Microscopio de sonda de barrido de alta precisión, resolución de 0,15 nm Descripción del producto: El microscopio de fuerza atómica (AFM) es un instrumento de vanguardia que ofrece capacidades excepcionales para el análisis de superficies con resolución nanométrica. Con un rango de escaneo de 100 μm ...

Microscopio de sonda de barrido avanzado para mediciones a nanoescala Descripción del producto: El microscopio de fuerza atómica (AFM) es una herramienta de vanguardia que ofrece capacidades de medición multimodo con resolución nanométrica, lo que lo convierte en un instrumento esencial para ...

Microscopio de alta fuerza de escaneo para Wafe Descripción del producto: El microscopio de fuerza atómica (AFM) es un instrumento de vanguardia utilizado para la obtención de imágenes de alta resolución y el análisis de la superficie en varios campos como la nanotecnología, la ciencia de los ...

Descripción del producto: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsEste instrumento avanzado emplea un método de ...

Descripción del producto:El microscopio de fuerza atómica (AFM) es un instrumento de última generación diseñado para proporcionar una precisión y versatilidad sin precedentes en el mapeo de propiedades superficiales a nanoescala.Diseñado para satisfacer los exigentes requisitos de la investigación ...

Descripción del Producto: El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un instrumento de vanguardia diseñado para el análisis de superficies de alta precisión y la medición eléctrica a nanoescala. Reconocido por su versatilidad y funcionalidad avanzada, este AFM ofrece un conjunto completo de caracter...

Descripción del producto:El microscopio de fuerza atómica (AFM) es un instrumento de vanguardia diseñado para el análisis y la caracterización de superficies de alta precisión a escala nanométrica.Esta herramienta de medición multifuncional integra varias técnicas avanzadas de microscopía, incluida ...

Descripción del Producto: El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un instrumento científico de vanguardia diseñado para proporcionar imágenes de alta resolución y una caracterización precisa de la superficie a nanoescala. Este microscopio avanzado está diseñado para satisfacer los exigentes ...

Microscopio de fuerza atómica a nivel de oblea Modelo de producto: Atomana Descripción general del producto: Utilizando estructuras de la sonda de microcantilver, este instrumento permite la caracterización de la morfología 3D de materiales sólidos conductores, semiconductores y aislantes, logrando ...