Escaneo 3D de 100 μm × 100 μm para materiales a nanoescala Investigación científica

Descripción del Producto:

El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un instrumento científico de vanguardia diseñado para proporcionar imágenes de alta resolución y una caracterización precisa de la superficie a nanoescala. Este microscopio avanzado está diseñado para satisfacer los exigentes requisitos de diversas aplicaciones de investigación e industriales, particularmente en campos como los semiconductores, la ciencia de los materiales y la nanotecnología. Con su excepcional capacidad de medición multimodo, el AFM ofrece una versatilidad y precisión sin precedentes, lo que permite a los investigadores explorar las propiedades de la superficie con resolución atómica.

Una de las características destacadas de este Microscopio de Fuerza Atómica es su impresionante rango de escaneo de 100 μm * 100 μm * 10 μm, lo que le permite adaptarse a una amplia variedad de muestras. El sistema es compatible con muestras de hasta 25 mm de diámetro, lo que lo hace adecuado para analizar un amplio espectro de materiales y dispositivos. Ya sea que esté investigando obleas de semiconductores o nanomateriales novedosos, este AFM proporciona la flexibilidad necesaria para manejar eficientemente diversos tamaños de muestra.

La precisión en el posicionamiento y el movimiento es fundamental en la microscopía de fuerza atómica, y este instrumento sobresale en ese sentido. Emplea un escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ, lo que garantiza una cobertura y precisión integrales durante las mediciones. Las especificaciones de no linealidad del sistema son excepcionalmente bajas, con solo 0.02% en la dirección XY y 0.08% en la dirección Z. Estos parámetros de control precisos garantizan una distorsión mínima y una alta fidelidad en las imágenes, lo cual es esencial para lograr resultados confiables de resolución atómica.

El AFM admite múltiples modos de funcionamiento, cada uno adaptado a necesidades de medición específicas. Estos incluyen el Modo de Contacto, el Modo de Tapping, el Modo de Imagen de Fase, el Modo de Elevación y el Modo de Escaneo Multidireccional. La disponibilidad de estos modos permite una caracterización detallada de la superficie en diversas condiciones e interacciones. Por ejemplo, el Modo de Contacto es ideal para medir la topografía con alta sensibilidad, mientras que el Modo de Tapping reduce el daño a las muestras blandas al contactar intermitentemente la superficie. El Modo de Imagen de Fase permite el contraste basado en las propiedades del material, y el Modo de Elevación es útil para la microscopía de fuerza magnética o eléctrica. El Modo de Escaneo Multidireccional mejora aún más la capacidad del instrumento al permitir el escaneo desde diferentes ángulos, proporcionando datos completos sobre las características de la superficie de la muestra.

La capacidad de medición multimodo es una ventaja significativa de este Microscopio de Fuerza Atómica. Permite a los investigadores obtener una gran cantidad de información de un solo instrumento, incluidas las propiedades topográficas, mecánicas, eléctricas y magnéticas. Esta versatilidad hace que el AFM sea invaluable en la investigación de semiconductores, donde la comprensión de las características de la superficie a nanoescala y las propiedades del material puede impactar directamente el rendimiento del dispositivo y los procesos de fabricación.

Al ofrecer imágenes con resolución atómica, este microscopio supera los límites de lo que se puede observar y medir. Permite a los científicos visualizar átomos individuales y estructuras moleculares, lo que facilita descubrimientos innovadores en nanotecnología y ciencia de materiales. Los datos de alta resolución adquiridos a través de este AFM contribuyen a los avances en el desarrollo de dispositivos semiconductores más pequeños, rápidos y eficientes, entre otras aplicaciones.

