AtomEdge Pro AFM ổn định cao: 4096 × 4096 Phân tích 3D độ phân giải + EFM / KPFM / PFM

Mô tả sản phẩm:

Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) là một thiết bị tiên tiến được thiết kế để phân tích bề mặt với độ chính xác cao và đo lường điện ở cấp độ nano. Nổi tiếng với tính linh hoạt và chức năng tiên tiến, AFM này cung cấp một bộ tính năng toàn diện, khiến nó trở thành một công cụ không thể thiếu trong cả nghiên cứu và ứng dụng công nghiệp. Với tốc độ quét có thể điều chỉnh từ 0,1 đến 30 Hz, người dùng có thể điều chỉnh tốc độ chụp ảnh để phù hợp với nhiều loại mẫu và yêu cầu thử nghiệm, đảm bảo chất lượng dữ liệu và hiệu quả tối ưu.

Một trong những đặc điểm nổi bật của Kính hiển vi lực nguyên tử này là mức độ nhiễu cực thấp theo hướng Z, chỉ 0,04 Nm. Mức nhiễu cực thấp này cho phép tạo hình bề mặt và chụp ảnh địa hình có độ nhạy cao, ghi lại các chi tiết nhỏ ở cấp độ nano với độ rõ nét đáng kể. Độ chính xác như vậy rất quan trọng đối với các ứng dụng yêu cầu đặc tính hình thái bề mặt chi tiết, nơi ngay cả những sai lệch nhỏ nhất cũng có thể ảnh hưởng đến tính chất vật liệu hoặc hiệu suất thiết bị.

AFM hỗ trợ nhiều chế độ làm việc, bao gồm Chế độ Tiếp xúc, Chế độ Chạm, Chế độ Chụp ảnh Pha, Chế độ Nâng và Chế độ Quét đa hướng. Các chế độ hoạt động đa dạng này cho phép người dùng điều chỉnh chức năng của kính hiển vi cho nhiều loại mẫu và mục tiêu thử nghiệm. Chế độ Tiếp xúc lý tưởng để lập bản đồ bề mặt chi tiết với sự tương tác trực tiếp giữa đầu dò và mẫu, trong khi Chế độ Chạm giảm thiểu hư hỏng mẫu bằng cách tiếp xúc không liên tục với bề mặt. Chế độ Chụp ảnh Pha cung cấp độ tương phản liên quan đến các tính chất vật liệu như độ bám dính và độ cứng. Chế độ Nâng tạo điều kiện cho các phép đo không tiếp xúc như Kính hiển vi lực từ, cần thiết để điều tra các miền từ và tương tác. Trong khi đó, Chế độ Quét đa hướng tăng cường tính linh hoạt của việc chụp ảnh bằng cách cho phép quét từ các góc khác nhau, cải thiện độ tin cậy của dữ liệu và độ sâu phân tích.

Được thiết kế để chứa các mẫu có kích thước lên đến 25 mm, AFM này cung cấp không gian rộng rãi cho nhiều loại mẫu, từ màng mỏng và thiết bị vi mô đến mẫu sinh học và cấu trúc nano. Tính linh hoạt này làm cho nó phù hợp với nhiều ngành khoa học, bao gồm khoa học vật liệu, vật lý, hóa học và sinh học.

Ngoài địa hình bề mặt, Kính hiển vi lực nguyên tử này còn vượt trội về khả năng đo lường đa chức năng. Nó tích hợp các kỹ thuật tiên tiến như Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi lực đầu dò Kelvin quét (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM), Kính hiển vi lực từ (MFM) và các phép đo Đường cong lực. Các phương thức này mở rộng tiện ích của kính hiển vi vượt xa việc chụp ảnh truyền thống, cho phép các nhà nghiên cứu thăm dò các tính chất điện, từ và áp điện ở cấp độ nano.

Kính hiển vi lực từ (MFM) đặc biệt đáng chú ý, cho phép trực quan hóa và phân tích chi tiết các miền từ và từ trường lạc với độ phân giải nano. Điều này rất có giá trị để phát triển phương tiện lưu trữ từ tính, thiết bị spintronic và nghiên cứu các hiện tượng từ tính cơ bản. Tương tự, Kính hiển vi lực tĩnh điện và Kính hiển vi lực đầu dò Kelvin quét tạo điều kiện cho việc đo lường điện ở cấp độ nano, cung cấp thông tin chi tiết về các biến thể điện thế bề mặt, phân bố điện tích và các tính chất điện tử cục bộ. Kính hiển vi lực áp điện cho phép điều tra các vật liệu áp điện và sắt điện, rất quan trọng để phát triển cảm biến, bộ truyền động và công nghệ thu năng lượng.

