웨이퍼 레벨 원자력 현미경 0.1Hz - 30Hz 프로브 현미경

Name: 웨이퍼 레벨 원자력 현미경 0.1Hz - 30Hz 프로브 현미경
Brand: Truth Instruments Co., Ltd.
SKU: Atomedge Pro
Availability: InStock

Wafer-Level Atomic Force Microscope Product Model: AtomMax Product Overview: Using micro-cantilever probe structures, this instrument enables 3D morphology characterization of conductive, semiconductive, and insulating solid materials, achieving wafer-level large-sample morphology characterization. Combined with an optical image, the electrically driven sample positioning stage allows for 1 μm positioning accuracy within a 200 x 200 mm area. with fully automated operations

태그:

AFM 현미경

AFM 시스템

스캔 탐사 현미경

제품 상세정보

강조하다:

웨이퍼 레벨 원자력 현미경

원자력 현미경 0.1Hz

30Hz 프로브 현미경

Name: 원자력 현미경

Scanning Angle: 0 ~ 360 "

Scanning Range: 최대 100μm * 100μm * 910μm

Sample Size: 8 인치 웨이퍼 이하와 호환됩니다

Multi-Function Measurement: EFM, KFM, PFM, MFM

Scan Speed: 0.1Hz-30Hz

기본 속성

원산지: 중국

브랜드 이름: Truth Instruments

모델 번호: Atomedge Pro

부동산 거래

최소 주문 수량: 1

가격: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote

지불 조건: t/t

제품 설명

웨이퍼 수준의 원자력 현미경

제품 모델 :

Atommax

제품 개요 :

이 기기는 마이크로-캐니버 프로브 구조를 사용하여 전도성, 반도성 및 단열 된 고체 재료의 3D 형태 특성을 가능하게하여 웨이퍼 수준의 대형 샘플 형태 특성화를 달성 할 수 있습니다. 광학 이미지와 결합 된 전기 구동 샘플 위치 지정 단계는 200 x 200 mm 영역 내에서 1 μm 위치 정확도를 허용합니다. 레이저 정렬, 프로브 접근 및 스캔 매개 변수 조정에 대한 완전 자동화 작업.

장비 성능 사양

매개 변수	사양
샘플 크기	8 인치 웨이퍼 이하와 호환됩니다
스캔 범위	최대 100μm * 100μm * 910μm
스캔 각도	0 ~ 360 "
해결	Z 축 폐쇄 루프 해상도 0.15 nm; X/Y 폐 루프 해상도 0.5 nm
스캔 프로브 XY 방향 LMAGE 해상도	32x32 ~ 4000x4000 이상
운영 모드	접촉 모드, 태핑 모드, 위상 이미징 모드, 리프트 모드, 다 방향 스캐닝 모드
다기능 측정	EFM, KFM, PFM, MFM