanoescala con notable claridad. Tal precisión es fundamental para aplicaciones que requieren la caracterización detallada de la morfología de la superficie, donde incluso las más mínimas desviaciones pueden afectar las propiedades del material o el rendimiento del dispositivo.

El AFM admite múltiples modos de funcionamiento, incluidos el Modo de Contacto, el Modo de Tapping, el Modo de Imagen de Fase, el Modo de Elevación y el Modo de Escaneo Multidireccional. Estos diversos modos operativos permiten a los usuarios adaptar la funcionalidad del microscopio a un amplio espectro de tipos de muestras y objetivos experimentales. El Modo de Contacto es ideal para el mapeo detallado de la superficie con interacción directa sonda-muestra, mientras que el Modo de Tapping minimiza el daño a la muestra al contactar intermitentemente la superficie. El Modo de Imagen de Fase proporciona contraste relacionado con las propiedades del material, como la adhesión y la rigidez. El Modo de Elevación facilita mediciones sin contacto como la Microscopía de Fuerza Magnética, esencial para investigar dominios e interacciones magnéticas. Mientras tanto, el Modo de Escaneo Multidireccional mejora la versatilidad de la imagen al permitir escaneos desde diferentes ángulos, mejorando la fiabilidad de los datos y la profundidad del análisis.

Diseñado para acomodar muestras de hasta 25 mm de tamaño, este AFM ofrece un amplio espacio para una variedad de especímenes, desde películas delgadas y dispositivos microfabricados hasta muestras biológicas y nanoestructuras. Esta flexibilidad lo hace adecuado para una amplia gama de disciplinas científicas, incluyendo la ciencia de los materiales, la física, la química y la biología.

Más allá de la topografía de la superficie, este Microscopio de Fuerza Atómica sobresale en capacidades de medición multifuncionales. Integra técnicas avanzadas como la Microscopía de Fuerza Electroestática (EFM), la Microscopía de Fuerza de Sonda Kelvin (KPFM), la Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica (PFM), la Microscopía de Fuerza Magnética (MFM) y las mediciones de Curva de Fuerza. Estas modalidades extienden la utilidad del microscopio mucho más allá de la imagen tradicional, permitiendo a los investigadores sondear las propiedades eléctricas, magnéticas y piezoeléctricas a nanoescala.

La Microscopía de Fuerza Magnética (MFM) es particularmente notable, ya que permite la visualización y el análisis detallados de dominios magnéticos y campos parásitos con resolución a nanoescala. Esto es invaluable para el desarrollo de medios de almacenamiento magnético, dispositivos espintrónicos y el estudio de fenómenos magnéticos fundamentales. De manera similar, la Microscopía de Fuerza Electroestática y la Microscopía de Fuerza de Sonda Kelvin facilitan la medición eléctrica a nanoescala, proporcionando información sobre las variaciones de potencial de la superficie, la distribución de carga y las propiedades electrónicas locales. La Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica permite la investigación de materiales piezoeléctricos y ferroeléctricos, crucial para el avance de sensores, actuadores y tecnologías de aprovechamiento de energía.

Además de la obtención de imágenes, la capacidad de medición de la Curva de Fuerza ofrece una caracterización mecánica cuantitativa al registrar las relaciones fuerza-distancia entre la sonda y la superficie de la muestra. Esto es esencial para estudiar la adhesión, la elasticidad y otras propiedades mecánicas a nanoescala, proporcionando un análisis completo de la superficie que une la morfología con el comportamiento físico.

En resumen, este Microscopio de Fuerza Atómica es un instrumento multifuncional altamente avanzado que combina la obtención de imágenes topográficas precisas con sofisticadas mediciones de propiedades eléctricas, magnéticas y mecánicas. Su amplio rango de velocidad de escaneo, su bajo rendimiento de ruido, sus múltiples modos de funcionamiento y su soporte para diversas técnicas de medición lo convierten en una opción ideal para los investigadores que buscan un análisis detallado de la superficie y la medición eléctrica a nanoescala. Ya sea investigando fenómenos magnéticos a través de la Microscopía de Fuerza Magnética o explorando complejas interacciones de la superficie, este AFM ofrece un rendimiento y una versatilidad incomparables para la exploración científica de vanguardia.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de Fuerza Atómica
• No linealidad: 0.15% en la dirección XY y 1% en la dirección Z
• Punto de muestreo de imagen: La resolución máxima de la imagen de la sonda de escaneo es 4096*4096
• Tamaño de la muestra: 25 mm
• Velocidad de escaneo: 0.1-30 Hz
• Modos de funcionamiento: Modo de contacto, Modo de tapping, Modo de imagen de fase, Modo de elevación, Modo de escaneo multidireccional
• Admite la Microscopía de Fuerza Magnética para el mapeo avanzado de las propiedades de la superficie
• Permite el mapeo detallado de las propiedades de la superficie y el análisis de la superficie

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

El AtomEdge Pro de Truth Instruments, originario de China, es un Microscopio de Fuerza Atómica de última generación diseñado para servir como una plataforma versátil de caracterización a nanoescala. Este instrumento avanzado es ideal para una amplia gama de ocasiones y escenarios de aplicación donde la medición y la obtención de imágenes precisas a nanoescala son fundamentales. Con su excepcional nivel de ruido en la dirección Z de solo 0.04 Nm y una velocidad de escaneo que oscila entre 0.1 y 30 Hz, el AtomEdge Pro garantiza una adquisición de datos altamente precisa y confiable, lo que lo hace indispensable en entornos de investigación e industriales.

