Nano Ölçekli Malzeme Bilimi Araştırmaları için 100μm×100μm 3D Tarama

Ürün Açıklaması:

Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), nano ölçekte yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve hassas yüzey karakterizasyonu sağlamak için tasarlanmış son teknoloji ürünü bir bilimsel araçtır. Bu gelişmiş mikroskop, özellikle yarı iletkenler, malzeme bilimi ve nanoteknoloji gibi alanlardaki çeşitli araştırma ve endüstriyel uygulamaların zorlu gereksinimlerini karşılamak üzere tasarlanmıştır. Çok modlu ölçüme yönelik olağanüstü yeteneğiyle AFM, benzersiz çok yönlülük ve doğruluk sunarak araştırmacıların yüzey özelliklerini atomik çözünürlükle keşfetmesine olanak tanır.

Bu Atomik Kuvvet Mikroskobunun öne çıkan özelliklerinden biri, çok çeşitli örnekleri barındırmasına olanak tanıyan 100 μm * 100 μm * 10 μm'lik etkileyici tarama aralığıdır. Sistem, çapı 25 mm'ye kadar olan numunelerle uyumludur, bu da onu geniş bir malzeme ve cihaz yelpazesinin analizi için uygun kılar. İster yarı iletken plakaları ister yeni nano malzemeleri araştırıyor olun, bu AFM, çeşitli numune boyutlarını verimli bir şekilde işlemek için gereken esnekliği sağlar.

Atomik kuvvet mikroskobunda konumlandırma ve hareketteki hassasiyet kritik öneme sahiptir ve bu cihaz bu açıdan üstündür. Ölçümler sırasında kapsamlı kapsam ve doğruluk sağlayan XYZ üç eksenli tam örnek taramayı kullanır. Sistemin doğrusal olmama özellikleri son derece düşüktür; XY yönünde yalnızca %0,02 ve Z yönünde %0,08'dir. Bu hassas kontrol parametreleri, güvenilir atomik çözünürlük sonuçlarına ulaşmak için gerekli olan görüntülemede minimum distorsiyonu ve yüksek doğruluğu garanti eder.

AFM, her biri belirli ölçüm ihtiyaçlarına göre uyarlanmış birden fazla çalışma modunu destekler. Bunlar arasında Temas Modu, Dokunma Modu, Faz Görüntüleme Modu, Kaldırma Modu ve Çok Yönlü Tarama Modu bulunur. Bu modların varlığı, çeşitli koşullar ve etkileşimler altında ayrıntılı yüzey karakterizasyonuna olanak sağlar. Örneğin, Temas Modu yüksek hassasiyetle topoğrafya ölçümü için idealdir; Dokunma Modu ise aralıklı olarak yüzeye temas ederek yumuşak numunelere verilen zararı azaltır. Faz Görüntüleme Modu, malzeme özelliklerine dayalı olarak kontrast sağlar ve Kaldırma Modu, manyetik veya elektrik kuvvet mikroskobu için kullanışlıdır. Çok Yönlü Tarama Modu, farklı açılardan taramayı mümkün kılarak, numunenin yüzey özellikleri hakkında kapsamlı veriler sağlayarak cihazın kapasitesini daha da artırır.

Çok modlu ölçüm yeteneği bu Atomik Kuvvet Mikroskobunun önemli bir avantajıdır. Araştırmacılara tek bir cihazdan topografik, mekanik, elektriksel ve manyetik özellikler de dahil olmak üzere çok sayıda bilgi edinme olanağı sağlar. Bu çok yönlülük, nano ölçekli yüzey özelliklerinin ve malzeme özelliklerinin anlaşılmasının cihaz performansını ve üretim süreçlerini doğrudan etkileyebileceği yarı iletken araştırmalarında AFM'yi paha biçilmez kılmaktadır.

Atomik çözünürlükte görüntüleme sağlayan bu mikroskop, gözlemlenebilecek ve ölçülebilecek şeylerin sınırlarını zorluyor. Bilim adamlarının bireysel atomları ve moleküler yapıları görselleştirmesine olanak tanıyarak nanoteknoloji ve malzeme biliminde çığır açan keşifleri kolaylaştırır. Bu AFM aracılığıyla elde edilen yüksek çözünürlüklü veriler, diğer uygulamaların yanı sıra daha küçük, daha hızlı ve daha verimli yarı iletken cihazların geliştirilmesindeki ilerlemelere katkıda bulunur.

Özetle Atomik Kuvvet Mikroskobu, olağanüstü performans sunmak için geniş tarama aralığını, hassas XYZ üç eksenli tam örnek taramayı ve düşük doğrusalsızlığı birleştiren güçlü ve esnek bir araçtır. Çok modlu ölçüm yetenekleri ve çapı 25 mm'ye kadar olan numunelerle uyumluluğu, onu yarı iletken araştırmaları ve diğer nanoteknoloji alanları için önemli bir araç haline getiriyor. Atomik çözünürlüklü görüntüleme ve çoklu çalışma modlarıyla bu AFM, nano ölçekli dünyayı benzeri görülmemiş bir hassasiyetle keşfetmeye ve manipüle etmeye çalışan bilim adamları ve mühendisler için hayati bir kaynak olarak öne çıkıyor.

