100 мкм×100 мкм 3D сканирование для наномасштабных материалов Научные исследования

Описание продукта:

Микроскоп атомной силы (AFM) - это передовой научный инструмент, предназначенный для получения изображений с высоким разрешением и точной характеристики поверхности в наноразмере.Этот передовой микроскоп разработан для удовлетворения требований различных исследовательских и промышленных приложений, особенно в таких областях, как полупроводники, наука о материалах и нанотехнологии.AFM предлагает несравненную универсальность и точность, что позволяет исследователям исследовать свойства поверхности с атомным разрешением.

Одной из особенностей этого микроскопа атомной силы является его впечатляющий диапазон сканирования 100 мкм * 100 мкм * 10 мкм, что позволяет ему вместить широкий спектр образцов.Система совместима с образцами диаметром до 25 мм., что делает его подходящим для анализа широкого спектра материалов и устройств.Данная AFM обеспечивает гибкость, необходимую для эффективного обработки различных размеров образцов..

Точность в позиционировании и движении имеет решающее значение в микроскопии атомных сил, и этот инструмент превосходит в этом отношении.обеспечение полного охвата и точности измерений;Спецификации нелинейности системы исключительно низкие, с только 0,02% в направлении XY и 0,08% в направлении Z.Эти точные параметры управления гарантируют минимальное искажение и высокую точность в изображении, что имеет важное значение для достижения надежных результатов атомного разрешения.

AFM поддерживает несколько режимов работы, каждый из которых соответствует конкретным потребностям измерения.Наличие этих режимов позволяет детально характеризовать поверхность в различных условиях и взаимодействиях.Например, контактный режим идеально подходит для измерения топографии с высокой чувствительностью, в то время как Tap Mode уменьшает повреждение мягких образцов путем периодического контакта с поверхностью.Режим фазового изображения позволяет получить контраст на основе свойств материала, а режим подъема полезен для магнитной или электрической силовой микроскопии. Многонаправленный режим сканирования дополнительно повышает возможности прибора, позволяя сканировать под разными углами,предоставление исчерпывающих данных о характеристиках поверхности образца.

Многорежимные измерения являются важным преимуществом этого микроскопа атомной силы, который позволяет исследователям получать огромное количество информации из одного инструмента.включая топографическиеЭта универсальность делает AFM бесценным в полупроводниковых исследованиях.где понимание характеристик поверхности наномасштаба и свойств материалов может напрямую повлиять на производительность устройства и производственные процессы.

Получив изображения с атомным разрешением, этот микроскоп расширяет границы того, что можно наблюдать и измерять. Он позволяет ученым визуализировать отдельные атомы и молекулярные структуры,содействие новаторским открытиям в области нанотехнологий и материаловеденияДанные с высоким разрешением, полученные с помощью этой AFM, способствуют достижению прогресса в разработке меньших, более быстрых и более эффективных полупроводниковых устройств, среди других приложений.

Подводя итог, микроскоп атомной силы - это мощный и гибкий инструмент, который сочетает в себе широкий диапазон сканирования, точный XYZ трехосевой сканирование полного образца,и низкая нелинейность, чтобы обеспечить выдающиеся характеристикиЕго многорежимные возможности измерения и совместимость с образцами диаметром до 25 мм делают его важным инструментом для исследований полупроводников и других областей нанотехнологий.С изображением с атомным разрешением и множественными режимами работы, эта AFM выделяется как жизненно важный ресурс для ученых и инженеров, стремящихся исследовать и манипулировать наномасштабным миром с беспрецедентной точностью.

Особенности:

• Наименование продукта: Микроскоп атомной силы
• Уровень шума по оси Z: 0,04 Нм для точных измерений на наноуровне
• Скорость сканирования: регулируется от 0,1 Гц до 30 Гц для различных потребностей в анализе
• Точки отбора образцов изображения: поддерживает разрешение от 32*32 до 4096*4096 для детальной визуализации
• Многофункциональные измерения, включая:
  • Электростатический силовой микроскоп (ЭФМ)
  • Сканирующий микроскоп Кельвина (KPFM), обеспечивающий передовую сканирующую микроскопию Кельвина
  • Пиезоэлектрический силовой микроскоп (PFM)
  • Сканирующий емкостный микроскоп атомной силы (Scm)
  • Магнитно-силовой микроскоп (МФМ)
  • Факультативный микроскоп проводящей атомной силы (C-AFM) для наномасштабных электрических измерений
• Режимы работы: контактный режим, режим нажатия, режим фазового изображения, режим подъема и режим многонаправленного сканирования
• Идеально подходит для анализа на наномасштабе в различных научных и промышленных приложениях

Технические параметры:

Этот микроскоп атомной силы предназначен для анализа на наномасштабе и на наномасштабе электрических измерений, предлагая возможности многорежимного измерения для удовлетворения различных исследовательских и промышленных потребностей.

Применение:

The Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope (AFM), изготовленный в Китае,является передовым All-in-One AFM, предназначенным для обеспечения непревзойденной производительности в наноразмере характеристики поверхностиЕго универсальность и точность делают его идеальным для широкого спектра случаев и сценариев применения продукции, особенно там, где необходима детальная топографическая визуализация.

В лабораториях исследований и разработок AtomEdge Pro служит жизненно важным инструментом для науки о материалах, позволяя ученым анализировать поверхностные структуры с исключительным разрешением.Продвинутый метод сканирования полного образца XYZ с тремя осями устройства позволяет получить всестороннее топографическое отображение в диапазоне сканирования 100 мкм * 100 мкм * 10 мкмЭта возможность позволяет проводить углубленные исследования тонких пленок, наноструктур и биоматериалов.предоставление критического понимания морфологии поверхности и механических свойств.

Промышленный контроль качества и производство полупроводников также получают большие выгоды от возможностей AtomEdge Pro.обеспечивает подробную и точную топографию поверхностиНизкий уровень шума на оси Z в 0,04 нм еще больше повышает точность измерений.обслуживание строгих стандартов, требуемых в этих высокотехнологичных отраслях.

Кроме того, конструкция All-in-One AFM AtomEdge Pro упрощает работу и интеграцию в существующие рабочие процессы, что делает ее доступной как для экспертов, так и для новичков в области AFM.Образовательные учреждения используют эту функцию для обучения и исследований, предоставляя студентам и исследователям практический опыт в области наноразмерной визуализации и анализа.

Подводя итог, микроскоп атомной силы Truth Instruments AtomEdge Pro идеально подходит для различных применений, включая передовые научные исследования, промышленную инспекцию,анализ полупроводниковЕго всеобъемлющие возможности сканирования, совместимость с различными размерами образцов,и исключительное разрешение изображений, что делает его ведущим All-in-One AFM решением для детальной топографической изображения и наноразмерного анализа поверхности..