En los laboratorios de investigación académica e industrial, el AtomEdge Pro sobresale al proporcionar un análisis detallado de la morfología de la superficie a nanoescala. Sus capacidades de medición multifuncionales, que incluyen el Microscopio de Fuerza Electroestática (EFM), la Microscopía de Sonda Kelvin (KPFM), la Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica (PFM), la Microscopía de Fuerza Magnética (MFM) y las mediciones de Curva de Fuerza, permiten a los investigadores investigar una amplia variedad de propiedades de los materiales. Esto lo hace particularmente adecuado para aplicaciones en ciencia de materiales, investigación de semiconductores, desarrollo de nanotecnología y estudios biomoleculares.

Los modos de funcionamiento del AtomEdge Pro (Modo de Contacto, Modo de Tapping, Modo de Imagen de Fase, Modo de Elevación y Modo de Escaneo Multidireccional) ofrecen opciones operativas flexibles para adaptarse a diferentes tipos de muestras y requisitos experimentales. Por ejemplo, la Microscopía de Fuerza Magnética se utiliza ampliamente en la caracterización de materiales magnéticos y la investigación espintrónica, donde la comprensión de las estructuras de dominio magnético a nanoescala es esencial. De manera similar, la Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica permite el estudio de materiales ferroeléctricos y dispositivos piezoeléctricos, fundamentales para el desarrollo de sensores y actuadores.

Con un tamaño máximo de muestra de 25 mm, el AtomEdge Pro es capaz de manejar una variedad de dimensiones de muestra, desde películas delgadas hasta dispositivos microfabricados. Su diseño robusto y multifuncionalidad lo hacen adecuado para su uso en laboratorios de control de calidad, donde se requiere una inspección exhaustiva a nanoescala para garantizar la consistencia y el rendimiento del producto. Además, la alta sensibilidad y los bajos niveles de ruido del instrumento le permiten ser utilizado en la obtención de imágenes de muestras biológicas delicadas, lo que contribuye a los avances en las ciencias de la vida y la investigación médica.

En general, el AtomEdge Pro de Truth Instruments es una plataforma esencial de caracterización a nanoescala que admite diversos escenarios de aplicación que van desde la investigación académica y el desarrollo industrial hasta el aseguramiento de la calidad y las investigaciones avanzadas de materiales. Sus características integrales y sus capacidades multifuncionales lo convierten en una herramienta poderosa para científicos e ingenieros que buscan explorar y manipular materiales a nanoescala con precisión y confianza.

Soporte y Servicios:

Nuestro producto de Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) está respaldado por un soporte técnico y servicios integrales para garantizar un rendimiento óptimo y la satisfacción del usuario.

Soporte técnico:

Nuestro equipo de soporte dedicado proporciona asistencia experta para la instalación, calibración y resolución de problemas. Ofrecemos diagnósticos y orientación remotos para ayudar a resolver problemas rápidamente y minimizar el tiempo de inactividad.

Servicios de mantenimiento:

Hay disponibles paquetes de mantenimiento regulares para mantener su AFM funcionando con la máxima eficiencia. Estos incluyen inspecciones de rutina, limpieza, actualizaciones de software y calibración de hardware.

Formación y educación:

Ofrecemos programas de formación completos para nuevos usuarios y talleres avanzados para operadores experimentados. Las sesiones de formación cubren el funcionamiento del instrumento, el análisis de datos y técnicas avanzadas para maximizar las capacidades de su AFM.

Soporte de software:

Se proporcionan actualizaciones de software continuas para mejorar la funcionalidad e introducir nuevas funciones. Nuestro equipo de soporte ayuda con la instalación, las actualizaciones y la resolución de problemas del software.

Personalización y actualizaciones:

Para satisfacer las necesidades específicas de la investigación, ofrecemos opciones de personalización y actualizaciones de hardware. Nuestros ingenieros trabajan en estrecha colaboración con los clientes para adaptar soluciones que mejoren el rendimiento y amplíen las capacidades.

Garantía y reparación:

El AFM viene con una garantía completa que cubre piezas y mano de obra. En caso de problemas de hardware, nuestros servicios de reparación garantizan tiempos de respuesta rápidos para minimizar las interrupciones.

Satisfacción del cliente:

Estamos comprometidos a brindar un servicio y soporte excepcionales. Nuestro equipo de atención al cliente se dedica a garantizar que su experiencia con nuestro producto AFM sea exitosa y productiva.

Preguntas frecuentes:

P1: ¿Cuál es la marca y el modelo de este Microscopio de Fuerza Atómica?

A1: El Microscopio de Fuerza Atómica es el AtomEdge Pro, fabricado por Truth Instruments.

P2: ¿Dónde se produce el AtomEdge Pro?

A2: El AtomEdge Pro está fabricado en China.

P3: ¿Cuáles son las principales aplicaciones del Microscopio de Fuerza Atómica AtomEdge Pro?

A3: El AtomEdge Pro se utiliza para la obtención de imágenes de superficies a nanoescala, la caracterización de materiales y la medición de las propiedades de la superficie en entornos de investigación e industriales.

P4: ¿Qué tipos de muestras se pueden analizar con el AtomEdge Pro?

A4: El AtomEdge Pro puede analizar una amplia variedad de muestras, incluidos especímenes biológicos, polímeros, semiconductores y metales.

P5: ¿El AtomEdge Pro admite múltiples modos de escaneo?

A5: Sí, el AtomEdge Pro admite varios modos de escaneo, como el modo de contacto, el modo de tapping y el modo sin contacto para capacidades de imagen versátiles.