Özellikler:

• Ürün adı: Atomik Kuvvet Mikroskobu
• Z Ekseni Gürültü Seviyesi: Hassas nano ölçekli ölçümler için 0,04 Nm
• Tarama Hızı: Çeşitli analiz ihtiyaçlarına uyacak şekilde 0,1 Hz ila 30 Hz arasında ayarlanabilir
• Görüntü Örnekleme Noktaları: Ayrıntılı görüntüleme için 32*32'den 4096*4096'ya kadar çözünürlüğü destekler
• Aşağıdakileri içeren Çok Fonksiyonlu Ölçümler:
  • Elektrostatik Kuvvet Mikroskobu (EFM)
  • Gelişmiş Taramalı Kelvin Prob Mikroskobuna olanak tanıyan Taramalı Kelvin Mikroskobu (KPFM)
  • Piezoelektrik Kuvvet Mikroskobu (PFM)
  • Taramalı Kapasitif Atomik Kuvvet Mikroskobu (SCM)
  • Manyetik Kuvvet Mikroskobu (MFM)
  • Nano ölçekli elektriksel ölçüm için isteğe bağlı İletken Atomik Kuvvet Mikroskobu (C-AFM)
• Çalışma Modları: Temas Modu, Tap Modu, Faz Görüntüleme Modu, Kaldırma Modu ve Çok Yönlü Tarama Modu
• Çeşitli bilimsel ve endüstriyel uygulamalarda Nano Ölçekli Analiz için idealdir

Teknik Parametreler:

Bu Atomik Kuvvet Mikroskobu, Nano Ölçekli Analiz ve Nano Ölçekli elektriksel ölçüm için tasarlanmış olup, çeşitli araştırma ve endüstriyel ihtiyaçları karşılamak için Çok Modlu Ölçüm yetenekleri sunar.

Uygulamalar:

Çin menşeli Truth Instruments AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), nano ölçekli yüzey karakterizasyonunda benzersiz performans sunmak üzere tasarlanmış son teknoloji ürünü Hepsi Bir Arada AFM'dir. Çok yönlülüğü ve hassasiyeti, özellikle ayrıntılı topografya görüntülemenin gerekli olduğu çok çeşitli ürün uygulama durumları ve senaryoları için onu ideal kılar.

Araştırma ve geliştirme laboratuvarlarında AtomEdge Pro, malzeme bilimi için hayati bir araç görevi görerek bilim adamlarının yüzey yapılarını olağanüstü çözünürlükle analiz etmelerine olanak tanır. Cihazın gelişmiş XYZ üç eksenli tam örnek tarama yöntemi, çapı 25 mm'ye kadar olan örnek boyutlarını barındıran 100 μm * 100 μm * 10 μm tarama aralığında kapsamlı topografik haritalamaya olanak tanır. Bu yetenek, ince filmlerin, nanoyapıların ve biyomateryallerin derinlemesine çalışmalarını destekleyerek yüzey morfolojisi ve mekanik özelliklere ilişkin kritik bilgiler sağlar.

Endüstriyel kalite kontrol ve yarı iletken üretimi de AtomEdge Pro'nun yeteneklerinden büyük ölçüde yararlanmaktadır. 32*32'den 4096*4096'ya kadar yüksek görüntü örnekleme noktaları aralığı, nano ölçekli kusurların tespit edilmesi ve ürün güvenilirliğinin sağlanması için gerekli olan ayrıntılı ve doğru yüzey topografisi görüntülemeyi sağlar. 0,04 nm'lik düşük Z ekseni gürültü seviyesi, bu yüksek teknoloji endüstrilerinin gerektirdiği katı standartları karşılayarak ölçüm hassasiyetini daha da artırır.

Üstelik AtomEdge Pro'nun Hepsi Bir Arada AFM tasarımı, işletimi ve mevcut iş akışlarına entegrasyonu basitleştirerek hem uzman kullanıcılar hem de AFM teknolojisine yeni başlayanlar için erişilebilir hale getiriyor. Eğitim kurumları, öğrencilere ve araştırmacılara nano ölçekli görüntüleme ve analiz konusunda uygulamalı deneyim sağlayarak eğitim ve araştırma için bu özelliği kullanır.

Özetle, Truth Instruments AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskobu, gelişmiş bilimsel araştırma, endüstriyel inceleme, yarı iletken analizi ve eğitim amaçları dahil olmak üzere çeşitli uygulama durumları için mükemmel şekilde uygundur. Kapsamlı tarama yetenekleri, çeşitli numune boyutlarıyla uyumluluğu ve olağanüstü görüntüleme çözünürlüğü, onu ayrıntılı topografya görüntüleme ve nano ölçekli yüzey analizi için birinci sınıf Hepsi Bir Arada AFM çözümü haline getiriyor.