En resumen, el Microscopio de Fuerza Atómica es una herramienta potente y flexible que combina un amplio rango de escaneo, un escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ preciso y una baja no linealidad para ofrecer un rendimiento excepcional. Sus capacidades de medición multimodo y su compatibilidad con muestras de hasta 25 mm de diámetro lo convierten en un instrumento esencial para la investigación de semiconductores y otros campos de la nanotecnología. Con imágenes de resolución atómica y múltiples modos de funcionamiento, este AFM se destaca como un recurso vital para científicos e ingenieros que se esfuerzan por explorar y manipular el mundo a nanoescala con una precisión sin precedentes.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de fuerza atómica
• Nivel de ruido del eje Z: 0.04 Nm para mediciones precisas a nanoescala
• Velocidad de escaneo: Ajustable de 0.1 Hz a 30 Hz para adaptarse a diversas necesidades de análisis
• Puntos de muestreo de imagen: Admite una resolución de 32*32 hasta 4096*4096 para imágenes detalladas
• Mediciones multifuncionales que incluyen:
  • Microscopio de fuerza electrostática (EFM)
  • Microscopio Kelvin de barrido (KPFM) que permite la microscopía de sonda Kelvin de barrido avanzada
  • Microscopio de fuerza piezoeléctrica (PFM)
  • Microscopio de fuerza atómica capacitivo de barrido (SCM)
  • Microscopio de fuerza magnética (MFM)
  • Microscopio de fuerza atómica conductivo opcional (C-AFM) para medición eléctrica a nanoescala
• Modos de funcionamiento: Modo de contacto, Modo de tapping, Modo de imagen de fase, Modo de elevación y Modo de escaneo multidireccional
• Ideal para análisis a nanoescala en diversas aplicaciones científicas e industriales

Parámetros técnicos:

Este Microscopio de Fuerza Atómica está diseñado para el análisis a nanoescala y la medición eléctrica a nanoescala, ofreciendo capacidades de medición multimodo para satisfacer diversas necesidades de investigación e industriales.

Aplicaciones:

El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) AtomEdge Pro de Truth Instruments, originario de China, es un AFM todo en uno de vanguardia diseñado para ofrecer un rendimiento sin igual en la caracterización de superficies a nanoescala. Su versatilidad y precisión lo hacen ideal para una amplia gama de ocasiones y escenarios de aplicación de productos, especialmente donde la obtención de imágenes topográficas detalladas es esencial.

En los laboratorios de investigación y desarrollo, el AtomEdge Pro sirve como una herramienta vital para la ciencia de los materiales, lo que permite a los científicos analizar estructuras de superficie con una resolución excepcional. El método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ avanzado del dispositivo permite un mapeo topográfico completo en un rango de escaneo de 100 μm * 100 μm * 10 μm, que se adapta a tamaños de muestra de hasta 25 mm de diámetro. Esta capacidad respalda estudios en profundidad de películas delgadas, nanoestructuras y biomateriales, proporcionando información crítica sobre la morfología de la superficie y las propiedades mecánicas.

El control de calidad industrial y la fabricación de semiconductores también se benefician enormemente de las capacidades del AtomEdge Pro. Sus altos puntos de muestreo de imagen, que van desde 32*32 hasta 4096*4096, garantizan imágenes de topografía de superficie detalladas y precisas, lo cual es esencial para detectar defectos a nanoescala y garantizar la fiabilidad del producto. El bajo nivel de ruido del eje Z de 0.04 nm mejora aún más la precisión de la medición, lo que satisface los estrictos estándares requeridos en estas industrias de alta tecnología.

Además, el diseño AFM todo en uno del AtomEdge Pro simplifica la operación y la integración en los flujos de trabajo existentes, lo que lo hace accesible tanto para usuarios expertos como para aquellos nuevos en la tecnología AFM. Las instituciones educativas aprovechan esta característica para la capacitación y la investigación, brindando a los estudiantes e investigadores experiencia práctica en imágenes y análisis a nanoescala.

En resumen, el Microscopio de Fuerza Atómica AtomEdge Pro de Truth Instruments es perfectamente adecuado para diversas ocasiones de aplicación, incluida la investigación científica avanzada, la inspección industrial, el análisis de semiconductores y fines educativos. Sus completas capacidades de escaneo, la compatibilidad con una variedad de tamaños de muestra y la excepcional resolución de imágenes lo establecen como una solución AFM todo en uno de primer nivel para la obtención de imágenes topográficas detalladas y el análisis de superficies a nanoescala.