Ngoài việc chụp ảnh, khả năng đo Đường cong lực cung cấp đặc tính cơ học định lượng bằng cách ghi lại mối quan hệ lực-khoảng cách giữa đầu dò và bề mặt mẫu. Điều này rất cần thiết để nghiên cứu độ bám dính, độ đàn hồi và các tính chất cơ học khác ở cấp độ nano, cung cấp phân tích bề mặt toàn diện kết nối hình thái với hành vi vật lý.

Tóm lại, Kính hiển vi lực nguyên tử này là một thiết bị đa chức năng, tiên tiến, kết hợp chụp ảnh địa hình chính xác với các phép đo tính chất điện, từ và cơ học tinh vi. Phạm vi tốc độ quét rộng, hiệu suất nhiễu thấp, nhiều chế độ làm việc và hỗ trợ các kỹ thuật đo lường khác nhau khiến nó trở thành một lựa chọn lý tưởng cho các nhà nghiên cứu đang tìm kiếm phân tích bề mặt chi tiết và đo lường điện ở cấp độ nano. Cho dù điều tra các hiện tượng từ tính thông qua Kính hiển vi lực từ hay khám phá các tương tác bề mặt phức tạp, AFM này mang lại hiệu suất và tính linh hoạt vô song cho việc khám phá khoa học tiên tiến.

Tính năng:

• Tên sản phẩm: Kính hiển vi lực nguyên tử
• Độ phi tuyến: 0,15% theo hướng XY và 1% theo hướng Z
• Điểm lấy mẫu hình ảnh: Độ phân giải tối đa của hình ảnh đầu dò quét là 4096*4096
• Kích thước mẫu: 25 mm
• Tốc độ quét: 0,1-30 Hz
• Chế độ làm việc: Chế độ Tiếp xúc, Chế độ Chạm, Chế độ Chụp ảnh Pha, Chế độ Nâng, Chế độ Quét đa hướng
• Hỗ trợ Kính hiển vi lực từ để lập bản đồ thuộc tính bề mặt nâng cao
• Cho phép lập bản đồ thuộc tính bề mặt chi tiết và phân tích bề mặt

Thông số kỹ thuật:

Ứng dụng:

Truth Instruments AtomEdge Pro, có nguồn gốc từ Trung Quốc, là một Kính hiển vi lực nguyên tử hiện đại được thiết kế để phục vụ như một nền tảng đặc trưng nano đa năng. Thiết bị tiên tiến này lý tưởng cho nhiều dịp và tình huống ứng dụng, nơi việc đo lường và chụp ảnh ở cấp độ nano chính xác là rất quan trọng. Với mức độ nhiễu đặc biệt theo hướng Z chỉ 0,04 Nm và tốc độ quét từ 0,1 đến 30 Hz, AtomEdge Pro đảm bảo thu thập dữ liệu có độ chính xác và độ tin cậy cao, khiến nó trở nên không thể thiếu trong môi trường nghiên cứu và công nghiệp.

Trong các phòng thí nghiệm nghiên cứu học thuật và công nghiệp, AtomEdge Pro vượt trội trong việc cung cấp phân tích hình thái bề mặt chi tiết ở cấp độ nano. Khả năng đo lường đa chức năng của nó, bao gồm Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi đầu dò Kelvin quét (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM), Kính hiển vi lực từ (MFM) và các phép đo Đường cong lực, cho phép các nhà nghiên cứu điều tra nhiều loại tính chất vật liệu. Điều này làm cho nó đặc biệt phù hợp với các ứng dụng trong khoa học vật liệu, nghiên cứu chất bán dẫn, phát triển công nghệ nano và các nghiên cứu về sinh phân tử.

Các chế độ làm việc của AtomEdge Pro—Chế độ Tiếp xúc, Chế độ Chạm, Chế độ Chụp ảnh Pha, Chế độ Nâng và Chế độ Quét đa hướng—cung cấp các tùy chọn hoạt động linh hoạt để phù hợp với các loại mẫu và yêu cầu thử nghiệm khác nhau. Ví dụ, Kính hiển vi lực từ được sử dụng rộng rãi trong đặc tính vật liệu từ tính và nghiên cứu spintronics, nơi việc hiểu cấu trúc miền từ ở cấp độ nano là rất cần thiết. Tương tự, Kính hiển vi lực áp điện cho phép nghiên cứu các vật liệu sắt điện và thiết bị áp điện, rất quan trọng trong việc phát triển cảm biến và bộ truyền động.

Với kích thước mẫu tối đa là 25 mm, AtomEdge Pro có khả năng xử lý nhiều kích thước mẫu, từ màng mỏng đến các thiết bị vi mô. Thiết kế mạnh mẽ và tính đa chức năng của nó làm cho nó phù hợp để sử dụng trong các phòng thí nghiệm kiểm soát chất lượng, nơi cần kiểm tra nano kỹ lưỡng để đảm bảo tính nhất quán và hiệu suất của sản phẩm. Hơn nữa, độ nhạy cao và mức nhiễu thấp của thiết bị cho phép nó được sử dụng trong việc chụp ảnh mẫu sinh học tinh tế, góp phần vào những tiến bộ trong khoa học đời sống và nghiên cứu y học.

