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Qualidade Microscópios de Força Atômica em Nível de Bolacha 0.1Hz - Microscópio de Sonda de 30Hz fábrica
Qualidade Microscópios de Força Atômica em Nível de Bolacha 0.1Hz - Microscópio de Sonda de 30Hz fábrica

Microscópios de Força Atômica em Nível de Bolacha 0.1Hz - Microscópio de Sonda de 30Hz

Wafer-Level Atomic Force Microscope Product Model: AtomMax Product Overview: Using micro-cantilever probe structures, this instrument enables 3D morphology characterization of conductive, semiconductive, and insulating solid materials, achieving wafer-level large-sample morphology characterization. Combined with an optical image, the electrically driven sample positioning stage allows for 1 μm positioning accuracy within a 200 x 200 mm area. with fully automated operations
Etiquetas:

Microscópio AFM

Sistemas de AFM

Microscópio de sonda de varredura
Detalhes do produto
Destacar:

Microscópios de Força Atômica em Nível de Bolacha

,

Microscópios de Força Atômica 0.1Hz

,

Microscópio de Sonda de 30Hz
Name: Microscópios de força atômica
Scanning Angle: 0 ~ 360 "
Scanning Range: Máximo 100μm * 100μm * 910μm
Sample Size: Compatível com bolachas de 8 polegadas e abaixo
Multi-Function Measurement: EFM, KFM, PFM, MFM
Scan Speed: 0,1Hz-30Hz

Propriedades básicas

Lugar de origem: CHINA
Nome da marca: Truth Instruments
Número do modelo: Atomedge Pro

Propriedades comerciais

Quantidade mínima do pedido: 1
Preço: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Condições de pagamento: T/T.
Descrição do produto
Microscópio de Força Atômica de Nível de Wafer
Modelo de produto:

AtomMax

Resumo do produto:

Utilizando estruturas de sonda de micro-cantilever, este instrumento permite a caracterização morfológica 3D de materiais sólidos condutores, semicondutores e isolantes,alcançar a caracterização da morfologia da amostra grande a nível da bolachaCombinado com uma imagem óptica, o estágio de posicionamento de amostras acionado eletricamente permite uma precisão de posicionamento de 1 μm numa área de 200 x 200 mm.,Aproximação da sonda e ajustes dos parâmetros de digitalização.

Especificações de desempenho do equipamento
Parâmetro Especificações
Tamanho da amostra Compatível com wafers de 8 polegadas e inferiores
Faixa de varredura Máximo de 100 μm * 100 μm * 910 μm
Ângulo de varredura 0~360"
Resolução Resolução de circuito fechado do eixo Z 0,15 nm; resolução de circuito fechado X/Y 0,5 nm
Proba de varredura Direcção XY Resolução da imagem Não inferior a 32x32~4000x4000
Modos de funcionamento Modo de contacto, modo de toque, modo de imagem de fase, modo de elevação, modo de digitalização multidireccional
Medição multifunção EFM,KFM,PFM,MFM

Casos de aplicação

Microscópios de Força Atômica em Nível de Bolacha 0.1Hz - Microscópio de Sonda de 30Hz 0

  • Potencial da folha de eletrodo de tira Au-Ti
  • Modo de digitalização: KPFM (modo de elevação)
  • Faixa de digitalização: 18μm * 18μmFilma de titânio - Filtro de titânio de alumínio

Microscópios de Força Atômica em Nível de Bolacha 0.1Hz - Microscópio de Sonda de 30Hz 1

  • Força eletrostática da folha de eléctrodo de tira Au-Ti
  • Modo de digitalização: EFM (modo de elevação)
  • Faixa de digitalização: 18 μm * 18 μm

Microscópios de Força Atômica em Nível de Bolacha 0.1Hz - Microscópio de Sonda de 30Hz 2

  • Domínios magnéticos em películas finas de Fe-Ni
  • Modo de digitalização: MFM (modo de elevação)
  • Faixa de digitalização: 14 μm * 14 μm

Microscópios de Força Atômica em Nível de Bolacha 0.1Hz - Microscópio de Sonda de 30Hz 3

  • Imagem de amplitude vertical PbTiO3-piezoelétrica correspondente
  • Modo de digitalização: PFM (modo de contacto)
  • Faixa de digitalização: 20 μm * 20 μm
Microscópios de Força Atômica em Nível de Bolacha 0.1Hz - Microscópio de Sonda de 30Hz 4
  • Co/Pt Filtro fino
  • Modo de digitalização: Microscopia de força magnética (MFM)
  • Faixa de digitalização: 25 μm * 25 μm
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