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Microscopios de fuerza atómica de nivel de oblea 0.1Hz - 30Hz Microscopio de sonda
Wafer-Level Atomic Force Microscope Product Model: AtomMax Product Overview: Using micro-cantilever probe structures, this instrument enables 3D morphology characterization of conductive, semiconductive, and insulating solid materials, achieving wafer-level large-sample morphology characterization. Combined with an optical image, the electrically driven sample positioning stage allows for 1 μm positioning accuracy within a 200 x 200 mm area. with fully automated operations
Detalles del producto
Resaltar:
Microscopios de fuerza atómica a nivel de oblea
,Microscopios de fuerza atómica 0.1Hz
,Microscopio de sonda de 30 Hz
Name:
Microscopios de fuerza atómica
Scanning Angle:
0 ~ 360 "
Scanning Range:
Máximo 100 μm * 100 μm * 910 μm
Sample Size:
Compatible con obleas de 8 pulgadas y abajo
Multi-Function Measurement:
EFM, KFM, PFM, MFM
Scan Speed:
0.1Hz-30Hz
Propiedades básicas
Lugar de origen:
PORCELANA
Nombre de la marca:
Truth Instruments
Número de modelo:
Atomedge Pro
Propiedades comerciales
Cantidad mínima de pedido:
1
Precio:
Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Condiciones de pago:
T/T
Descripción de producto
Microscopio de fuerza atómica a nivel de oblea
Modelo de producto:
Atomana
Descripción general del producto:
Utilizando estructuras de la sonda de microcantilver, este instrumento permite la caracterización de la morfología 3D de materiales sólidos conductores, semiconductores y aislantes, logrando la caracterización de morfología de muestras grandes a nivel de oblea. Combinado con una imagen óptica, la etapa de posicionamiento de muestra impulsada eléctricamente permite una precisión de posicionamiento de 1 μm dentro de un área de 200 x 200 mm. con operaciones totalmente automatizadas para la alineación del láser, el enfoque de la sonda y los ajustes de parámetros de escaneo.
Especificaciones de rendimiento del equipo
| Parámetro | Especificación |
|---|---|
| Tamaño de muestra | Compatible con obleas de 8 pulgadas y abajo |
| Rango de escaneo | Máximo 100 μm * 100 μm * 910 μm |
| Ángulo de escaneo | 0 ~ 360 " |
| Resolución | Resolución de circuito cerrado del eje Z 0.15 nm; X/y Resolución de circuito cerrado 0.5 nm |
| Sonda de escaneo de dirección xy lmage resolución | No menos de 32x32 ~ 4000x4000 |
| Modos de operación | Modo de contacto, modo de tapping, modo de imagen de fase, modo de elevación, modo de escaneo multidireccional |
| Medición multifunción | EFM, KFM, PFM, MFM |
Casos de aplicación
- Potencial de la hoja de electrodo de tira de Au-Ti
- Modo de escaneo: KPFM (Modo de elevación)
- Rango de escaneo: 18 μm * 18 μmtitanio: película de titanato de aluminio
- Fuerza electrostática de la hoja de electrodo de tira Au-Ti
- Modo de escaneo: EFM (modo de elevación)
- Rango de escaneo: 18 μm * 18 μm
- Dominios magnéticos en películas delgadas Fe-Ni
- Modo de escaneo: MFM (Modo de elevación)
- Rango de escaneo: 14 μm * 14 μm
- Imagen de amplitud vertical correspondiente PBTIO3-Piezoelectric correspondiente
- Modo de escaneo: PFM (modo de contacto)
- Rango de escaneo: 20 μm * 20 μm
- CO/PT Película delgada
- Modo de escaneo: microscopía de fuerza magnética (MFM)
- Rango de escaneo: 25 μm * 25 μm
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