Nhìn chung, Truth Instruments AtomEdge Pro là một nền tảng đặc trưng nano thiết yếu hỗ trợ các tình huống ứng dụng đa dạng, từ nghiên cứu học thuật và phát triển công nghiệp đến đảm bảo chất lượng và điều tra vật liệu tiên tiến. Các tính năng toàn diện và khả năng đa chức năng của nó làm cho nó trở thành một công cụ mạnh mẽ cho các nhà khoa học và kỹ sư đang tìm cách khám phá và thao tác vật liệu ở cấp độ nano với độ chính xác và sự tự tin.

Hỗ trợ và Dịch vụ:

Sản phẩm Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) của chúng tôi được hỗ trợ bởi các dịch vụ và hỗ trợ kỹ thuật toàn diện để đảm bảo hiệu suất tối ưu và sự hài lòng của người dùng.

Hỗ trợ kỹ thuật:

Đội ngũ hỗ trợ tận tâm của chúng tôi cung cấp sự hỗ trợ chuyên môn để cài đặt, hiệu chuẩn và khắc phục sự cố. Chúng tôi cung cấp chẩn đoán và hướng dẫn từ xa để giúp giải quyết các vấn đề nhanh chóng và giảm thiểu thời gian ngừng hoạt động.

Dịch vụ bảo trì:

Các gói bảo trì thường xuyên có sẵn để giữ cho AFM của bạn hoạt động với hiệu quả cao nhất. Chúng bao gồm kiểm tra định kỳ, làm sạch, cập nhật phần mềm và hiệu chuẩn phần cứng.

Đào tạo và Giáo dục:

Chúng tôi cung cấp các chương trình đào tạo toàn diện cho người dùng mới và các hội thảo nâng cao cho những người vận hành có kinh nghiệm. Các buổi đào tạo bao gồm vận hành thiết bị, phân tích dữ liệu và các kỹ thuật nâng cao để tối đa hóa khả năng của AFM của bạn.

Hỗ trợ phần mềm:

Các bản cập nhật phần mềm liên tục được cung cấp để tăng cường chức năng và giới thiệu các tính năng mới. Đội ngũ hỗ trợ của chúng tôi hỗ trợ cài đặt, nâng cấp và khắc phục sự cố phần mềm.

Tùy chỉnh và Nâng cấp:

Để đáp ứng các nhu cầu nghiên cứu cụ thể, chúng tôi cung cấp các tùy chọn tùy chỉnh và nâng cấp phần cứng. Các kỹ sư của chúng tôi làm việc chặt chẽ với khách hàng để điều chỉnh các giải pháp giúp nâng cao hiệu suất và mở rộng khả năng.

Bảo hành và Sửa chữa:

AFM đi kèm với bảo hành toàn diện bao gồm các bộ phận và nhân công. Trong trường hợp có sự cố phần cứng, các dịch vụ sửa chữa của chúng tôi đảm bảo thời gian quay vòng nhanh chóng để giảm thiểu sự gián đoạn.

Sự hài lòng của khách hàng:

Chúng tôi cam kết cung cấp dịch vụ và hỗ trợ đặc biệt. Đội ngũ chăm sóc khách hàng của chúng tôi tận tâm đảm bảo trải nghiệm của bạn với sản phẩm AFM của chúng tôi thành công và hiệu quả.

Câu hỏi thường gặp:

Q1: Thương hiệu và kiểu máy của Kính hiển vi lực nguyên tử này là gì?

A1: Kính hiển vi lực nguyên tử là AtomEdge Pro, do Truth Instruments sản xuất.

Q2: AtomEdge Pro được sản xuất ở đâu?

A2: AtomEdge Pro được sản xuất tại Trung Quốc.

Q3: Các ứng dụng chính của Kính hiển vi lực nguyên tử AtomEdge Pro là gì?

A3: AtomEdge Pro được sử dụng để chụp ảnh bề mặt ở cấp độ nano, đặc tính vật liệu và đo các tính chất bề mặt trong môi trường nghiên cứu và công nghiệp.

Q4: Những loại mẫu nào có thể được phân tích bằng AtomEdge Pro?

A4: AtomEdge Pro có thể phân tích nhiều loại mẫu bao gồm mẫu sinh học, polyme, chất bán dẫn và kim loại.

Q5: AtomEdge Pro có hỗ trợ nhiều chế độ quét không?

A5: Có, AtomEdge Pro hỗ trợ nhiều chế độ quét khác nhau như chế độ tiếp xúc, chế độ chạm và chế độ không tiếp xúc để có khả năng chụp ảnh linh hoạt.